調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法及調(diào)試筒裝置和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于光電學(xué)領(lǐng)域，公布了一種利用調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，包括對(duì)X方向掃描部件校準(zhǔn)和/或?qū)方向掃描組件校準(zhǔn)。對(duì)X方向掃描件：X方向掃描件掃描凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集凸起條的斷面的OCT斷層掃描圖，并以校準(zhǔn)的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置X1為基準(zhǔn)，使X方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路主光軸重合；對(duì)Y方向掃描組件，包括：第二Y方向掃描件配合第一Y方向掃描件掃描凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集凸起條的斷面并形成OCT斷層掃描組圖；確定第二Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y22；接著確定第一Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y11，使Y方向掃描區(qū)域中心線與所述光路的主光軸重合。本方法使掃描裝置校準(zhǔn)過(guò)程簡(jiǎn)單、快捷，調(diào)試精度高。
【專利說(shuō)明】調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法及調(diào)試筒裝置和系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于光電學(xué)領(lǐng)域，特別涉及到一種利用調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法及調(diào)試筒裝置及包含有該調(diào)試筒的系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于OCT系統(tǒng)，在對(duì)樣品進(jìn)行掃描成像時(shí)，可采用多種技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描過(guò)程，如振鏡轉(zhuǎn)動(dòng)掃描、電機(jī)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)掃描、或者通過(guò)一定機(jī)械結(jié)構(gòu)并采用步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描。無(wú)論采用何種掃描結(jié)構(gòu)裝置，在進(jìn)行光路中心調(diào)節(jié)時(shí)，多采用人工判斷，光路是否調(diào)正，中心是否對(duì)位。但人工判斷調(diào)節(jié)時(shí)，多存在不夠客觀的缺點(diǎn)，無(wú)法精確進(jìn)行中心對(duì)位。并且操作往往需要反復(fù)不斷試驗(yàn)，才能確定掃描裝置的旋轉(zhuǎn)中心位置。這點(diǎn)對(duì)于光路調(diào)試工程師而言，調(diào)節(jié)方案不夠方便、快捷和客觀。
[0003]并且儀器裝上外殼后，光路都封閉在外殼內(nèi)。一旦發(fā)現(xiàn)光路不正時(shí)，往往采用拆開(kāi)外殼后進(jìn)行光路調(diào)節(jié)。這一調(diào)節(jié)工作多需要廠家的專業(yè)客服工程師來(lái)操作。因而對(duì)于用戶而言，光路校準(zhǔn)工作更無(wú)法自行實(shí)現(xiàn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供了一種利用調(diào)試筒調(diào)試掃描裝置的方法、調(diào)試筒裝置和將調(diào)試筒用在調(diào)試光路上的系統(tǒng)，旨在解決在調(diào)試掃描裝置X方向掃描件和Y方向掃描組件的過(guò)程中，X方向掃描件的掃描區(qū)域中心線和Y方向掃描組件的掃描區(qū)域中心線無(wú)法與系統(tǒng)光路主光軸重合的問(wèn)題。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣的:
[0006]調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，包括對(duì)所述掃描裝置的X方向掃描件校準(zhǔn)和/或?qū)方向掃描組件校準(zhǔn)；
[0007]所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)包括:
[0008]所述X方向掃描件掃描調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第一 OCT斷層掃描圖，計(jì)算機(jī)判定所述第一 OCT斷層掃描圖中所述凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)的所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl;
[0009]計(jì)算機(jī)將所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl設(shè)為其轉(zhuǎn)動(dòng)中心參數(shù)；所述X方向掃描件以所述轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl掃描轉(zhuǎn)動(dòng)，使其實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；
