功能測試fct測試工裝和測試系統(tǒng)、方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng)、方法，該FCT測試工裝包括：探針工裝，探針工裝包括：針板和多個探針；多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接；探針工裝能夠相對于待測電路板上下運動，探針工裝向下運動時，多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。該測試工裝使用探針工裝來進行FCT測試，避免了頻繁接插件，從而提高了測試的效率，并且具有很好的穩(wěn)定性。
【專利說明】功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng)、方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及功能測試FCT領(lǐng)域，具體涉及功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng)、方法。

【背景技術(shù)】
[0002]功能測試FCT(Funct1nal Circuit Test)指的是對測試目標(biāo)板(UUT:Unit UnderTest)提供模擬的運行環(huán)境，使其工作于各種設(shè)計狀態(tài)，從而獲取到各個狀態(tài)的參數(shù)來驗證UUT的功能好壞的測試方法。簡單地說，就是對UUT加載合適的激勵，測量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。一般專指對實裝電路板PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的功能測試。圖5是現(xiàn)有FCT測試方式示意圖，在圖5中，51為引線、52為表筆、53為接插件、54為待測電路板，現(xiàn)有技術(shù)的測試系統(tǒng)使用手動接線測試的方式，將接插頭和焊點連接到測試儀器上測試，這種測試方式測量功能偏弱，通用性較差、測試效率低下。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提供了一種功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng)、方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的測試方式需要頻繁接插件，測試效率低的問題。
[0004]為達到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:
[0005]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種功能測試FCT測試工裝，用于對待測電路板進行功能測試，該測試工裝包括:探針工裝；
[0006]探針工裝包括:針板和多個探針；
[0007]多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接；
[0008]探針工裝能夠相對于待測電路板上下運動，探針工裝向下運動時，多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
[0009]可選地，測試工裝還包括:用于放置待測電路板的載板；
[0010]載板上設(shè)置有定位銷，用于對待測電路板進行定位固定。
[0011]可選地，測試工裝還包括:屏蔽罩；
[0012]屏蔽罩包括上下兩部分，上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合共同形成屏蔽空間。
[0013]可選地，探針工裝的針板安裝在上屏蔽罩上，上屏蔽罩上設(shè)置有供探針工裝的探針穿過的通孔；
[0014]載板安裝在下屏蔽罩上；
[0015]上屏蔽罩在探針工裝相對于載板上的待測電路板向下運動時也同步向下運動，并能夠下降到與下屏蔽罩對接壓合的位置，使得載板包含在上屏蔽罩和下屏蔽罩對接壓合形成的屏蔽空間內(nèi)。
[0016]可選地，下屏蔽罩上還安裝有電磁密封襯墊；電池密封襯墊設(shè)置在上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合的位置。
[0017]可選地，下屏蔽罩上與上屏蔽罩對接壓合的位置設(shè)有安裝槽；
[0018]安裝槽用于安裝電磁密封襯墊。
[0019]可選地，針板的材料為有機玻璃纖維。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種功能測試FCT測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)包括本發(fā)明一個方面的測試工裝。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的再一個方面，提供了一種功能測試FCT測試方法，該測試方法包括:利用探針工裝對待測電路板進行功能測試。
[0022]可選地，探針工裝包括:針板和多個探針；
[0023]將多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接；
[0024]控制探針工裝相對于待測電路板上下運動，探針工裝向下運動時，多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
