技術(shù)編號:40390252
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及半導(dǎo)體測試的領(lǐng)域,尤其是涉及一種探針調(diào)節(jié)裝置。背景技術(shù)、芯片測試探針是用于測試芯片電路的一種工具,它能夠在芯片表面上接觸到電路引腳,并將測試信號傳遞給芯片,然后根據(jù)芯片的響應(yīng)來判斷芯片電路的性能和功能是否正常。芯片測試探針通常由探頭、導(dǎo)線和連接器組成,其中探頭是與芯片引腳直接接觸的部分。、相關(guān)技術(shù)中,當(dāng)部分芯片需要兩根探針同時接觸到一個芯片引腳上進行測試時,通常采用兩根獨立的探針座承載探針,從而分別控制兩個探針座帶動兩根探針抵接到同一芯片引腳上進行測試。、然而,相關(guān)技術(shù)中設(shè)置的兩...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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