技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型提出一種防止電嘴半導(dǎo)體塊崩角的試驗(yàn)夾具，包括殼體、定位套、中心電極、側(cè)電極和半導(dǎo)體塊；側(cè)電極外端具有向內(nèi)的L型臺階；在側(cè)電極與半導(dǎo)體塊裝配后，L型臺階與半導(dǎo)體塊外邊緣棱角貼合并包覆；側(cè)電極與半導(dǎo)體塊接觸面的光潔度為Ra0.8；中心電極外端帽蓋與芯桿為一體結(jié)構(gòu)，帽蓋與芯桿的T型根部清根；中心電極與半導(dǎo)體塊裝配后，中心電極外端帽蓋與側(cè)電極L型臺階共同定位半導(dǎo)體塊；中心電極與半導(dǎo)體塊接觸面的光潔度為Ra0.8。本實(shí)用新型能有效保護(hù)半導(dǎo)體放電端外邊緣棱角，有效減少半導(dǎo)體工作時(shí)電蝕造成崩角的問題，提高中心電極、側(cè)電極與半導(dǎo)體塊接觸面的光潔度，減少電極腐蝕，提高試驗(yàn)夾具的壽命，側(cè)電極L型臺階的定位作用，簡化了裝配過程，提高了裝配效率。

技術(shù)研發(fā)人員：宋樂;李忠祥;胡冬蘭
受保護(hù)的技術(shù)使用者：陜西航空電氣有限責(zé)任公司
文檔號碼：201621397013
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.20
技術(shù)公布日：2017.10.17