本發(fā)明涉及電子儀器測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種板卡測(cè)試機(jī)。

背景技術(shù)：

在對(duì)板卡的功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一般將板卡固定在板卡測(cè)試機(jī)的板卡固定板上，使板卡上的焊點(diǎn)與測(cè)試盒的探針接觸，然后探針將焊點(diǎn)的電信號(hào)傳導(dǎo)至測(cè)試裝置，以對(duì)板卡的電性能進(jìn)行測(cè)試；為了使板卡的焊點(diǎn)與測(cè)試盒的探針有效接觸，需要將測(cè)試盒定位到工裝夾具上，通過(guò)氣缸推動(dòng)頂針向下運(yùn)動(dòng)將板卡壓緊，以使板卡的焊點(diǎn)與探針可靠接觸。

而為了便于自動(dòng)化操作，將測(cè)試盒設(shè)置了上料/卸料工位和測(cè)試工位，并由氣缸驅(qū)動(dòng)測(cè)試盒在這兩個(gè)工位之間往復(fù)運(yùn)動(dòng)，但是，現(xiàn)有的測(cè)試盒的探針是通過(guò)導(dǎo)線與測(cè)試裝置連接的，當(dāng)測(cè)試盒在那兩個(gè)工位之間往復(fù)運(yùn)動(dòng)時(shí)，導(dǎo)線也會(huì)受到測(cè)試盒的拉扯而隨之運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)線拉扯頻繁會(huì)使導(dǎo)線與探針的連接處疲勞導(dǎo)致接觸不良，影響檢測(cè)結(jié)果；同時(shí)，導(dǎo)線也會(huì)容易被扯斷而頻繁更換，影響板卡的測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種設(shè)有導(dǎo)線不會(huì)隨著測(cè)試盒運(yùn)動(dòng)的接觸供電測(cè)試裝置的板卡測(cè)試機(jī)，以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同是提高板卡的測(cè)試效率。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種板卡測(cè)試機(jī)，包括基座、設(shè)置在所述基座上的板卡測(cè)試裝置、用于輸送板卡的傳送裝置以及用于抓取和搬運(yùn)板卡的機(jī)械手，所述板卡測(cè)試裝置和所述機(jī)械手設(shè)在所述基座上，所述基座上還設(shè)有用于定位機(jī)械手運(yùn)行位置的光學(xué)定位儀；其中，所述板卡測(cè)試裝置包括底座、架設(shè)在所述底座上的龍門架、板卡測(cè)試組件以及設(shè)置在所述龍門架頂部的，用于壓緊板卡的壓緊組件；所述底座上設(shè)有導(dǎo)軌及第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述板卡測(cè)試組件設(shè)置在所述導(dǎo)軌上，所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件沿所述導(dǎo)軌移動(dòng)；所述龍門架的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口，在所述板卡測(cè)試組件上與所述測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)部上設(shè)有與所述測(cè)試引腳接收端口相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述測(cè)試引腳輸入端口與所述測(cè)試引腳接收端口對(duì)應(yīng)插接。

作為優(yōu)選方案，所述龍門架的下端設(shè)有橫板，所述橫板的兩端分別跨接在所述龍門架的兩個(gè)相對(duì)的立柱上；所述測(cè)試引腳接收端口包括引腳集成塊和多個(gè)第一引腳，所述引腳集成塊固定在所述橫板的中部，多個(gè)所述第一引腳排列在所述引腳集成塊上，且所述第一引腳的兩端從所述引腳集成塊中穿出。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試引腳輸入端口包括多個(gè)第二引腳，多個(gè)所述第二引腳排列在所述側(cè)部上，且所述第二引腳的一端伸入到所述板卡測(cè)試組件內(nèi)，所述第二引腳的另一端露出所述板卡測(cè)試組件；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述第一引腳與所述第二引腳對(duì)應(yīng)連接。

作為優(yōu)選方案，所述板卡測(cè)試組件的所述側(cè)部上設(shè)有與所述引腳集成塊位置相對(duì)應(yīng)的插接口；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述引腳集成塊對(duì)應(yīng)插接在所述插接口內(nèi)。