[0025]本發(fā)明的這種FCT測試工裝，通過使用探針工裝進行功能測試，提高測試效率并且操作簡單、省力、成本低，穩(wěn)定性好，解決了現(xiàn)有技術(shù)中頻繁接插件的測試方式導(dǎo)致的效率低、通用性差的技術(shù)問題。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1是本發(fā)明一個實施例的使用該功能測試FCT測試工裝進行測試示意圖；
[0027]圖2是本發(fā)明一個實施例的一種功能測試FCT測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖圖；
[0028]圖3是本發(fā)明一個實施例的一種功能測試FCT測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖4是本發(fā)明一個實施例的一種功能測試FCT測試系統(tǒng)工作的不意圖；
[0030]圖5是現(xiàn)有FCT測試方式示意圖。

【具體實施方式】
[0031]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。
[0032]本發(fā)明的核心思想是:將現(xiàn)有技術(shù)中FCT測試中采用手動頻繁接插件與待測電路板接觸進行測試的方式改為使用探針工裝來進行測試從而提高測試效率，并且采用探針工裝進行測試時穩(wěn)定性好、操作方便。另外，本發(fā)明還可以對測試工裝進行改進，在探針工裝上加裝屏蔽罩，將探針工裝屏蔽罩做成一個整體，解決現(xiàn)有技術(shù)的FCT測試過程中產(chǎn)生干擾影響測試結(jié)果的問題。
[0033]圖1是本發(fā)明一個實施例的使用該功能測試FCT測試工裝進行測試示意圖，參見圖1，本發(fā)明的這種功能測試FCT測試工裝包括:探針工裝11 ；
[0034]探針工裝11包括:針板和多個探針；多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接，以輸入測試信號到待測電路板或者輸出電測電路板對所述測試信號的反饋信號大炮外部的控制設(shè)備；探針工裝11能夠相對于待測電路板12上下運動，探針工裝向下運動時，多個探針能夠與待測電路板12上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。參見圖1，該測試工裝還包括用于放置待測電路板的載板13 ;載板13上設(shè)置有定位銷，用于對待測電路板進行定位固定。在實際測試時，可以先將載板放置在測試臺面板上再進行測試。
[0035]通過采用探針工裝進行FCT測試，具有操作簡單方便、成本低廉并且可以克服使用接插件進行FCT測試導(dǎo)致的效率低下的問題，另外，使用探針工裝進行FCT測試時，保證了各探針的接觸緩沖力相同，因而具有更好的穩(wěn)定性。
[0036]圖2是本發(fā)明一個實施例提供一種功能測試FCT的測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖，參見圖2，在本實施例中，該測試工裝還包括:屏蔽罩；
[0037]屏蔽罩包括上下兩部分，上屏蔽罩201與下屏蔽罩202對接壓合共同形成屏蔽空間。探針工裝的針板1101安裝在上屏蔽罩201上，上屏蔽罩201上設(shè)置有供探針工裝的探針穿過的通孔；通孔以及探針工裝與上屏蔽上接觸的部分均采用屏蔽濾波技術(shù)處理。
[0038]載板13安裝在下屏蔽罩202上；上屏蔽罩201在探針工裝相對于載板13上的待測電路板12向下運動時也同步向下運動，并能夠下降到與下屏蔽罩202對接壓合的位置，使得載板13包含在上屏蔽罩201和下屏蔽罩202對接壓合形成的屏蔽空間內(nèi)。
[0039]下屏蔽罩202上還安裝有電磁密封襯墊22 ;電池密封襯墊22設(shè)置在上屏蔽罩201與下屏蔽罩202對接壓合的位置。下屏蔽罩202上與上屏蔽罩201對接壓合的位置設(shè)有安裝槽；安裝槽用于安裝電磁密封襯墊并可以固定襯墊、限制上屏蔽罩對下屏蔽罩過量壓縮。
[0040]圖3是本發(fā)明一個實施例提供一種功能測試FCT的測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖，參見圖3，測試時，控制探針工裝向下運動，上屏蔽罩201和下屏蔽罩202通過精確的對接壓合，形成一個封閉的屏蔽空間，該屏蔽罩內(nèi)的空間要確保避讓待測電路板上的元器件以免對元器件造成損傷。載板13包含在該屏蔽空間內(nèi)，載板13上放置有待測電路板12，并通過定位銷精確定位，探針工裝上的探針1102與待測電路板12上的測試點一一對應(yīng)接觸，通過與探針連接的信號線接收外部輸入的測試信號并輸出待測電路板的反饋信號，完成FCT功能測試的激勵、數(shù)據(jù)采集等過程。
[0041]在本實施例中，探針工裝的針板1101由有機玻璃纖維制成。載板13的材料為電木。在上屏蔽罩和下屏蔽罩結(jié)合的位置設(shè)置電磁密封襯墊能夠降低上、下屏蔽罩對機械加工的要求，允許兩者的接觸面有較低的平整度；并減少了結(jié)合處的緊固螺釘，增加設(shè)備美觀性和可維護性；同時又避免了在兩者結(jié)合的縫隙處產(chǎn)生高頻泄漏。