[0010]所述對(duì)Y方向掃描組件校準(zhǔn)，包括:
[0011]定義所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和/或第二 Y方向掃描件；
[0012]若所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和第二 Y方向掃描件，則:
[0013]所述第二 Y方向掃描件對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y22，使所述第二Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；
[0014]所述第一 Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y11，并以所述精確掃描中心位置Yll掃描轉(zhuǎn)動(dòng)，使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；
[0015]若所述Y方向掃描組件只包括第一 Y方向掃描件或只包括第二 Y方向掃描件，則:
[0016]所述對(duì)第一 Y方向掃描件或第二 Y方向掃描件校準(zhǔn)方法和對(duì)所述X方向掃描件校準(zhǔn)方法相同。
[0017]進(jìn)一步地:所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl的確定方法為:根據(jù)公式
<img/ [0019]其中，N為第一 OCT斷層掃描圖寬度方向像素?cái)?shù)，NI為第一 OCT斷層掃描圖的中心線LI和凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO之間的像素?cái)?shù)，XO為X方向掃描件的初始轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置，Xmax為X方向掃描裝置掃描總轉(zhuǎn)角，Xl為X方向掃描件的校準(zhǔn)后的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置；N、X0、Xmax為系統(tǒng)預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，NI由計(jì)算機(jī)計(jì)算得出，由上式便能求出XI。
[0020]進(jìn)一步地:在所述X方向掃描件掃描所述調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的OCT斷層掃描圖，計(jì)算機(jī)判定所述OCT斷層掃描圖中凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)的所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl步驟之前，還包括:
[0021]按照光路依次設(shè)置調(diào)試筒裝置、探頭光路系統(tǒng)和OCT成像系統(tǒng)；所述探頭光路系統(tǒng)包括所述X方向掃描件和所述Y方向掃描組件。
[0022]進(jìn)一步地:所述按照光路依次設(shè)置調(diào)試筒裝置，具體包括:
[0023]將所述凸起條放置在調(diào)試筒底部?jī)?nèi)側(cè)并使所述凸起條的其中一條棱邊線朝所述調(diào)試筒底部?jī)?nèi)側(cè)突出，同時(shí)使所述凸起條到所述探頭光路系統(tǒng)的距離恰好滿足系統(tǒng)光束相干距離；
[0024]在對(duì)所述X方向掃描件校準(zhǔn)調(diào)試時(shí)，所述棱邊線與所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸以及所述第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸均保持垂直；在對(duì)所述Y方向掃描組件校準(zhǔn)調(diào)試時(shí)，所述棱邊線與所述第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸和/或第二 Y方向掃描件的旋轉(zhuǎn)軸均保持平行；
[0025]將調(diào)試筒透鏡、壓鏡圈依次設(shè)置在調(diào)試筒內(nèi)側(cè)圓周上，并且使所述壓鏡圈上的通孔的位置恰好與掃描光束中心線的匯聚點(diǎn)的位置一致。
[0026]進(jìn)一步地:在所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)步驟之前，還包括:
[0027]將所述第一 Y方向掃描件轉(zhuǎn)至其旋轉(zhuǎn)中心位置YlO和/或?qū)⑺龅诙?Y方向掃描件的旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)至其旋轉(zhuǎn)中心Y20。
[0028]進(jìn)一步地:在所述對(duì)Y方向掃描組件校準(zhǔn)步驟之前，還可以包括所述對(duì)X方向掃描件的校準(zhǔn)；在所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)步驟之前，還可以包括所述對(duì)Y方向掃描組件的校準(zhǔn)。
[0029]進(jìn)一步地:所述第二 Y方向掃描件對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y22中，所述掃描為先粗略掃描后精確掃描，包括:
[0030]第二 Y方向掃描件以較大或較小轉(zhuǎn)動(dòng)步進(jìn)角緩慢掃描所述凸起條；
