技術(shù)特征：

1.一種芯片單粒子效應(yīng)探測方法，其特征在于，包括：

將待測芯片放入測試機(jī)臺，觸發(fā)待測芯片產(chǎn)生單粒子效應(yīng)；

利用使能信號隨機(jī)關(guān)斷待測芯片的掃描寄存器，形成隨機(jī)觀測矩陣；

向待測芯片輸入測試向量，獲得待測芯片的輸出測試向量，根據(jù)輸出測試向量獲得錯(cuò)誤總數(shù)向量；

對錯(cuò)誤總數(shù)向量進(jìn)行壓縮感知信號重構(gòu)，確定待測芯片內(nèi)部敏感區(qū)域。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述觸發(fā)待測芯片產(chǎn)生單粒子效應(yīng)，包括：利用激光對待測芯片進(jìn)行故障注入。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用激光對待測芯片進(jìn)行故障注入，包括：在測試的每次輻照過程中，按照激光光束聚集大小建立掃描單元。

4.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用激光對待測芯片進(jìn)行故障注入，包括：利用激光對待測芯片的算術(shù)邏輯單元和譯碼器區(qū)域進(jìn)行輻照。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用使能信號隨機(jī)關(guān)斷待測芯片的掃描寄存器，形成隨機(jī)觀測矩陣，包括：通過串并聯(lián)譯碼器形成隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列，向待測芯片的掃描寄存器的使能端口輸出使能信號；通過顯微鏡的二維載物臺對待測芯片進(jìn)行二維移動(dòng)，將每一次被隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列使能的掃描寄存器與被觸發(fā)產(chǎn)生單粒子效應(yīng)的待測芯片邏輯單元相匹配。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述隨機(jī)觀測矩陣如下：

$\mathrm{\Φ}=\left[\begin{array}{cccc}{a}_{11}& a_{12}& ...& a_{1N}\\ a_{21}& a_{22}& ...& a_{2N}\\ \·& \·& \·& \·\\ \·& \·& \·& \·\\ \·& \·& \·& \·\\ a_{M1}& a_{M2}& ...& a_{MN}\end{array}\right]$

其中，Φ為所述隨機(jī)觀測矩陣，其中的元素a_ji＝0表示在第j次輻照時(shí)關(guān)斷第i個(gè)被輻照的邏輯單元對應(yīng)的掃描寄存器，j∈1,2,...,M，i∈1,2,...,N。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述向待測芯片輸入測試向量，獲得待測芯片的輸出測試向量，根據(jù)輸出測試向量獲得錯(cuò)誤總數(shù)向量，包括對信號X執(zhí)行一次壓縮觀測，得到：

$\left\{\begin{array}{c}{a}_{11}{x}_{11}+a_{12}{x}_{12}+...+a_{1N}{x}_{1N}=y_1\\ a_{21}{x}_{21}+a_{22}{x}_{22}+...+a_{2N}{x}_{2N}=y_2\\ \·\\ \·\\ \·\\ a_{M1}{x}_{M1}+a_{M2}{x}_{M2}+...+a_{MN}{x}_{MN}=y_M\end{array}\right.;$

其中，y_j(j∈1,2,...,M)表示每次輻照后的故障總數(shù)目；X為待測芯片的內(nèi)部SEE敏感區(qū)域，X為的數(shù)組，x_ji＝0表示該邏輯單元G_i在第j次輻照下具有SEE可靠性，x_ji＝1表示該邏輯單元G_i在第j次輻照下為SEE敏感區(qū)域。

8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對錯(cuò)誤總數(shù)向量進(jìn)行壓縮感知信號重構(gòu)，確定待測芯片內(nèi)部敏感區(qū)域，包括：采用線性規(guī)劃算法或非線性算法對錯(cuò)誤總數(shù)向量進(jìn)行壓縮感知信號重構(gòu)，確定待測芯片內(nèi)部敏感區(qū)域。

9.一種芯片單粒子效應(yīng)探測裝置，其特征在于，包括：

測試機(jī)臺，用于放入待測芯片，所述待測芯片包括掃描寄存器；

觸發(fā)裝置，用于觸發(fā)待測芯片產(chǎn)生單粒子效應(yīng)；

隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列，用于利用使能信號隨機(jī)關(guān)斷待測芯片的掃描寄存器，形成隨機(jī)觀測矩陣；

所述測試機(jī)臺還用于向待測芯片輸入測試向量，獲得待測芯片的輸出測試向量，根據(jù)輸出測試向量獲得錯(cuò)誤總數(shù)向量；對錯(cuò)誤總數(shù)向量進(jìn)行壓縮感知信號重構(gòu)，確定待測芯片內(nèi)部敏感區(qū)域。

10.如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述觸發(fā)裝置為激光器。

11.如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述激光器進(jìn)一步用于對待測芯片的算術(shù)邏輯單元和譯碼器區(qū)域進(jìn)行輻照。

12.如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列由串并聯(lián)譯碼器形成；所述測試機(jī)臺還包括顯微鏡的二維載物臺，用于對待測芯片進(jìn)行二維移動(dòng)，將每一次被隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列使能的掃描寄存器與被觸發(fā)產(chǎn)生單粒子效應(yīng)的待測芯片邏輯單元相匹配。

13.如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述隨機(jī)觀測矩陣開關(guān)陣列進(jìn)一步用于形成如下隨機(jī)觀測矩陣：

$\mathrm{\Φ}=\left[\begin{array}{cccc}{a}_{11}& a_{12}& ...& a_{1N}\\ a_{21}& a_{22}& ...& a_{2N}\\ \·& \·& \·& \·\\ \·& \·& \·& \·\\ \·& \·& \·& \·\\ a_{M1}& a_{M2}& ...& a_{MN}\end{array}\right]$

其中，Φ為所述隨機(jī)觀測矩陣，其中的元素a_ji＝0表示判斷在第j次輻照時(shí)關(guān)斷第i個(gè)被輻照的邏輯單元對應(yīng)的掃描寄存器，j∈1,2,...,M，i∈1,2,...,N。

14.如權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述測試機(jī)臺進(jìn)一步用于對信號X執(zhí)行一次壓縮觀測，得到：

$\left\{\begin{array}{c}{a}_{11}{x}_{11}+a_{12}{x}_{12}+...+a_{1N}{x}_{1N}=y_1\\ a_{21}{x}_{21}+a_{22}{x}_{22}+...+a_{2N}{x}_{2N}=y_2\\ \·\\ \·\\ \·\\ a_{M1}{x}_{M1}+a_{M2}{x}_{M2}+...+a_{MN}{x}_{MN}=y_M\end{array}\right.;$

其中，y_j(j∈1,2,...,M)表示每次輻照后的故障總數(shù)目；X為待測芯片的內(nèi)部SEE敏感區(qū)域，X為的數(shù)組，x_ji＝0表示該邏輯單元G_i在第j次輻照下具有SEE可靠性，x_ji＝1表示該邏輯單元G_i在第j次輻照下為SEE敏感區(qū)域。