本發(fā)明涉及一種電檢機構(gòu)，尤其涉及一種設(shè)置有功能鍵的FPC進行電性檢測的電檢裝置及其FPC定位模擬機構(gòu)。

背景技術(shù)：

FPC軟排練具有占用空間小和外形變化靈活的特點，被廣泛應(yīng)用到手機的控制電路中。其中，F(xiàn)PC軟排線上還設(shè)置有多個供外部操作的功能鍵，如音量加減鍵、開關(guān)機鍵、攝像鍵等。為保證生產(chǎn)品質(zhì)和降低生產(chǎn)成本，在FPC軟排線生產(chǎn)出來后、組裝之前，需要對FPC軟排線的性能進行及時檢測，以便能夠早發(fā)現(xiàn)問題、早解決問題，避免不良的FPC軟排線流出到后續(xù)流程中。

對設(shè)置于FPC軟排線上的功能鍵進行電檢操作，其一方面FPC軟排線的外形不固定且尺寸較小，使得驅(qū)動功能鍵發(fā)生動作比較困難，另一方面FPC軟排線結(jié)構(gòu)比較脆弱，操作不當容易損壞。

因此，需要對FPC軟排練的電檢測試進行改進，以提高生產(chǎn)品質(zhì)、降低生產(chǎn)成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種FPC定位模擬機構(gòu)，通過定位FPC并驅(qū)動設(shè)置于FPC的功能鍵進行模擬動作，以取代人工模擬操作，提高FPC軟排練的電檢測試的效率、減少電檢測試對FPC軟排練可能造成的損壞。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明公開了一種FPC定位模擬機構(gòu)，用于定位FPC并驅(qū)動設(shè)置于FPC的功能鍵進行模擬動作，所述FPC定位模擬機構(gòu)包括用于定位FPC的FPC定位夾具和用于驅(qū)動功能鍵動作的動作模擬模塊，所述FPC定位夾具包括下夾具和樞接于所述下夾具的上夾具，所述下夾具的上側(cè)設(shè)置有用于限位FPC的限位部，且所述下夾具對應(yīng)FPC的連接器的下側(cè)還設(shè)置有電檢連接模塊，所述上夾具相對所述下夾具翻轉(zhuǎn)下壓并將FPC壓向所述電檢連接模塊以使得FPC與外設(shè)電檢機構(gòu)電連接；所述動作模擬模塊設(shè)置于所述上夾具，且至少一個所述動作模擬模塊伸入所述上夾具和所述下夾具之間以驅(qū)動功能鍵進行模擬動作。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的FPC定位模擬機構(gòu)，通過FPC定位夾具樞接的上夾具和下夾具以實現(xiàn)對FPC的取放和夾持，并通過上夾具的翻轉(zhuǎn)下壓以將FPC下壓以通過電檢連接模塊與外設(shè)的電檢機構(gòu)電連接；通過設(shè)置于上夾具的動作模擬模塊伸入上夾具和下夾具之間，以驅(qū)動設(shè)置于下夾具上側(cè)的限位部處的FPC上的功能鍵進行動作模擬，同時檢測與FPC電連接的外設(shè)電檢機構(gòu)監(jiān)控FPC的狀態(tài)，從而檢測FPC和設(shè)置于FPC的功能鍵的性能是否良好。根據(jù)本發(fā)明提供的FPC定位模擬機構(gòu)，通過定位并驅(qū)動FPC上的功能鍵進行動作模擬，從而取代人工模擬操作，提高FPC軟排練的電檢測試的效率、減少電檢測試對FPC軟排練可能造成的損壞。

較佳的，所述動作模擬模塊包括至少一個撥動模擬模塊，所述撥動模擬模塊包括貫穿所述上夾具的撥動塊，所述撥動塊樞接于所述上夾具，且所述撥動塊朝向設(shè)置于FPC上的撥動鍵的一側(cè)開設(shè)有撥動卡槽，所述撥動塊和所述上夾具的樞接軸垂直于撥動鍵的撥動方向；所述撥動模擬模塊還包括固定設(shè)置于所述上夾具上側(cè)以驅(qū)動所述撥動塊撥動所述撥動鍵的驅(qū)動件；通過撥動塊樞接于上夾具，且撥動塊的下端對應(yīng)撥動鍵設(shè)置撥動卡槽，從而在驅(qū)動件驅(qū)動撥動塊相對上夾具樞轉(zhuǎn)時，位于撥動塊下端的撥動卡槽動作并帶動伸入撥動卡槽內(nèi)的撥動鍵發(fā)生撥動。

