基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法。本發(fā)明的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法可以遠(yuǎn)程控制標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源，采集標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源的時(shí)頻參數(shù)等輸出信息，并將標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)和待檢測(cè)設(shè)備的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較分析，給出待測(cè)設(shè)備數(shù)據(jù)的精度等級(jí)以及操作建議。本發(fā)明的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法可以復(fù)用測(cè)試計(jì)劃，尤其是涉及到設(shè)備、儀器、信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集、結(jié)果等多個(gè)方面的參數(shù)設(shè)置時(shí)，復(fù)用計(jì)劃可以很好的節(jié)省工作量；同時(shí)可以將計(jì)劃、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試分離，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試之前擬制計(jì)劃，從而節(jié)約現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)間，提高校準(zhǔn)方法使用的便捷性。
【專利說(shuō)明】基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及設(shè)備校準(zhǔn)領(lǐng)域，特別涉及一種基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法。

【背景技術(shù)】
[0002]信號(hào)監(jiān)測(cè)設(shè)備測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量，為了保證設(shè)備的準(zhǔn)確可靠性，在型號(hào)研制和交付用戶使用時(shí)，必須對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)?，F(xiàn)有的信號(hào)校準(zhǔn)方式包括對(duì)信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)校準(zhǔn)和空域參數(shù)校準(zhǔn)，而現(xiàn)有技術(shù)無(wú)論是時(shí)域參數(shù)校準(zhǔn)還是空域參數(shù)校準(zhǔn)方面均存在許多問題，比如涉及設(shè)備眾多，操作過(guò)程費(fèi)時(shí)費(fèi)力，校準(zhǔn)過(guò)程繁雜，操作時(shí)間長(zhǎng)，操作人員容易疲勞出錯(cuò)等等，因此需要采用新的校準(zhǔn)方法來(lái)對(duì)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法，解決了現(xiàn)有校準(zhǔn)方法中校準(zhǔn)過(guò)程復(fù)雜、操作時(shí)間長(zhǎng)，操作人員容易疲勞且費(fèi)時(shí)費(fèi)力的技術(shù)問題。
[0004]本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:一種基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法，包括以下步驟:
[0005]步驟1，建立信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備信息、校準(zhǔn)基本信息和信號(hào)測(cè)試流程；
[0006]步驟2，新建測(cè)試信號(hào)樣式，并按照所述信號(hào)測(cè)試流程改變測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式；
[0007]步驟3，根據(jù)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，搭建測(cè)試系統(tǒng)，并完成系統(tǒng)自檢；所述測(cè)試系統(tǒng)包括標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源和待測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備；本步驟中，測(cè)試系統(tǒng)還可以包括標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器，所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器包括:示波器、頻譜儀和/或矢量信號(hào)分析裝置；所述標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)儀器用于采集標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)，并將采集到的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)視作標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值，在需要進(jìn)行復(fù)雜比對(duì)的情況下，產(chǎn)生復(fù)雜的圖形。本步驟中，系統(tǒng)自檢為判斷系統(tǒng)是否能夠正確接收到信號(hào)、能否進(jìn)行遠(yuǎn)程控制等。本發(fā)明采用系統(tǒng)閉環(huán)自檢的方式，即將標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源與待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器分別進(jìn)行對(duì)接，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器是否能夠讀出正確讀數(shù)，以及標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源能否經(jīng)遠(yuǎn)程控制發(fā)送測(cè)試信號(hào)、待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備能夠接受到測(cè)試信號(hào)。只有經(jīng)自檢的系統(tǒng)，才能保證本發(fā)明信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法的正確性和權(quán)威性。
