1.一種防止電嘴半導體塊崩角的試驗夾具，包括殼體、定位套、中心電極、側(cè)電極和半導體塊；其特征在于：
側(cè)電極外端具有向內(nèi)的L型臺階；在側(cè)電極與半導體塊裝配后，L型臺階與半導體塊外邊緣棱角貼合并包覆；側(cè)電極與半導體塊接觸面的光潔度為Ra0.8；
中心電極外端帽蓋與芯桿為一體結(jié)構(gòu)，帽蓋與芯桿的T型根部清根；中心電極與半導體塊裝配后，中心電極外端帽蓋與側(cè)電極L型臺階共同定位半導體塊；中心電極與半導體塊接觸面的光潔度為Ra0.8。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種防止電嘴半導體塊崩角的試驗夾具，其特征在于：側(cè)電極L型臺階與中心電極外端帽蓋之間的徑向間隙尺寸滿足放電間隙尺寸要求。