本發(fā)明實施例涉及eMMC產(chǎn)品的檢測技術(shù)，尤其涉及一種eMMC測試電路。

背景技術(shù)：

單板計算機簡稱“單板機”，是制作在一塊印刷板上，具有完整計算機功能的微型計算機，包括中央處理機、內(nèi)存儲器、外圍設(shè)備、接口等主要部件。

現(xiàn)有的單板計算機上集成有多個芯片，通過對芯片的處理、控制、功能檢查及故障調(diào)試等處理可實現(xiàn)其完整的計算機功能，在此具體是對其印刷版上的eMMC芯片進行功能檢查和故障調(diào)試。

然而現(xiàn)有的單板計算機作為完整計算機，對焊接在其印刷版上的作為微型計算機一部分的eMMC芯片進行的功能檢查和故障調(diào)試，僅是基于其計算機功能進行的檢查和調(diào)試，無法實現(xiàn)對未處于其印刷版上的其他eMMC產(chǎn)品的支持。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種eMMC測試電路，以實現(xiàn)單板計算機對其印刷版以外的eMMC產(chǎn)品的支持。

本發(fā)明實施例提供了一種eMMC測試電路，該eMMC測試電路包括：測試平臺、嵌入式多媒體卡eMMC插板和被測芯片；

所述eMMC插板分別與所述測試平臺和所述被測芯片電連接，用于將所述 測試平臺下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至所述被測芯片；

所述被測芯片，用于根據(jù)所述測試指令，執(zhí)行相應(yīng)的測試操作。

進一步地，所述測試平臺為單板計算機。

進一步地，所述eMMC插板包括eMMC連接器和eMMC插座；

所述eMMC連接器分別與所述測試平臺和所述eMMC插座電連接，用于將所述測試平臺下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至所述eMMC插座；

所述eMMC插座還與所述被測芯片電連接，用于將接收的所述測試指令傳輸至所述被測芯片。

進一步地，所述eMMC插座為集成eMMC芯片的插座模塊。

進一步地，所述被測芯片為遵循eMMC協(xié)議的存儲芯片。

進一步地，所述存儲芯片為閃存。

進一步地，所述測試平臺下發(fā)的測試指令至少包括：測試讀功能指令、測試寫功能指令、測試鎖卡功能指令、測試寫保護功能指令。

本發(fā)明實施例提供的一種eMMC測試電路，包括：測試平臺、嵌入式多媒體卡eMMC插板和被測芯片，其中，eMMC插板分別與測試平臺和被測芯片電連接，用于將測試平臺下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片，被測芯片用于根據(jù)測試指令執(zhí)行相應(yīng)的測試操作。本發(fā)明中測試平臺下發(fā)eMMC協(xié)議的測試指令，并通過eMMC插板傳輸至被測芯片，以對被測芯片進行測試，由此不僅實現(xiàn)了測試平臺對eMMC產(chǎn)品的支持，還方便了對其印刷版以外的eMMC產(chǎn)品的功能檢查和故障調(diào)試。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖做一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實施例一提供的一種eMMC測試電路的示意圖；

圖2A是本發(fā)明實施例二提供的eMMC連接器的示意圖；

圖2B是本發(fā)明實施例二提供的eMMC插座的示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，以下將參照本發(fā)明實施例中的附圖，通過實施方式清楚、完整地描述本發(fā)明的技術(shù)方案，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

如圖1所示，為本發(fā)明實施例一提供的一種eMMC測試電路的示意圖。該實施例的技術(shù)方案適用于使用測試平臺對遵循eMMC協(xié)議的芯片進行測試和調(diào)試的情況。

本實施例提供的該eMMC測試電路包括：測試平臺100、eMMC插板200和被測芯片300。eMMC插板200分別與測試平臺100和被測芯片300電連接，用于將測試平臺100下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片300；被測芯片300，用于根據(jù)測試指令，執(zhí)行相應(yīng)的測試操作。其中， eMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒體卡)協(xié)議是針對手機或平板電腦等產(chǎn)品的內(nèi)嵌式存儲器標準規(guī)格。在此，測試平臺100、eMMC插板200和被測芯片300為三個部件，測試平臺100與eMMC插板200電連接，eMMC插板200與被測芯片300電連接。

具體地，測試平臺100的主要功能在于向被測芯片300下發(fā)遵循eMMC協(xié)議的測試指令；eMMC插板200的主要功能在于電連接被測芯片300和測試平臺100，以將eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片300；被測芯片300的主要功能在于接收eMMC協(xié)議的測試指令并根據(jù)eMMC協(xié)議的測試指令執(zhí)行相應(yīng)的測試操作，以進行功能檢查或故障調(diào)試。在此，eMMC協(xié)議的測試指令無法直接從測試平臺100傳輸至被測芯片300，而eMMC插板200具有eMMC轉(zhuǎn)接作用，因此測試平臺100需通過eMMC插板200將測試指令傳輸至被測芯片300。

在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，優(yōu)選測試平臺100為單板計算機，其原因在于，現(xiàn)有的單板計算機僅是基于其計算機功能對焊接在其印刷版上的eMMC芯片進行功能檢查和故障調(diào)試，無法實現(xiàn)對其印刷版以外的其他eMMC產(chǎn)品的支持。而在本實施例中，通過eMMC插板200與單板計算機和被測芯片300的電連接，可將單板計算機下發(fā)的基于eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至其印刷版之外的其他被測芯片300上，實現(xiàn)對其他芯片的功能檢查和故障調(diào)試。