具體的，所述樞接軸的軸心于豎直方向的投影偏離所述撥動卡槽的中心；FPC上側(cè)的一撥動鍵設(shè)置于斜面上，對此，本發(fā)明提供的FPC定位模擬機構(gòu)，將撥動塊和上夾具的樞轉(zhuǎn)軸的軸心于豎直方向的投影偏離撥動卡槽的中心，因而以樞轉(zhuǎn)軸為軸心發(fā)生樞轉(zhuǎn)的撥動塊下端的撥動卡槽的弧形運動軌跡，一端較高而一端較低，從而能夠有效驅(qū)動設(shè)置于斜面上的撥動鍵同時不會與斜面發(fā)生干涉。

具體的，兩所述驅(qū)動件沿垂直于所述樞接軸的方向設(shè)置，且兩所述驅(qū)動件分別對應(yīng)設(shè)置于所述撥動塊的兩側(cè)，兩所述驅(qū)動件分別用于推頂所述撥動塊相對所述上夾具樞轉(zhuǎn)，以帶動所述撥動卡槽撥動撥動鍵。

較佳的，所述動作模擬模塊包括至少一個按壓模擬模塊，所述按壓模擬模塊固定設(shè)置于所述上夾具，且所述按壓模擬模塊貫穿所述上夾具，所述按壓模擬模塊的輸出端朝向設(shè)置于FPC的按鍵伸縮以模擬按壓動作；對設(shè)置于FPC上側(cè)的按鍵，通過固定設(shè)置于上夾具的按壓模擬模塊的驅(qū)動端直線上下移動，既可以輕松實現(xiàn)對按鍵的按壓和釋放。

較佳的，所述電檢連接模塊包括豎向設(shè)置于所述下夾具的電檢探針和固定設(shè)置于所述電檢探針下方的轉(zhuǎn)接板，且若干個所述電檢探針和所述轉(zhuǎn)接板呈間隔設(shè)置；所述上夾具推頂FPC和所述電檢探針向下移動以由所述電檢探針電連接FPC和所述轉(zhuǎn)接板；FPC和電檢探針下移，從而使得電連接外設(shè)電檢設(shè)備的轉(zhuǎn)接板通過電檢探針和FPC電連接。

具體的，所述電檢探針為彈簧探針，且若干個所述電檢探針的上側(cè)還設(shè)置浮動定位板；若干個所述電檢探針的上端和FPC呈間隔設(shè)置，直至所述上夾具抵壓所述浮動定位板向下移動；電檢探針為彈簧探針，且于電檢探針上側(cè)設(shè)置浮動定位板，因而上夾具翻轉(zhuǎn)后FPC并不與電檢探針直接接觸、而是在上夾具下壓以驅(qū)動浮動定位板向下移動后，電檢探針才與FPC接觸，并在上夾具的繼續(xù)下壓動作下，電檢探針的端頭彈性下移才得以使得FPC和轉(zhuǎn)接板的電連接，根據(jù)該結(jié)構(gòu)，能夠有效保證電檢探針的安全性、避免電檢探針的受力不平衡而發(fā)生折斷。

較佳的，所述FPC定位夾具還包括樞接于所述下夾具的預(yù)壓蓋板，所述預(yù)壓蓋板位于所述上夾具和所述下夾具之間，且所述預(yù)壓蓋板翻轉(zhuǎn)并遮蓋FPC；預(yù)壓蓋板的設(shè)置，使得上夾具不與FPC直接接觸，避免上夾具在翻轉(zhuǎn)地過程中，從上夾具的下側(cè)面與FPC的一端側(cè)相接觸到上夾具和FPC的上側(cè)面完全相貼的過程中，F(xiàn)PC因為受到上夾具下側(cè)面不均勻的側(cè)壓力而發(fā)生偏移。

