信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤碼測試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤碼測試方法，所述信號源包括微控制器和至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片，所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同；所述微控制器用于設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試信號，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片處于旁路模式。本發(fā)明實施例提供的信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤碼測試方法，采用至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片，且至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片采用級聯(lián)的方式，并由微控制器控制其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生所需速率的測試信號，成本低，儀器結(jié)構(gòu)或方法步驟簡單，可實現(xiàn)多速率或全速率誤碼檢測。
【專利說明】
信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤碼測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及傳輸設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別設(shè)及一種信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法 及誤碼測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 在當(dāng)前的傳輸產(chǎn)品中，高低頻信號的產(chǎn)生和誤碼傳輸測試一直是傳輸產(chǎn)品行業(yè) (尤其是光模塊行業(yè))的重要組成部分，隨著當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)對單波25G和100G(25Gx4)的需求越來 越高，研發(fā)和生產(chǎn)領(lǐng)先的傳輸產(chǎn)品已經(jīng)成為各個廠家或者相關(guān)的研究單位爭相競爭的領(lǐng) 域，運就使得對研發(fā)和生產(chǎn)的傳輸產(chǎn)品進(jìn)行必要測試的信號發(fā)生和誤碼測試裝置變得異常 的重要。然而，目前的狀況是信號產(chǎn)生和誤碼儀的生產(chǎn)已經(jīng)被幾個廠家（如安捷倫 化eysight)，泰克(??ΚΤΚΟΝΙΧ) W及Anritsu)所壟斷，導(dǎo)致價格非常昂貴（大概15萬美元至 30萬美元），運使得傳輸產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家或者研發(fā)機(jī)構(gòu)對產(chǎn)品的大量生產(chǎn)和推入商業(yè)化應(yīng) 用，增加極大的研發(fā)或者制造成本壓力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的在于提供一種簡單實用的信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤 碼測試方法，W降低傳輸產(chǎn)品的制造成本。
[0004] 為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明實施例提供了 W下技術(shù)方案：
[0005] -種信號源，包括微控制器和至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片，所述至少兩個時鐘數(shù) 據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同；所述微控制器 用于設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生測試信號，其他 的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式。
[0006] 上述信號源，通過多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)組合使用，可W產(chǎn)生各種傳輸速率 的信號，不僅可W完全滿足多速率、全速率的誤碼檢測，而且結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，極大地降 低了傳輸產(chǎn)品的制造成本，推動了傳輸產(chǎn)品的技術(shù)發(fā)展。
[0007] 較佳地，上述信號源，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片的輸出端口阻抗相同。級聯(lián)的多個時 鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片的輸出端口阻抗相同，可W避免因阻抗不同而引起的信號干擾，保障信號 源輸出的測試信號的質(zhì)量。
[000引一種誤碼測試儀，包括微控制器和至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片，所述至少兩個時 鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同；所述微控 制器用于，設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生所述測試 信號輸出至待測件，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式;經(jīng)所述待測件輸出的信號返 回至產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片，所述產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片比較輸入 待測件的測試信號和待測件輸出的信號，得到誤碼數(shù)量或誤碼率。
[0009]上述誤碼測試儀，通過多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)組合使用，可W產(chǎn)生各種傳輸 速率的信號，不僅可W作為信號源使用，還可W進(jìn)行誤碼檢測，實現(xiàn)多速率、全速率的誤碼 檢測，而且結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，極大地降低了傳輸產(chǎn)品的制造成本，推動了傳輸產(chǎn)品的技 術(shù)發(fā)展。
[0010] 根據(jù)本發(fā)明實施例，上述誤碼測試儀，所述時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片至少為3個，其中一 個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的速率為0.15552~2.488Gbit/s，其中一個時鐘數(shù)據(jù) 恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的速率為9.953~11.3加 it/s，其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生 的測試信號的速率為24.33~28.166611/3。進(jìn)一步地，用于產(chǎn)生0.15552~2.4886611/3、 9.953~11.3化^/3、24.33~28.16化^/3信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片分別為兩個及^上。
