本發(fā)明涉及探針卡制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其是有關(guān)于一種探針卡及其制造方法。
背景技術(shù):
探針卡的主要目的是通過其探針直接與待測物(如芯片)上的焊墊或是凸塊接觸,配合周邊測試機(jī)臺與軟件控制而達(dá)到自動(dòng)化量測目的,并進(jìn)一步地篩選出不良品。在使用時(shí),通常是通過測試機(jī)臺發(fā)送測試信號,經(jīng)探針卡到待測物,再由待測物回送測試結(jié)果信號,經(jīng)探針卡到測試機(jī)臺進(jìn)行分析。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的一技術(shù)態(tài)樣在于提供一種探針卡,其于電路板的焊點(diǎn)區(qū)提供接地片,藉此方便接地導(dǎo)體電連接接地片而接地。
根據(jù)本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式,一種探針卡包含電路板、接地片、信號導(dǎo)體、信號針前段與接地導(dǎo)體。電路板具有至少一信號接點(diǎn)與至少一接地接點(diǎn)于其下表面。接地片位于電路板的下表面,并電連接接地接點(diǎn)。接地片具有至少一開口,且此開口暴露出信號接點(diǎn)。信號導(dǎo)體通過接地片的開口,電連接信號接點(diǎn)。信號針前段電連接信號導(dǎo)體,且此信號針前段呈懸臂針型態(tài)。接地導(dǎo)體與信號導(dǎo)體之間具有間距,且此接地導(dǎo)體電連接接地片。
根據(jù)本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式,一種探針卡的制造方法包含:在接地片中制作至少一開口;將接地片設(shè)置至電路板的待測物側(cè)的焊點(diǎn)區(qū)上,其中接地片中的開口暴露出電路板上的至少一信號接點(diǎn);電連接接地片與電路板上的接地接點(diǎn);以及組裝至少一探針組至電路板,其中探針組的信號導(dǎo)體通過接地片中的開口,電連接信號接點(diǎn),且探針組的接地導(dǎo)體電連接接地片。
在測試高頻信號時(shí),為了讓測試針具有適合的特性阻抗,制造者可在信號導(dǎo)體的周圍設(shè)置接地導(dǎo)體。通過接地導(dǎo)體與信號導(dǎo)體之間的間距與介質(zhì),可以適當(dāng)?shù)卣{(diào)整信 號導(dǎo)體的特性阻抗,藉此達(dá)到良好的阻抗匹配,并避免高頻信號在傳輸?shù)倪^程中產(chǎn)生反射損耗。在設(shè)計(jì)上,接地導(dǎo)體要電連接至接地電位,例如位于電路板下表面的接地接點(diǎn),而信號導(dǎo)體則要電連接至信號接點(diǎn),但由于電路板的電路設(shè)計(jì)有許多考慮,因此電路板上的信號接點(diǎn)與接地接點(diǎn)并不一定會(huì)在鄰近的位置。如果信號接點(diǎn)與接地接點(diǎn)之間的相對位置不佳,例如過遠(yuǎn),就可能會(huì)讓接地導(dǎo)體的繞線路徑過長且復(fù)雜。這樣過長的繞線容易造成電路板與信號導(dǎo)體之間的阻抗匹配不連續(xù)。這種阻抗匹配不連續(xù)會(huì)對測試傳輸高頻信號有影響。再者,在制作探針卡時(shí),過于復(fù)雜的繞線也會(huì)增加制作的復(fù)雜度,使得接地導(dǎo)體容易有焊錯(cuò)接地接點(diǎn)的風(fēng)險(xiǎn)。
因此,在本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,電路板的下表面上可設(shè)置接地片,此接地片設(shè)置在電路板下表面的焊點(diǎn)區(qū)上,且具有多個(gè)開口暴露出信號接點(diǎn)。由于接地片就位在信號接點(diǎn)的周圍,因此信號導(dǎo)體與接地導(dǎo)體不需要過長且過于復(fù)雜的繞線,就可以分別電連接信號接點(diǎn)與接地片。此外,由于接地導(dǎo)體繞線的距離很短,因此阻抗匹配的不連續(xù)部分將得以縮短,進(jìn)而降低高頻信號在傳輸?shù)倪^程中所產(chǎn)生的反射損耗。再者,在制作探針卡時(shí),因?yàn)榻拥貙?dǎo)體繞線的復(fù)雜度降低,因此接地導(dǎo)體焊錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn)也會(huì)降低。