較佳的，所述下夾具于背離所述上夾具和所述下夾具的樞接軸的一側(cè)還設(shè)置有用于夾緊所述上夾具的夾緊模塊。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種FPC功能鍵電檢裝置，用于對設(shè)置于FPC的功能鍵進行電檢，F(xiàn)PC功能鍵電檢裝置包括檢測基座和如上任一項所述的FPC定位模擬機構(gòu)；所述檢測基座還設(shè)置有用于與FPC電連接的電路主板及用于檢測FPC功能鍵性能的電檢機構(gòu)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，由于具備上述的FPC定位模擬機構(gòu)，通過FPC定位模擬機構(gòu)對FPC進行定位和動作模擬，將FPC和電路主板電連接，以使得FPC能夠?qū)崿F(xiàn)最終產(chǎn)品的所有電路功能，并由電檢機構(gòu)在FPC定位模擬機構(gòu)對FPC進行功能鍵操作模擬時檢測FPC的狀態(tài)，從而檢測FPC和設(shè)置于FPC的功能鍵的性能是否良好。根據(jù)本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，通過檢測基座、電檢機構(gòu)、及連接于FPC的電路主板與FPC定位模擬機構(gòu)相配合，以實現(xiàn)對FPC的電檢測試，從而取代人工模擬操作，提高FPC軟排練的電檢測試的效率、減少電檢測試對FPC軟排練可能造成的損壞。

附圖說明

圖1和圖2為FPC的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明提供FPC定位模擬機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5為圖4中A-A方向的剖視圖。

圖6為圖5中B部的放大圖。

圖7為電檢連接模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖8為圖7中C-C方向的放大圖。

圖9和圖10為本發(fā)明提供FPC定位模擬機構(gòu)裝夾FPC的中間狀態(tài)示意圖。

具體實施方式

為詳細說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。

如圖3所示，本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，用于對設(shè)置于FPC400的功能鍵420進行電檢。FPC功能鍵電檢裝置包括檢測基座100、設(shè)置于檢測基座100的定位模擬機構(gòu)200、用于與FPC400電連接的電路主板300、及用于檢測FPC400功能鍵420性能的電檢機構(gòu)(圖中未示)。結(jié)合圖3-圖10所示，更具體的：

如圖1和圖2所示的用于手機的FPC400，包括FPC本體410、設(shè)置于FPC400的連接器430和功能鍵420。功能鍵420可以有若干個且不同的功能鍵420的結(jié)構(gòu)可以相同亦可以不同，功能鍵420可以為實現(xiàn)手機音量加減的音量調(diào)節(jié)鍵、用于實現(xiàn)手機開關(guān)機的開關(guān)機鍵、用于啟動手機攝像頭的攝像鍵等。其中，部分功能鍵420如音量調(diào)節(jié)鍵等可以為撥動鍵421，通過對撥動鍵421往復撥動操作以實現(xiàn)目標功能，如音量加減鍵，在本實施例中，如圖2所示，撥動鍵421設(shè)置傾斜面上；部分功能鍵420如開關(guān)機鍵或攝像鍵等可以為按鍵422，且多個按鍵422可以分別設(shè)置于FPC400本體的上側(cè)和/或下側(cè)。連接器430用于實現(xiàn)FPC400與手機的電路主板300電連接，F(xiàn)PC400和電路主板300相配合以實現(xiàn)手機所需的電路控制功能。

本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，用于對FPC400上的功能鍵420進行電檢，以檢測FPC400和設(shè)置于FPC400的功能鍵420的性能是否良好。

如圖1所示，本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置中，定位模擬機構(gòu)200和電路主板300設(shè)置于檢測基座100上側(cè)，通過定位模擬機構(gòu)200對待檢測的FPC400進行定位和模擬功能鍵420操作，而同樣設(shè)置于檢測基座100上側(cè)的電路主板300通過于FPC400電連接，以使得FPC400和電路主板300相配合實現(xiàn)目標產(chǎn)品所有的電路控制功能，設(shè)置于檢測基座100內(nèi)的電檢機構(gòu)檢測FPC400的狀態(tài)，從而檢測FPC400和設(shè)置于FPC400的功能鍵420的性能是否良好。

