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一種飛針測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):11405694閱讀:412來源:國(guó)知局
一種飛針測(cè)試系統(tǒng)的制造方法與工藝

本發(fā)明涉及飛針測(cè)試設(shè)備,尤其涉及一種飛針測(cè)試系統(tǒng)。



背景技術(shù):

目前,立式飛針測(cè)試機(jī)在檢測(cè)印刷電路板時(shí)采用人工送板的方式將待測(cè)線路板置于測(cè)試機(jī)的上下夾具中,在固定時(shí)需要操作測(cè)試機(jī)上下夾具的操作按鈕來完成夾板過程,一般由上夾具固定pcb板的上端,下夾具固定pcb板的下端;當(dāng)檢測(cè)完成后以人工取板的方式從測(cè)試機(jī)的上下夾具中取出,然后根據(jù)測(cè)試結(jié)果將合格板與不合格板分別放置已測(cè)區(qū)的合格區(qū)與不合格區(qū)。整個(gè)上下板過程復(fù)雜,操作緩慢,費(fèi)時(shí)費(fèi)力,整體效率低下,且容易人為出錯(cuò)而損壞pcb板。

傳統(tǒng)的飛針測(cè)試機(jī)的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)一般安裝在塑膠基座或金屬基座上,由于各傳動(dòng)機(jī)構(gòu)瞬時(shí)啟動(dòng)與停止以及急速移動(dòng)而產(chǎn)生的極大慣性力,造成整體機(jī)身震動(dòng)非常頻繁,加上pcb板的焊盤和通孔的尺寸非常小,從而導(dǎo)致探針無法準(zhǔn)確地接觸到pcb板的焊盤和通孔而造成漏測(cè)或錯(cuò)測(cè)等其他缺陷,以致于無法保證測(cè)試精度和結(jié)果;同時(shí),由于傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)運(yùn)行時(shí)及飛針測(cè)試機(jī)內(nèi)部線路的電流電壓的變化時(shí)會(huì)產(chǎn)生電磁場(chǎng),對(duì)飛針測(cè)試會(huì)造成干擾,從而影響測(cè)試結(jié)果的精度。

同時(shí),每次測(cè)試前,都需要對(duì)pcb板的型號(hào)進(jìn)行確認(rèn),再選擇相應(yīng)的測(cè)試程序,才能開始測(cè)試,比較耗時(shí),且容易混淆。

同時(shí),在進(jìn)行飛針測(cè)試前,每一測(cè)試軸的ccd相機(jī)需對(duì)pcb板的對(duì)位點(diǎn)盲目對(duì)位,耗時(shí)耗力,且過程復(fù)雜。

因此,現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷,需要改進(jìn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:提供一種飛針測(cè)試系統(tǒng),避免人工上下料帶來的人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,減少飛針測(cè)試時(shí)振動(dòng)及電磁干擾對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,減少視覺定位所需要的時(shí)間,減少人工確認(rèn)pcb板型號(hào)帶來的失誤以及花費(fèi)的時(shí)間。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下:提供一種飛針測(cè)試系統(tǒng),包括:飛針測(cè)試機(jī)和設(shè)置在飛針測(cè)試機(jī)一側(cè)的自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu);

所述飛針測(cè)試機(jī)包括:基座、安裝在所述基座上的夾具和測(cè)試軸、安裝在所述測(cè)試軸上的探針,所述夾具為自動(dòng)裝夾pcb板的夾具,包括對(duì)稱設(shè)置的上夾具和下夾具,所述上夾具和下夾具的結(jié)構(gòu)相同,所述上夾具包括:夾具夾緊機(jī)構(gòu)和設(shè)置在所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)外圍的pcb板定位機(jī)構(gòu);所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)用于夾緊固定pcb板,所述pcb板定位機(jī)構(gòu)用于夾具裝夾pcb板時(shí)定位和輔助支撐。