[0031]所述OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第一 OCT斷層掃描組圖；
[0032]計(jì)算機(jī)找出所述第一 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖，確定所述第二Y方向掃描件大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21 ；
[0033]所述第二 Y方向掃描件以所述大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21配合第一 Y方向掃描件對(duì)所述凸起條精細(xì)掃描；[0034]所述OCT成像系統(tǒng)再次采集所述凸起條的第二 OCT斷層掃描組圖；
[0035]計(jì)算機(jī)找出所述第二 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的序號(hào)，確定第二 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y22。
[0036]進(jìn)一步地:所述第一 Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y11，使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合的步驟為:
[0037]所述第一 Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描；
[0038]OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第二 OCT斷層掃描圖；
[0039]計(jì)算機(jī)判定所述第二 OCT斷層掃描圖中凸起條的一條棱邊線所在的第二列像素L0’對(duì)應(yīng)所述第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yll;
[0040]計(jì)算機(jī)將第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yll設(shè)為第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心參數(shù)，所述第一 Y方向掃描件以所述精確掃描中心位置Yll掃描轉(zhuǎn)動(dòng),使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合。
[0041]進(jìn)一步地:計(jì)算機(jī)找出所述第一 OCT斷層掃描組圖或第二 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的方法為:
[0042]當(dāng)光束沿主光軸入射，經(jīng)所述凸起條表面反射、且第二 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)位置越靠近其精確掃描中心位置Y22時(shí)，OCT成像系統(tǒng)采集的圖像為所述第一 OCT斷層掃描組圖或第二 OCT斷層掃描組圖中最強(qiáng)的一幅圖。
[0043]進(jìn)一步地:所述第二 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y22、第二 Y方向掃描件的大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21和第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yll的確定方法均和所述對(duì)X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl的確定方法相同。
[0044]一種調(diào)試筒裝置，包括:中空的調(diào)試筒和設(shè)置在其底部?jī)?nèi)側(cè)的凸起條，沿所述凸起條的一條棱線向內(nèi)凸出；所述凸起條到所述探頭光路系統(tǒng)的距離恰好滿足系統(tǒng)光束相干距離。
[0045]進(jìn)一步地:還包括由里向外設(shè)置在所述調(diào)試筒內(nèi)側(cè)上的調(diào)試筒透鏡和壓鏡圈；所述壓鏡圈中間開(kāi)設(shè)有供光源通過(guò)的通孔；所述通孔的位置恰好與掃描光束中心線的匯聚點(diǎn)的位置一致。
[0046]進(jìn)一步地:垂直于所述凸起條的一條棱線的斷面至少為V形、三角形或者拱形的一種。
[0047]一種調(diào)試掃描裝置的系統(tǒng)，包括:依光路依次設(shè)置的調(diào)試筒裝置、探頭光路系統(tǒng)和OCT成像系統(tǒng)，所述探頭光路系統(tǒng)包括:X方向掃描件和/或Y方向掃描組件。
[0048]進(jìn)一步地:所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和/或第二 Y方向掃描件。
[0049]本發(fā)明的有益效果:X方向掃描件掃描調(diào)試筒裝置的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集凸起條斷面的第一 OCT斷層掃描圖，判定所述第一 OCT斷層掃描圖中凸起條頂點(diǎn)所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl ；x方向掃描件以轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl掃描，從而使它的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；