[0008]步驟4，所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源按照所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式發(fā)出測(cè)試信號(hào)至待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備；
[0009]步驟5，所述待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備接收所述測(cè)試信號(hào)，并輸出測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)包括所述接收到的測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值；
[0010]步驟6，存儲(chǔ)所述測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值，并將所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析，生成所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的誤差數(shù)據(jù)圖表、精度等級(jí)和/或操作建議。
[0011]在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本發(fā)明還可以做如下改進(jìn)。
[0012]進(jìn)一步的，所述校準(zhǔn)基本信息包括校準(zhǔn)計(jì)劃名稱、校準(zhǔn)執(zhí)行時(shí)間和/或被校準(zhǔn)設(shè)備名稱。
[0013]進(jìn)一步的，所述設(shè)備信息包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備型號(hào)、序列號(hào)、所屬單位、地點(diǎn)、測(cè)試任務(wù)背景、設(shè)備所在位置經(jīng)瑋度信息、正北信息、設(shè)備性能參數(shù)和/或測(cè)試場(chǎng)所溫濕度；所述待檢測(cè)設(shè)備包括地面設(shè)備和航空設(shè)備。
[0014]進(jìn)一步的，所述時(shí)頻參數(shù)包括測(cè)試信號(hào)的工作頻率、脈沖寬度、脈沖重復(fù)間隔、脈幅、波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖。
[0015]進(jìn)一步的，所述步驟2具體為:設(shè)置測(cè)試信號(hào)樣式組，所述測(cè)試信號(hào)樣式組的每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式包括不同的時(shí)頻參數(shù)；對(duì)測(cè)試信號(hào)樣式組各個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。
[0016]進(jìn)一步的，所述步驟2具體為:
[0017]101建立測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)，所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)包括多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式組和多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式；
[0018]102從所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇一個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式，并確定所選擇的測(cè)試信號(hào)樣式的釋放時(shí)間；
[0019]103重復(fù)步驟102，并根據(jù)信號(hào)流程，將選擇的多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，調(diào)整所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的順序和/或釋放時(shí)間；所述信號(hào)流程按照先頻率、再脈寬、脈間、調(diào)制、調(diào)幅的順序，數(shù)值上由低到高進(jìn)行遍歷，每遍歷一次為一個(gè)幀周期；
[0020]104建立儀器性能參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的時(shí)頻參數(shù)是否均在待檢測(cè)設(shè)備的性能參數(shù)界限內(nèi)，即判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式是否均為有效的測(cè)試信號(hào)樣式，若是，則進(jìn)入步驟105 ;如不是，則返回步驟102 ;進(jìn)行本步驟，是為了給測(cè)試信號(hào)的參數(shù)設(shè)定提供一個(gè)邊界，防止信號(hào)參數(shù)設(shè)置過(guò)當(dāng)，從而損壞儀器無(wú)法得到真實(shí)結(jié)果。
[0021]105生成并保存標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。
[0022]進(jìn)一步的，所述步驟103中，采用多個(gè)與步驟102相同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，即多次重復(fù)步驟102中選擇的測(cè)試信號(hào)樣式；或者選擇多個(gè)不同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式都多次重復(fù)。
[0023]進(jìn)一步的，所述測(cè)試數(shù)據(jù)還包括所述待檢測(cè)設(shè)備接收到的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的圖形數(shù)據(jù)、所述測(cè)試數(shù)據(jù)的存放位置、數(shù)據(jù)容量大小限制和/或數(shù)據(jù)存放方式；所述測(cè)試數(shù)據(jù)采用XML文件進(jìn)行分類存儲(chǔ)。
[0024]進(jìn)一步的，選擇誤差模型，對(duì)所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析生成誤差分析數(shù)據(jù)，并采用表格和/或曲線顯示所述誤差分析數(shù)據(jù)，生成建議措施文檔；所述誤差模型包括包括表格數(shù)據(jù)模型和/或圖形數(shù)據(jù)模型；
[0025]對(duì)待檢測(cè)設(shè)備輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行精度門限設(shè)定，生成并顯示所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的精度等級(jí)；所述精度門限設(shè)定包括時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限和/或時(shí)頻圖形精度門限，所述時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限包括工作頻率誤差門限、脈寬誤差門限、脈沖間隔誤差門限和/或脈沖幅度誤差門限；所述時(shí)頻圖形精度門限包括波形圖誤差門限、頻譜圖誤差門限、時(shí)頻圖誤差門限和/或時(shí)相圖誤差門限。