附圖說明
圖1繪示依照本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡的俯視圖。
圖2繪示圖1的局部2的底視圖。
圖3繪示沿圖2的剖面線3的剖面圖。
圖4繪示沿圖3的剖面線4的剖面圖。
圖5繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的同軸套筒針的剖面圖,其剖面位置與圖4相同。
圖6繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的同軸套筒針的剖面圖,其剖面位置與圖4相同。
圖7繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的同軸套筒針的剖面圖,其剖面位置與圖4相同。
圖8繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡的剖面圖,其剖面位置與圖3相同。
圖9繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡的局部底視圖。
圖10繪示沿圖9的剖面線10的剖面圖,其中同軸線并未剖開。
圖11繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡的剖面圖,其剖面位置與圖10相同。
圖12繪示沿圖11的剖面線12的剖面圖。
附圖標(biāo)號
2:局部
3:剖面線
4:剖面線
10:剖面線
12:剖面線
100:探針卡
110:電路板
120:接地片
122:開口
125:絕緣層
130:信號針前段
142:信號導(dǎo)體
144:接地導(dǎo)體
146:介電層
150:針座
152:接地部
S:信號接點(diǎn)
G:接地接點(diǎn)
I1:空隙
I2:空隙
具體實(shí)施方式
以下將以圖式揭露本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施方式,為明確說明起見,許多實(shí)際上的細(xì)節(jié) 將在以下敘述中一并說明。然而,應(yīng)了解到,這些實(shí)際上的細(xì)節(jié)不應(yīng)用以限制本發(fā)明。也就是說,在本發(fā)明部分實(shí)施方式中,這些實(shí)際上的細(xì)節(jié)是非必要的。此外,為簡化圖式起見,一些已知慣用的結(jié)構(gòu)與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
圖1繪示依照本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡100的俯視圖。圖2繪示圖1的局部2的底視圖。圖3繪示沿圖2的剖面線3的剖面圖。如圖1~圖3所示,一種探針卡100包含電路板110、接地片120、信號導(dǎo)體142、信號針前段130與接地導(dǎo)體144。電路板110具有至少一信號接點(diǎn)S與至少一接地接點(diǎn)G于其下表面。接地片120位于電路板110的下表面,并電連接接地接點(diǎn)G。接地片120具有至少一開口122,且此開口122暴露出信號接點(diǎn)S。信號導(dǎo)體142通過接地片120的開口122,電連接信號接點(diǎn)S。信號針前段130電連接信號導(dǎo)體142,且此信號針前段130呈懸臂針型態(tài)。接地導(dǎo)體144與信號導(dǎo)體142之間具有間距,且此接地導(dǎo)體144電連接接地片120。上述的電路板110的下表面為待測物側(cè),而上表面則為測試機(jī)側(cè)。
