本實用新型涉及一種芯片檢測裝置的上蓋。

背景技術(shù)：

芯片檢測裝置是一種對芯片的性能進(jìn)行檢測的裝置，其通常包括箱體，所述箱體包括底壁、前壁、后壁、上蓋以及兩側(cè)壁，所述箱體內(nèi)設(shè)置有芯片檢測電路板組，所述后壁上設(shè)置有散熱風(fēng)扇組，所述芯片檢測電路板組包括若干數(shù)量的平行并間隔設(shè)置的芯片檢測電路板，所述散熱風(fēng)扇組包括呈平行排列的若干數(shù)量的散熱風(fēng)扇。然而現(xiàn)有的芯片檢測裝置的上蓋，存在結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定、使用不方便的缺點。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、使用方便的芯片檢測裝置的上蓋。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了如下技術(shù)方案：一種母芯片檢測裝置的上蓋，包括外蓋體與內(nèi)蓋體，所述外蓋體上設(shè)置有鉸接軸，所述內(nèi)蓋體上設(shè)置有若干數(shù)量的過線孔，所述內(nèi)蓋體上還固定設(shè)置有束線板，所述束線板上設(shè)置有束線孔，所述外蓋體的一端與內(nèi)蓋體的一端鉸接連接，外蓋體的另一端與內(nèi)蓋體的另一端通過螺釘相連接。

本實用新型技術(shù)方案，將導(dǎo)線整理在外蓋體與內(nèi)蓋體之間，外蓋體與內(nèi)蓋體均可打開，可方便的檢查箱體內(nèi)情況以及導(dǎo)線排布情況，從而方便使用。

本實用新型進(jìn)一步設(shè)置：所述上蓋體設(shè)置有側(cè)板以及連接板，所述鉸接軸設(shè)置在側(cè)板的外側(cè)面上，所述側(cè)板設(shè)置有相內(nèi)彎折的內(nèi)折邊，所述連接板包括呈彎折的第一彎折壁與第二彎折壁，所述第一彎折壁與側(cè)板的內(nèi)側(cè)面相固定，所述內(nèi)折邊的上側(cè)設(shè)置有凸塊，所述第二彎折壁上設(shè)置有與所述凸塊相配合的定位孔，所述內(nèi)蓋體與所述第二彎折壁鉸接連接。

通過采用本實用新型技術(shù)方案，使得結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、安裝方便。

本實用新型進(jìn)一步設(shè)置：所述外蓋體上設(shè)置有若干數(shù)量的散熱孔。

通過采用本實用新型技術(shù)方案，提高了散熱性能。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本實用新型實施例結(jié)構(gòu)爆炸圖。

具體實施方式

參見附圖1-2，本實用新型公開的母芯片檢測裝置的上蓋，包括外蓋體401與內(nèi)蓋體402，所述外蓋體401上設(shè)置有與箱體一側(cè)的側(cè)壁相鉸接的鉸接軸403，所述內(nèi)蓋體402上設(shè)置有若干數(shù)量的過線孔4021，所述內(nèi)蓋體402上還固定設(shè)置有束線板404，所述束線板404上設(shè)置有束線孔4041，所述外蓋體401的一端與內(nèi)蓋體402的一端鉸接連接，外蓋體401的另一端與內(nèi)蓋體402的另一端通過螺釘405相連接。本實用新型技術(shù)方案，將導(dǎo)線整理在外蓋體401與內(nèi)蓋體402之間，外蓋體401與內(nèi)蓋體402均可打開，可方便的檢查箱體1內(nèi)情況以及導(dǎo)線排布情況，從而方便使用。

本實施例進(jìn)一步設(shè)置：所述外蓋體401設(shè)置有側(cè)板406以及連接板407，所述鉸接軸403設(shè)置在側(cè)板406的外側(cè)面上，所述側(cè)板406設(shè)置有相內(nèi)彎折的內(nèi)折邊4061，所述連接板407包括呈彎折的第一彎折壁4071與第二彎折壁4072，所述第一彎折壁4071與側(cè)板406的內(nèi)側(cè)面相固定，所述內(nèi)折邊4061的上側(cè)設(shè)置有凸塊4062，所述第二彎折壁4072上設(shè)置有與所述凸塊4062相配合的定位孔4063，所述內(nèi)蓋體402與所述第二彎折壁4072鉸接連接。通過采用本實用新型技術(shù)方案，使得結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、安裝方便。

本實施例進(jìn)一步設(shè)置：所述外蓋體401上設(shè)置有若干數(shù)量的散熱孔4011。通過采用本實用新型技術(shù)方案，提高了散熱性能。