所述自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)包括:機(jī)械手主體平臺(tái)、安裝在所述機(jī)械手主體平臺(tái)一側(cè)的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)和安裝在所述機(jī)械手主體平臺(tái)另一側(cè)的已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái);所述機(jī)械手主體平臺(tái)包括:外框架、設(shè)置在外框架上的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位、已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位和機(jī)械手主體結(jié)構(gòu);所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位和所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位分布在機(jī)械手主體結(jié)構(gòu)兩側(cè)。所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位用于裝配待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái),所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位用于裝配已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái),所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)和所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)可與所述機(jī)械手主體平臺(tái)分離并能單獨(dú)移動(dòng)。

進(jìn)一步地,所述飛針測(cè)試機(jī)還包括一外罩,所述外罩包覆了整個(gè)基座及測(cè)試軸。所述外罩用于減少外部環(huán)境對(duì)飛針測(cè)試的影響。

進(jìn)一步地,進(jìn)一步地,所述飛針測(cè)試系統(tǒng)還包括一控制臺(tái),所述控制臺(tái)與飛針測(cè)試機(jī)、自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)連接。所述控制臺(tái)包含一觸摸屏顯示器,用于人機(jī)交互,所述控制臺(tái)控制整個(gè)飛針測(cè)試系統(tǒng),確保飛針測(cè)試系統(tǒng)正常運(yùn)行。

進(jìn)一步地,所述基座為礦物鑄件基座。所述礦物鑄件基座可有效減少測(cè)試軸在快速移動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的振動(dòng),提升飛針測(cè)試的精度。所述礦物鑄件基座包括礦物鑄件的機(jī)身和側(cè)板,所述礦物鑄件由礦物材料澆鑄加工而成,所述礦物材料是由改性環(huán)氧樹脂等材料為膠結(jié)料、以花崗石、大理石或鵝卵石等礦物顆粒為骨料,并經(jīng)增強(qiáng)纖維或納米顆粒強(qiáng)化,形成的復(fù)合材料。進(jìn)一步地,所述礦物鑄件機(jī)身采用金屬框架灌注礦物材料的礦物鑄件,使機(jī)身同時(shí)具有金屬和普通礦物鑄件的優(yōu)點(diǎn)。金屬外框加強(qiáng)了機(jī)身的接地,可減少由傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)和線路的電壓電流所產(chǎn)生的干擾,提升測(cè)試的精度。

進(jìn)一步地,所述測(cè)試軸為四個(gè),兩兩分布在所述夾具的兩側(cè),每一側(cè)的測(cè)試軸至少有一個(gè)安裝有ccd相機(jī)。所述測(cè)試軸為同時(shí)具有兩個(gè)運(yùn)動(dòng)方向x軸與y軸產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)的機(jī)械構(gòu)件上安裝由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可獨(dú)立快速移動(dòng)的探針,利用探針在z軸方向的可控移動(dòng)。每側(cè)設(shè)置兩個(gè)測(cè)試軸,可充分利用測(cè)試空間,且避免過多測(cè)試軸造成每個(gè)測(cè)試軸活動(dòng)的范圍較小。所述ccd相機(jī)用于探針與pcb板上的對(duì)位點(diǎn)對(duì)位,所述對(duì)位方法為一種飛針測(cè)試機(jī)快速對(duì)位方法,步驟如下:

第一步:任取一具有規(guī)則外形的待測(cè)pcb板,并安裝在飛針測(cè)試機(jī)的夾具中;

第二步:調(diào)取所述pcb板的測(cè)試資料,所述測(cè)試資料包含有pcb板的板邊到第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的距離、各對(duì)位點(diǎn)之間的角度與距離等。

