本發(fā)明涉及OCT裝置用光檢測模塊及OCT裝置。

背景技術：

已知有通過使用光的干涉測定對象物的深度方向的反射量分布，取得對象物的斷層圖像的OCT(Optical Coherence Tomography)裝置(例如，專利文獻1及2)。OCT裝置可以以高的空間分辨率將對象物的內(nèi)部構造圖象化，因此，被用于眼球或牙齒等生物體診斷。

專利文獻1及2所記載的OCT裝置中，將光分離成測定光和參照光，將被分離的測定光向測定對象照射。由測定對象反射的測定光通過與參照光合成而產(chǎn)生干涉光。通過由光檢測器檢測該干涉光，解析檢測結果，將對象物的深度方向的反射光的強度分布作為一維的斷層圖像進行測定。進而，通過掃描對象物上的測定光的照射位置，取得二維或三維的斷層圖像。

現(xiàn)有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2001－264246號公報

專利文獻2：日本特開2004－223269號公報

發(fā)明所要解決的課題

專利文獻1及2中記載的OCT裝置在對測定光進行導波的探針中，通過抑制返回光而實現(xiàn)噪聲的除去。進而，專利文獻2中記載的OCT裝置在參照光的延時線中也能夠抑制返回光。

但是，這種現(xiàn)有的OCT裝置不能充分降低固定圖形噪聲(Fixed Pattern Noise、FPN)。固定圖形噪聲作為實際上不存在的圖象在斷層圖像的深度方向的特定的位置出現(xiàn)。

技術實現(xiàn)要素：

因此，在本技術領域中，期望充分降低固定圖形噪聲。

用于解決課題的技術方案

本發(fā)明者等對OCT裝置進行了調(diào)查研究。其結果，本發(fā)明者等發(fā)現(xiàn)在通過現(xiàn)有的OCT裝置取得的斷層圖像中出現(xiàn)固定圖形噪聲的位置與光檢測模塊中使用的光學透鏡中的干涉光的光路長度相對應的事實。即，可知，通過在光學透鏡內(nèi)多重反射干涉光，在斷層圖像的深度方向的特定的位置出現(xiàn)固定圖形噪聲。本發(fā)明者等著眼于自身發(fā)現(xiàn)的這些事實。本發(fā)明者等對充分降低固定圖形噪聲的光檢測模塊的結構進行了更深入研究，直至想到本發(fā)明。

本發(fā)明一方面的OCT裝置用光檢測模塊為在OCT裝置中檢測從光纖的射出端面射出的干涉光的光檢測模塊。OCT裝置用光檢測模塊具備光學透鏡和光檢測器。光學透鏡具有入射面和射出面。向入射面入射從射出端面射出的干涉光。從射出面射出入射到入射面的干涉光。光檢測器具有檢測面。向檢測面入射從射出面射出的干涉光。入射面以相對于干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射干涉光的方式配置。射出面以相對于干涉光的射出位置上的垂線傾斜射出干涉光的方式配置。檢測面以相對于干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射干涉光的方式配置。

本方式中，在光纖的射出端面和光檢測器的檢測面之間的光路上防止干涉光的多重反射。因此，可以充分降低固定圖形噪聲。

本發(fā)明一方面的OCT裝置用光檢測模塊還可以具備罩部。罩部形成有干涉光通過的開口，且覆蓋光學透鏡。該情況下，能夠防止干涉光以外的光被光檢測器檢測。其結果，起因于干涉光以外的光的噪聲不易出現(xiàn)在斷層圖像上。

本發(fā)明一方面的OCT裝置用光檢測模塊還可以具備定位部。定位部規(guī)定光纖的位置，且相對于開口定位射出端面。該情況下，因為規(guī)定光纖的位置，所以容易設定光學透鏡及光檢測器的位置。

