一種測(cè)試工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試工具，尤其涉及一種測(cè)試工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著生產(chǎn)勞動(dòng)成本的增加，生產(chǎn)機(jī)械化進(jìn)程的加快，在基板調(diào)試過程中，能夠避免測(cè)試過程中繁瑣的工序、簡(jiǎn)化測(cè)試過程、提高測(cè)試效率的測(cè)試工裝顯得尤為重要。
[0003]—般情況下，在電子電路板的基板調(diào)試過程中，也會(huì)使用一些簡(jiǎn)單的測(cè)試工裝，比如說萬用表，測(cè)試項(xiàng)目較單一，不能綜合對(duì)電路板進(jìn)行全面地測(cè)試。特別是在測(cè)試過程中，有些測(cè)試點(diǎn)需要導(dǎo)通才能進(jìn)行的情況下，通常是先用飛線將兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)通過焊接電連接，再進(jìn)行測(cè)試，完成測(cè)試后，再將飛線焊離電子電路板。因此，工序仍然較復(fù)雜，測(cè)試效率低，勞動(dòng)成本高。到目前為止，申請(qǐng)人沒有發(fā)現(xiàn)有人在簡(jiǎn)化測(cè)試過程、提高測(cè)試效率方面做出顯著的改進(jìn)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供了一種測(cè)試工裝，該測(cè)試工裝能夠批量快速測(cè)試，自動(dòng)化程度高，測(cè)量效率高，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)、快速測(cè)量。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供的測(cè)試工裝，包括用于顯示測(cè)試結(jié)果并發(fā)送測(cè)試命令和波形數(shù)據(jù)的上位計(jì)算機(jī)、與上位機(jī)連接的測(cè)試控制單片機(jī)、與單片機(jī)連接的多路測(cè)試電路和與多路測(cè)試電路連接的測(cè)試針床;所述多路測(cè)試電路有一個(gè)使能導(dǎo)通電路，所述使能導(dǎo)通電路包括兩個(gè)高速模擬開關(guān)，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)有多路開關(guān)輸出、一路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸入與多路開關(guān)輸出之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸出分別連接測(cè)試針床的不同測(cè)試點(diǎn)，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸入相互連接，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端連接單片機(jī)的控制輸出端。
[0006]所述多路測(cè)試電路還包括短路測(cè)試電路和電壓測(cè)試電路；
[0007]所述短路測(cè)試電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻和高速模擬開關(guān)，所述高速模擬開關(guān)有一路開關(guān)輸出、多路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸出與多路開關(guān)輸入之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述第一電阻、第二電阻、第三電阻依次串接，所述第一電阻和所述第二電阻的連接一端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入端連接，所述第二電阻和所述第三電阻的連接一端與所述高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸出端連接，所述高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸入端連接所述測(cè)試針床，所述高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的控制輸出端連接，所述第三電阻的另一端連接一個(gè)電源，所述第一電阻的另一端接地；
[0008]所述電壓測(cè)試電路包括第一電阻、第二電阻和高速模擬開關(guān)，所述高速模擬開關(guān)有一路開關(guān)輸出、多路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸出與多路開關(guān)輸入之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述第一電阻和所述第二電阻相串接，所述第一電阻和所述第二電阻的連接一端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入端連接，所述第二電阻的另一端與所述高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸出連接，所述高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸入連接所述測(cè)試針床，所述高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的控制輸出端連接。
[0009]所述多路測(cè)試電路還包括電流測(cè)試電路，所述電流測(cè)試電路包括電流測(cè)量芯片，所述電流測(cè)量芯片的電流輸入端連接一個(gè)電源，所述電流測(cè)量芯片的電流輸出端與所述測(cè)試針床連接，電流測(cè)量芯片的控制測(cè)量端連接所述測(cè)試控制單片機(jī)。