[0050]Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和/或第二 Y方向掃描件；若包括第一 Y方向掃描件和第二 Y方向掃描件，則調(diào)試筒裝置對(duì)Y方向掃描組件的校準(zhǔn)方法為:第二 Y方向掃描件配合第一 Y方向掃描件先對(duì)凸起條粗掃描，OCT成像系統(tǒng)米集凸起條的第一斷層掃描組圖，計(jì)算機(jī)判定整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的信號(hào)，確定第二 Y方向掃描件大致掃描中心位置Y21 ;第二 Y方向掃描件再配合第一 Y方向掃描件對(duì)凸起條精掃描，OCT成像系統(tǒng)采集凸起條的第二斷層掃描組圖，判定整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的信號(hào)，確定第二 Y方向掃描件精確掃描中心位置Y22，使第二 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；第一Y方向掃描件在第二Y方向掃描件的精確掃描角確認(rèn)的基礎(chǔ)上再對(duì)凸起條進(jìn)行掃描，此時(shí)確定第一Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y11，同對(duì)X方向掃描件確定其區(qū)域掃描中心線與光路主光軸重合方法相同，完成對(duì)Y方向掃描組件的校準(zhǔn)與調(diào)試；若Y掃描組件只包括第一 Y方向掃描件或第二 Y方向掃描件，則利用調(diào)試筒對(duì)它的實(shí)際掃描區(qū)域中心線校準(zhǔn)的方法和對(duì)X方向掃描件的校準(zhǔn)方法相同。
[0051]因此，利用調(diào)試筒裝置對(duì)掃描裝置的X方向掃描件和/或Y方向掃描組件的調(diào)節(jié)，能實(shí)現(xiàn)如下效果:1、無(wú)需拆開(kāi)外殼，便能實(shí)現(xiàn)對(duì)它們的校準(zhǔn)，從而使調(diào)試工作簡(jiǎn)單、快捷；
2、調(diào)試過(guò)程簡(jiǎn)單，即使不具備專業(yè)知識(shí)的人員利用此方法和設(shè)備調(diào)試掃描裝置，也能調(diào)試出滿意的結(jié)果。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0052]圖1為調(diào)試筒裝置對(duì)X方向掃描件進(jìn)行調(diào)試的流程圖；
[0053]圖2為調(diào)試筒裝置對(duì)包含有第一 Y方向掃描件和第二 Y方向掃描件的Y方向掃描組件進(jìn)行調(diào)試的流程圖；
[0054]圖3為圖2中步驟S202的具體流程圖；
[0055]圖4為本發(fā)明的系統(tǒng)光路圖；
[0056]圖5為圖4中的調(diào)試筒裝置300的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0057]圖6為圖4中沿A-A剖視的視圖；
[0058]圖7為本發(fā)明中調(diào)試筒裝置未對(duì)X方向掃描件、Y方向掃描組件調(diào)試前凸起條偏離OCT圖像正中心的示意圖；
[0059]圖8為本發(fā)明中調(diào)試筒裝置對(duì)X方向掃描件、Y方向掃描組件調(diào)試后凸起條處于OCT圖像正中心的示意圖。
[0060]圖9為凸起條的立體示意圖。
[0061]圖10為第一 Y方向掃描件202的掃描區(qū)域中心線和第二 Y方向掃描件204的掃描區(qū)域中心線均與系統(tǒng)光路主光軸重合的情形。
[0062]圖11為第一 Y方向掃描件202的掃描區(qū)域中心線和系統(tǒng)光路主光軸不重合但第二 Y方向掃描件204的掃描區(qū)域中心線和系統(tǒng)光路主光軸重合的情形。
[0063]圖12為第一 Y方向掃描件202的掃描區(qū)域中心線和第二 Y方向掃描件204的掃描區(qū)域中心線均不和系統(tǒng)光路主光軸的位置的情形。
[0064]其中，圖4和圖5中各零件序號(hào)及對(duì)應(yīng)的零件名稱分別為:100、OCT成像系統(tǒng)；200、探頭光路系統(tǒng)；201、X方向掃描件；202、第一 Y方向掃描件；204、第二 Y方向掃描件；300、調(diào)試筒裝置；301、調(diào)試筒；301’、調(diào)試筒底部?jī)?nèi)側(cè)在OCT圖像中的成像；302、壓鏡圈；3021、通孔；303、調(diào)試筒透鏡；304、凸起條；3041、棱邊線；304’、凸起條304在OCT圖像中的成像；3041’、棱邊線3041在OCT圖像中成像。【具體實(shí)施方式】
[0065]為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0066]實(shí)施例1:對(duì)X方向掃描件201的校準(zhǔn)
[0067]參考圖1和圖6，調(diào)試筒裝置300對(duì)X方向掃描件201的校準(zhǔn)的過(guò)程如下:
[0068]步驟S102:所述X方向掃描件掃描調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第一 OCT斷層掃描圖，計(jì)算機(jī)判定所述第一 OCT斷層掃描圖中凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl;
[0069]具體地，X方向掃描件201對(duì)調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條進(jìn)行掃描時(shí)，OCT成像系統(tǒng)100掃描凸起條304，得到第一 OCT斷層掃描圖。X方向掃描件處于某一位置時(shí)，OCT成像系統(tǒng)100采集凸起條304的一條線的圖像。當(dāng)X方向掃描件轉(zhuǎn)到下一位置，OCT成像系統(tǒng)100再采集凸起條304另一條線的圖像。如此反復(fù)，X方向掃描件轉(zhuǎn)到一個(gè)周期，OCT成像系統(tǒng)100便采集到凸起條304完整的一幅OCT斷層掃描圖的圖像。