光學透鏡也可以是球透鏡。光學透鏡也可以是熔接型透鏡。光學透鏡也可以為相互空間上分開配置的多個透鏡。

光學透鏡也可以具有在入射面及射出面之間的光路上折射率不同的多個區(qū)域、和在多個所述區(qū)域間入射干涉光的界面。界面以相對于干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射干涉光的方式配置。該情況下，在多個區(qū)域之間的界面防止干涉光的多重反射。因此，可以充分降低固定圖形噪聲。

本發(fā)明一方式的OCT裝置具備上述任一項的OCT裝置用光檢測模塊。

本方式中，如上述，可以充分降低固定圖形噪聲。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明的上述一方式，可以提供可充分降低固定圖形噪聲的OCT裝置用光檢測模塊及OCT裝置。

附圖說明

圖1是本實施方式的OCT裝置的結構圖。

圖2是表示圖1的OCT裝置用光檢測模塊的結構的剖視圖。

圖3是說明圖2的CAN器件的結構的圖。

圖4是圖2的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。

圖5(a)是表示由實施例的OCT裝置測定的反射光的強度分布的曲線圖，圖5(b)是表示由比較例的OCT裝置測定的反射光的強度分布的曲線圖。

圖6是變形例的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。

圖7是其它變形例的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。

符號說明

1…OCT裝置用光檢測模塊(光檢測模塊)、31…第一插入部(定位部)、32…第二插入部(罩部)、33…開口、7A…球透鏡(光學透鏡)、7B…熔接型透鏡(光學透鏡)、7C…分割透鏡(光學透鏡)、71…入射面、72…射出面、74…入射位置、75…垂線、76…射出位置、77…垂線、8…光電二極管(光檢測器)、78、79…半球透鏡(透鏡)、81…檢測面、82…入射位置、83…垂線、91…第一區(qū)域、92…第二區(qū)域、93…第三區(qū)域、94…平面(界面)、95…平面(界面)、100…OCT裝置、F…光纖、FS…射出端面、LC…干涉光。

具體實施方式

以下，參照附圖詳細說明本發(fā)明的實施方式。此外，說明中，對于同一要素或具有同一功能的要素使用同一符號，省略重復的說明。

參照圖1，對OCT裝置100的結構進行說明。圖1是本實施方式的OCT裝置的結構圖。

OCT裝置100例如構成為通過SS－OCT(Swept-source OCT)方式得到對象物OB的斷層圖像。SS－OCT方式中，一邊使從光源101射出的低干涉性光的波長時間性變化，一邊檢測干涉光光譜?；谠摳缮婀夤庾V的傅立葉變換的結果得到作為試樣的對象物OB的斷層圖像。OCT裝置100具備光源101、干涉部102、檢測部103、運算部104、監(jiān)視器105、函數(shù)發(fā)生器106。

光源101是波長掃描光源。光源101例如由KTN結晶構成。KTN結晶是指由鉀(K)、鉭(Ta)、鈮(Nb)及氧構成的透明的光學結晶。光源101射出頻率在一定的范圍內(nèi)變化的激光L0。從光源101射出的激光L0向設置于干涉部102的耦合器111入射。耦合器111將入射的激光L0分支成測定光LS和參照光LR。耦合器111以例如分支比90：10將激光L0分支成測定光LS和參照光LR。

參照光LR通過環(huán)形器112向準直透鏡113入射。準直透鏡113使參照光LR成為平行光。通過準直透鏡113形成平行光并射出的參照光LR向基準反射鏡114照射。由基準反射鏡114反射來的參照光LR通過準直透鏡113及環(huán)形器112向偏振控制器115入射。偏振控制器115調(diào)整通過的參照光LR的偏振。從偏振控制器115射出的參照光LR向耦合器116入射。

測定光LS通過環(huán)形器117向偏振控制器118入射。偏振控制器118調(diào)整通過的測定光LS的偏振。從偏振控制器118射出的測定光LS向準直透鏡119入射。準直透鏡119使測定光LS成為平行光。從準直透鏡119射出的測定光LS向檢流計反射鏡120入射。檢流計反射鏡120具有兩個反射鏡。檢流計反射鏡120控制測定光LS的光路。