如圖4所示，定位模擬機構(gòu)200用于定位FPC400并驅(qū)動設(shè)置于FPC400的功能鍵420進行模擬動作。可以理解的，在圖4中，為能夠清楚示意定位模擬機構(gòu)200的結(jié)構(gòu)，去除了定位模擬機構(gòu)200外側(cè)的擋蓋。FPC定位模擬機構(gòu)200包括用于定位FPC400的FPC400定位夾具210和用于驅(qū)動功能鍵420動作的動作模擬模塊220，F(xiàn)PC400定位夾具210包括下夾具212和樞接于下夾具212的上夾具211，下夾具212的上側(cè)設(shè)置有用于限位FPC400的限位部212a，且下夾具212對應(yīng)FPC400的連接器430的下側(cè)還設(shè)置有電檢連接模塊230，上夾具211相對下夾具212翻轉(zhuǎn)下壓并將FPC400壓向電檢連接模塊230以使得FPC400與外設(shè)電檢機構(gòu)電連接；動作模擬模塊220設(shè)置于上夾具211，且至少一個動作模擬模塊220伸入上夾具211和下夾具212之間以驅(qū)動功能鍵420進行模擬動作。

更具體的，結(jié)合圖4和圖9、圖10所示，F(xiàn)PC400定位夾具210的下夾具212呈上側(cè)面大致呈矩形的平板狀結(jié)構(gòu)，上夾具211的下側(cè)面大致呈與下夾具212相對應(yīng)的矩形的平板狀結(jié)構(gòu)；上夾具211通過樞接軸221b樞接于下夾具212一側(cè)短邊處，且下夾具212對應(yīng)的另一側(cè)短邊處設(shè)置有夾緊模塊212b，當上夾具211相對下夾具212翻轉(zhuǎn)下壓實現(xiàn)上夾具211和下夾具212的合攏后，背離樞接軸221b的夾緊模塊212b夾具上夾具211，以將FPC400定位夾具210保持在鎖定的夾持狀態(tài)，如圖3所示。

再請結(jié)合圖9和圖10所示，下夾具212的上側(cè)面設(shè)置有限位部212a，具體的，下夾具212上側(cè)面的中部開設(shè)凹槽結(jié)構(gòu)，且凹槽結(jié)構(gòu)底部豎向設(shè)置有若干個與FPC400外輪廓尺寸相對應(yīng)的限位柱，將FPC400置于該限位部212a時，若干個限位柱分別于FPC400的外緣側(cè)對FPC400進行限位，使得FPC400大致保持平面狀。下夾具212的一長邊處還樞接有預(yù)壓蓋板212c，預(yù)壓蓋板212c向下夾具212的上側(cè)翻轉(zhuǎn)并蓋壓至限位部212a的上側(cè)，以將位于限位部212a處的FPC400遮蓋?？梢岳斫獾?，預(yù)壓蓋板212c位于上夾具211和下夾具212之間，并在上夾具211翻轉(zhuǎn)蓋壓至下夾具212上側(cè)之前，先行蓋壓至下夾具212上策。預(yù)壓蓋板212c的設(shè)置，使得上夾具211不與FPC400直接接觸，避免上夾具211在翻轉(zhuǎn)地過程中，從上夾具211的下側(cè)面與FPC400的一端側(cè)相接觸到上夾具211和FPC400的上側(cè)面完全相貼的過程中，F(xiàn)PC400因為受到上夾具211下側(cè)面不均勻的側(cè)壓力而發(fā)生偏移。

進一步的，結(jié)合圖7-圖10所示，置于限位部212a的FPC400的連接器430朝向下夾具212上側(cè)面地設(shè)置。為使得FPC400能夠與電檢機構(gòu)相連接，電檢連接模塊230對應(yīng)設(shè)置于下夾具212，且電檢連接模塊230對應(yīng)連接器430地設(shè)置。具體的，開設(shè)于下夾具212上側(cè)面中部的凹槽結(jié)構(gòu)呈階梯狀，若干個限位柱設(shè)置凹槽結(jié)構(gòu)的上側(cè)階梯面，而電檢連接模塊230設(shè)置于凹槽結(jié)構(gòu)的下側(cè)階梯面，以使得電檢連接模塊230位于置于限位部212a的FPC400的下側(cè)、電檢連接模塊230的上側(cè)的連接端正對FPC400的連接器430。