[0070]對(duì)于本步驟中X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl的確定，可以有多種方法實(shí)現(xiàn)，本技術(shù)方案只例舉了實(shí)現(xiàn)其目的的一個(gè)實(shí)施例，但對(duì)于以其他手段實(shí)現(xiàn)同樣目的的技術(shù)方案，也屬于本專利申請(qǐng)的保護(hù)范圍之列。
[0071]參考圖7，第一 OCT斷層掃描圖寬度方向像素?cái)?shù)為N，X方向振鏡掃描總轉(zhuǎn)角為Xmax,圖像的中心線為L(zhǎng)I，凸起條304的一條棱邊線3041 (見(jiàn)圖9)在第一 OCT斷層掃描圖中成像3041’，LO為經(jīng)過(guò)3041’所在的列像素，X方向掃描件201的初始轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置在圖中處于X0’.由圖7可以看出，X0’和X方向掃描件201的校準(zhǔn)后的轉(zhuǎn)動(dòng)中心在圖中的位置Χ1'不重合，而校準(zhǔn)后的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl是系統(tǒng)設(shè)計(jì)的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置，該轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置使得X方向掃描區(qū)域中心線與系統(tǒng)主光軸重合。調(diào)試筒裝置300校準(zhǔn)X方向掃描件201的目的就是為了使初始轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置XO校準(zhǔn)到Xl位置。設(shè)第一 OCT斷層掃描圖中Xl和XO之間的像素?cái)?shù)為NI，Xmax為X方向振鏡掃描總轉(zhuǎn)角。其中N、X0、Xmax為系統(tǒng)預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，NI
由計(jì)算機(jī)計(jì)算得出，，根據(jù)公式
【權(quán)利要求】
1.調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于，包括對(duì)所述掃描裝置的X方向掃描件校準(zhǔn)和/或?qū)方向掃描組件校準(zhǔn)； 所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)包括: 所述X方向掃描件掃描調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第一OCT斷層掃描圖，計(jì)算機(jī)判定所述第一 OCT斷層掃描圖中所述凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)的所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl; 計(jì)算機(jī)將所述 X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xi設(shè)為其轉(zhuǎn)動(dòng)中心參數(shù)；所述X方向掃描件以所述轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl掃描轉(zhuǎn)動(dòng)，使其實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合；所述對(duì)Y方向掃描組件校準(zhǔn)，包括: 定義所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和/或第二 Y方向掃描件； 若所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件和第二 Y方向掃描件，則: 所述第二 Y方向掃描件對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y22，使所述第二Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合； 所述第一 Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y11，并以所述精確掃描中心位置Yll掃描轉(zhuǎn)動(dòng)，使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合； 若所述Y方向掃描組件只包括第一 Y方向掃描件或只包括第二 Y方向掃描件，則:所述對(duì)第一 Y方向掃描件或第二 Y方向掃描件校準(zhǔn)方法和對(duì)所述X方向掃描件校準(zhǔn)方法相同。
2.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl的確定方法為:根據(jù)公式 Λ? Xl - AO , /Vl?A" max ,., —=-，求出 Α?=-+Χ0； N X maxN 其中，N為第一 OCT斷層掃描圖寬度方向像素?cái)?shù)，NI為第一 OCT斷層掃描圖的中心線LI和凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO之間的像素?cái)?shù)，XO為X方向掃描件的初始轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置，Xmax為X方向掃描裝置掃描總轉(zhuǎn)角，Xl為X方向掃描件的校準(zhǔn)后的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置；N、X0、Xmax為系統(tǒng)預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，NI由計(jì)算機(jī)計(jì)算得出，由上式便能求出XI。