在測試高頻信號時(shí),為了讓測試針具有適合的特性阻抗,制造者可在信號導(dǎo)體142的周圍設(shè)置接地導(dǎo)體144。通過接地導(dǎo)體144與信號導(dǎo)體142之間的間距與介質(zhì),可以適當(dāng)?shù)卣{(diào)整信號導(dǎo)體142的特性阻抗,藉此達(dá)到良好的阻抗匹配,并避免高頻信號在傳輸?shù)倪^程中產(chǎn)生反射損耗。在設(shè)計(jì)上,接地導(dǎo)體144要電連接至接地接點(diǎn)G,而信號導(dǎo)體142則要電連接至信號接點(diǎn)S,但由于電路板110的電路設(shè)計(jì)有許多考慮,因此電路板110上的信號接點(diǎn)S與接地接點(diǎn)G并不一定會(huì)在鄰近的位置。如果信號接點(diǎn)S與接地接點(diǎn)G之間的相對位置不佳,例如過遠(yuǎn),就可能會(huì)讓接地導(dǎo)體144的繞線路徑過長且復(fù)雜。這樣過長的繞線容易造成電路板110與信號導(dǎo)體142之間的阻抗匹配不連續(xù)。這種阻抗匹配不連續(xù)會(huì)對測試傳輸高頻信號有影響。再者,在制作探針卡時(shí),過于復(fù)雜的繞線也會(huì)增加制作的復(fù)雜度,使得接地導(dǎo)體容易有焊錯(cuò)接地接點(diǎn)的風(fēng)險(xiǎn)。
因此,在本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,電路板110的下表面上可設(shè)置接地片120,此接地片120設(shè)置在電路板110下表面的焊點(diǎn)區(qū)上,且具有多個(gè)開口122暴露出信號接點(diǎn)S。由于接地片120就位在信號接點(diǎn)S的周圍,因此信號導(dǎo)體142與接地導(dǎo)體144不需要過長且過于復(fù)雜的繞線,就可以分別電連接信號接點(diǎn)S與接地片120。此外,由于接地導(dǎo)體144繞線的距離很短,因此阻抗匹配的不連續(xù)部分將得以縮短,進(jìn)而降低高頻信號在傳輸?shù)倪^程中所產(chǎn)生的反射損耗。再者,在制作探針卡100時(shí), 因?yàn)榻拥貙?dǎo)體144繞線的復(fù)雜度降低,因此接地導(dǎo)體144焊錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn)也會(huì)降低。
上述的接地片120的材質(zhì)可為任何導(dǎo)體。更具體地說,上述的接地片120的材質(zhì)可為金屬,例如:銅。具體實(shí)施時(shí),上述的接地片120可為銅箔。此接地片120與電路板110之間可具有絕緣層125,藉此提供接地片120與電路板110之間的絕緣。具體實(shí)施時(shí),上述的絕緣層125可為粘膠,例如:黑膠、樹脂或雙面膠帶。如此一來,絕緣層125不但可以提供接地片120與電路板110之間的絕緣,還可以粘合接地片120與電路板110。
由于信號接點(diǎn)S與接地片120的電位不同,因此兩者之間要保持電性絕緣,以避免短路的發(fā)生。在本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,接地片120具有開口122以暴露出信號接點(diǎn)S,且此開口122的側(cè)壁與信號接點(diǎn)S之間保持一絕緣空間,藉此讓信號接點(diǎn)S與接地片120之間維持電性絕緣。
上述的信號導(dǎo)體142、接地導(dǎo)體144與信號針前段130實(shí)際上可為同軸套筒針,且此同軸套筒針可呈懸臂針型態(tài)。更具體地說,信號導(dǎo)體142與信號針前段130可為一體連接的針芯。亦即,信號導(dǎo)體142與信號針前段130的材質(zhì)相同,且兩者之間并沒有明顯的交界。信號針前段130包含針尖部分與針身的前段部分,而信號導(dǎo)體142則包含針身的后段部分與針尾。
圖4繪示沿圖3的剖面線4的剖面圖。如圖3~圖4所示,接地導(dǎo)體144圍繞信號導(dǎo)體142。更具體地說,一介電層146可直接形成在信號導(dǎo)體142的側(cè)壁上,且接地導(dǎo)體144可直接形成在介電層146的側(cè)壁上。如此一來,介電層146將位于接地導(dǎo)體144與信號導(dǎo)體142之間,以維持接地導(dǎo)體144與信號導(dǎo)體142之間的間距,并提供適當(dāng)?shù)亟殡娞匦浴?/p>