[0026]進(jìn)一步的，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃、所述測(cè)試信號(hào)樣式、所述信號(hào)測(cè)試流程和時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值均采用結(jié)構(gòu)體編碼；所述波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖均為txt格式；所述誤差分析數(shù)據(jù)為exce I格式。
[0027]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法可以復(fù)用測(cè)試計(jì)劃，尤其是涉及到設(shè)備、儀器、信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集、結(jié)果等多個(gè)方面的參數(shù)設(shè)置時(shí)，復(fù)用計(jì)劃可以很好的節(jié)省工作量；同時(shí)可以將計(jì)劃、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試分離，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試之前擬制計(jì)劃，從而節(jié)約現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)間，提高校準(zhǔn)方法使用的便捷性。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0028]圖1為本發(fā)明信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0029]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的原理和特征進(jìn)行描述，所舉實(shí)例只用于解釋本發(fā)明，并非用于限定本發(fā)明的范圍。
[0030]圖1為本發(fā)明信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法的流程圖，如圖1所示，包括以下步驟:
[0031]步驟1，建立信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備信息、校準(zhǔn)基本信息和信號(hào)測(cè)試流程；
[0032]步驟2，新建測(cè)試信號(hào)樣式，并按照所述信號(hào)測(cè)試流程改變測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式；
[0033]步驟3，根據(jù)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，搭建測(cè)試系統(tǒng)，并完成系統(tǒng)自檢；所述測(cè)試系統(tǒng)包括標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源和待測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備；
[0034]步驟4，所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源按照所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式發(fā)出測(cè)試信號(hào)至待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備；
[0035]步驟5，所述待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備接收所述測(cè)試信號(hào)，并輸出測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)包括所述接收到的測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值；在其他實(shí)施例中，所述測(cè)試數(shù)據(jù)還包括所述待檢測(cè)設(shè)備接收到的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的圖形數(shù)據(jù)、所述測(cè)試數(shù)據(jù)的存放位置、數(shù)據(jù)容量大小限制和/或數(shù)據(jù)存放方式；所述測(cè)試數(shù)據(jù)采用XML文件進(jìn)行分類存儲(chǔ)。
[0036]步驟6，存儲(chǔ)所述測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值，并將所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析，生成所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的誤差數(shù)據(jù)圖表、精度等級(jí)和/或操作建議。本實(shí)施例中，測(cè)試次數(shù)為三次以上，以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0037]本發(fā)明的實(shí)施例中，所述校準(zhǔn)基本信息包括校準(zhǔn)計(jì)劃名稱、校準(zhǔn)執(zhí)行時(shí)間和/或被校準(zhǔn)設(shè)備名稱。所述設(shè)備信息包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備型號(hào)、序列號(hào)、所屬單位、地點(diǎn)、測(cè)試任務(wù)背景、設(shè)備所在位置經(jīng)瑋度信息、正北信息、設(shè)備性能參數(shù)和/或測(cè)試場(chǎng)所溫濕度；所述待檢測(cè)設(shè)備包括地面設(shè)備和航空設(shè)備。所述時(shí)頻參數(shù)包括測(cè)試信號(hào)的工作頻率、脈沖寬度、脈沖重復(fù)間隔、脈幅、波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖。
[0038]本實(shí)施例中，所述步驟2具體為:設(shè)置測(cè)試信號(hào)樣式組，所述測(cè)試信號(hào)樣式組的每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式包括不同的時(shí)頻參數(shù)；對(duì)測(cè)試信號(hào)樣式組各個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。更加具體的表述如下:
[0039]101建立測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)，所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)包括多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式組和多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式；