通過檢流計反射鏡120反射的測定光LS通過聚焦透鏡121聚光。通過聚焦透鏡121聚光的測定光LS向?qū)ο笪颫B照射。通過對象物OB反射的測定光LS通過聚焦透鏡121、檢流計反射鏡120、準直透鏡119、偏振控制器118、環(huán)形器117、及偏振控制器122向耦合器116入射。

耦合器116將參照光LR和測定光LS合波并使之干涉。通過該干涉而產(chǎn)生的干涉光LC被以分支比50：50分支成兩個。被分支的干涉光LC向設置于檢測部103的兩個OCT裝置用光檢測模塊1(以下也簡稱為“光檢測模塊1”。)分別入射。兩個光檢測模塊1構成檢測干涉光LC的干涉信號的平衡檢測器123。光檢測模塊1的詳情后述。平衡檢測器123將作為干涉信號的電流信號向I/V放大器124輸出。

I/V放大器124將從平衡檢測器123輸入的電流信號變換放大為電壓信號。I/V放大器124將變換放大了的電壓信號輸出到放大器125。放大器125將從I/V放大器124輸入的電壓信號均衡放大至適于向運算部104的輸入的振幅電平。放大器125將均衡放大了的電壓信號作為干涉信號SC向運算部104輸出。

運算部104例如是個人計算機。運算部104對干涉光光譜進行傅立葉變換。運算部104基于傅立葉變換的結果構筑來自對象物OB中的多個特定深度位置的反射光的強度分布。運算部104基于該構筑的反射光的強度分布來構筑斷層圖像。該斷層圖像映射在監(jiān)視器105上。

函數(shù)發(fā)生器106從光源101輸入A掃描觸發(fā)信號TA。A掃描觸發(fā)信號TA與光源101的掃描頻率同步。A掃描觸發(fā)信號TA被用作用于取得(A掃描)深度方向的一維信息的同步信號(光柵觸發(fā))。函數(shù)發(fā)生器106將輸入的A掃描觸發(fā)信號TA變換為B掃描觸發(fā)信號TB。函數(shù)發(fā)生器106進一步將B掃描觸發(fā)信號TB變換成驅(qū)動信號D1、D2。函數(shù)發(fā)生器106將B掃描觸發(fā)信號TB輸出到運算部104。函數(shù)發(fā)生器106將驅(qū)動信號D1、D2輸出到檢流計反射鏡120。

檢流計反射鏡120基于驅(qū)動信號D1、D2驅(qū)動兩個反射鏡。由此，檢流計反射鏡120在相對于對象物OB設定的測定范圍內(nèi)二維掃描(B掃描)測定光LS。運算部104基于B掃描觸發(fā)信號TB將斷層圖像排列。由此，運算部104構筑二維及三維的斷層圖像。

接著，參照圖2及圖3，詳細說明OCT裝置用光檢測模塊1的結構。圖2是表示圖1的OCT裝置用光檢測模塊的結構的剖視圖。圖3是說明圖2的CAN器件的結構的圖。圖3(a)是CAN器件的側視圖。圖3(b)是沿著圖3(a)的IIIb－IIIb線的剖視圖。圖3(c)是CAN器件的仰視圖。

光檢測模塊1在OCT裝置100(參照圖1)中設置于檢測部103(參照圖1)，并檢測干涉光LC。干涉光LC從干涉部102(參照圖1)通過光纖F導波并從射出端面FS射出。光檢測模塊1具備外殼2、收容于外殼2內(nèi)的插座3、插入插座3的CAN器件5、構成插座3的一部分的第一插入部(定位部)31及第二插入部(罩部)32、設置于CAN器件5的球透鏡(光學透鏡)7A及光電二極管(光檢測器)8。