[0011] 速率為0.15552 ~2.488Gbit/s、9.953 ~11.3化^/3、24.33~28.166^1/3的信號 為常用的信號，分別用于產(chǎn)生運些信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片設(shè)置為兩個及W上，可W避免 當(dāng)其中一個或多個損壞而不能滿足實際所用或不能實現(xiàn)全速率檢測的問題。
[0012] -種信號產(chǎn)生方法，包括W下步驟：
[0013] 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳 輸速率不同；
[0014] 設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生測試信號， 其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式。
[0015] -種誤碼測試方法，包括W下步驟：
[0016] 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳 輸速率不同，且每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片的輸出端口阻抗相同；
[0017] 設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生測試信號 輸出至待測件，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式；
[0018] 接收所述待測件輸出信號，比較輸入待測件的測試信號和待測件輸出的信號，得 到誤碼數(shù)量或誤碼率。
[0019] 本發(fā)明實施例提供的信號源、誤碼測試儀、信號產(chǎn)生方法及誤碼測試方法，采用至 少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片，且至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片采用級聯(lián)的方式，并由微控制器 控制其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生所需速率的測試信號，至少具有W下有益效果：
[0020] 1.可產(chǎn)生多種速率的信號，可實現(xiàn)多速率或全速率誤碼檢測。
[0021] 2.結(jié)構(gòu)簡單，容易實現(xiàn)。
[0022] 3.成本低廉，極大地降低了產(chǎn)品測試及制造成本。
[0023] 4.為企業(yè)節(jié)約更多的資金投入到產(chǎn)品研發(fā)，推動產(chǎn)品的技術(shù)進(jìn)步，保障企業(yè)的市 場份額。
[0024] 5.相比于目前使用價格昂貴功能較多的設(shè)備而言，避免了設(shè)備功能利用率低、功 能浪費的問題。
【附圖說明】
[0025] 為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附 圖作簡單地介紹，應(yīng)當(dāng)理解，W下附圖僅示出了本發(fā)明的某些實施例，因此不應(yīng)被看作是對 范圍的限定，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可W根據(jù)運 些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。
[0026] 圖1為本發(fā)明實施例提供的信號源的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027] 圖2為本發(fā)明實施例提供的誤碼測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028] 主要元件符號說明
[0029] 信號源10;誤碼測試儀20;時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100;微控制器200;射頻開關(guān) 300;待測件400;檢測裝置500。
【具體實施方式】
[0030] 下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整 地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在 此處附圖中描述和示出的本發(fā)明實施例的組件可各種不同的配置來布置和設(shè)計。因 此，W下對在附圖中提供的本發(fā)明的實施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本發(fā)明的 范圍，而是僅僅表示本發(fā)明的選定實施例?；诒景l(fā)明的實施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒有做 出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0031] 為了保障出廠產(chǎn)品的質(zhì)量，爭取市場份額，對傳輸產(chǎn)品進(jìn)行誤碼測試是很有必要 的。對傳輸產(chǎn)品進(jìn)行誤碼測試需要使用到誤碼儀，且針對不同傳輸速率的產(chǎn)品需要不同速 率的測試信號，即需要不同的器件來產(chǎn)生不同傳輸速率的測試信號。目前普遍采用的是全 速率誤碼儀，所需的多個速率的測試信號都可W通過全速率誤碼儀產(chǎn)生。但是目前可用的 誤碼儀價格昂貴，原因是幾乎被幾家大公司壟斷，另外也因為它可W用于其他產(chǎn)品的其他 性能測試，傳輸產(chǎn)品的誤碼測試僅是其中一個功能，然而對于只生產(chǎn)傳輸產(chǎn)品的中小企業(yè) 而言，成本太大，且多余的功能對其也是極大的浪費，運是亟待解決卻一直未能解決的問 題?；诖?，本發(fā)明人經(jīng)過長期不斷研究，提出了本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案。
[0032] 圖1示出了本發(fā)明實施例提供的信號源10的結(jié)構(gòu)及其在使用時的連接關(guān)系。請參 閱圖1，本發(fā)明實施例提供的信號源10包括微控制器200(圖中所示的MCU)和多個(至少兩 個)時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100(圖中所示的CDR-1，CDR-2，CDR-X，X為3，4，…），多個時鐘數(shù)據(jù)恢 復(fù)忍片100級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同；微控制器200 用于設(shè)置多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生測試信號，其他的 時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100處于旁路模式，所述的旁路模式即是指僅是讓傳輸?shù)阶陨淼男盘柾?過，而自身不產(chǎn)生測試信號。