[0040]102從所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇一個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式，并確定所選擇的測(cè)試信號(hào)樣式的釋放時(shí)間；
[0041]103重復(fù)步驟102，并根據(jù)信號(hào)流程，將選擇的多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，調(diào)整所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的順序和/或釋放時(shí)間；所述信號(hào)流程按照先頻率、再脈寬、脈間、調(diào)制、調(diào)幅的順序，數(shù)值上由低到高進(jìn)行遍歷，每遍歷一次為一個(gè)幀周期；本步驟中，可以采用多個(gè)與步驟102相同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，即多次重復(fù)步驟102中選擇的測(cè)試信號(hào)樣式；或者選擇多個(gè)不同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式都多次重復(fù)。
[0042]104建立儀器性能參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的時(shí)頻參數(shù)是否均在待檢測(cè)設(shè)備的性能參數(shù)界限內(nèi)，即判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式是否均為有效的測(cè)試信號(hào)樣式，若是，則進(jìn)入步驟105 ;如不是，則返回步驟102 ;
[0043]105生成并保存標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。
[0044]本實(shí)施例中，所述步驟6具體為:
[0045]選擇誤差模型，對(duì)所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析生成誤差分析數(shù)據(jù)，并采用表格和/或曲線顯示所述誤差分析數(shù)據(jù)，生成建議措施文檔；所述誤差模型包括包括表格數(shù)據(jù)模型和/或圖形數(shù)據(jù)模型；
[0046]對(duì)待檢測(cè)設(shè)備輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行精度門限設(shè)定，生成并顯示所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的精度等級(jí)；所述精度門限設(shè)定包括時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限和/或時(shí)頻圖形精度門限，所述時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限包括工作頻率誤差門限、脈寬誤差門限、脈沖間隔誤差門限和/或脈沖幅度誤差門限；所述時(shí)頻圖形精度門限包括波形圖誤差門限、頻譜圖誤差門限、時(shí)頻圖誤差門限和/或時(shí)相圖誤差門限。
[0047]本實(shí)施例中，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃、所述測(cè)試信號(hào)樣式、所述信號(hào)測(cè)試流程和時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值均采用結(jié)構(gòu)體編碼；所述波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖均為txt格式；所述誤差分析數(shù)據(jù)為exce I格式。
[0048]本發(fā)明的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法可以復(fù)用測(cè)試計(jì)劃，尤其是涉及到設(shè)備、儀器、信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集、結(jié)果等多個(gè)方面的參數(shù)設(shè)置時(shí)，復(fù)用計(jì)劃可以很好的節(jié)省工作量；同時(shí)可以將計(jì)劃、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試分離，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試之前擬制計(jì)劃，從而節(jié)約現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)間，提高校準(zhǔn)方法使用的便捷性。
[0049]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種基于時(shí)頻參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源方式的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)方法，包括以下步驟: 步驟1，建立信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備信息、校準(zhǔn)基本信息和信號(hào)測(cè)試流程； 步驟2，新建測(cè)試信號(hào)樣式，并按照所述信號(hào)測(cè)試流程改變測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式； 步驟3，根據(jù)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃，搭建測(cè)試系統(tǒng)，并完成系統(tǒng)自檢；所述測(cè)試系統(tǒng)包括標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源和待測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備； 步驟4，所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源按照所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)樣式發(fā)出測(cè)試信號(hào)至待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備； 步驟5，所述待檢測(cè)的信號(hào)檢測(cè)設(shè)備接收所述測(cè)試信號(hào)，并輸出測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)包括所述接收到的測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值； 步驟6，存儲(chǔ)所述測(cè)試信號(hào)的時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值，并將所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析，生成所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的誤差數(shù)據(jù)圖表、精度等級(jí)和/或操作建議。