作為優(yōu)選方案，所述板卡測(cè)試組件包括測(cè)試盒以及由底板和側(cè)壁圍成的上部開(kāi)口的測(cè)試盒固定殼；所述測(cè)試盒固定殼的底部連接在所述導(dǎo)軌上，所述測(cè)試盒固定殼與所述測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)壁上設(shè)有供所述測(cè)試引腳接收端口的引腳集成塊對(duì)應(yīng)插接的插接口；所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)設(shè)有壓緊組件，所述壓緊組件的壓緊塊的至少一部分可從所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)伸出和退回；當(dāng)測(cè)試盒從所述測(cè)試盒固定殼的開(kāi)口插入所述測(cè)試盒固定殼時(shí)，所述壓緊塊抵靠在所述測(cè)試盒的側(cè)壁上。

作為優(yōu)選方案，所述壓緊組件包括第一彈性件、壓緊塊及固定塊，所述第一彈性件的一端連接在所述殼體的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)上，所述第一彈性件的另一端連接所述壓緊塊；所述固定塊的中部設(shè)有過(guò)孔，所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁內(nèi)側(cè)設(shè)有收容槽；所述固定塊固定在所述收容槽內(nèi)，所述壓緊塊的外側(cè)部輪廓與所述過(guò)孔內(nèi)側(cè)部輪廓形狀配合，且所述壓緊塊可沿所述通孔的軸向移動(dòng)。

作為優(yōu)選方案，所述壓緊塊伸出所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的端面上設(shè)有自所述測(cè)試盒固定殼的開(kāi)口向所述測(cè)試盒固定殼底部?jī)A斜設(shè)置的導(dǎo)向部以及承接在所述導(dǎo)向部末端的壓緊部。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試盒包括上端開(kāi)口的殼體、外圍尺寸大于所述殼體的開(kāi)口的外圍尺寸的上蓋以及板卡固定板，所述上蓋可拆卸地固定在所述殼體的上端，且所述上蓋的靠近其外圍的區(qū)域伸出所述殼體的側(cè)壁外側(cè)，所述板卡固定板可浮動(dòng)地設(shè)于所述上蓋的上表面；所述板卡固定板上設(shè)有多個(gè)與板卡的焊錫點(diǎn)位置相對(duì)應(yīng)的第一通孔，所述上蓋與所述第一通孔相對(duì)應(yīng)的位置上設(shè)有第三引腳，所述第三引腳的下端與所述測(cè)試引腳輸入端口的引腳電連接，所述第三引腳的上端伸出所述上蓋的上表面且與所述第一通孔相對(duì)應(yīng)。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的上端設(shè)有定位銷，所述上蓋的伸出所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁外側(cè)的區(qū)域內(nèi)設(shè)有與所述定位銷相匹配的定位孔；當(dāng)所述測(cè)試盒插接于所述測(cè)試盒固定殼內(nèi)時(shí)，所述定位孔對(duì)應(yīng)套接于所述定位銷上。

作為優(yōu)選方案，所述上蓋上設(shè)有多個(gè)彈性定位件，所述彈性定位件包括套筒、定位桿和第三彈性件，在所述板卡固定板與所述彈性定位件相對(duì)應(yīng)的位置處設(shè)有第二通孔，所述套筒垂直地固定在所述上蓋上，所述第三彈性件設(shè)于所述套筒內(nèi)，所述定位桿的一端可滑動(dòng)地套接于所述套筒內(nèi)，所述定位桿的另一端設(shè)有錐形定位部，且該錐形定位部穿出所述第二通孔。