第三步:?jiǎn)?dòng)飛針測(cè)試機(jī),各測(cè)試軸回原點(diǎn),啟動(dòng)帶有ccd相機(jī)的測(cè)試軸使其朝x軸方向移動(dòng),利用ccd相機(jī)尋找所述pcb板的板邊;當(dāng)ccd相機(jī)捕捉到pcb板的板邊時(shí),測(cè)試軟件將根據(jù)此時(shí)帶有ccd相機(jī)的測(cè)試軸從原點(diǎn)到該位置位移與pcb板邊到第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的距離進(jìn)行計(jì)算,從而確定第一對(duì)位點(diǎn)的在x軸方向的位置參數(shù),ccd相機(jī)移動(dòng)至第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的投影位置后,繼續(xù)在z軸方向移動(dòng),從而捕捉到第一對(duì)位點(diǎn),獲取第一對(duì)位點(diǎn)的具體位置參數(shù)。通過對(duì)位點(diǎn)之間的角度與距離,ccd相機(jī)快速與其他對(duì)位點(diǎn)對(duì)位。探針根據(jù)ccd相機(jī)所取得的數(shù)據(jù)與探針和ccd相機(jī)之間的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)來與對(duì)位點(diǎn)對(duì)位。

進(jìn)一步地,所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)包括:橫梁、固定在所述橫梁一側(cè)的彈簧片、固定在所述橫梁另一側(cè)的折彎件和面板、與所述彈簧片連接的活動(dòng)夾槽、以及固定在所述折彎件上的伸縮組件,所述面板壓住折彎件固定在所述橫梁上,所述伸縮組件裝入所述活動(dòng)夾槽內(nèi);所述橫梁為夾具的支撐部件,用于安裝其他部件,所述彈簧片為活動(dòng)夾槽提供夾緊的作用力,設(shè)置在所述活動(dòng)夾槽內(nèi)的折彎件的折邊是伸縮組件的安裝基板,所述伸縮組件伸縮,擠壓折彎件和活動(dòng)夾槽,由于所述折彎件固定在橫梁上,而活動(dòng)夾槽連接在彈簧片上,彈簧片便可發(fā)生形變,使得活動(dòng)夾槽可以活動(dòng),因此,通過伸縮組件適當(dāng)?shù)纳炜s,便可對(duì)不同厚度的pcb板進(jìn)行夾持,實(shí)現(xiàn)夾具功能。所述pcb板定位機(jī)構(gòu)包括:固定在橫梁兩端的支座板、安裝在所述支座板上的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、與所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接的主動(dòng)長(zhǎng)軸、固定在所述主動(dòng)長(zhǎng)軸上的擺動(dòng)控制桿、與擺動(dòng)控制桿連接的從動(dòng)短軸、安裝在從動(dòng)短軸上的鈑金板,所述主動(dòng)長(zhǎng)軸與所述橫梁兩端的支座板連接,所述鈑金板分布在橫梁兩側(cè)。所述鈑金板用于給pcb板定位,所述支座板用于固定驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和支撐主動(dòng)長(zhǎng)軸,所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)運(yùn)行,帶動(dòng)主動(dòng)長(zhǎng)軸轉(zhuǎn)動(dòng),主動(dòng)長(zhǎng)軸通過固定在其上的擺動(dòng)控制桿帶動(dòng)從動(dòng)短軸上下運(yùn)動(dòng),連接從動(dòng)轉(zhuǎn)軸的鈑金板運(yùn)動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)pcb板定位。

進(jìn)一步地,所述機(jī)械手主體結(jié)構(gòu)包括:固定在外框架上的安裝板、固定在所述安裝板上的機(jī)械手、安裝在所述機(jī)械手末端的吸盤固定板和安裝在所述吸盤固定板上的吸盤,所述吸盤固定板上還安裝有掃碼裝置,所述掃碼裝置設(shè)置在所述吸盤的一側(cè)。所述掃碼裝置與控制臺(tái)連接,所述掃碼裝置用于掃描pcb板上的二維碼(或條形碼等),識(shí)別pcb板的型號(hào),所述控制臺(tái)根據(jù)pcb板的型號(hào)調(diào)取相應(yīng)的測(cè)試程序;所述吸盤用于吸取pcb板,所述機(jī)械手用于移動(dòng)吸盤和掃碼裝置,便于吸盤吸取pcb板和掃碼裝置掃描二維碼。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)包括:框架、安放在所述框架上的傾斜式儲(chǔ)料位和磁性鎖匙,所述儲(chǔ)料位通過彈簧與框架連接。傾斜式儲(chǔ)料位和框架之間用彈簧連接,使得傾斜式儲(chǔ)料位能夠在一定范圍內(nèi)活動(dòng),在機(jī)械手移動(dòng)吸盤吸取物料時(shí),機(jī)械手的輕微的擺動(dòng),使得吸盤吸取的物料與后一件物料相分離,從而避免了多吸料。所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)的儲(chǔ)料位開有通孔,所述通孔用于吸盤識(shí)別儲(chǔ)料位有沒有pcb板;所述磁性鑰匙與外框架的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位的磁性鎖相對(duì)應(yīng),用于將待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)固定在待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位處。

