本技術(shù)涉及半導(dǎo)體測試的領(lǐng)域,尤其是涉及一種探針調(diào)節(jié)裝置。
背景技術(shù):
1、芯片測試探針是用于測試芯片電路的一種工具,它能夠在芯片表面上接觸到電路引腳,并將測試信號傳遞給芯片,然后根據(jù)芯片的響應(yīng)來判斷芯片電路的性能和功能是否正常。芯片測試探針通常由探頭、導(dǎo)線和連接器組成,其中探頭是與芯片引腳直接接觸的部分。
2、相關(guān)技術(shù)中,當(dāng)部分芯片需要兩根探針同時接觸到一個芯片引腳上進(jìn)行測試時,通常采用兩根獨立的探針座承載探針,從而分別控制兩個探針座帶動兩根探針抵接到同一芯片引腳上進(jìn)行測試。
3、然而,相關(guān)技術(shù)中設(shè)置的兩根探針的高度難以保持一致,從而容易導(dǎo)致兩根探針抵接于芯片引腳時的針壓不同,以導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本實用新型旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此,本實用新型提出一種探針調(diào)節(jié)裝置,具有令兩根探針的高度保持一致,以提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性的效果。
2、根據(jù)本實用新型實施例的一種探針調(diào)節(jié)裝置,包括:固定座;兩個承載件,所述承載件設(shè)置于所述固定座上,所述承載件呈彈性設(shè)置;兩根探針,兩根所述探針分別一一對應(yīng)設(shè)置于兩個所述承載件上,且兩根所述探針能夠抵接于同一個芯片引腳上;針壓調(diào)節(jié)機構(gòu),所述針壓調(diào)節(jié)機構(gòu)包括連接板以及兩個彈性組件,所述連接板的一端固定連接于所述固定座,另一端延伸至所述承載件的底部,兩個所述彈性組件設(shè)置于所述連接板上,兩個所述彈性組件分別一一對應(yīng)于兩個所述承載件,所述彈性組件能夠持續(xù)為所述承載件的頂部提供彈力;調(diào)平組件,所述調(diào)平組件活動設(shè)置于所述固定座上,所述調(diào)平組件能夠帶動其中一個所述承載件抬升。
3、根據(jù)本實用新型實施例的一種探針調(diào)節(jié)裝置,至少包括以下有益效果:當(dāng)探針對芯片進(jìn)行測試時,首先需要對兩根探針施加針壓,通過彈性組件持續(xù)為承載件的頂部提供彈力,以驅(qū)動承載件下降,從而增大探針的針壓。在針壓調(diào)節(jié)的過程中,通過人為控制兩個彈性組件為承載件提供彈力的大小保持一致。此時,若兩個承載件呈同一高度,則兩根探針的針壓相等;若兩個承載件的高度不一致,通過調(diào)平組件與彈性組件配合,由于調(diào)平組件為承載件提供支撐力,彈性組件為承載件提供壓力,使得兩者呈相反作用力;當(dāng)承載件需要上升時,調(diào)平組件帶動承載件上升;當(dāng)承載件需要下降時,調(diào)平組件能夠為承載件讓位,從而利用彈性組件施加的壓力使得承載件下降,進(jìn)而使得兩個承載件保持同一高度,從而使得兩根探針的針壓保持一致,以解決了兩根探針的高度難以保持一致,進(jìn)而導(dǎo)致兩個探針的針壓不同,使得測試結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
4、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述承載件包括承載板以及彈片,所述彈片一端固定連接于所述固定座,另一端連接于所述承載板,所述探針設(shè)置于所述承載板遠(yuǎn)離所述彈片的一端,所述彈片能夠產(chǎn)生彈性形變以令所述承載板升降。
5、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述承載板為pcb板,所述pcb板與所述探針電性連接。
6、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述彈性組件包括螺桿、調(diào)節(jié)螺母以及彈性件,所述承載板上貫穿開設(shè)有避位孔,所述避位孔與所述連接板對位,所述螺桿的一端固定連接于所述連接板,另一端豎直向上穿過所述避位孔,所述調(diào)節(jié)螺母與所述螺桿螺紋配合,所述彈性件設(shè)置于所述調(diào)節(jié)螺母與所述承載板之間。
7、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述彈性件包括彈簧,所述彈簧套設(shè)于所述螺桿外,所述彈簧的一端抵接于所述調(diào)節(jié)螺母,另一端抵接于所述承載板。
8、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述螺桿的頂部螺紋配合有限位螺母。
