本實(shí)用新型涉及光學(xué)領(lǐng)域，具體涉及一種基于CCD探測(cè)器的光學(xué)材料折射率測(cè)量裝置。

背景技術(shù)：

光學(xué)材料的研制在光學(xué)領(lǐng)域?qū)儆诨A(chǔ)研究，好的光學(xué)材料往往能夠大大提升整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的性能?，F(xiàn)有技術(shù)中，在生產(chǎn)光學(xué)材料時(shí)，需要對(duì)光學(xué)材料的折射率、均勻度等進(jìn)行測(cè)量。但是現(xiàn)有的測(cè)量設(shè)備不能滿足全部需要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

實(shí)用新型目的：本實(shí)用新型旨在克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種基于CCD探測(cè)器的光學(xué)材料折射率測(cè)量裝置。

技術(shù)方案：一種基于CCD探測(cè)器的折射率測(cè)量裝置，包括水平導(dǎo)軌、設(shè)置在水平導(dǎo)軌上的滑塊、水平基臺(tái)、長(zhǎng)方體的標(biāo)準(zhǔn)樣品和與所述標(biāo)準(zhǔn)樣品形狀尺寸相同的被測(cè)樣品；所述滑塊上設(shè)有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器發(fā)出兩兩互不相同的單色光，所述第一、二、三激光器發(fā)出的光平行，所述基臺(tái)上設(shè)有第一CCD探測(cè)器和第二CCD探測(cè)器；當(dāng)滑塊在第一位置時(shí)，第一激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第一CCD探測(cè)器上形成第一光斑，第二激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第一CCD探測(cè)器上形成第二光斑，第三激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第一CCD探測(cè)器上形成第三光斑；當(dāng)滑塊在第二位置時(shí)，第一激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第二CCD探測(cè)器上形成第四光斑，第二激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第二CCD探測(cè)器上形成第五光斑，第三激光器的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品后在第二CCD探測(cè)器上形成第六光斑。

進(jìn)一步地，所述測(cè)量裝置還包括豎板，所述水平導(dǎo)軌固定在所述豎板上，所述豎板上還設(shè)有排成一條水平直線的4個(gè)固定塊，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品放置在第一CCD探測(cè)器一側(cè)的兩個(gè)的固定塊上，所述被測(cè)樣品放置在第二CCD探測(cè)器一側(cè)的兩個(gè)固定塊上。

進(jìn)一步地，所述第一、二、三激光器發(fā)出的光與水平面呈45度角。

進(jìn)一步地，所述第一、二CCD探測(cè)器為面陣CCD探測(cè)器。

進(jìn)一步地，所述測(cè)量裝置還包括控制器和顯示器，當(dāng)?shù)谝还獍吆偷诙獍咧g的距離與第四光斑和第五光斑之間的距離不同，或者第二光斑和第三光斑之間的距離與第五光斑和第六光斑之間的距離不同時(shí)，控制器利用顯示器提示被測(cè)樣品不合格。

進(jìn)一步地，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品的水平長(zhǎng)度為8-10cm。

有益效果：本實(shí)用新型的光學(xué)材料折射率測(cè)量裝置利用標(biāo)準(zhǔn)樣品作為基準(zhǔn)，測(cè)量簡(jiǎn)單，通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品的比較就能夠方便地檢測(cè)出被測(cè)樣品是否合格。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型測(cè)量裝置在第一CCD探測(cè)器上形成光斑示意圖；

圖2為本實(shí)用新型測(cè)量裝置在第二CCD探測(cè)器上形成光斑示意圖。

具體實(shí)施方式

附圖標(biāo)記：1水平導(dǎo)軌；1.1滑塊；2.1第一激光器；2.2第二激光器；2.3第三激光器；3標(biāo)準(zhǔn)樣品；4被測(cè)樣品；5.1第一CCD探測(cè)器；5.2第二CCD探測(cè)器；6基臺(tái)；7豎板；8固定塊。

一種基于CCD探測(cè)器的折射率測(cè)量裝置，包括水平導(dǎo)軌1、設(shè)置在水平導(dǎo)軌1上的滑塊1.1、水平基臺(tái)6、長(zhǎng)方體的標(biāo)準(zhǔn)樣品3和與所述標(biāo)準(zhǔn)樣品3形狀尺寸相同的被測(cè)樣品4；所述滑塊1.1上設(shè)有第一激光器2.1、第二激光器2.2和第三激光器2.3，所述第一、二、三激光器發(fā)出兩兩互不相同的單色光，所述第一、二、三激光器發(fā)出的光平行，所述基臺(tái)6上設(shè)有第一CCD探測(cè)器5.1和第二CCD探測(cè)器5.2；當(dāng)滑塊1.1在第一位置時(shí)，第一激光器2.1的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品3后在第一CCD探測(cè)器5.1上形成第一光斑，第二激光器2.2的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品3后在第一CCD探測(cè)器5.1上形成第二光斑，第三激光器2.3的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品3后在第一CCD探測(cè)器5.1上形成第三光斑；當(dāng)滑塊1.1在第二位置時(shí)，第一激光器2.1的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品4后在第二CCD探測(cè)器5.2上形成第四光斑，第二激光器2.2的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品4后在第二CCD探測(cè)器5.2上形成第五光斑，第三激光器2.3的光線透過(guò)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品4后在第二CCD探測(cè)器5.2上形成第六光斑。所述測(cè)量裝置還包括豎板7，所述水平導(dǎo)軌1固定在所述豎板7上，所述豎板7上還設(shè)有排成一條水平直線的4個(gè)固定塊8，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品3放置在第一CCD探測(cè)器5.1一側(cè)的兩個(gè)的固定塊上，所述 被測(cè)樣品4放置在第二CCD探測(cè)器5.2一側(cè)的兩個(gè)固定塊上。所述第一、二、三激光器發(fā)出的光與水平面呈45度角。所述第一、二CCD探測(cè)器為面陣CCD探測(cè)器。所述測(cè)量裝置還包括控制器和顯示器，當(dāng)?shù)谝还獍吆偷诙獍咧g的距離與第四光斑和第五光斑之間的距離不同，或者第二光斑和第三光斑之間的距離與第五光斑和第六光斑之間的距離不同時(shí)，控制器利用顯示器提示被測(cè)樣品不合格。

測(cè)量時(shí)，如果被測(cè)樣品合格，那么形成的三個(gè)光斑的分布和測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)應(yīng)該是一樣的，如果形成的光斑的分布，具體體現(xiàn)為光斑之間的距離不一樣，那么被測(cè)樣品肯定是不合格的。

盡管本實(shí)用新型就優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行了示意和描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，只要不超出本實(shí)用新型的權(quán)利要求所限定的范圍，可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種變化和修改。