本發(fā)明的板卡測(cè)試機(jī)，在板卡測(cè)試裝置的龍門架的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口，在板卡測(cè)試組件上與測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)部上設(shè)有與測(cè)試引腳接收端相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口；當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件移進(jìn)龍門架(即測(cè)試盒位于測(cè)試工位)時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口對(duì)應(yīng)插接，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試盒與測(cè)試裝置良好電連接，而當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件移出龍門架(即測(cè)試盒位于上料/卸料工位)時(shí)測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口斷開(kāi)，此時(shí)，由于板卡不需要測(cè)試，測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口斷開(kāi)不影響測(cè)試進(jìn)程，因此，不需要導(dǎo)線將測(cè)試盒與測(cè)試裝置連接，從而可以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同時(shí)提高板卡的測(cè)試效率。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)例的板卡測(cè)試機(jī)去掉機(jī)殼后的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖2是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的板卡測(cè)試裝置的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖3是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的板卡測(cè)試裝置的測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口的連接結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試盒固定殼的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖5是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試盒的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖。

其中，1、基座；2、板卡測(cè)試裝置；21、底座；211、導(dǎo)軌；212、第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；22、龍門架；23、板卡測(cè)試組件；231、測(cè)試盒固定殼；2310、插接口；2311、測(cè)試盒固定殼側(cè)壁；2312、壓緊塊；2313、第一彈性件；2314、收容槽；2315、固定塊；2316、過(guò)孔；2317、導(dǎo)向部；2318、壓緊部；2319、定位銷；232、測(cè)試盒；2320、殼體；2321、測(cè)試盒側(cè)壁；2322、上蓋；2323、板卡固定板；2324、第一通孔；2325、彈性支撐件；23251、導(dǎo)向筒；23252、支撐桿；2326、第三引腳；2327、定位孔；2328、彈性定位件；23281、套筒；23282、定位桿；23283、錐形定位部；2329、第二通孔；24、壓緊組件；241、第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；242、下壓板；25、橫板；250、引腳穿過(guò)孔；26、測(cè)試引腳接收端口；261、引腳集成塊；262、第一引腳；27、測(cè)試引腳輸入端口；270、第二引腳；3、機(jī)械手；41、第一傳送帶；42、第二傳送帶；43、第三傳送帶；5、光學(xué)定位儀；6、安裝架；7、防護(hù)網(wǎng)。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明，但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。

結(jié)合圖1至圖5所示，示意性地顯示了本發(fā)明實(shí)施例的板卡測(cè)試機(jī)，包括基座1、設(shè)置在基座1上的多個(gè)板卡測(cè)試裝置2、用于輸送板卡的傳送裝置以及用于抓取和搬運(yùn)板卡的機(jī)械手3，多個(gè)板卡測(cè)試裝置2設(shè)在基座1上，并均勻分布在基座1的兩側(cè)，機(jī)械手3設(shè)于基座1上，并位于基座1兩側(cè)的板卡測(cè)試裝置2之間；作為優(yōu)選，板卡測(cè)試裝置2的數(shù)量設(shè)為四個(gè)，該四個(gè)板卡測(cè)試裝置2對(duì)稱分布在基座1的兩側(cè)；在基座1上還設(shè)有用于定位機(jī)械手3運(yùn)行位置的光學(xué)定位儀5；作為優(yōu)選，傳送裝置包括第一傳送帶41、第二傳送帶42及第三傳送帶43，其中，第一傳送帶41及第二傳送帶42排布在基座1的同一側(cè)，且大致與基座1的長(zhǎng)度方向保持平行，第一傳送帶41及第二傳送帶42相鄰的端部靠近在一起；第三傳送帶43沿基座1的寬度方向設(shè)置，且從基座1兩側(cè)的板卡測(cè)試裝置2之間穿過(guò)，第三傳送帶43的一端靠近第一傳送帶41及第二傳送帶42相鄰的端部；其中，第一傳送帶41用于輸送待檢測(cè)板卡，第二傳送帶42用于輸送檢測(cè)合格的板卡，第三傳送帶43用于輸送檢測(cè)不合格的板卡。

