本發(fā)明涉及一種電路板測試方法，尤其涉及一種飛針測試機(jī)的快速對位方法。

背景技術(shù)：

飛針測試機(jī)一般包含四個可獨(dú)立移動的測試軸，兩兩分布在pcb板夾具的兩側(cè)，所述測試軸含有測試探針，所述測試探針在軟件的控制下在待測pcb板的正反兩面區(qū)域范圍內(nèi)移動并接觸測試點(diǎn)，電測板卡通過測試探針給測試點(diǎn)施加一定的電壓、電流，得到不同的信號反饋，從而判斷待測pcb板線路的通斷情況。

飛針測試機(jī)在測試過程中，首先調(diào)取測試資料，放置好pcb板，然后利用ccd相機(jī)對對位點(diǎn)進(jìn)行對位，大多數(shù)情況下測試資料預(yù)設(shè)有對位點(diǎn)，在測試時只需在pcb板上進(jìn)行核對，核對完成后開始測板，測試完成后取板；所述ccd相機(jī)尋找對位點(diǎn)進(jìn)行對位比較盲目，需要花費(fèi)較長的時間；同時，后續(xù)測試其他相同的pcb板，ccd相機(jī)仍是繼續(xù)盲目的對對位點(diǎn)核對，花費(fèi)時間過長，生產(chǎn)效率較低。

因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，需要改進(jìn)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：提供一種飛針測試機(jī)的快速對位方法，替換普通飛針測試機(jī)對位時盲目尋找對位點(diǎn)的方法，減少飛針測試機(jī)對位所需的時間，提升飛針測試機(jī)的工作效率。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：提供一種飛針測試機(jī)的快速對位方法，所述飛針測試機(jī)包含一個或者多個測試軸，其中，至少一個測試軸上設(shè)有測試探針和ccd相機(jī)，所述對位方法包括如下步驟：

第一步：任取一具有規(guī)則外形的待測pcb板，并安裝在飛針測試機(jī)的夾具中；

第二步：調(diào)取所述pcb板對應(yīng)的測試資料，所述測試資料包含有pcb板的板邊到第一對位點(diǎn)在x軸方向的距離，所述測試資料還包括各對位點(diǎn)之間的角度和距離、ccd相機(jī)與測試探針之間的角度和距離和同一面測試軸在原點(diǎn)時的距離等參數(shù)；

第三步：啟動飛針測試機(jī)，各測試軸回到各自的原點(diǎn)，啟動帶有ccd相機(jī)的測試軸使其朝x軸方向移動，利用ccd相機(jī)尋找所述pcb板的板邊；當(dāng)ccd相機(jī)捕捉到pcb板的板邊時，測試軟件將根據(jù)此時帶有ccd相機(jī)的測試軸從原點(diǎn)到該位置位移與pcb板邊到第一對位點(diǎn)在x軸方向的距離進(jìn)行計算，從而確定第一對位點(diǎn)在x軸方向的位置參數(shù)，ccd相機(jī)移動至第一對位點(diǎn)在x軸上的投影位置后，繼續(xù)在z軸方向移動，從而捕捉到第一對位點(diǎn)，獲取了第一對位點(diǎn)的具體位置參數(shù)。

進(jìn)一步地，所述第三步還包括在捕捉到第一對位點(diǎn)后，根據(jù)所述pcb板的測試資料，捕捉其余的對位點(diǎn)并獲得具體的位置參數(shù)。

進(jìn)一步地，所述測試探針根據(jù)ccd相機(jī)所取得的數(shù)據(jù)與測試探針和ccd相機(jī)之間的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)來與對位點(diǎn)對位。

進(jìn)一步地，所述測試軸分為用于測試pcb板正面的正面測試軸與用于測試pcb板背面的背面測試軸，所述正面測試軸包括一個帶有ccd相機(jī)的測試軸，所述背面測試軸包括一個帶有ccd相機(jī)的測試軸，僅帶有測試探針的測試軸上的測試探針與對位點(diǎn)的對位通過預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)和同一面的帶有ccd相機(jī)的測試軸所取得數(shù)據(jù)來實現(xiàn)。

進(jìn)一步地，若pcb板預(yù)設(shè)的對位點(diǎn)處于鍍銅孔或焊盤過于密集的區(qū)域時，則需重新定義對位點(diǎn)，步驟如下：

(1)將pcb板裝夾在飛針測試機(jī)內(nèi)，啟動飛針測試機(jī)，各測試軸回到原點(diǎn)；

(2)測試軸在pcb板的區(qū)域范圍內(nèi)移動，ccd相機(jī)在所述pcb板查找合適的對位點(diǎn)，在操作軟件上微調(diào)ccd相機(jī)的光標(biāo)使得光標(biāo)的原點(diǎn)與該對位點(diǎn)的幾何中心相重合，將該對位點(diǎn)設(shè)置成第一對位點(diǎn)；

(3)根據(jù)(2)的流程，在pcb板上與所述第一對位點(diǎn)成斜對角上方靠近pcb板的板邊處合適的點(diǎn)設(shè)置為第二對位點(diǎn)，在第二對位點(diǎn)下方合適的點(diǎn)設(shè)置為第三對位點(diǎn)。

