技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種芯片單粒子效應(yīng)探測(cè)方法及裝置，其中方法包括：將待測(cè)芯片放入測(cè)試機(jī)臺(tái)，觸發(fā)待測(cè)芯片產(chǎn)生單粒子效應(yīng)；利用使能信號(hào)隨機(jī)關(guān)斷待測(cè)芯片的掃描寄存器，形成隨機(jī)觀測(cè)矩陣；向待測(cè)芯片輸入測(cè)試向量，獲得待測(cè)芯片的輸出測(cè)試向量，根據(jù)輸出測(cè)試向量獲得錯(cuò)誤總數(shù)向量；對(duì)錯(cuò)誤總數(shù)向量進(jìn)行壓縮感知信號(hào)重構(gòu)，確定待測(cè)芯片內(nèi)部敏感區(qū)域。本發(fā)明可以高效、便捷地對(duì)芯片單粒子效應(yīng)進(jìn)行探測(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：李慧云;邵翠萍;劉玢玢
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院
文檔號(hào)碼：201610480725
技術(shù)研發(fā)日：2016.06.27
技術(shù)公布日：2016.12.07