進(jìn)一步地,所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)包括:框架、安放在所述框架上的傾斜式儲(chǔ)料位和鎖匙,所述儲(chǔ)料位包括合格板儲(chǔ)料位和不合格板儲(chǔ)料位。傾斜式儲(chǔ)料位便于機(jī)械手移動(dòng)吸盤放置pcb板,所述磁性鑰匙與外框架的已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位的磁性鎖相對(duì)應(yīng),用于將已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)固定在待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位處。所述合格板儲(chǔ)料位用于存放飛針測(cè)試合格的pcb板,所述不合格板儲(chǔ)料位用于存放飛針測(cè)試不合格的pcb板。

進(jìn)一步地,所述外框架的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位和已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位安裝有磁性鎖。所述磁性鎖與相對(duì)應(yīng)的磁性鑰匙配合使用。

進(jìn)一步地,所述飛針測(cè)試機(jī)不少于一臺(tái)。

進(jìn)一步地,所述飛針測(cè)試機(jī)為一臺(tái)。

所述飛針測(cè)試系統(tǒng)的工作流程如下:

(1)將pcb板放入待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)的儲(chǔ)料位,并將待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)推入待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位,所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)也推入已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位。

(2)所述機(jī)械手移動(dòng)吸盤和掃碼裝置,所述掃碼裝置掃描pcb板上的二維碼,所述控制臺(tái)根據(jù)掃碼裝置掃描的圖形,識(shí)別出具體的pcb板型號(hào),并調(diào)用相對(duì)應(yīng)型號(hào)的測(cè)試資料,所述吸盤吸取pcb板。

(3)所述機(jī)械手移動(dòng)pcb板,并與夾具配合裝夾好pcb板。

(4)所述測(cè)試軸上的ccd相機(jī)用前述的快速對(duì)位方法對(duì)位。

(5)所述飛針測(cè)試機(jī)的測(cè)試軸對(duì)pcb板進(jìn)行飛針測(cè)試。

(6)測(cè)試結(jié)束后,所述控制臺(tái)記錄所測(cè)試pcb板的測(cè)試結(jié)果,所述機(jī)械手與夾具配合,將pcb板取下。

(7)所述機(jī)械手根據(jù)測(cè)試結(jié)果將pcb板放入相對(duì)應(yīng)的儲(chǔ)料位。

(8)重復(fù)第(2)步;當(dāng)待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)的儲(chǔ)料位沒有pcb板時(shí),重復(fù)第(1)步。

采用上述方案,本發(fā)明提供一種飛針測(cè)試系統(tǒng),通過自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)的機(jī)械手給所述夾具自動(dòng)上下料,有效避免了人手工上下料給飛針測(cè)試結(jié)果帶來的人為因素影響;所述飛針測(cè)試機(jī)基座采用礦物鑄件基座,可有效減少測(cè)試軸高速運(yùn)行是產(chǎn)生的振動(dòng),采用金屬外框灌注礦物材料的礦物鑄件機(jī)身,還可減少外部電磁場(chǎng)的干擾,提升測(cè)試精度;同時(shí),所述ccd相機(jī)采用快速對(duì)位方法對(duì)pcb板上的對(duì)位點(diǎn)進(jìn)行對(duì)位,有效減少了對(duì)位所需的時(shí)間;進(jìn)一步地,采用掃碼裝置對(duì)pcb板上的條形碼或者二維碼進(jìn)行掃描識(shí)別,有效減少了人工識(shí)別pcb板型號(hào)的時(shí)間和錯(cuò)誤;進(jìn)一步地,采用防多吸料設(shè)計(jì)的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái),有效避免處理吸盤多吸料產(chǎn)生問題所需的時(shí)間,提升工作效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的主視圖;