[0033] 多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100中，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100可產(chǎn)生相應(yīng)傳輸速率的 信號，例如圖中，CDR-1可產(chǎn)生速率為0.15552~2.488Gbit/s的信號，CDR-2可產(chǎn)生速率為 9.953~11.3加 it/s的信號，用戶可根據(jù)實際需要，相應(yīng)地配置時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100的個 數(shù)，例如，若需要產(chǎn)生24.33~28.16Gbit/s的信號，則可配置一個產(chǎn)生該傳輸速率信號的時 鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100。時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100根據(jù)實際需要配置，可節(jié)約成本。
[0034] 本信號源10可W用于產(chǎn)生誤碼測試所需的測試信號，例如，當(dāng)需要9.953Gbit/s的 偽隨機(jī)二進(jìn)制序列（Pseudo-Random Binary Sequence,簡稱PRBS)信號時，微控制器200設(shè) 置CDR-2產(chǎn)生9.953加^/3的?1^8信號，而其他時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100(如〔01?-1)處于旁路模 式，CDR-2產(chǎn)生9.953Gbit/s的PRBS信號輸出至待測件400(圖中所示的DUT)。
[0035] 實踐中，0.15552 ~2.488Gbit/s、9.953 ~11.3加^/3、24.33~28.166611/3為使 用最多的測試信號，因此，作為一種更優(yōu)的實施方式，用于產(chǎn)生0.15552~2.488Gbit/s、 9.953~11.3加1*/3、24.33~28.16661*/3信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100分別為兩個及^ 上，w保障當(dāng)其中一個忍片損壞時還可w啟用備用的忍片產(chǎn)生相應(yīng)速率的信號。例如，設(shè)置 用于產(chǎn)生9.953~11.3加 it/s信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片為兩個，當(dāng)其中一個忍片因損壞而 不能產(chǎn)生測試信號時，即可啟用另一個忍片，W產(chǎn)生9.953~11.3加 it/s的測試信號，有效 支持多速率、全速率信號的產(chǎn)生及誤碼測試。
[0036] 進(jìn)一步地，作為一種更優(yōu)的實施方式，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100的輸出端口阻抗 相同。阻抗相同，可W保障信號的完整性，保障信號源輸出信號的質(zhì)量。例如，圖示中，CDR-2 輸出端口的阻抗為50 Ω，CDR-3的輸出端口的阻抗為75 Ω，CDR-2產(chǎn)生9.953Gbit/s的PRBS信 號輸出至CDR-3,經(jīng)CDR-3后輸出的PRBS信號就會受到因阻抗不一致所產(chǎn)生的信號完整性問 題。
[0037] 對待測件400測試通常需要使用到檢測裝置500(圖中所示的DCA)，例如眼圖儀、示 波器等，W便于觀察信號波形。因此較佳地，本實施例中所述信號源10還包括選擇開關(guān)，用 于選擇輸出一觸發(fā)信號給檢測裝置500,該觸發(fā)信號為產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片 100在產(chǎn)生該測試信號的同時產(chǎn)生的，W觸發(fā)檢測裝置500開始工作，例如進(jìn)行信號波形顯 示。實踐中，較優(yōu)地，選擇開關(guān)可W是射頻開關(guān)300(圖中所示的RF-Switch)，每個時鐘數(shù)據(jù) 恢復(fù)忍片100的時鐘輸出端連接射頻開關(guān)300的時鐘輸入端，微控制器200連接射頻開關(guān) 300，W控制射頻開關(guān)300產(chǎn)生的所述觸發(fā)信號的頻率。
[0038] 本信號源10作為傳輸產(chǎn)品測試用信號源10時，通常地，時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生 的用于傳輸產(chǎn)品測試的測試信號的時鐘頻率較高，而檢測裝置500工作所需的時鐘頻率相 對較低，因此，所述觸發(fā)信號的頻率為所述測試信號的^，N = 1，2，3，4，…。例如，CDR-2產(chǎn) 生9.953Gbit/s的測試信號輸出至DUT，同時CDR-2產(chǎn)生9.953*l/8Gbit/s的觸發(fā)信號，RF- Swi t ch選擇輸出CDR-2產(chǎn)生9.953* 1 /8Gb i t/s的觸發(fā)信號給DCA。
[0039] 相應(yīng)地，本發(fā)明實施例中還提供了一種信號產(chǎn)生方法，包括步驟：
[0040] 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳 輸速率不同。較優(yōu)地，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片的輸出端口阻抗相同。進(jìn)一步地，多個時鐘數(shù) 據(jù)恢復(fù)忍片中，至少包括分別用于產(chǎn)生0.15552~2.488Gbit/s、9.953~11.3(ibit/s、24.33 ~28.16Gbit/s信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片。
[0041] 設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生測試信號， 其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式。
[0042] 進(jìn)一步地，所述信號產(chǎn)生方法還可W包括步驟：
[0043] 通過一選擇開關(guān)選擇輸出一觸發(fā)信號給檢測裝置，所述觸發(fā)信號為產(chǎn)生該測試信 號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片在產(chǎn)生該測試信號的同時產(chǎn)生的。一般地，所述觸發(fā)信號的頻率為 所述測試信號的^，N=1，2,3,4，···。
[0044] 本發(fā)明實施例提供的信號源10。選用具有測試信號（如PRBS信號)產(chǎn)生功能的時鐘 數(shù)據(jù)恢復(fù)(clock da1:a recovery,簡稱CDR)忍片，通過級聯(lián)的方式，并WMCU來控制各個CDR 的1C，結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉。
[0045] 本實施例中所述的信號源10僅作為用于產(chǎn)生信號的信號源10使用時，時鐘數(shù)據(jù)恢 復(fù)忍片100可W僅具有信號產(chǎn)生功能。作為另外一種應(yīng)用，本實施例中所述的信號源10還可 W作為誤碼測試儀使用，此時，時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100需同時具備信號產(chǎn)生功能及誤碼測試 功能。其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生的測試信號輸出至待測件，待測件又會向該時鐘 數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100返回一個輸出信號，該時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100比較輸入待測件的測試信號 和待測件輸出的信號，得到誤碼數(shù)量或誤碼率。