[0010]所述多路測(cè)試電路還包括波形輸出測(cè)試連接電路和波形采集接測(cè)試通電路，所述波形輸出測(cè)試連接電路包括高速模擬矩陣開關(guān)，所述高速模擬矩陣開關(guān)有多路開關(guān)輸出、一路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸入與多路開關(guān)輸出之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述高速模擬矩陣開關(guān)的開關(guān)輸入與所述測(cè)試控制單片機(jī)的數(shù)模轉(zhuǎn)換輸出端連接，所述高速模擬矩陣開關(guān)的開關(guān)輸出與所述測(cè)試針床連接;所述波形采集接測(cè)試通電路包括高速模擬開關(guān)，所述高速模擬開關(guān)有多路開關(guān)輸出、一路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸入與多路開關(guān)輸出之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，高速模擬開關(guān)的輸出連接所述測(cè)試控制單片機(jī)的模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入端，高速模擬開關(guān)的輸入連接所述測(cè)試針床。
[0011]本實(shí)用新型的測(cè)試工裝與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下有益效果。
[0012]1、本技術(shù)方案由于采用了所述多路測(cè)試電路有一個(gè)使能導(dǎo)通電路，所述使能導(dǎo)通電路包括兩個(gè)高速模擬開關(guān)，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)有多路開關(guān)輸出、一路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸入與多路開關(guān)輸出之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸出分別連接測(cè)試針床的不同測(cè)試點(diǎn)，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸入相互連接，所述兩個(gè)高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端連接單片機(jī)的控制輸出端的技術(shù)手段，可在上位計(jì)算機(jī)的設(shè)置下通過使能導(dǎo)通電路使兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)導(dǎo)通，不必焊接飛線，能夠真正提高測(cè)試效率、節(jié)約勞動(dòng)成本。
[0013]2、本技術(shù)方案由于采用了所述多路測(cè)試電路還包括短路測(cè)試電路和電壓測(cè)試電路;所述短路測(cè)試電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻和高速模擬開關(guān)，所述高速模擬開關(guān)有一路開關(guān)輸出、多路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸出與多路開關(guān)輸入之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述第一電阻、第二電阻、第三電阻依次串接，所述第一電阻和所述第二電阻的連接一端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入端連接，所述第二電阻和所述第三電阻的連接一端與所述高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸出端連接，所述高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸入端連接所述測(cè)試針床，所述高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的控制輸出端連接，所述第三電阻的另一端連接一個(gè)電源，所述第一電阻的另一端接地;所述電壓測(cè)試電路包括第一電阻、第二電阻和高速模擬開關(guān)，所述高速模擬開關(guān)有一路開關(guān)輸出、多路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸出與多路開關(guān)輸入之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述第一電阻和所述第二電阻相串接，所述第一電阻和所述第二電阻的連接一端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入端連接，所述第二電阻的另一端與所述高速模擬開關(guān)的開關(guān)輸出連接，所述高速模擬開關(guān)的多路開關(guān)輸入連接所述測(cè)試針床，所述高速模擬開關(guān)的導(dǎo)通選擇端與所述測(cè)試控制單片機(jī)的控制輸出端連接的技術(shù)手段，所以，可用于測(cè)試基板電地是否短路以及基板各測(cè)試點(diǎn)電壓，電壓測(cè)試電路的元器件少，連接結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，降低生產(chǎn)成本。
[0014]3、本技術(shù)方案由于采用了所述多路測(cè)試電路還包括電流測(cè)試電路，所述電流測(cè)試電路包括電流測(cè)量芯片，所述電流測(cè)量芯片的電流輸入端連接一個(gè)電源，所述電流測(cè)量芯片的電流輸出端與所述測(cè)試針床連接，電流測(cè)量芯片的控制測(cè)量端連接所述測(cè)試控制單片機(jī)的技術(shù)手段，所以，可用于測(cè)試基板的輸入電流，電流測(cè)試電路的元器件少，連接結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，降低生產(chǎn)成本。
[0015]4、本技術(shù)方案由于采用了所述多路測(cè)試電路還包括波形輸出測(cè)試連接電路和波形采集接測(cè)試通電路，所述波形輸出測(cè)試連接電路包括高速模擬矩陣開關(guān)，所述高速模擬矩陣開關(guān)有多路開關(guān)輸出、一路開關(guān)輸入、導(dǎo)通選擇端，所述導(dǎo)通選擇端是選擇一路開關(guān)輸入與多路開關(guān)輸出之一導(dǎo)通的導(dǎo)通選擇端，所述高速模擬矩陣開關(guān)的開關(guān)輸入與所述測(cè)試控制單片機(jī)的數(shù)模轉(zhuǎn)換輸出端連接，所述高速模擬矩陣