圖2為本發(fā)明的側(cè)視圖;

圖3為本發(fā)明的俯視圖;

圖4為本發(fā)明的軸側(cè)視圖;

圖5為本發(fā)明的軸側(cè)視圖;

圖6為本發(fā)明的自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)的機(jī)構(gòu)示意圖;

圖7為本發(fā)明的飛針測(cè)試機(jī)去掉外罩的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖8為本發(fā)明的具有ccd相機(jī)的測(cè)試軸的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖9為本發(fā)明的ccd相機(jī)對(duì)位原理圖;

圖10為本發(fā)明的ccd相機(jī)對(duì)位原理圖;

圖11為本發(fā)明的夾具的剖視圖;

圖12為本發(fā)明的夾具的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖13為本發(fā)明的機(jī)械手的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖14為本發(fā)明的自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖15為本發(fā)明的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)防多吸料設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。

請(qǐng)參閱圖1-圖7,本發(fā)明提供一種飛針測(cè)試系統(tǒng),包括:飛針測(cè)試機(jī)1和設(shè)置在飛針測(cè)試機(jī)1一側(cè)的自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)2;

所述飛針測(cè)試機(jī)1包括:基座5、安裝在所述基座5上的夾具6和測(cè)試軸7、安裝在所述測(cè)試軸7上的探針24,所述夾具6為自動(dòng)裝夾pcb板45的夾具6,包括對(duì)稱設(shè)置的上夾具和下夾具,所述上夾具和下夾具的結(jié)構(gòu)相同,所述上夾具包括:夾具夾緊機(jī)構(gòu)和設(shè)置在所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)外圍的pcb板定位機(jī)構(gòu);所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)用于夾緊固定pcb板45,所述pcb板定位機(jī)構(gòu)用于夾具6裝夾pcb板45時(shí)定位和輔助支撐。

所述自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)2包括:機(jī)械手主體平臺(tái)8、安裝在所述機(jī)械手主體平臺(tái)8一側(cè)的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9和安裝在所述機(jī)械手主體平臺(tái)8另一側(cè)的已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10;所述機(jī)械手主體平臺(tái)8包括:外框架11、設(shè)置在外框架11上的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位12、已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13和機(jī)械手主體結(jié)構(gòu)14;所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位12和所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13分布在機(jī)械手主體結(jié)構(gòu)14兩側(cè)。所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位12用于裝配待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9,所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13用于裝配已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10,所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9和所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10可與所述機(jī)械手主體平臺(tái)8分離并能單獨(dú)移動(dòng)。

所述飛針測(cè)試機(jī)1還包括一外罩4,所述外罩4包覆了整個(gè)基座5及測(cè)試軸7。所述外罩4用于減少外部環(huán)境對(duì)飛針測(cè)試的影響。

所述飛針測(cè)試系統(tǒng)還包括一控制臺(tái)3,所述控制臺(tái)3與飛針測(cè)試機(jī)1、自動(dòng)上下料機(jī)構(gòu)2連接。所述控制臺(tái)3包含一觸摸屏顯示器,用于人機(jī)交互,所述控制臺(tái)3控制整個(gè)飛針測(cè)試系統(tǒng),確保飛針測(cè)試系統(tǒng)正常運(yùn)行。

