專(zhuān)利名稱(chēng)：一種線(xiàn)束檢測(cè)電路及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電路檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種線(xiàn)束檢測(cè)電路及裝置。
背景技術(shù)：
對(duì)于線(xiàn)束的檢測(cè)，通常方案采用萬(wàn)用表測(cè)試待檢測(cè)線(xiàn)束是否連通，此種檢測(cè)方案的缺點(diǎn)是，在檢測(cè)復(fù)雜系統(tǒng)的線(xiàn)束時(shí)，由于線(xiàn)束多使得萬(wàn)用表較難測(cè)量且工作量大，并且較難找出對(duì)應(yīng)的線(xiàn)束。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種線(xiàn)束檢測(cè)電路，包括多路彼此隔離的檢測(cè)電路，每路檢測(cè)電路包括電源、第一接線(xiàn)端、第二接線(xiàn)端、電阻以及發(fā)光二極管，所述電源接入所述第一接線(xiàn)端，所述第二接線(xiàn)端、電阻及發(fā)光二極管的正極順次相連，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接于地線(xiàn)，其中，每路檢測(cè)電路的地線(xiàn)彼此不相同，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端用于電連接于待測(cè)線(xiàn)束的兩端，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所 述發(fā)光二極管導(dǎo)通。其中，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端為可插拔接線(xiàn)式端子。本實(shí)用新型采用的另一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種線(xiàn)束檢測(cè)裝置，包括權(quán)利要求所述的線(xiàn)束檢測(cè)電路，所述線(xiàn)束檢測(cè)裝置還包括MCU以及與所述MCU電連接的譯碼器，所述MCU用于驅(qū)動(dòng)譯碼器在每一路檢測(cè)電路的輪詢(xún)的時(shí)間內(nèi)僅導(dǎo)通該路檢測(cè)電路的電源。其中，所述譯碼器為⑶4514及⑶4515成對(duì)譯碼器。本實(shí)用新型的線(xiàn)束檢測(cè)電路及裝置，通過(guò)MCU控制譯碼器在每一路檢測(cè)電路的輪詢(xún)的時(shí)間內(nèi)僅導(dǎo)通該路檢測(cè)電路的電源，實(shí)現(xiàn)多路隔離供電，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所述發(fā)光二極管導(dǎo)通發(fā)光，當(dāng)任意兩個(gè)線(xiàn)束與接線(xiàn)端連接錯(cuò)序時(shí)，即當(dāng)將同一線(xiàn)束分別接入兩路檢測(cè)線(xiàn)路的接線(xiàn)端之間時(shí)，錯(cuò)接的兩路檢測(cè)線(xiàn)路對(duì)應(yīng)的發(fā)光二極管截止，均不發(fā)光，實(shí)現(xiàn)對(duì)錯(cuò)序的判別。進(jìn)一步地，所述線(xiàn)束檢測(cè)電路使用可插拔接線(xiàn)式端子，相應(yīng)地，可檢測(cè)具有各種規(guī)格端子的線(xiàn)束，易擴(kuò)展升級(jí)。

；圖1是本實(shí)用新型一實(shí)施方式中線(xiàn)束檢測(cè)電路的電路連接圖；圖2是本實(shí)用新型一實(shí)施方式中線(xiàn)束檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明:MCU100 ;譯碼器200 ;線(xiàn)束檢測(cè)電路300。
具體實(shí)施方式
為詳細(xì)說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖詳予說(shuō)明。請(qǐng)一并參閱圖1，是本實(shí)用新型一實(shí)施方式中一種線(xiàn)束檢測(cè)電路的電路連接圖，該線(xiàn)束檢測(cè)電路300包括多路彼此隔離的檢測(cè)電路，下面以第η路檢測(cè)電路為例對(duì)每路檢測(cè)電路的電路連接原理進(jìn)行說(shuō)明，第η路檢測(cè)電路包括電源VCn、第一接線(xiàn)Pin、第二接線(xiàn)端P2n、電阻Rn以及發(fā)光二極管Dn，所述電源VCn接入所述第一接線(xiàn)端Pin，所述第二接線(xiàn)端P2n、電阻Rn及發(fā)光二極管Dm的正極順次相連，所述發(fā)光二極管Dn的負(fù)極接于地線(xiàn)GND，其中，每路檢測(cè)電路的地線(xiàn)彼此不相同，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端用于電連接于待測(cè)線(xiàn)束的兩端，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所述發(fā)光二極管導(dǎo)通發(fā)光。在本實(shí)施方式中，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端為可插拔接線(xiàn)式端子，相應(yīng)地，可檢測(cè)具有各種規(guī)格端子的線(xiàn)束，易擴(kuò)展升級(jí)。