[0046] 例如，CDR-2產(chǎn)生9.953加^/3的測試信號輸出至0111'，01]1'向001?-2輸出一個信號， 假定為在η秒內(nèi)DUT返回給CDR-2的信號中正確碼數(shù)量為m，則誤碼數(shù)量為(9.953*n-m)Gbit， 誤碼率為（9.953*n-m) /9.953袖。
[0047] 圖2示出了本發(fā)明實施例提供的誤碼測試儀20的結(jié)構(gòu)及其在使用時的連接關(guān)系。 請參閱圖2,本發(fā)明實施例提供的誤碼測試儀20包括微控制器200(圖中所示的MCU)和多個 (至少兩個)時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片1〇〇(圖中所示的〔03-1，〔01?-2，〔01?-乂），多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍 片100級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同;微控制器200用于 設(shè)置多個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100產(chǎn)生測試信號輸出給待測 件400,其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100處于旁路模式，所述的旁路模式即是指僅是讓傳輸?shù)?自身的信號通過，而自身不產(chǎn)生測試信號。經(jīng)所述待測件400輸出的信號返回至產(chǎn)生測試信 號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100,所述產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100比較輸入待測件的 測試信號和待測件輸出的信號，得到誤碼數(shù)量或誤碼率。
[004引例如，CDR-2產(chǎn)生9.953加^/3的測試信號輸出至0111'，01]1'向001?-2輸出一個信號， 假定為在η秒內(nèi)DUT返回給CDR-2的信號中正確碼數(shù)量為m，則誤碼數(shù)量為(9.953*n-m)Gbit， 誤碼率為（9.953*n-m) /9.953袖。
[0049] 實踐中，微控制器200還可W與上位機(jī)連接，用于將比較得到的誤碼數(shù)量或誤碼率 上報給上位機(jī)。
[0050] 容易理解的，本實施例提供的誤碼測試儀20也可W單獨作為信號源10使用，因此 關(guān)于本實施例中誤碼測試儀20的具體結(jié)構(gòu)，可W參考前述關(guān)于信號源10的描述，此處不再 寶述。
[0051 ]相應(yīng)地，本發(fā)明實施例中還提供了一種誤碼測試方法，包括步驟：
[0052] 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生的測試信號的傳 輸速率不同。較優(yōu)地，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片的輸出端口阻抗相同。進(jìn)一步地，多個時鐘數(shù) 據(jù)恢復(fù)忍片中，至少包括分別用于產(chǎn)生0.15552~2.488Gbit/s、9.953~11.3(ibit/s、24.33 ~28.16Gbit/s信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片。
[0053] 所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片產(chǎn)生測試信號輸出 至待測件，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片處于旁路模式。
[0054] 接收所述待測件返回的信號，比較輸入待測件的測試信號和待測件返回的信號， 得到誤碼數(shù)量或誤碼率。
[0055] 進(jìn)一步地，所述誤碼測試方法還可W包括步驟:將得到的誤碼數(shù)量或誤碼率上報 給上位機(jī)。
[0056] 本發(fā)明實施例提供的誤碼測試儀20及誤碼測試方法，其實現(xiàn)方式簡單，通過選擇 配置所需的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)忍片100,不僅可W實現(xiàn)多速率、全速率的誤碼測試，而且成本低 廉，很好地解決了目前中小企業(yè)為產(chǎn)品測試投入高成本的問題，綜述，本發(fā)明實施例提供的 方案具有W下優(yōu)點：
[0057] 1)可產(chǎn)生多種速率的信號，可實現(xiàn)多速率或全速率誤碼檢測。
[005引2)結(jié)構(gòu)簡單，容易實現(xiàn)。
[0059] 3)成本低廉，極大地降低了產(chǎn)品測試及制造成本。
[0060] 4)為企業(yè)節(jié)約更多的資金投入到產(chǎn)品研發(fā)，推動產(chǎn)品的技術(shù)進(jìn)步，保障企業(yè)的市 場份額。
[0061] 5)相比于目前使用價格昂貴功能較多的設(shè)備而言，避免了設(shè)備功能利用率低、功 能浪費的問題。
[0062] W上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何 熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明掲露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵 蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)所述W權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1. 一種信號源，其特征在于，包括微控制器和至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片，所述至少兩 個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同；所述 微控制器用于設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試 信號，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片處于旁路模式。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號源，其特征在于，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片的輸出端口阻抗 相同。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的信號源，其特征在于，還包括選擇開關(guān)，用于選擇輸出其中一 個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試信號的同時產(chǎn)生的一觸發(fā)信號。