外殼2具有兩端開口的圓筒部2a。外殼2在圓筒部2a的內(nèi)部收容插座3。插座3在規(guī)定方向A的一側具有第一插入部31，在另一方側具有第二插入部32。第一插入部31為一側的端面開口的圓筒狀。第一插入部31的外徑比外殼2的內(nèi)徑小。在第一插入部31插入有套圈4。第二插入部32為另一側的端面開口的圓筒狀。第二插入部32的外徑與外殼2的內(nèi)徑相等。在第二插入部32插入有CAN器件5。第一插入部31和第二插入部32具有底部被一體化的形狀。在該底部的中央形成有干涉光LC通過的開口33。

第二插入部32的外面例如通過粘接劑B1粘著于外殼2的內(nèi)面。由此，插座3被固定收納于外殼2內(nèi)。在第二插入部32的內(nèi)面，例如通過粘接劑B2及粘接劑B3固定CAN器件5。CAN器件5相對于光路被調(diào)芯在最佳位置。粘接劑B2例如是UV固化性樹脂。粘接劑B2將CAN器件5預固定于第二插入部32的內(nèi)面。粘接劑B3為熱固性樹脂。粘接劑B3將通過粘接劑B2預固定的CAN器件5正式固定于第二插入部32的內(nèi)面。在此，被調(diào)芯的CAN器件5通過粘接劑固定，但被調(diào)芯的CAN器件5也可以不使用粘接劑而通過照射例如YAG激光進行熔接而固定。

第一插入部31經(jīng)由套筒34及套圈4規(guī)定向套圈4的內(nèi)部插入的光纖F的位置，作為相對于開口33定位射出端面FS的定位部起作用。第二插入部32作為形成干涉光LC通過的開口33且覆蓋球透鏡7A的罩部起作用。外殼2、第一插入部31、第二插入部32、CAN器件5及套圈4的中心軸C相互一致。

CAN器件5具有所謂的TO－CAN器件的結構。CAN器件5具有子支架53、管腳54～56、透鏡蓋57。子支架53被設置于基座51上。管腳54～56貫通基座51。透鏡蓋57以覆蓋基座51及子支架53的方式設置。透鏡蓋57以將球透鏡7A相對于開口33定位的狀態(tài)保持。球透鏡7A以重心O偏離中心軸C規(guī)定距離的方式配置。

在子支架53上設置有光電二極管8。光電二極管8在子支架53上配置于偏離中心軸C規(guī)定距離的位置。管腳54與光電二極管8的陰極端子引線接合。管腳55與光電二極管8的陽極端子引線接合。管腳56與GND連接。

圖4是圖2的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。在此，特別是將光纖F、球透鏡7A、光電二極管8及其周邊的結構放大表示。其它結構適宜省略圖示。

如圖4所示，球透鏡7A具有入射面71和射出面72。向入射面71入射從射出端面FS射出的干涉光LC。從射出面72射出入射到入射面71的干涉光LC。球透鏡7A為外面由一個曲面73構成的球體。因此，在球透鏡7A中，入射面71及射出面72均與曲面73相等。球透鏡7A將從射出面72射出的干涉光LC聚光。球透鏡7A例如由玻璃等構成。球透鏡7A的折射率在球透鏡7A的全區(qū)域相同。為了防止反射，對曲面73實施AR鍍層。

光電二極管8具有檢測面(受光面)81。向檢測面81入射從球透鏡7A的射出面72射出的聚光后的干涉光LC。檢測面81例如為平面。檢測面81可以是曲面，也可以相對于基座51(參照圖2)傾斜。為了防止反射，對檢測面81實施AR鍍層。

在光檢測模塊1上，干涉光LC由光纖F進行導波，并從光纖F的射出端面FS射出。射出端面FS為了抑制干涉光LC的反射引起的返回光而被傾斜拋光。返回光是指從射出端面FS朝向干涉部102(參照圖1)側的反射光。射出端面FS的傾斜角度例如為8°。

從射出端面FS射出的干涉光LC通過開口33(參照圖2)向球透鏡7A的入射面71入射。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置74上的入射面71的垂線(法線)75傾斜入射。因此，由入射面71引起的反射光L1朝向與光纖F的射出端面FS不同的方向。因此，能夠抑制射出端面FS和入射面71之間的干涉光LC的多重反射。

