本技術屬于探針領域，具體涉及一種測試探針。

背景技術：

1、探針是一種用于對產品進行電性測試的儀器，通過探針與測試點接觸來獲得相關的電性參數(shù)。

2、而印刷電路板逐漸朝向小型化發(fā)展，測試點的尺寸也在縮小，在探針測試時由于探針的直徑小，會發(fā)生探針扎偏的現(xiàn)象，影響測試結果，而對于部分測試點較為集中的區(qū)域，使用粗探針會導致在一次測試中，探針可能與多個測試點同時接觸，影響測試結果。

技術實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的在于提供一種測試探針。

2、為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

3、一種測試探針，包括針套和滑動設置于針套內的第一探針，所述針套的側壁上沿其軸向方向開設有貫穿其側壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設置有滑動于通槽內的滑塊，所述第一探針的軸線處開設有一通槽，所述通槽內滑動設置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導線。

4、優(yōu)選的，所述針套的外周壁上套設有外殼，所述外殼的內周壁上開設有螺旋槽，所述滑塊貫穿滑槽滑動設置于螺旋槽內。

5、優(yōu)選的，所述針套的底部一體成型有底座，所述底座的截面呈凸字形，所述外殼轉動連接于所述底座上。

6、優(yōu)選的，所述螺旋槽的寬度大于滑塊的直徑，所述底座與第一探針之間設置有彈簧。

7、優(yōu)選的，所述第一探針的端部設置有若干凸起。

8、優(yōu)選的，還包括保護蓋，所述針套的外周壁上設置有與保護蓋扣合的凸點。

9、本實用新型的有益效果是：通過外殼和針套的相對轉動，可帶動第一探針的伸縮，用于切換第一探針和第二探針，便于對不同的測試點進行測試。在使用第一探針進行測試時，彈簧會起到一個緩沖作用，防止受力過大導致第一探針或測試點損壞。

技術特征：

1.一種測試探針，其特征在于：包括針套和滑動設置于針套內的第一探針，所述針套的側壁上沿其軸向方向開設有貫穿其側壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設置有滑動于通槽內的滑塊，所述第一探針的軸線處開設有一通槽，所述通槽內滑動設置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導線。

2.根據(jù)權利要求1所述的測試探針，其特征在于：所述針套的外周壁上套設有外殼，所述外殼的內周壁上開設有螺旋槽，所述滑塊貫穿滑槽滑動設置于螺旋槽內。

3.根據(jù)權利要求2所述的測試探針，其特征在于：所述針套的底部一體成型有底座，所述底座的截面呈凸字形，所述外殼轉動連接于所述底座上。

4.根據(jù)權利要求3所述的測試探針，其特征在于：所述螺旋槽的寬度大于滑塊的直徑，所述底座與第一探針之間設置有彈簧。

5.根據(jù)權利要求4所述的測試探針，其特征在于：所述第一探針的端部設置有若干凸起。

6.根據(jù)權利要求1所述的測試探針，其特征在于：還包括保護蓋，所述針套的外周壁上設置有與保護蓋扣合的凸點。

技術總結
本技術公開了一種測試探針，包括針套和滑動設置于針套內的第一探針，所述針套的側壁上沿其軸向方向開設有貫穿其側壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設置有滑動于通槽內的滑塊，所述第一探針的軸線處開設有一通槽，所述通槽內滑動設置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導線。本技術的有益效果是：通過第一探針的滑動可實現(xiàn)對第一探針和第二探針的切換，便于對不同的測試點進行測試。

技術研發(fā)人員：劉朝英,王鵬,余新文
受保護的技術使用者：蘇州微米光電子科技有限公司
技術研發(fā)日：20231213
技術公布日：2024/12/19