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的信號源，其特征在于，所述觸發(fā)信號的頻率為所述測試信號的5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的信號源，其特征在于，所述選擇開關(guān)為多通道選擇開關(guān)，每個 時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片的時鐘輸出端連接所述多通道選擇開關(guān)的一個時鐘輸入端，所述微控制 器連接所述選擇開關(guān)，用來選擇時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的觸發(fā)信號的輸出控制。6. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的信號源，其特征在于，所述選擇開關(guān)為射頻開關(guān)。7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的信號源，其特征在于，所述時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片至少為3個，其中 一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的速率為0.15552~2.488Gbit/s，其中一個時鐘數(shù) 據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的速率為9.953~11.3Gbit/s，其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn) 生的測試信號的速率為24.33~28.16Gbit/s。8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的信號源，其特征在于，用于產(chǎn)生0.15552~2.488Gbit/s、9.953 ~11.3Gbit/s、24.33~28.16Gbit/s信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片分別為兩個及以上。9. 一種誤碼測試儀，其特征在于，包括微控制器和至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片，所述至 少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速率不同； 所述微控制器用于，設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生 所述測試信號輸出至待測件，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片處于旁路模式;經(jīng)所述待測件后輸 出的信號返回至產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片，所述產(chǎn)生測試信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯 片比較輸入待測件的測試信號和待測件輸出的信號，得到誤碼數(shù)量或誤碼率。10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的誤碼測試儀，其特征在于，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片的輸出端 口阻抗相同。11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的誤碼測試儀，其特征在于，所述微控制器還用于將比較得到 的誤碼數(shù)量或誤碼率上報給上位機(jī)。12. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的誤碼測試儀，其特征在于，還包括選擇開關(guān)，用于選擇輸出 其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試信號的同時產(chǎn)生的一觸發(fā)信號。13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的誤碼測試儀，其特征在于，所述觸發(fā)信號的頻率為所述測試14. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的誤碼測試儀，其特征在于，所述時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片至少為3 個，其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的速率為0.15552~2.488Git/s，其中一個 時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的速率為9.953~11.3Git/s，其中一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯 片產(chǎn)生的測試信號的速率為24.33~28.16Git/s。15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的誤碼測試儀，其特征在于，用于產(chǎn)生0.15552~2.488Gbit/ 8、9.953~11.361^/8、24.33~28.1661^/8信號的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片分別為兩個及以上。16. -種信號產(chǎn)生方法，其特征在于，包括以下步驟： 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速 率不同； 設(shè)置所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試信號，其他 的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片處于旁路模式。17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的信號產(chǎn)生方法，其特征在于，還包括步驟： 通過一選擇開關(guān)選擇輸出一觸發(fā)信號給檢測裝置，所述觸發(fā)信號為其中一個時鐘數(shù)據(jù) 恢復(fù)芯片在產(chǎn)生所述測試信號的同時產(chǎn)生。18. -種誤碼測試方法，其特征在于，包括以下步驟： 將至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片級聯(lián)，每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生的測試信號的傳輸速 率不同，且每個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片的輸出端口阻抗相同； 所述至少兩個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片中的一個時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片產(chǎn)生測試信號輸出至待 測件，其他的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)芯片處于旁路模式； 接收所述待測件輸出的信號，比較輸入待測件的測試信號和待測件輸出的信號，得到 誤碼數(shù)量或誤碼率。
【文檔編號】H04L1/24GK106059723SQ201610630942
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年8月3日
【發(fā)明人】田永猛, 彭奇, 汪國強
【申請人】索爾思光電（成都）有限公司