入射到入射面71的干涉光LC在球透鏡7A的內(nèi)部不穿過重心O而穿過偏離重心O的位置從射出面72射出。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的射出位置76上的射出面72的垂線(法線)77傾斜射出。因此，由射出面72引起的反射光L2朝向與入射面71的入射位置74不同的方向。因此，能夠抑制入射面71的入射位置74和射出面72的射出位置76之間的干涉光LC的多重反射。

從射出面72射出的干涉光LC向光電二極管8的檢測面81入射。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置82上的檢測面81的垂線(法線)83傾斜入射。因此，由檢測面81引起的反射光L3朝向與射出面72的射出位置76不同的方向。因此，可以抑制射出面72的射出位置76和檢測面81的入射位置82之間的干涉光LC的多重反射。該例中，因為檢測面81為平面，所以檢測面81可以說以傾斜入射干涉光LC的方式配置。

如以上說明，在本實施方式的光檢測模塊1中，球透鏡7A的入射面71以干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置74上的垂線75傾斜入射的方式配置。射出面72以干涉光LC相對于干涉光LC的射出位置76上的垂線77傾斜射出的方式配置。光電二極管8的檢測面81以干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置82上的垂線83傾斜入射的方式配置。

通過這樣的配置，在光檢測模塊1中，在球透鏡7A的入射面71產(chǎn)生的反射光L1的光路、在球透鏡7A的射出面72產(chǎn)生的反射光L2的光路、及在光電二極管8的檢測面81產(chǎn)生的反射光L3的光路分別不與干涉光LC的光路重合。即，反射光L1～L3分別不向與干涉光LC同一光路上返回。因此，不會產(chǎn)生光學元件表面上的反射光向同一光路上反射，進而在其它光學元件表面上再反射并返回到同一光路上的多重反射。由此，防止在光纖F的射出端面FS和光電二極管8的檢測面81之間的光路上的干涉光LC的多重反射。因此，能夠充分降低因多重反射而產(chǎn)生的固定圖形噪聲。

當干涉光LC相對于垂線75傾斜地向入射面71入射時，干涉光LC相對于垂線75傾斜地朝向球透鏡7A的內(nèi)部射出。因此，以干涉光LC相對于垂線75傾斜入射的方式配置入射面71、和以干涉光LC相對于垂線75傾斜出射的方式配置入射面71為同意義。同樣，以干涉光LC相對于垂線77傾斜射出的方式配置射出面72、和以干涉光LC相對于垂線77傾斜入射的方式配置射出面72為同意義。

光檢測模塊1具備第二插入部32。第二插入部32作為形成干涉光LC穿過的開口33且覆蓋球透鏡7A的罩部起作用。由此，入射到球透鏡7A的干涉光LC以外的光由光電二極管8檢測，可以抑制其作為固定圖形噪聲在斷層圖像上出現(xiàn)。由此，能夠充分降低固定圖形噪聲。

光檢測模塊1具備第一插入部31。第一插入部31作為規(guī)定光纖F的位置且相對于開口33定位射出端面FS的定位部起作用。由此，因為光纖F的位置被規(guī)定，所以容易設置球透鏡7A及光電二極管8的位置。

OCT裝置100具備OCT裝置用光檢測模塊1，因此，如上述，可以充分降低固定圖形噪聲。

以下，根據(jù)本實施方式，通過實施例及比較例具體表示可以充分降低固定圖形噪聲。

圖5(a)是表示通過實施例的OCT裝置測定的反射光的強度分布的曲線圖。圖5(b)是表示通過比較例的OCT裝置測定的反射光的強度分布的曲線圖。

實施例中，使用與上述的本實施方式的OCT裝置100對應的OCT裝置。在比較例的OCT裝置中，球透鏡以其重心位于光檢測模塊的中心軸上的方式配置，光電二極管在子支架上配置于該中心軸上。

