六工位ccd檢測機(jī)遮光暗箱的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內(nèi)部暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內(nèi)側(cè)，所述內(nèi)部暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內(nèi)部暗箱側(cè)面設(shè)有一個(gè)卡扣，所述卡扣可移動的設(shè)置在所述滑軌底端，所述遮光罩固定在所述內(nèi)部暗箱上側(cè)。本發(fā)明提高檢測效果及穩(wěn)定性，從而提高被檢產(chǎn)品的品質(zhì)等特點(diǎn)。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種光學(xué)量測，尤其涉及一種六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱。 六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱

【背景技術(shù)】
[0002] 光學(xué)測量是光電技術(shù)與機(jī)械測量結(jié)合的高科技。借用計(jì)算機(jī)技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)快速， 準(zhǔn)確的測量。方便記錄，存儲，打印，查詢等等功能。據(jù)中國儀器超市介紹，光學(xué)測量主要應(yīng) 用在現(xiàn)代工業(yè)檢測，主要檢測產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格。主要應(yīng)用的行業(yè) 領(lǐng)域有：金屬制品加工業(yè)、模具、塑膠、五金、齒輪、手機(jī)等行業(yè)的檢測，以及工業(yè)界的產(chǎn)品開 發(fā)、模具設(shè)計(jì)、手扳制作、原版雕刻、RP快速成型、電路檢測等領(lǐng)域。主要儀器表現(xiàn)為：二次 元、工具顯微鏡、光學(xué)影像測量儀、光學(xué)影像投影儀、三次元、三坐標(biāo)測量機(jī)、三維激光抄數(shù) 機(jī)等。在機(jī)械制造行業(yè)中，為了使機(jī)加工的產(chǎn)品能達(dá)到設(shè)計(jì)精度和質(zhì)量要求，除了傳統(tǒng)的物 理計(jì)量與檢測實(shí)現(xiàn)方法，可以運(yùn)用高性能計(jì)算機(jī)及軟件技術(shù)、光學(xué)、光學(xué)成像、聲學(xué)與機(jī)器 動作多種混合技術(shù)實(shí)現(xiàn)的邏輯計(jì)量與檢測，我們習(xí)慣將這些復(fù)雜的計(jì)量與檢測技術(shù)稱之為 非接觸計(jì)量與檢測技術(shù)。將這些非接觸計(jì)量與檢測技術(shù)應(yīng)用到為客戶定制的計(jì)量與檢測工 具和設(shè)備之中，在實(shí)際項(xiàng)目中取得了滿意的預(yù)期效果。CCD是使用一種高感光度的半導(dǎo)體材 料集成，它能夠根據(jù)照射在其面上的光線產(chǎn)生相應(yīng)的電荷信號，在通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器芯片轉(zhuǎn) 換成"〇"或" 1"的數(shù)字信號，這種數(shù)字信號經(jīng)過壓縮和程序排列后，可由閃速存儲器或硬盤 卡保存即收光信號轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)能識別的電子圖像信號，可對被側(cè)物體進(jìn)行準(zhǔn)確的測量、 分析。傳統(tǒng)的CCD檢測時(shí)容易漏光，反光，造成被檢產(chǎn)品誤檢。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的在于提供一種提商了檢測效果及穩(wěn)定性，從而提商被檢廣品的品質(zhì) 等特點(diǎn)的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱。
[0004] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：一種六工位CCD檢測機(jī)遮光暗 箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內(nèi)部暗箱，所述外 部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內(nèi)側(cè)，所述內(nèi)部 暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內(nèi)部暗箱側(cè)面設(shè)有一個(gè)卡扣，所述卡扣可移動的設(shè)置 在所述滑軌底端，所述遮光罩為雙層遮光罩，所述內(nèi)部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間 槽內(nèi)，所述外層遮光罩固定在所述內(nèi)部暗箱上側(cè)，所述遮光罩框架采用黑色材料制成。
[0005] 在本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中，所述黑色材料為鋁合金。
[0006] 在本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中，所述遮光罩定位精度為0. 02mm。
[0007] 在本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中，所述黑色材料通過黑色陽極氧化處理。
[0008] 在本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中，所述外部暗箱內(nèi)部涂有吸光層。
[0009] 本發(fā)明的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱具有提高了檢測效果及穩(wěn)定性，從而提高被 檢廣品的品質(zhì)等特點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1是本發(fā)明六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱一較佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是圖1內(nèi)部暗箱的局部結(jié)構(gòu)不意圖； 附圖中各部件的標(biāo)記如下：1、外部暗箱，2、滑軌，3、遮光罩，4、內(nèi)部暗箱，4、卡扣。

【具體實(shí)施方式】
[0011] 以上僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可 依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以一較佳實(shí)施例以及附圖對本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步 的說明。
[0012] 參閱圖1，一種六工位C⑶檢測機(jī)遮光暗箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主 體包括外部暗箱1、滑軌2、遮光罩3和內(nèi)部暗箱4,所述外部暗箱1為底部開放的長方形箱 體，所述滑軌2上端垂直固定在所述外部暗箱1內(nèi)側(cè)，所述內(nèi)部暗箱4為頂部開放的長方 形箱體，所述內(nèi)部暗箱4側(cè)面設(shè)有一個(gè)卡扣41，所述卡扣41可移動的設(shè)置在所述滑軌2底 端，所述遮光罩3為雙層遮光罩，所述內(nèi)部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間槽內(nèi)，所述外 層遮光罩固定在所述內(nèi)部暗箱4上側(cè)，所述遮光罩3框架采用黑色材料制成。
[0013] 本發(fā)明的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體， 其尺寸為直徑582cm，高337. 5cm，外部暗箱內(nèi)壁涂有吸光層，所述遮光罩通過雙層遮光，提 高遮光效果，遮光罩框架采用黑色材料及通過發(fā)黑及磨砂處理，外層遮光罩把外部光源遮 蔽，內(nèi)遮光罩遮蔽被檢產(chǎn)品的四周框架，防止零件的折射光，杜絕產(chǎn)品本身的反光，所述黑 色材料為鋁合金，所述黑色材料通過黑色陽極氧化處理。通過定位精度來保證每工位、每次 量測的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，準(zhǔn)確保證遮光罩定位精度為〇. 〇2mm。因此本發(fā)明的六工位CCD檢測機(jī) 遮光暗箱具有提1? 了檢測效果及穩(wěn)定性，從而提1?被檢廣品的品質(zhì)等特點(diǎn)。
[0014] 以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā) 明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技 術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，其特征在于：包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主 體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內(nèi)部暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述 滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內(nèi)側(cè)，所述內(nèi)部暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內(nèi) 部暗箱側(cè)面設(shè)有一個(gè)卡扣，所述卡扣可移動的設(shè)置在所述滑軌底端，所述遮光罩為雙層遮 光罩，所述內(nèi)部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間槽內(nèi)，所述外層遮光罩固定在所述內(nèi)部 暗箱上側(cè)，所述遮光罩框架采用黑色材料制成。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，其特征在于：所述黑色材料為 錯合金。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，其特征在于：所述遮光罩定位 精度為〇· 〇2mm。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，其特征在于：所述黑色材料通 過黑色陽極氧化處理。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的六工位CCD檢測機(jī)遮光暗箱，其特征在于：所述外部暗箱內(nèi) 部涂有吸光層。
【文檔編號】G01B11/00GK104101298SQ201410361805
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2014年7月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月28日
【發(fā)明者】陳士波, 徐二貴, 趙琳娜 申請人:蘇州春田機(jī)械有限公司