本發(fā)明實(shí)施例的機(jī)械手為本領(lǐng)域常用的標(biāo)準(zhǔn)件，其具體結(jié)構(gòu)和功能不作一一介紹。

本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)定位儀5優(yōu)選為CCD相機(jī)，光學(xué)定位儀5可以定位各板卡測(cè)試裝置2及各傳送帶的位置信息以及實(shí)時(shí)跟蹤機(jī)械手3的運(yùn)動(dòng)位置信息，并將位置信息傳送給中央處理模塊，以利于中央處理模塊控制機(jī)械手3運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)抓取或放置板卡的動(dòng)作；例如，當(dāng)?shù)谝粋魉蛶?1輸送的待測(cè)試板卡進(jìn)入到抓取區(qū)時(shí)，光學(xué)定位儀5首先定位出該板卡的位置，并將該位置信息反饋給中央處理模塊，中央處理模塊控制機(jī)械手3的移動(dòng)到該板卡的位置處，將板卡抓取，然后放置到空閑的板卡測(cè)試裝置2上；若板卡測(cè)試裝置2檢測(cè)出合格板卡，則會(huì)反饋合格信息給中央處理模塊，隨之，中央處理模塊控制機(jī)械手3動(dòng)作將檢測(cè)合格的板卡搬運(yùn)到第二傳送帶42上運(yùn)走；若板卡測(cè)試裝置2檢測(cè)出不合格板卡，則會(huì)反饋不合格信息給中央處理模塊，隨之，中央處理模塊控制機(jī)械手3動(dòng)作將檢測(cè)不合格的板卡搬運(yùn)到第三傳送帶43上運(yùn)走，從而實(shí)現(xiàn)板卡測(cè)試機(jī)的全自動(dòng)板卡測(cè)試功能。

如圖1所示，光學(xué)定位儀5設(shè)置在第一傳送帶41、第二傳送帶42及第三傳送帶43交接處的上方，以便全面獲取位置信息；基座1的一側(cè)設(shè)有安裝架6，光學(xué)定位儀5安裝在該安裝架6上；為了保護(hù)機(jī)械手3的工作區(qū)域不受外界干擾，在機(jī)械手工作區(qū)域的外圍還設(shè)有防護(hù)網(wǎng)7，該防護(hù)網(wǎng)7大致為方形網(wǎng)狀殼體；作為優(yōu)選，該防護(hù)網(wǎng)7架設(shè)在第一傳送帶41、第二傳送帶42及第三傳送帶43交接處的外側(cè)，以便更好地保護(hù)機(jī)械手3的工作區(qū)域不受外界干擾；此外，還可在基座1上設(shè)置機(jī)殼(未圖示)，該機(jī)殼架設(shè)在基座1的上端，其大致為方形殼體，以便能夠完全罩住基座1上設(shè)置的板卡測(cè)試裝置2。

結(jié)合圖2至圖5所示，板卡測(cè)試機(jī)的板卡測(cè)試裝置2包括底座21、架設(shè)在底座21上的龍門架222、板卡測(cè)試組件23以及設(shè)置在龍門架222頂部的，用于壓緊板卡的壓緊組件24；在底座21上設(shè)有導(dǎo)軌211及第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)212，該板卡測(cè)試組件23設(shè)置在導(dǎo)軌211上，第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)212驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件23沿導(dǎo)軌211移動(dòng)；在龍門架222的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口26，在板卡測(cè)試組件23上與測(cè)試引腳接收端口26相向的側(cè)部上設(shè)有與測(cè)試引腳接收端口26相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口27。

當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)212驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件23移進(jìn)龍門架22時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口27與測(cè)試引腳接收端口26對(duì)應(yīng)插接，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試盒與測(cè)試裝置良好電連接，而當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)212驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件23移出龍門架22(即測(cè)試盒位于上料/卸料工位)時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口27與測(cè)試引腳接收端口26斷開(kāi)，此時(shí)，由于板卡不需要測(cè)試，測(cè)試引腳輸入端口27與測(cè)試引腳接收端口26的斷開(kāi)不影響測(cè)試進(jìn)程，因此，不需要導(dǎo)線將測(cè)試盒與測(cè)試裝置連接，從而可以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同時(shí)提高板卡的測(cè)試效率。