圖5~圖7繪示依照本發(fā)明另多個(gè)實(shí)施方式的同軸套筒針的剖面圖,其剖面位置與圖4相同。如圖4~圖7所示,雖然圖4繪示介電層146、接地導(dǎo)體144與信號導(dǎo)體142之間不具有空隙,但此并不限制本發(fā)明,實(shí)際上接地導(dǎo)體144可呈套筒狀套設(shè)于介電層146與信號導(dǎo)體142外,且接地導(dǎo)體144與介電層146之間可以具有空隙I1(如圖5所繪示)?;蛘?,接地導(dǎo)體144可呈套筒狀套設(shè)于信號導(dǎo)體142外。接地導(dǎo)體144形成于介電層146的側(cè)壁上,且介電層146與信號導(dǎo)體142之間可以具有空隙I2(如圖6所繪示)。抑或,介電層146可呈套筒狀套設(shè)于信號導(dǎo)體142外,接地導(dǎo)體144可呈套筒狀套設(shè)于介電層146外,三者之間均可以具有空隙I1、I2(如圖7所繪示)。
回到圖3。在本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,電路板110上可具有針座150,此針座150連接信號針前段130至電路板110,藉此至少固定信號針前段130與電路板110的相對位置。上述的針座150的材質(zhì)可為絕緣材料。在部分實(shí)施方式中,針座150的表面也可以選擇性的具有接地部152。接地導(dǎo)體144可電連接接地片120與接地部152,藉此提供更好的阻抗匹配。應(yīng)了解到,針座150表面的接地部152并非必要元件,在部分實(shí)施方式中,接地導(dǎo)體144也可以電連接接地片120即可,或者電連接接地片120與鄰近的接地針。
應(yīng)了解到,雖然圖3繪示接地部152設(shè)置于針座150的表面,但此并不限制本發(fā)明。在本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,接地部152亦可設(shè)置于針座150的內(nèi)部(如圖8所繪示),本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中普通技術(shù)人員,應(yīng)視實(shí)際需要,彈性選擇接地部152的實(shí)施方式。
除了同軸套筒針外,本發(fā)明部分實(shí)施方式也可以應(yīng)用鉲針接同軸線的方式來實(shí)現(xiàn)適當(dāng)?shù)淖杩蛊ヅ?。圖9繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探針卡100的局部底視圖。圖10繪示沿圖9的剖面線10的剖面圖,其中同軸線并未剖開。如圖9~圖10所示,圖9~圖10的信號針前段130呈懸臂針型態(tài)。更具體地說,信號針前段130可為懸臂針的針尖部分與針身的前段部分,后段則利用同軸線電連接至電路板110。同軸線的線芯即信號導(dǎo)體142,接地層即接地導(dǎo)體144,而線芯與接地層之間的絕緣護(hù)套即為介電層146。在本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中,信號針前段130與信號導(dǎo)體142的材質(zhì)可不同。舉例來說,信號針前段130因?yàn)榭紤]到要接觸待測物,因此可選用機(jī)械強(qiáng)度較高的導(dǎo)體,信號導(dǎo)體142因?yàn)榭紤]要方便連接信號針前段130,因此可選用機(jī)械強(qiáng)度較低的導(dǎo)體。信號針前段130與信號導(dǎo)體142兩者并非一體連接,其連接方式可為例如焊接。同樣地,信號導(dǎo)體142的一端電連接信號接點(diǎn)S,另一端電連接信號針前段130。信號針前段130可以通過針座150固定在電路板110上。接地導(dǎo)體144的一端電連接接地片120,另一端可以電連接針座150上的接地部152,也可以不直接連接接地電位,或電連接其他的接地電位,例如鄰近的接地針。
此外,上述的信號針前段130的側(cè)壁可選擇性地被一絕緣層所覆蓋,藉此避免兩相鄰的信號針發(fā)生短路。具體實(shí)施時(shí),此絕緣層可為例如絕緣漆。