請(qǐng)參閱圖7,所述基座5為礦物鑄件基座。所述礦物鑄件基座可有效減少測(cè)試軸7在快速移動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的振動(dòng),提升飛針測(cè)試的精度。所述礦物鑄件基座包括礦物鑄件的機(jī)身和側(cè)板,所述礦物鑄件由礦物材料澆鑄加工而成,所述礦物材料是由改性環(huán)氧樹脂等材料為膠結(jié)料、以花崗石、大理石或鵝卵石等礦物顆粒為骨料,并經(jīng)增強(qiáng)纖維或納米顆粒強(qiáng)化,形成的復(fù)合材料。進(jìn)一步地,所述礦物鑄件機(jī)身采用金屬框架灌注礦物材料的礦物鑄件,使機(jī)身同時(shí)具有金屬和普通礦物鑄件的優(yōu)點(diǎn)。金屬外框加強(qiáng)了機(jī)身的接地,可減少由傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)和線路的電壓電流所產(chǎn)生的干擾,提升測(cè)試的精度。

請(qǐng)參閱圖8、圖9和圖10,所述測(cè)試軸7為四個(gè),兩兩分布在所述夾具6的兩側(cè),每一側(cè)的測(cè)試軸7至少有一個(gè)測(cè)試軸安裝有ccd相機(jī)25。所述測(cè)試軸7為同時(shí)具有兩個(gè)運(yùn)動(dòng)方向x軸與y軸產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)的機(jī)械構(gòu)件上安裝由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可獨(dú)立快速移動(dòng)的探針24,利用探針24在z軸方向的可控移動(dòng)。每側(cè)設(shè)置兩個(gè)測(cè)試軸7,可充分利用測(cè)試空間,且避免過多測(cè)試軸7造成每個(gè)測(cè)試軸7活動(dòng)的范圍較小。所述ccd相機(jī)25用于探針24與pcb板45上的對(duì)位點(diǎn)對(duì)位,所述對(duì)位方法為一種飛針測(cè)試機(jī)快速對(duì)位方法,步驟如下:

第一步:任取一具有規(guī)則外形的待測(cè)pcb板45,并安裝在飛針測(cè)試機(jī)1的夾具6中;

第二步:調(diào)取所述pcb板45的測(cè)試資料,所述測(cè)試資料包含有pcb板45的板邊到第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的距離δl、各對(duì)位點(diǎn)之間的角度與距離等。

第三步:?jiǎn)?dòng)飛針測(cè)試機(jī)1,各測(cè)試軸7回原點(diǎn),啟動(dòng)帶有ccd相機(jī)25的測(cè)試軸7使其朝x軸方向移動(dòng),利用ccd相機(jī)25尋找所述pcb板45的板邊;當(dāng)ccd相機(jī)25捕捉到pcb板45的板邊時(shí),測(cè)試軟件將根據(jù)此時(shí)帶有ccd相機(jī)25的測(cè)試軸7從原點(diǎn)到該位置位移與pcb板45的板邊到第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的投影距離l進(jìn)行計(jì)算,從而確定第一對(duì)位點(diǎn)的在x軸方向的位置參數(shù),ccd相機(jī)25移動(dòng)至第一對(duì)位點(diǎn)在x軸方向的位置后,繼續(xù)在z軸方向移動(dòng),從而捕捉到第一對(duì)位點(diǎn),獲取第一對(duì)位點(diǎn)的具體位置參數(shù)。通過對(duì)位點(diǎn)之間的角度與距離,ccd相機(jī)25快速與其他對(duì)位點(diǎn)對(duì)位。探針24根據(jù)ccd相機(jī)25所取得的數(shù)據(jù)與探針24和ccd相機(jī)25之間的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)來與對(duì)位點(diǎn)對(duì)位。