請(qǐng)結(jié)合圖2及圖3所示，可以在龍門架22的下端設(shè)置橫板25，該橫板25的兩端分別跨接在龍門架22的兩個(gè)相對(duì)的立柱上；測(cè)試引腳接收端口26可以包括引腳集成塊261和多個(gè)第一引腳262，該引腳集成塊261固定在橫板25的中部，多個(gè)第一引腳262排列在引腳集成塊261上，且第一引腳262的兩端從引腳集成塊261中穿出；第一引腳262的一端可以通過(guò)導(dǎo)線與測(cè)試裝置點(diǎn)連接，第一引腳262的另一端用于與測(cè)試引腳輸入端口27對(duì)應(yīng)對(duì)接；可以在橫板25的中部設(shè)置引腳穿過(guò)孔250，以便第一引腳262穿過(guò)，避免與第一引腳262連接的導(dǎo)線需要繞過(guò)橫板25，造成接觸不良。

請(qǐng)結(jié)合圖3及圖5所示，測(cè)試引腳輸入端口27包括多個(gè)第二引腳270，多個(gè)第二引腳270排列在板卡測(cè)試組件23與測(cè)試引腳接收端口26相對(duì)應(yīng)的側(cè)部上，且第二引腳270的一端伸入到板卡測(cè)試組件23內(nèi)，第二引腳270的另一端露出板卡測(cè)試組件23；在板卡測(cè)試組件23的測(cè)試引腳接收端口26相對(duì)應(yīng)的側(cè)部上設(shè)有與引腳集成塊261位置相對(duì)應(yīng)的插接口2310；當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)212驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件23移進(jìn)龍門架22時(shí)，該引腳集成塊261對(duì)應(yīng)插接在插接口2310內(nèi)。

請(qǐng)結(jié)合圖2至圖5所示，板卡測(cè)試組件23包括測(cè)試盒232以及由底板和側(cè)壁圍成的上部開(kāi)口的測(cè)試盒固定殼231；測(cè)試盒固定殼231的底部連接在導(dǎo)軌211上，插接口2310設(shè)置在測(cè)試盒固定殼231與測(cè)試引腳接收端口26相向的側(cè)壁，即測(cè)試盒固定殼側(cè)壁2311上；測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)設(shè)有壓緊組件，該壓緊組件的壓緊塊2312的至少一部分可從測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)伸出和退回；當(dāng)測(cè)試盒232從測(cè)試盒固定殼231的開(kāi)口插入時(shí)，壓緊塊2312抵靠在測(cè)試盒232的側(cè)壁上。

作為優(yōu)選方案，壓緊組件包括壓緊塊2312、第一彈性件2313及固定塊2315，第一彈性件2313的一端連接在測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)上，第一彈性件2313的另一端連接壓緊塊2312；固定塊2315的中部設(shè)有過(guò)孔2316，測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁內(nèi)側(cè)設(shè)有收容槽2314；固定塊2315固定在收容槽2314內(nèi)，壓緊塊2312的外側(cè)部輪廓與過(guò)孔2316內(nèi)側(cè)部輪廓形狀配合，且壓緊塊2312可沿過(guò)孔2316的軸向移動(dòng)。

當(dāng)測(cè)試盒232從開(kāi)口中插入測(cè)試盒固定殼231時(shí)，測(cè)試盒232的側(cè)壁會(huì)頂推壓緊塊2312退回，而壓緊塊2312由于第一彈性件2313的反作用力，則始終會(huì)抵靠在測(cè)試盒232的側(cè)壁上，從而以對(duì)測(cè)試盒232進(jìn)行可靠定位，防止測(cè)試盒放生晃動(dòng)；而由于第一彈性件2313的可壓縮和回彈的性能，使得壓緊塊2312能夠伸出和退回一段行程，從而能夠允許具有不同尺寸的測(cè)試盒插入測(cè)試盒固定殼2310內(nèi)進(jìn)行固定，以此提高了測(cè)試盒固定裝置的通用性，并且操作也極為方便，可以提高板卡的測(cè)試效率。