為了使設(shè)計和生產(chǎn)過程更方便靈活，降低生產(chǎn)和維護成本，在此eMMC插板200包括連接器和插座，已知eMMC插板200用于將接收的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片300，因此組成eMMC插板200的轉(zhuǎn)接器和插座均遵循eMMC協(xié)議。由此可知，可選eMMC插板200包括eMMC連接器和 eMMC插座；eMMC連接器分別與測試平臺100和eMMC插座電連接，用于將測試平臺100下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至eMMC插座；eMMC插座還與被測芯片300電連接，用于將接收的測試指令傳輸至被測芯片300。

需要說明的是，可選本實施例中的eMMC插座為集成eMMC芯片的插座模塊，eMMC插座通過遵循eMMC協(xié)議的引腳與eMMC連接器和被測芯片300電連接，以將從eMMC連接器接收的測試平臺100下發(fā)的測試指令傳輸至被測芯片300。

在此被測芯片300為遵循eMMC協(xié)議的存儲芯片。當(dāng)被測芯片300接收遵循eMMC協(xié)議的測試指令后，根據(jù)該測試指令執(zhí)行相應(yīng)的測試操作，以進行功能檢查和故障調(diào)試?？蛇x存儲芯片為閃存，即被測芯片300為eMMC閃存。

在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，基于被測芯片300為遵循eMMC協(xié)議的存儲芯片，則可選測試平臺100下發(fā)的測試指令至少包括：測試讀功能指令、測試寫功能指令、測試鎖卡功能指令、測試寫保護功能指令。具體地，測試平臺100下發(fā)對存儲芯片進行讀功能和/或?qū)懝δ艿臏y試指令，可實現(xiàn)對存儲芯片的讀功能的調(diào)試或檢查，相應(yīng)的，測試平臺100還可對存儲芯片的其他功能進行調(diào)試和檢查。

需要說明的是，被測芯片300通過eMMC插座、eMMC連接器與測試平臺100連接，因此可更換與eMMC插座電連接的被測芯片300，以實現(xiàn)測試平臺100對不同測試芯片的檢查和調(diào)試。測試平臺100對不同測試芯片進行檢查和調(diào)試時，根據(jù)不同測試芯片的型號或性能的不同，可下發(fā)不同的測試指令進行檢查和調(diào)試，因此測試平臺100下發(fā)的測試指令包括但不限于上述測試指令。

本發(fā)明實施例一提供的一種eMMC測試電路，包括：測試平臺100、 eMMC插板200和被測芯片300，其中，eMMC插板200分別與測試平臺100和被測芯片300電連接，用于將測試平臺100下發(fā)的遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片300，被測芯片300用于根據(jù)測試指令執(zhí)行相應(yīng)的測試操作。本實施例中測試平臺100下發(fā)eMMC協(xié)議的測試指令，并通過eMMC插板200傳輸至被測芯片300，以對被測芯片300進行測試，由此不僅實現(xiàn)了測試平臺100對eMMC產(chǎn)品的支持，還方便了對其印刷版以外的eMMC產(chǎn)品的功能檢查和故障調(diào)試。

本發(fā)明實施例二提供了一種eMMC測試電路，該實施例的技術(shù)方案適用于使用測試平臺100對遵循eMMC協(xié)議的芯片進行測試和調(diào)試的情況。其中，優(yōu)選測試平臺100為型號為Odroid-XU4的單板計算機，eMMC連接器的型號為GB042-34S-H10，eMMC插座的型號為GD9E8M，被測芯片300為eMMC閃存。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，測試平臺100、eMMC連接器、eMMC插座、被測芯片300的型號包括但不限于以上種類。

如圖2A所示，為本發(fā)明實施例二提供的eMMC連接器的示意圖，如圖2B所示，為本發(fā)明實施例二提供的eMMC插座的示意圖。eMMC連接器的引腳與eMMC插座的相應(yīng)引腳連接，eMMC插座的NC引腳全部懸空，eMMC插座的其他引腳分別與被測芯片的引腳一一對應(yīng)連接。需要說明的是，eMMC插座中有效的引腳與其集成的eMMC芯片的引腳一一對應(yīng)且相同。

其中，單板計算機與eMMC連接器電連接，eMMC連接器與eMMC插座電連接，eMMC插座與被測芯片電連接。單板計算機通過eMMC連接器、eMMC插座，將遵循eMMC協(xié)議的測試指令傳輸至被測芯片，以實現(xiàn)對被測芯片的功 能檢查和故障調(diào)試。在此，Odroid-XU4對eMMC產(chǎn)品有良好的支持，通過設(shè)計eMMC插座，方便了eMMC產(chǎn)品的功能檢查和故障調(diào)試。

注意，上述僅為本發(fā)明的較佳實施例及所運用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會理解，本發(fā)明不限于這里所述的特定實施例，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本發(fā)明的保護范圍。因此，雖然通過以上實施例對本發(fā)明進行了較為詳細的說明，但是本發(fā)明不僅僅限于以上實施例，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。