如圖7和圖8所示，電檢連接模塊230包括豎向設(shè)置的電檢探針231和固定設(shè)置于電檢探針231下方的轉(zhuǎn)接板232，且若干個電檢探針231和轉(zhuǎn)接板232呈間隔設(shè)置；上夾具211推頂FPC400向下移動以由電檢探針231電連接FPC400和轉(zhuǎn)接板232。更具體的，如圖7和圖8所示，電檢連接模塊230包括用于固定連接下模塊的固定連接塊，轉(zhuǎn)接板232固定地設(shè)置于固定連接塊下側(cè)，固定連接塊開設(shè)有若干個豎向貫穿孔，若干個電檢探針231分別固定地設(shè)置于豎向貫穿孔內(nèi)，且電檢探針231為彈簧探針，電檢探針231的上下兩電連接端可以相對固定連接板234上下移動；固定連接板234的上側(cè)設(shè)置有浮動連接板，且浮動連接板和固定連接板234上側(cè)之間夾設(shè)有彈性件，且浮動連接板對應(yīng)若干個電檢探針231的上端設(shè)置有避讓位233a。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，上夾具211翻轉(zhuǎn)后FPC400并不與電檢探針231直接接觸、而是在上夾具211下壓以驅(qū)動浮動定位板233向下移動后，電檢探針231才與FPC400接觸，并在上夾具211的繼續(xù)下壓動作下，電檢探針231的端頭彈性下移才得以使得FPC400和轉(zhuǎn)接板232的電連接，從而有效保證電檢探針231的安全性、避免電檢探針231的受力不平衡而發(fā)生折斷。

可以理解的，如圖9和圖10所示，浮動定位板233的上側(cè)不與上夾具211的下側(cè)面直接接觸，而是被預(yù)壓蓋板212c抵壓，并在上夾具211的翻轉(zhuǎn)下壓的過程中后推頂向下移動，進而實現(xiàn)FPC400和連接板及連接于連接板的電檢機構(gòu)電連接。

再請參閱圖4-圖6和圖9-圖10所示，置于限位部212a的FPC400，具有位于FPC400上側(cè)面的一個撥動鍵421和兩個按鍵422，和位于FPC400下側(cè)面的一個按鍵422。設(shè)置于上夾具211的動作模擬模塊220對應(yīng)撥動鍵421和按鍵422地設(shè)置：一個撥動模擬模塊221221穿過上夾具211并伸入上夾具211和夾具之間，并對撥動鍵421進行撥動模擬動作；三個按鍵422模擬模塊分別穿過上夾具211并伸入上夾具211和夾具之間，并對按鍵422進行按壓模擬動作?？梢岳斫獾?，無論按鍵422位于FPC400的上側(cè)面抑或下側(cè)面，按鍵422模擬模塊向下直接抵壓按鍵422抑或抵壓設(shè)置有按鍵422的FPC400部位的背側(cè)，均能夠驅(qū)動按鍵422模擬按壓動作。

結(jié)合圖5和圖6所示，撥動模擬模塊221221包括貫穿上夾具211的撥動塊221a，撥動塊221a樞接于上夾具211，且撥動塊221a朝向設(shè)置于FPC400上的撥動鍵421的一側(cè)開設(shè)有撥動卡槽221a，撥動塊221a和上夾具211的樞接軸221b垂直于撥動鍵421的撥動方向；撥動模擬模塊221221還包括固定設(shè)置于上夾具211上側(cè)以驅(qū)動撥動塊221a撥動撥動鍵421的驅(qū)動件221c。具體的：上夾具211開設(shè)有多個上夾具211上下兩側(cè)面的安裝孔211a，撥動塊221a插入一安裝孔211a內(nèi)，且安裝孔211a的內(nèi)徑尺寸大于撥動塊221a的外壁尺寸；撥動塊221a通過樞接軸221b樞接于安裝孔211a的內(nèi)壁，因而撥動塊221a可以于安裝孔211a內(nèi)在一定幅度范圍內(nèi)發(fā)生擺動；撥動塊221a的上端伸出上夾具211的上側(cè)面，且兩驅(qū)動件221c沿垂直于樞接軸221b的方向設(shè)置，且兩驅(qū)動件221c分別對應(yīng)設(shè)置于撥動塊221a的兩側(cè)，兩驅(qū)動件221c分別用于推頂撥動塊221a以控制撥動塊221a的擺動；撥動塊221a的下端對應(yīng)撥動鍵421設(shè)置撥動卡槽221a，從而在驅(qū)動件221c驅(qū)動撥動塊221a相對上夾具211樞轉(zhuǎn)時，位于撥動塊221a下端的撥動卡槽221a動作并帶動伸入撥動卡槽221a內(nèi)的撥動鍵421發(fā)生撥動。