除了同軸套筒針與鉲針接同軸線外,本發(fā)明部分實(shí)施方式也可以用信號針加接地線的方式來實(shí)現(xiàn)適當(dāng)?shù)淖杩蛊ヅ洹D11繪示依照本發(fā)明另一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的探 針卡的剖面圖,其剖面位置與圖10相同。圖12繪示沿圖11的剖面線12的剖面圖。如圖11~圖12所示,在本發(fā)明部分實(shí)施方式中,上述的信號導(dǎo)體142與信號針前段130實(shí)際上可為測試針,例如懸臂針。也就是說,信號導(dǎo)體142可一體連接信號針前段130。亦即,信號導(dǎo)體142與信號針前段130的材質(zhì)相同,且兩者之間并沒有明顯的交界。信號針前段130包含針尖部分與針身的前段部分,而信號導(dǎo)體142則包含針身的后段部分與針尾。
接地導(dǎo)體144可為一端電連接接地片120的接地線。接地導(dǎo)體144的至少部分側(cè)壁可被介電層146所覆蓋。接地導(dǎo)體144與介電層146的組合可貼附在信號導(dǎo)體142的側(cè)壁,藉此提供信號導(dǎo)體142適當(dāng)?shù)淖杩蛊ヅ?。同樣地,接地?dǎo)體144的另一段可以電連接針座150上的接地部152,也可以不直接連接接地電位,或電連接其他的接地電位,例如鄰近的接地針。當(dāng)然,接地導(dǎo)體144一端的設(shè)置位置也可以選擇在針座150內(nèi)部,而接地部152也可設(shè)置在針座內(nèi)部,使接地導(dǎo)體144的一端在針座150內(nèi)部直接連接接地部152,而接地部152會(huì)再電連接接地電位,例如接地接點(diǎn)G或接地針。
本發(fā)明另一技術(shù)態(tài)樣為上述探針卡100的制造方法。請參閱圖1~圖12,根據(jù)本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式,一種探針卡100的制造方法包含:在接地片120中制作至少一開口122。此開口122的制造方式例如可以是剪裁、刀模沖型,或類似的切削加工方法。上述的接地片120的材質(zhì)可為導(dǎo)體,例如銅。具體實(shí)施時(shí),上述的接地片120可為銅箔。
接著,制造者可將接地片120設(shè)置至電路板110的待測物側(cè)的焊點(diǎn)區(qū)上,其中接地片120中的開口122暴露出電路板110上的至少一信號接點(diǎn)S。將接地片120設(shè)置至電路板110的方式例如可以是以粘膠將接地片120粘合至電路板110的待測物側(cè)的焊點(diǎn)區(qū)上。上述的粘膠例如可為黑膠、樹脂或雙面膠帶。為了確保絕緣,在將接地片120設(shè)置至電路板110后,開口122的側(cè)壁與信號接點(diǎn)S之間保持一絕緣空間。
接著,制造者可電連接接地片120與電路板110上的至少一接地接點(diǎn)G。舉例來說,制造者可以打線連接或者焊接的方式電連接接地片120與接地接點(diǎn)G。
接著,制造者可組裝至少一信號針前段130、至少一信號導(dǎo)體142與至少一接地導(dǎo)體144至電路板110。在此信號針前段130、信號導(dǎo)體142與接地導(dǎo)體144可視為一探針組,此探針組例如可以是同軸套筒針(如圖2~圖8所繪示)、鉲針接同軸線(如 圖9~圖10所繪示)、信號針加接地線(如圖11~圖12所繪示)或其他能夠?qū)崿F(xiàn)阻抗匹配的探針組。上述的探針組可先和針座150結(jié)合,然后再結(jié)合至電路板110上。接著,制造者可分別將信號導(dǎo)體142與接地導(dǎo)體144電連接至信號接點(diǎn)S與接地片120,便可完成探針卡100的制作。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明,任何熟習(xí)此技藝者,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤飾,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。