9、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述調(diào)平組件包括調(diào)平螺栓以及限位塊,所述固定座的頂部貫穿開設(shè)有第一螺孔,所述調(diào)平螺栓與所述第一螺孔螺紋配合,所述承載板上開設(shè)有穿孔,所述穿孔與所述第一螺孔對位,所述調(diào)平螺栓的底端穿過穿孔,所述限位塊固定套設(shè)于所述調(diào)平螺栓的端部。
10、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述固定座上設(shè)置有用于鎖緊所述調(diào)平螺栓的鎖緊件。
11、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述鎖緊件包括鎖緊螺栓,所述固定座的一側(cè)開設(shè)有第二螺孔,所述第二螺孔與所述第一螺孔連通,所述第二螺孔與所述鎖緊螺栓螺紋配合,以能夠抵緊所述調(diào)平螺栓。
12、根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述連接板上設(shè)置有導(dǎo)電部,在所述探針測試芯片之前,所述導(dǎo)電部的頂部抵接于所述承載板,且抵接于所述承載板時通電,當(dāng)探針抵接于芯片引腳上時,所述導(dǎo)電部脫離所述承載板,以使所述導(dǎo)電部斷電。
1.一種探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述承載件包括承載板(210)以及彈片(220),所述彈片(220)一端固定連接于所述固定座(100),另一端連接于所述承載板(210),所述探針(300)設(shè)置于所述承載板(210)遠(yuǎn)離所述彈片(220)的一端,所述彈片(220)能夠產(chǎn)生彈性形變以令所述承載板(210)升降。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述承載板(210)為pcb板,所述pcb板與所述探針(300)電性連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述彈性組件包括螺桿(421)、調(diào)節(jié)螺母(422)以及彈性件,所述承載板(210)上貫穿開設(shè)有避位孔(424),所述避位孔(424)與所述連接板(410)對位,所述螺桿(421)的一端固定連接于所述連接板(410),另一端豎直向上穿過所述避位孔(424),所述調(diào)節(jié)螺母(422)與所述螺桿(421)螺紋配合,所述彈性件設(shè)置于所述調(diào)節(jié)螺母(422)與所述承載板(210)之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述彈性件包括彈簧(4231),所述彈簧(4231)套設(shè)于所述螺桿(421)外,所述彈簧(4231)的一端抵接于所述調(diào)節(jié)螺母(422),另一端抵接于所述承載板(210)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述螺桿(421)的頂部螺紋配合有限位螺母(500)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述調(diào)平組件包括調(diào)平螺栓(710)以及限位塊(720),所述固定座(100)的頂部貫穿開設(shè)有第一螺孔,所述調(diào)平螺栓(710)與所述第一螺孔螺紋配合,所述承載板(210)上開設(shè)有穿孔(730),所述穿孔(730)與所述第一螺孔對位,所述調(diào)平螺栓(710)的底端穿過穿孔(730),所述限位塊(720)固定套設(shè)于所述調(diào)平螺栓(710)的端部。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述固定座(100)上設(shè)置有用于鎖緊所述調(diào)平螺栓(710)的鎖緊件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述鎖緊件包括鎖緊螺栓(810),所述固定座(100)的一側(cè)開設(shè)有第二螺孔,所述第二螺孔與所述第一螺孔連通,所述第二螺孔與所述鎖緊螺栓(810)螺紋配合,以能夠抵緊所述調(diào)平螺栓(710)。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探針調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述連接板(410)上設(shè)置有導(dǎo)電部(600),在所述探針(300)測試芯片之前,所述導(dǎo)電部(600)的頂部抵接于所述承載板(210),且抵接于所述承載板(210)時通電,當(dāng)探針(300)抵接于芯片引腳上時,所述導(dǎo)電部(600)脫離所述承載板(210),以使所述導(dǎo)電部(600)斷電。