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述校準(zhǔn)基本信息包括校準(zhǔn)計(jì)劃名稱、校準(zhǔn)執(zhí)行時(shí)間和丨或被校準(zhǔn)設(shè)備名稱。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述設(shè)備信息包括待檢測(cè)設(shè)備的設(shè)備型號(hào)、序列號(hào)、所屬單位、地點(diǎn)、測(cè)試任務(wù)背景、設(shè)備所在位置經(jīng)瑋度信息、正北信息、設(shè)備性能參數(shù)和/或測(cè)試場(chǎng)所溫濕度；所述待檢測(cè)設(shè)備包括地面設(shè)備和航空設(shè)備。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述時(shí)頻參數(shù)包括測(cè)試信號(hào)的工作頻率、脈沖寬度、脈沖重復(fù)間隔、脈幅、波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖。
5.根據(jù)權(quán)利要求1?4任一所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟2具體為:設(shè)置測(cè)試信號(hào)樣式組，所述測(cè)試信號(hào)樣式組的每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式包括不同的時(shí)頻參數(shù)；對(duì)測(cè)試信號(hào)樣式組各個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，生成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟2具體為: 101建立測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)，所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)包括多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式組和多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式； 102從所述測(cè)試信號(hào)樣式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇一個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式，并確定所選擇的測(cè)試信號(hào)樣式的釋放時(shí)間； 103重復(fù)步驟102，并根據(jù)信號(hào)流程，將選擇的多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，調(diào)整所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的順序和/或釋放時(shí)間；所述信號(hào)流程按照先頻率、再脈寬、脈間、調(diào)制、調(diào)幅的順序，數(shù)值上由低到高進(jìn)行遍歷，每遍歷一次為一個(gè)幀周期； 104建立儀器性能參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式的時(shí)頻參數(shù)是否均在待檢測(cè)設(shè)備的性能參數(shù)界限內(nèi)，即判斷所述多個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式是否均為有效的測(cè)試信號(hào)樣式，若是，則進(jìn)入步驟105 ；如不是，則返回步驟102 ； 105生成并保存標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟103中，采用多個(gè)與步驟102相同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，即多次重復(fù)步驟102中選擇的測(cè)試信號(hào)樣式；或者選擇多個(gè)不同的測(cè)試信號(hào)樣式進(jìn)行組合，每個(gè)測(cè)試信號(hào)樣式都多次重復(fù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟5中:所述測(cè)試數(shù)據(jù)還包括所述待檢測(cè)設(shè)備接收到的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)的圖形數(shù)據(jù)、所述測(cè)試數(shù)據(jù)的存放位置、數(shù)據(jù)容量大小限制和/或數(shù)據(jù)存放方式；所述測(cè)試數(shù)據(jù)采用XII文件進(jìn)行分類存儲(chǔ)。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟6具體為: 選擇誤差模型，對(duì)所述時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值與所述時(shí)頻參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行比較分析生成誤差分析數(shù)據(jù)，并采用表格和/或曲線顯示所述誤差分析數(shù)據(jù)，生成建議措施文檔；所述誤差模型包括包括表格數(shù)據(jù)模型和/或圖形數(shù)據(jù)模型； 對(duì)待檢測(cè)設(shè)備輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行精度門限設(shè)定，生成并顯示所述待測(cè)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備的精度等級(jí)；所述精度門限設(shè)定包括時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限和/或時(shí)頻圖形精度門限，所述時(shí)頻數(shù)據(jù)精度門限包括工作頻率誤差門限、脈寬誤差門限、脈沖間隔誤差門限和/或脈沖幅度誤差門限；所述時(shí)頻圖形精度門限包括波形圖誤差門限、頻譜圖誤差門限、時(shí)頻圖誤差門限和/或時(shí)相圖誤差門限。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃、所述測(cè)試信號(hào)樣式、所述信號(hào)測(cè)試流程和時(shí)頻參數(shù)檢測(cè)值均采用結(jié)構(gòu)體編碼；所述波形圖、頻譜圖、時(shí)頻圖和/或時(shí)相圖均為I#格式；所述誤差分析數(shù)據(jù)為6%61格式。
【文檔編號(hào)】G01R35/00GK104502875SQ201410738143
【公開日】2015年4月8日 申請(qǐng)日期:2014年12月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月5日
【發(fā)明者】魏晴昀, 陳蓓, 何緩, 胡喬林, 潘誼春, 郁春來(lái), 張洪, 陳智華, 何龍, 萬(wàn)松 申請(qǐng)人:魏晴昀