技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種X射線裝置，包括X射線源和X射線檢測(cè)器，兩個(gè)部件之間設(shè)有干擾入射在其上的X射線光子的元件。所述裝置進(jìn)一步包括代表材料類(lèi)型和材料厚度值的第一數(shù)據(jù)庫(kù)、指示材料類(lèi)型和/或材料厚度的散射輻射值的第二數(shù)據(jù)庫(kù)、可執(zhí)行將X射線檢測(cè)器的輸出信號(hào)與第一數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)值進(jìn)行比較的算法并且可輸出來(lái)自第一數(shù)據(jù)庫(kù)最可能的材料和/或厚度的處理器；從第二數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇與材料類(lèi)型和/或材料厚度相關(guān)聯(lián)的散射輻射；將散射輻射從X射線檢測(cè)器的輸出信號(hào)中去除。

技術(shù)研發(fā)人員：保羅·斯科特;蓋理·吉布森;尼爾·洛士利
受保護(hù)的技術(shù)使用者：IBEX創(chuàng)新有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.10.05
技術(shù)公布日：2017.08.01