可以在壓緊塊2312伸出測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁的端面上設(shè)置自測(cè)試盒固定殼231的開(kāi)口向測(cè)試盒固定殼231底部?jī)A斜的導(dǎo)向部2317以及承接在導(dǎo)向部2317末端的壓緊部2318；導(dǎo)向部2317對(duì)測(cè)試盒232具有導(dǎo)向作用，以利于測(cè)試盒232的插入，并通過(guò)壓緊部2318將測(cè)試盒232壓緊固定。

請(qǐng)結(jié)合圖1至圖4所示，測(cè)試盒232包括上端開(kāi)口的殼體2320、外圍尺寸大于殼體2320的開(kāi)口的外圍尺寸的上蓋2322以及板卡固定板2323，上蓋2322可拆卸地固定在殼體2320的上端，且上蓋2322的靠近其外圍的區(qū)域伸出殼體2320的側(cè)壁外側(cè)，板卡固定板2323可浮動(dòng)地設(shè)于上蓋2322的上表面；板卡固定板2323上設(shè)有多個(gè)與板卡的焊錫點(diǎn)位置相對(duì)應(yīng)的第一通孔2324，上蓋2322與第一通孔423相對(duì)應(yīng)的位置上設(shè)有第三引腳2326，第三引腳2326的下端與測(cè)試引腳輸入端口27的第二引腳270電連接，第三引腳2326的上端伸出上蓋2322的上表面且與第一通孔2324相對(duì)應(yīng)。

在上蓋2322上設(shè)有多個(gè)彈性支撐件2325，該彈性支撐件2325包括導(dǎo)向筒23251、支撐桿23252和第二彈性件(未圖示)，導(dǎo)向筒23251垂直地固定在上蓋2322上且伸入到殼體2320內(nèi)，第二彈性件設(shè)于導(dǎo)向筒23251內(nèi)，支撐桿23252的一端可滑動(dòng)地套接于導(dǎo)向筒23251內(nèi)且其端面與第一彈性件抵接，支撐桿23252的另一端固定連接板卡固定板2323的下表面；當(dāng)測(cè)試架(未圖示)的頂桿從上往下頂推板卡固定板2323時(shí)，第二彈性件被壓縮，板卡固定板2323向下運(yùn)動(dòng)，當(dāng)壓緊組件24的第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)241驅(qū)動(dòng)下壓板242抬升時(shí)，第二彈性件回復(fù)從而將支撐桿23252向?qū)蛲?3251外推出，使得板卡固定板2323向上運(yùn)動(dòng)。

可以在上蓋2322上設(shè)有多個(gè)彈性定位件2328，該彈性定位件2328包括套筒23281、定位桿23282和第三彈性件(未圖示)，在板卡固定板2323與彈性定位件323相對(duì)應(yīng)的位置處設(shè)有第二通孔2329，套筒23281垂直地固定在上蓋2322上，第三彈性件設(shè)于套筒23281內(nèi)，定位桿23282的一端可滑動(dòng)地套接于套筒23281內(nèi)，定位桿23282的另一端設(shè)有錐形定位部23283，且該錐形定位部23283穿出第二通孔2329；彈性定位件2328可以對(duì)放入到板卡固定板2323上的板卡(未圖示)進(jìn)行準(zhǔn)確定位，在對(duì)板卡進(jìn)行定位時(shí)，板卡上的基準(zhǔn)孔套接在錐形定位部23283上，錐形定位部23283可以對(duì)板卡的位置進(jìn)行自適應(yīng)調(diào)整，以提高板卡的定位的準(zhǔn)確性。

可以在測(cè)試盒固定殼231的側(cè)壁的上端設(shè)有定位銷2319，在測(cè)試盒232的上蓋323的伸出殼體2320的側(cè)壁外側(cè)的區(qū)域內(nèi)設(shè)有與定位銷2319相匹配的定位孔2327；當(dāng)測(cè)試盒232插接于測(cè)試盒固定殼231內(nèi)時(shí)，定位孔2327對(duì)應(yīng)套接于定位銷2319上；采用這種定位方式，可以將測(cè)試盒232準(zhǔn)確地定位到測(cè)試盒固定殼231上，并且其定位準(zhǔn)確性不受測(cè)試盒232尺寸的影響。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。