采用上述方案，本發(fā)明提供一種飛針測試機(jī)的快速對位方法，通過ccd相機(jī)獲取ccd相機(jī)原點(diǎn)位置到pcb板的板邊的距離，再與pcb板的板邊到第一對位點(diǎn)的距離計算，獲得第一對位點(diǎn)在x軸方向的坐標(biāo)，ccd相機(jī)在第一對位點(diǎn)x軸坐標(biāo)處的z軸方向移動，便可以捕捉到第一對位點(diǎn)，從而獲得第一對位點(diǎn)的具體位置信息，繼而捕捉其他對位點(diǎn)；所述對位方法可快速直接的捕捉到對位點(diǎn)，提升工作效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的原理圖；

圖2為本發(fā)明的原理圖(軸側(cè)視)。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖和具體實施例，對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。

請參閱圖1，本發(fā)明提供一種飛針測試機(jī)的快速對位方法，所述飛針測試機(jī)包含一個或者多個測試軸，其中，至少一個測試軸上設(shè)有測試探針和ccd相機(jī)，所述對位方法包括如下步驟：

第一步：任取一具有規(guī)則外形的待測pcb板10，并安裝在飛針測試機(jī)的夾具1中；

第二步：調(diào)取所述pcb板10對應(yīng)的測試資料，所述測試資料包含有pcb板10的板邊到第一對位點(diǎn)5在x軸方向的距離δl，所述測試資料還包括各對位點(diǎn)之間的角度和距離、ccd相機(jī)3與測試探針4之間的角度和距離和同一面測試軸在原點(diǎn)時的距離等參數(shù)；

第三步：啟動飛針測試機(jī)，各測試軸回到各自的原點(diǎn)，啟動帶有ccd相機(jī)3的測試軸使其朝x軸方向移動，利用ccd相機(jī)3尋找所述pcb板10的板邊；當(dāng)ccd相機(jī)3捕捉到pcb板10的板邊時，測試軟件將根據(jù)此時帶有ccd相機(jī)3的測試軸從原點(diǎn)到該位置位移l與pcb板10的板邊到第一對位點(diǎn)5在x軸方向的距離δl進(jìn)行計算，從而確定第一對位點(diǎn)5在x軸方向的位置參數(shù)，ccd相機(jī)3移動至第一對位點(diǎn)5在x軸上的投影位置后，繼續(xù)在z軸方向移動，從而捕捉到第一對位點(diǎn)5，獲取了第一對位點(diǎn)5的具體位置參數(shù)。

所述第三步還包括在捕捉到第一對位點(diǎn)5后，根據(jù)所述pcb板10的測試資料，捕捉其余的對位點(diǎn)并獲得具體的位置參數(shù)。

所述測試探針4根據(jù)ccd相機(jī)3所取得的數(shù)據(jù)與測試探針4和ccd相機(jī)3之間的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)來與對位點(diǎn)對位。

所述測試軸分為用于測試pcb板10正面的正面測試軸與用于測試pcb板10背面的背面測試軸，所述正面測試軸包括一個帶有ccd相機(jī)3的測試軸，所述背面測試軸包括一個帶有ccd相機(jī)3的測試軸，僅帶有測試探針4的測試軸上的測試探針4與對位點(diǎn)的對位通過預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)和同一面的帶有ccd相機(jī)3的測試軸所取得數(shù)據(jù)來實現(xiàn)。

若pcb板10預(yù)設(shè)的對位點(diǎn)處于鍍銅孔或焊盤過于密集的區(qū)域時，則需重新定義對位點(diǎn)，步驟如下：

(1)將pcb板10裝夾在飛針測試機(jī)內(nèi)，啟動飛針測試機(jī)，各測試軸回到原點(diǎn)；

(2)測試軸在pcb板10的區(qū)域范圍內(nèi)移動，ccd相機(jī)3在所述pcb板10查找合適的對位點(diǎn)，在操作軟件上微調(diào)ccd相機(jī)3的光標(biāo)使得光標(biāo)的原點(diǎn)與該對位點(diǎn)的幾何中心相重合，將該對位點(diǎn)設(shè)置成第一對位點(diǎn)5；

(3)根據(jù)(2)的流程，在pcb板10上與所述第一對位點(diǎn)成斜對角上方靠近pcb板10的板邊處合適的點(diǎn)設(shè)置為第二對位點(diǎn)6，在第二對位點(diǎn)6下方合適的點(diǎn)設(shè)置為第三對位點(diǎn)7。

綜上所述，本發(fā)明提供一種飛針測試機(jī)的快速對位方法，通過ccd相機(jī)獲取ccd相機(jī)原點(diǎn)位置到pcb板的板邊的距離，再與pcb板的板邊到第一對位點(diǎn)的距離計算，獲得第一對位點(diǎn)在x軸方向的坐標(biāo)，ccd相機(jī)在第一對位點(diǎn)x軸坐標(biāo)處的z軸方向移動，便可以捕捉到第一對位點(diǎn)，從而獲得第一對位點(diǎn)的具體位置信息，繼而捕捉其他對位點(diǎn)；所述對位方法可快速直接的捕捉到對位點(diǎn)，提升工作效率。

以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。