請(qǐng)參閱圖2，是本實(shí)用新型一實(shí)施方式中一種線(xiàn)束檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。該線(xiàn)束檢測(cè)裝置包括所述的線(xiàn)束檢測(cè)電路300，所述線(xiàn)束檢測(cè)裝置還包括MCU100以及與所述MCU100電連接的譯碼器200，所述MCU100用于驅(qū)動(dòng)譯碼器200在每一路檢測(cè)電路的輪詢(xún)的時(shí)間內(nèi)僅導(dǎo)通該路檢測(cè)電路的電源，實(shí)現(xiàn)多路隔離供電，當(dāng)任意兩個(gè)線(xiàn)束與接線(xiàn)端連接錯(cuò)序時(shí)，即當(dāng)將同一線(xiàn)束分別接入兩路檢測(cè)線(xiàn)路的接線(xiàn)端之間時(shí)，錯(cuò)接的兩路檢測(cè)線(xiàn)路對(duì)應(yīng)的發(fā)光二極管截止，均不發(fā)光，實(shí)現(xiàn)對(duì)錯(cuò)序的判別。在本實(shí)施方式中，所述譯碼器200為⑶4514及⑶4515成對(duì)譯碼器，每一路輪詢(xún)的時(shí)間都為微妙極。本實(shí)用新型的線(xiàn)束檢測(cè)電路及裝置，通過(guò)MCU控制譯碼器在每一路檢測(cè)電路的輪詢(xún)的時(shí)間內(nèi)僅導(dǎo)通該路檢測(cè)電路的電源，實(shí)現(xiàn)多路隔離供電，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所述發(fā)光二極管導(dǎo)通發(fā)光，當(dāng)任意兩個(gè)線(xiàn)束 與接線(xiàn)端連接錯(cuò)序時(shí)，即當(dāng)將同一線(xiàn)束分別接入兩路檢測(cè)線(xiàn)路的接線(xiàn)端之間時(shí)，錯(cuò)接的兩路檢測(cè)線(xiàn)路對(duì)應(yīng)的發(fā)光二極管截止，均不發(fā)光，實(shí)現(xiàn)對(duì)錯(cuò)序的判別。進(jìn)一步地，所述線(xiàn)束檢測(cè)電路使用可插拔接線(xiàn)式端子，相應(yīng)地，可檢測(cè)具有各種規(guī)格端子的線(xiàn)束，易擴(kuò)展升級(jí)。
權(quán)利要求1.一種線(xiàn)束檢測(cè)電路，其特征在于，包括多路彼此隔離的檢測(cè)電路，每路檢測(cè)電路包括電源、第一接線(xiàn)端、第二接線(xiàn)端、電阻以及發(fā)光二極管，所述電源接入所述第一接線(xiàn)端，所述第二接線(xiàn)端、電阻及發(fā)光二極管的正極順次相連，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接于地線(xiàn)，其中，每路檢測(cè)電路的地線(xiàn)彼此不相同，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端用于電連接于待測(cè)線(xiàn)束的兩端，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所述發(fā)光二極管導(dǎo)通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種線(xiàn)束檢測(cè)電路，其特征在于，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端為可插拔接線(xiàn)式端子。
3.一種線(xiàn)束檢測(cè)裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1-2任意一項(xiàng)所述的線(xiàn)束檢測(cè)電路，所述線(xiàn)束檢測(cè)裝置還包括MCU以及與所述MCU電連接的譯碼器，所述MCU用于驅(qū)動(dòng)譯碼器在每一路檢測(cè)電路的輪詢(xún)的時(shí)間內(nèi)僅導(dǎo)通該路檢測(cè)電路的電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種線(xiàn)束檢測(cè)裝置，其特征在于，所述譯碼器為CD4514及⑶4515成對(duì)譯碼器?！?br> 專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種線(xiàn)束檢測(cè)電路及裝置，線(xiàn)束檢測(cè)電路包括多路彼此隔離的檢測(cè)電路，每路檢測(cè)電路包括電源、第一接線(xiàn)端、第二接線(xiàn)端、電阻以及發(fā)光二極管，所述電源接入所述第一接線(xiàn)端，所述第二接線(xiàn)端、電阻及發(fā)光二極管的正極順次相連，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接于地線(xiàn)，其中，每路檢測(cè)電路的地線(xiàn)彼此不相同，所述第一接線(xiàn)端和第二接線(xiàn)端用于電連接于待測(cè)線(xiàn)束的兩端，當(dāng)線(xiàn)束接通時(shí)所述發(fā)光二極管導(dǎo)通。本實(shí)用新型公開(kāi)了一種線(xiàn)束檢測(cè)裝置。
文檔編號(hào)G01R31/02GK203133219SQ20132011719
公開(kāi)日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年3月14日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月14日
發(fā)明者蘭俊福 申請(qǐng)人:福建省福工動(dòng)力技術(shù)有限公司