請(qǐng)參閱圖9、圖10、圖11和圖12,所述夾具夾緊機(jī)構(gòu)包括:橫梁30、固定在所述橫梁30一側(cè)的彈簧片31、固定在所述橫梁30另一側(cè)的折彎件32和面板33、與所述彈簧片31連接的活動(dòng)夾槽34、固定在所述折彎件32上的伸縮組件35,所述面板33壓住折彎件32固定在所述橫梁30上,所述伸縮組件35裝入所述活動(dòng)夾槽34內(nèi);所述橫梁30為夾具6的支撐部件,用于安裝其他部件,所述彈簧片31為活動(dòng)夾槽34提供夾緊的作用力,設(shè)置在所述活動(dòng)夾槽34內(nèi)的折彎件32的折邊是伸縮組件35的安裝基板,所述伸縮組件35伸縮,擠壓折彎件32和活動(dòng)夾槽34,由于所述折彎件32固定在橫梁上,而活動(dòng)夾槽34連接在彈簧片31上,彈簧片31便可發(fā)生形變,使得活動(dòng)夾槽34可以活動(dòng),因此,通過伸縮組件35適當(dāng)?shù)纳炜s,便可對(duì)不同厚度的pcb板45進(jìn)行夾持,實(shí)現(xiàn)夾具功能。所述pcb板定位機(jī)構(gòu)包括:固定在橫梁30兩端的支座板36、安裝在所述支座板36上的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)37、與所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)37連接的主動(dòng)長(zhǎng)軸38、固定在所述主動(dòng)長(zhǎng)軸38上的擺動(dòng)控制桿39、與擺動(dòng)控制桿39連接的從動(dòng)短軸40、安裝在從動(dòng)短軸40上的鈑金板41,所述主動(dòng)長(zhǎng)軸38與所述橫梁30兩端的支座板36連接,所述鈑金板41分布在橫梁30兩側(cè)。所述鈑金板41用于給pcb板45定位,所述支座板36用于固定驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)37和支撐主動(dòng)長(zhǎng)軸38,所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)37運(yùn)行,帶動(dòng)主動(dòng)長(zhǎng)軸38轉(zhuǎn)動(dòng),主動(dòng)長(zhǎng)軸38通過固定在其上的擺動(dòng)控制桿39帶動(dòng)從動(dòng)短軸40上下運(yùn)動(dòng),連接從動(dòng)轉(zhuǎn)軸40的鈑金板41運(yùn)動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)pcb板45定位。

請(qǐng)參閱圖13,所述機(jī)械手主體結(jié)構(gòu)14包括:固定在外框架11上的安裝板15、固定在所述安裝板15上的機(jī)械手16、安裝在所述機(jī)械手16末端的吸盤固定板17和安裝在所述吸盤固定板17上的吸盤18;所述吸盤18固定板上還安裝有掃碼裝置23,所述掃碼裝置23設(shè)置在所述吸盤18的一側(cè)。所述掃碼裝置23與控制臺(tái)3連接,所述掃碼裝置23用于掃描pcb板45上的二維碼(或條形碼等),識(shí)別pcb板45的型號(hào),所述控制臺(tái)3根據(jù)pcb板45的型號(hào)調(diào)取相應(yīng)的測(cè)試程序;所述吸盤18用于吸取pcb板45,所述機(jī)械手16用于移動(dòng)吸盤18和掃碼裝置23,便于吸盤18吸取pcb板45和掃碼裝置23掃描二維碼。

請(qǐng)參閱圖14和圖15,所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9包括:框架19、安放在所述框架19上的傾斜式儲(chǔ)料位20和磁性鎖匙27,所述儲(chǔ)料位20通過彈簧21與框架19連接。傾斜式儲(chǔ)料位20和框架19之間用彈簧21連接,使得傾斜式儲(chǔ)料位20能夠在一定范圍內(nèi)活動(dòng),在機(jī)械手16移動(dòng)吸盤18吸取pcb板45時(shí),機(jī)械手16的輕微的擺動(dòng),使得吸盤18吸取的pcb板45與后一件pcb板45相分離,從而避免了多吸料。所述待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9的儲(chǔ)料位20開有通孔22,所述通孔22用于吸盤18識(shí)別儲(chǔ)料位20有沒有pcb板45;所述磁性鑰匙27與外框架11的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位12的磁性鎖26相對(duì)應(yīng),用于將待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9固定在待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位12處。

