技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種引入機(jī)器視覺技術(shù)的材料微波參數(shù)精確測(cè)試系統(tǒng)，包括圖像采集處理子系統(tǒng)和材料微波參數(shù)測(cè)試子系統(tǒng)；進(jìn)行材料微波參數(shù)精確測(cè)試的方法為：首先對(duì)每個(gè)微型攝像機(jī)進(jìn)行標(biāo)定，求解各個(gè)坐標(biāo)系與自定義全局坐標(biāo)系之間的旋轉(zhuǎn)矩陣和位移向量，通過(guò)多個(gè)攝像頭獲取樣品圖像數(shù)據(jù)，利用每個(gè)坐標(biāo)系與全局坐標(biāo)系之間的旋轉(zhuǎn)矩陣和位移向量，計(jì)算出樣品三維坐標(biāo)以及樣品材料在測(cè)試夾具中的真實(shí)位置坐標(biāo)和形狀變化量，并測(cè)試算法中的函數(shù)系數(shù)或求解域進(jìn)行修正，進(jìn)一步提高測(cè)試精度；本發(fā)明可實(shí)時(shí)準(zhǔn)確獲取樣品位置和形態(tài)變化，而不會(huì)影響微波材料測(cè)試；可有效減小樣品位置偏移和形狀變化對(duì)測(cè)試結(jié)果造成的影響，進(jìn)一步提高測(cè)試精度。

技術(shù)研發(fā)人員：高沖;李恩;余承勇;張?jiān)迄i;王帥;張俊武;何鳳梅
受保護(hù)的技術(shù)使用者：電子科技大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.25
技術(shù)公布日：2017.08.22