在此，以對象物為空氣，使用波長在1～1.1μm的范圍變化的激光進行測定。曲線圖的橫軸表示與對象物的深度方向的位置對應的像素?？v軸表示反射光的強度。如上述，因為對象物是空氣，所以由對象物引起的反射光幾乎不產(chǎn)生。因此，縱軸實質(zhì)上表示固定圖形噪聲的強度。

如圖5(a)所示，在實施例的OCT裝置中，充分降低了固定圖形噪聲。如圖5(b)所示，在比較例的OCT裝置中，固定圖形噪聲在深度方向的特定的位置出現(xiàn)。實施例的OCT裝置的光檢測模塊為在光纖的射出面的射出位置和光電二極管的檢測面的入射位置之間防止干涉光的多重反射的結構。與之相對，比較例的OCT裝置的光檢測模塊為在光纖的射出面的射出位置和光電二極管的檢測面的入射位置之間容易產(chǎn)生多重反射的結構。由此，產(chǎn)生這種差異。

以上說明了本發(fā)明的實施方式，但本發(fā)明未必限定于上述的實施方式，在不脫離其宗旨的范圍內(nèi)可以進行各種變更。

圖6是變形例的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。如圖6所示，光檢測模塊1也可以具備熔接型透鏡(光學透鏡)7B來代替球透鏡7A(參照圖2)。在此，特別是將光纖F、熔接型透鏡7B、光電二極管8及其周邊的結構放大表示。其它結構適宜省略而表示。

熔接型透鏡7B為入射面71及射出面72分別形成凸形狀的光學透鏡。例如，將玻璃熔融，利用熔融的狀態(tài)的玻璃的表面張力，由此可以形成這種凸形狀。

該情況下，干涉光LC在向熔接型透鏡7B的入射面71入射時，相對于干涉光LC的入射位置74上的入射面71的垂線75傾斜入射。因此，由入射面71引起的反射光L1朝向與光纖F的射出端面FS不同的方向。因此，可以抑制射出端面FS和入射面71之間的干涉光LC的多重反射。

干涉光LC在向熔接型透鏡7B的射出面72入射時，相對于干涉光LC的射出位置76上的射出面72的垂線77傾斜射出。因此，由射出面72引起的反射光L2朝向與入射面71的入射位置74不同的方向。因此，可以抑制入射面71的入射位置74和射出面72的射出位置76之間的干涉光LC的多重反射。

這樣，即使在使用了熔接型透鏡7B的情況下，也能夠防止干涉光LC在光纖F的射出端面FS和光電二極管8的檢測面81之間的光路上多重反射。因此，能夠充分降低因多重反射而產(chǎn)生的固定圖形噪聲。

在熔接型透鏡7B中，通過如上述熔融玻璃，可以形成透鏡曲面。因此，可以使光檢測模塊1的制造容易化。

圖7是其它變形例的OCT裝置用光檢測模塊的局部剖視圖。如圖7所示，光檢測模塊1也可以具備分割透鏡(光學透鏡)7C而代替球透鏡7A(參照圖2)。分割透鏡7C由兩個半球透鏡78、79構成。兩個半球透鏡78、79相互空間上分開配置。在此，特別是將光纖F、半球透鏡78、79、光電二極管8及其周邊的結構放大表示。其它結構適宜省略表示。

半球透鏡78、79分別具有曲面73A、73B及平面94、95。半球透鏡78、79以彼此的平面94、95形成平行且隔開規(guī)定的間隔對置的狀態(tài)配置。半球透鏡78配置于光纖F的射出端面FS側。半球透鏡79配置于光電二極管8側。半球透鏡78的曲面73A與光纖F的射出端面FS對置。半球透鏡79的曲面73B與光電二極管8對置。

