技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型涉及一種LCD外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，包括：線陣掃描相機(jī)、光學(xué)成像鏡頭、線陣光源、角位調(diào)節(jié)平臺(tái)、XY微調(diào)平臺(tái)和條形出光孔；線陣掃描相機(jī)，位于LCD顯示屏被測(cè)表面?zhèn)?；光學(xué)成像鏡頭，位于線陣掃描相機(jī)與LCD顯示屏被測(cè)表面中間，并與線陣掃描相機(jī)連接；線陣光源，位于線陣掃描相機(jī)的安裝平面與LCD顯示屏被測(cè)表面的中間區(qū)域且橫跨LCD顯示屏被測(cè)表面，包括與其長(zhǎng)度相同且平行于LCD顯示屏被測(cè)表面的條形出光孔；角位調(diào)節(jié)平臺(tái)，與XY微調(diào)平臺(tái)連接；XY微調(diào)平臺(tái)，與線陣掃描相機(jī)連接。該光學(xué)檢測(cè)裝置解決了LCD顯示屏人工檢查及出廠人工復(fù)判用時(shí)長(zhǎng)和工作效率低等問(wèn)題，很大程度上提高了生產(chǎn)效率和LCD顯示屏出廠質(zhì)量。

技術(shù)研發(fā)人員：王樹(shù)雨;吳垠;杜春紅;許偉麗;徐江偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京兆維電子（集團(tuán)）有限責(zé)任公司
文檔號(hào)碼：201621277024
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.25
技術(shù)公布日：2017.06.06