請(qǐng)參閱圖14,所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10包括:框架19、安放在所述框架19上的傾斜式儲(chǔ)料位20和磁性鎖匙27,所述儲(chǔ)料位20包括合格板儲(chǔ)料位28和不合格板儲(chǔ)料位29。傾斜式儲(chǔ)料位20便于機(jī)械手16移動(dòng)吸盤18放置pcb板45,所述磁性鑰匙27與外框架11的已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13的磁性鎖26相對(duì)應(yīng),用于將已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10固定在待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位13處。所述合格板儲(chǔ)料位28用于存放飛針測(cè)試合格的pcb板45,所述不合格板儲(chǔ)料位29用于存放飛針測(cè)試不合格的pcb板45。

請(qǐng)參閱圖14,所述外框架11的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位12和已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13安裝有磁性鎖26。所述磁性鎖26與相對(duì)應(yīng)的磁性鑰匙27配合使用。

所述飛針測(cè)試機(jī)1不少于一臺(tái)。

在本實(shí)施例中,所述飛針測(cè)試機(jī)1為一臺(tái)。

所述飛針測(cè)試系統(tǒng)的工作流程如下:

(1)將pcb板45放入待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9的儲(chǔ)料位20,并將待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9推入待測(cè)板儲(chǔ)料位平臺(tái)裝配位12,所述已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)10也推入已測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)裝配位13。

(2)所述機(jī)械手16移動(dòng)吸盤18和掃碼裝置23,所述掃碼裝置23掃描pcb板45上的二維碼,所述控制臺(tái)3根據(jù)掃碼裝置23掃描的圖形,識(shí)別出具體的pcb板45型號(hào),并調(diào)用相對(duì)應(yīng)型號(hào)的測(cè)試資料,所述吸盤18吸取pcb板45。

(3)所述機(jī)械手16移動(dòng)pcb板45,并與夾具6配合裝夾好pcb板45。

(4)所述測(cè)試軸7上的ccd相機(jī)25用前述的快速對(duì)位方法對(duì)位。

(5)所述飛針測(cè)試機(jī)1的測(cè)試軸7對(duì)pcb板45進(jìn)行飛針測(cè)試。

(6)測(cè)試結(jié)束后,所述控制臺(tái)3記錄所測(cè)試pcb板45的測(cè)試結(jié)果,所述機(jī)械手16與夾具6配合,將pcb板45取下。

(7)所述機(jī)械手16根據(jù)測(cè)試結(jié)果將pcb板45放入相對(duì)應(yīng)的儲(chǔ)料位20。

(8)重復(fù)第(2)步;當(dāng)待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái)9的儲(chǔ)料位20沒有pcb板時(shí)45,重復(fù)第(1)步。

綜上所述,本發(fā)明提供一種飛針測(cè)試系統(tǒng),通過上下料機(jī)構(gòu)的機(jī)械手給給所述夾具自動(dòng)上下料,有效避免了人手工上下料給飛針測(cè)試結(jié)果帶來的人為因素影響;所述飛針測(cè)試機(jī)基座采用礦物鑄件基座,可有效減少測(cè)試軸高速運(yùn)行是產(chǎn)生的振動(dòng),采用金屬外框灌注礦物材料的礦物鑄件機(jī)身,還可減少外部電磁場(chǎng)的干擾,提升測(cè)試精度;同時(shí),所述ccd相機(jī)采用快速對(duì)位方法對(duì)pcb板上的對(duì)位點(diǎn)進(jìn)行對(duì)位,有效減少了對(duì)位所需的時(shí)間;進(jìn)一步地,采用掃碼裝置對(duì)pcb板上的條形碼或者二維碼進(jìn)行掃描識(shí)別,有效減少了人工識(shí)別pcb板型號(hào)的時(shí)間和錯(cuò)誤;進(jìn)一步地,采用防多吸料設(shè)計(jì)的待測(cè)板儲(chǔ)料平臺(tái),有效避免處理吸盤多吸料產(chǎn)生問題所需的時(shí)間,提升工作效率。

以上僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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