該變形例中，分割透鏡7C具有第一區(qū)域91、第二區(qū)域92、及第三區(qū)域93。第一區(qū)域91與半球透鏡78對應。第二區(qū)域92與半球透鏡79對應。第三區(qū)域93位于半球透鏡78和半球透鏡79之間。在此，第三區(qū)域93為空氣，因此，第三區(qū)域93的折射率與第一區(qū)域91及第二區(qū)域92的折射率不同。平面94與第一區(qū)域91和第三區(qū)域93之間的界面對應。平面95與第二區(qū)域92和第三區(qū)域93之間的界面對應。曲面73A與入射面71對應。曲面73B與射出面72對應。

從光纖F的射出端面FS射出的干涉光LC向入射面71入射。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置74上的入射面71的垂線75傾斜入射。因此，由入射面71引起的反射光L1朝向與光纖F的射出端面FS不同的方向。因此，可以抑制射出端面FS和入射面71之間的干涉光LC的多重反射。

入射到入射面71的干涉光LC通過半球透鏡78的內(nèi)部從平面94射出。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的射出位置96上的平面94的垂線(法線)97傾斜射出。因此，由平面94引起的反射光L4朝向與入射面71的入射位置74不同的方向。因此，可以抑制入射面71的入射位置74和平面94的射出位置96之間的干涉光LC的多重反射。

從平面94射出的干涉光LC通過空氣中向平面95入射。此時，干涉光LC相對于干涉光LC的入射位置98上的平面95的垂線(法線)99傾斜入射。因此，由平面95引起的反射光L5朝向與平面94的射出位置96不同的方向。因此，可以抑制平面94的射出位置96和平面95的入射位置98之間的干涉光LC的多重反射。

入射到平面95的干涉光LC通過半球透鏡79的內(nèi)部從射出面72射出。干涉光LC相對于干涉光LC的射出位置76上的射出面72的垂線77傾斜射出。因此，由射出面72引起的反射光L2朝向與平面95的入射位置98不同的方向。因此，可以抑制平面95的入射位置98和射出面72的射出位置76之間的干涉光LC的多重反射。

這樣，即使在使用半球透鏡78、79作為分割透鏡7C的情況下，也能夠防止在光纖F的射出端面FS和光電二極管8的檢測面81之間的光路上的干涉光LC的多重反射。因此，能夠充分降低因多重反射而產(chǎn)生的固定圖形噪聲。作為分割透鏡7C，也可以使用相互空間上分開地配置的多個透鏡來代替半球透鏡78、79。

例如，也可以使用熔接型透鏡7B、分割透鏡7C以外的光學透鏡來代替球透鏡7A。該情況下，只要入射面71、射出面72、及光電二極管8的檢測面81如上述那樣以防止干涉光LC的多重反射的方式配置即可。

在上述的說明中，球透鏡7A的折射率在其全區(qū)域相同，但不限于此。例如通過由多個材料構成球透鏡7A，還可以具有在入射面71及射出面72之間的干涉光LC的光路上折射率不同的多個區(qū)域和在多個區(qū)域間入射干涉光的界面。該情況下，只要以相對于干涉光LC的入射位置上的該界面的垂線傾斜入射干涉光LC的方式配置界面，即可防止干涉光LC的多重反射，降低固定圖形噪聲。

在上述的說明中，入射面71為相對于干涉光LC的光束中包含的所有的光抑制多重反射的位置，但入射面71只要為相對于干涉光LC的光束中包含的至少一部分光抑制多重反射的配置即可。這對于射出面72、檢測面81、及界面即平面94、95也是相同的。

定位部只要能夠規(guī)定光纖F的位置即可，定位部也可以由第一插入部31以外構成。光檢測模塊1也可以不具備定位部。

罩部只要能夠防止涉光LC以外的光被光電二極管8檢測且作為噪聲在斷層圖像上出現(xiàn)即可，罩部也可以由第二插入部32以外構成。在干涉光LC以外的光少的情況下，光檢測模塊1也可以不具備罩部。

OCT裝置100不限于SS－OCT方式，也可以基于TD－OCT(Time-domain OCT)方式及SD－OCT(Spectral-domain OCT)方式等。