較佳的，由于撥動鍵421設(shè)置于傾斜面上，對此，本發(fā)明提供的解決方案為：樞接軸221b的軸心于豎直方向的投影偏離撥動卡槽221a的中心；本發(fā)明提供的FPC定位模擬機構(gòu)200中，將撥動塊221a和上夾具211的樞轉(zhuǎn)軸的軸心于豎直方向的投影偏離撥動卡槽221a的中心，因而以樞轉(zhuǎn)軸為軸心發(fā)生樞轉(zhuǎn)的撥動塊221a下端的撥動卡槽221a的弧形運動軌跡，一端較高而另一端較低，從而能夠有效驅(qū)動設(shè)置于斜面上的撥動鍵421同時不會與斜面發(fā)生干涉。

再請參閱圖4和圖9-圖10所示，按壓模擬模塊222固定設(shè)置于上夾具211，且按壓模擬模塊222貫穿上夾具211，按壓模擬模塊222的輸出端朝向設(shè)置于FPC400的按鍵422伸縮以模擬按壓動作；對設(shè)置于FPC400上側(cè)的按鍵422，通過固定設(shè)置于上夾具211的按壓模擬模塊222的驅(qū)動端直線上下移動，既可以輕松實現(xiàn)對按鍵422的按壓和釋放。

結(jié)合圖1-圖10所示，對本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置的工作過程做一詳細說明：

先行將上夾具211翻轉(zhuǎn)打開、將預(yù)壓蓋板212c翻轉(zhuǎn)打開，暴露出限位部212a，以便將FPC400置于限位部212a，如圖9所示；

將預(yù)壓蓋板212c翻轉(zhuǎn)至下夾具212的上側(cè)面，以將FPC400可靠的定位，如圖10所示；

再行將上夾具211翻轉(zhuǎn)至下夾具212上側(cè)，直至上夾具211的可動端被夾緊模塊212b鎖定，在此過程中，預(yù)壓蓋板212c和位于預(yù)壓蓋板212c下的浮動定位板233被上夾具211下壓、FPC400和電檢探針231的連接端向下移動，以使得FPC400、電檢探針231、連接板、及電連接于連接板的電檢機構(gòu)形成電連接，如圖2所示；

驅(qū)動件221c動作，驅(qū)動撥動塊221a相對樞接軸221b樞轉(zhuǎn)，以撥動撥動鍵421；三個按壓模擬模塊222的輸出端亦順序向下伸出以按壓按鍵422；在此過程中，電檢機構(gòu)監(jiān)控FPC400的狀態(tài)，從而檢測FPC400和設(shè)置于FPC400的功能鍵420的性能是否良好。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，由于具備上述的FPC定位模擬機構(gòu)200，通過FPC定位模擬機構(gòu)200對FPC400進行定位和動作模擬，將FPC400和電路主板300電連接，以使得FPC400能夠?qū)崿F(xiàn)最終產(chǎn)品的所有電路功能，并由電檢機構(gòu)在FPC定位模擬機構(gòu)200對FPC400進行功能鍵420操作模擬時檢測FPC400的狀態(tài)，從而檢測FPC400和設(shè)置于FPC400的功能鍵420的性能是否良好。根據(jù)本發(fā)明提供的FPC功能鍵電檢裝置，通過檢測基座100、電檢機構(gòu)、及連接于FPC400的電路主板300與FPC定位模擬機構(gòu)200相配合，以實現(xiàn)對FPC400的電檢測試，從而取代人工模擬操作，提高FPC400軟排練的電檢測試的效率、減少電檢測試對FPC400軟排練可能造成的損壞。

以上所揭露的僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，當然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。