[0042]本發(fā)明還提供了一種FCT測試系統(tǒng)，利用本發(fā)明的這種測試工裝進行FCT測試。圖4是本發(fā)明一個實施例的一種功能測試FCT測試系統(tǒng)工作的示意圖，參見圖4，利用本發(fā)明的這種測試系統(tǒng)進行FCT測試的具體工作過程是:放置待測電路板到載板上一落下針板，探針與待測電路板上的測試點穩(wěn)定接觸一進行測試或數(shù)據(jù)采集一測試數(shù)據(jù)的處理和判定—抬起針板一取出已測的電路板并分類放置。
[0043]通過使用探針工裝來代替現(xiàn)有技術(shù)的接插接插件和焊接焊點的測試方式，本發(fā)明的這種測試系統(tǒng)具有能夠用于大批量產(chǎn)品檢測，提高測試效率并且成本低。
[0044]本發(fā)明還提供了一種FCT測試方法，該方法包括:利用本發(fā)明的這種測試工裝對待測電路板進行功能測試。在本實施例中，探針工裝包括:針板和多個探針；將多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接；控制探針工裝相對于待測電路板上下運動，探針工裝向下運動時，多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
[0045]需要說明的是，本發(fā)明的這種FCT測試方法是和前面的功能測試FCT測試工裝對應(yīng)的，該測試方法的實現(xiàn)步驟可以參見前述測試工裝的工作過程，在此不再贅述。
[0046]綜上所述，本發(fā)明的這種FCT測試工裝，通過采用探針工裝進行FCT測試，提高了測試效率，并具有成本低、穩(wěn)定性好等優(yōu)點。同時在探針工裝的基礎(chǔ)上增設(shè)上下對接壓合的屏蔽罩，消除了測試過程中的電磁干擾，提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0047]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種功能測試FCT測試工裝，用于對待測電路板進行功能測試，其特征在于，該測試工裝包括:探針工裝； 所述探針工裝包括:針板和多個探針； 所述多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接； 所述探針工裝能夠相對于所述待測電路板上下運動，所述探針工裝向下運動時，所述多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
2.如權(quán)利要求1所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述測試工裝還包括:用于放置待測電路板的載板； 所述載板上設(shè)置有定位銷，用于對所述待測電路板進行定位固定。
3.如權(quán)利要求2所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述測試工裝還包括:屏蔽罩； 所述屏蔽罩包括上下兩部分，上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合共同形成屏蔽空間。
4.如權(quán)利要求3所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述探針工裝的針板安裝在所述上屏蔽罩上，所述上屏蔽罩上設(shè)置有供所述探針工裝的探針穿過的通孔； 所述載板安裝在所述下屏蔽罩上； 所述上屏蔽罩在探針工裝相對于所述載板上的待測電路板向下運動時也同步向下運動，并能夠下降到與所述下屏蔽罩對接壓合的位置，使得所述載板包含在所述上屏蔽罩和下屏蔽罩對接壓合形成的屏蔽空間內(nèi)。
5.如權(quán)利要求3所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述下屏蔽罩上還安裝有電磁密封襯墊；所述電池密封襯墊設(shè)置在所述上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合的位置。
6.如權(quán)利要求5所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述下屏蔽罩上與所述上屏蔽罩對接壓合的位置設(shè)有安裝槽； 所述安裝槽用于安裝所述電磁密封襯墊。
7.如權(quán)利要求1所述的功能測試FCT測試工裝，其特征在于，所述針板的材料為有機玻璃纖維。
8.一種功能測試FCT測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括權(quán)利要求1-7中任一項所述的測試工裝。
9.一種功能測試FCT測試方法，其特征在于，所述測試方法包括:利用探針工裝對待測電路板進行功能測試。
10.如權(quán)利要求9所述的FCT測試方法，其特征在于，所述探針工裝包括:針板和多個探針； 將所述多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接； 控制所述探針工裝相對于所述待測電路板上下運動，所述探針工裝向下運動時，所述多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
【文檔編號】G01R31/28GK104375077SQ201410642379
【公開日】2015年2月25日 申請日期:2014年11月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月13日
【發(fā)明者】劉文濤 申請人:歌爾聲學(xué)股份有限公司