3.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:在所述X方向掃描件掃描所述調(diào)試筒裝置內(nèi)的凸起條，OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的OCT斷層掃描圖，計(jì)算機(jī)判定所述OCT斷層掃描圖中凸起條的一條棱邊線所在的第一列像素LO對(duì)應(yīng)的所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl步驟之前，還包括: 按照光路依次設(shè)置調(diào)試筒裝置、探頭光路系統(tǒng)和OCT成像系統(tǒng)；所述探頭光路系統(tǒng)包括所述X方向掃描件和所述Y方向掃描組件。
4.如權(quán)利要求3所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:所述按照光路依次設(shè)置調(diào)試筒裝置，具體包括: 將所述凸起條放置在調(diào)試筒底部?jī)?nèi)側(cè)并使所述凸起條的其中一條棱邊線朝所述調(diào)試筒底部?jī)?nèi)側(cè)突出，同時(shí)使所述凸起條到所述探頭光路系統(tǒng)的距離恰好滿足系統(tǒng)光束相干距離； 在對(duì)所述X方向掃描件校準(zhǔn)調(diào)試時(shí)，所述棱邊線與所述X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸以及所述第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸均保持垂直；在對(duì)所述Y方向掃描組件校準(zhǔn)調(diào)試時(shí)，所述棱邊線與所述第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)軸和/或第二 Y方向掃描件的旋轉(zhuǎn)軸均保持平行；將調(diào)試筒透鏡、壓鏡圈依次設(shè)置在調(diào)試筒內(nèi)側(cè)圓周上，并且使所述壓鏡圈上的通孔的位置恰好與掃描光束中心線的匯聚點(diǎn)的位置一致。
5.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:在所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)步驟之前，還包括: 將所述第一 Y方向掃描件轉(zhuǎn)至其旋轉(zhuǎn)中心位置YlO和/或?qū)⑺龅诙?Y方向掃描件的旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)至其旋轉(zhuǎn)中心Y20。
6.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:在所述對(duì)Y方向掃描組件校準(zhǔn)步驟之前，還可以包括所述對(duì)X方向掃描件的校準(zhǔn)；在所述對(duì)X方向掃描件校準(zhǔn)步驟之前，還可以包括所述對(duì)Y方向掃描組件的校準(zhǔn)。
7.如權(quán)利要求2中所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:所述第二Y方向掃描件對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y22中，所述掃描為先粗略掃描后精確掃描，包括: 第二 Y方向掃描件以較大或較小轉(zhuǎn)動(dòng)步進(jìn)角緩慢掃描所述凸起條； 所述OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第一 OCT斷層掃描組圖； 計(jì)算機(jī)找出所述第一 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖，確定所述第二 Y方向掃描件大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21 ； 所述第二 Y方向掃描件以所述大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21配合第一 Y方向掃描件對(duì)所述凸起條精細(xì)掃描； 所述OCT成像系統(tǒng)再次采集所述凸起條的第二 OCT斷層掃描組圖； 計(jì)算機(jī)找出所述第二 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的序號(hào)，確定第二 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y22。
8.如權(quán)利要求7所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:所述第一Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描，確定其精確掃描中心位置Y11，使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合的步驟為: 所述第一 Y方向掃描件以初始掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心YlO對(duì)所述凸起條掃描； OCT成像系統(tǒng)采集所述凸起條的第二 OCT斷層掃描圖； 計(jì)算機(jī)判定所述第二 OCT斷層掃描圖中凸起條的一條棱邊線所在的第二列像素L0’對(duì)應(yīng)所述第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yll; 計(jì)算機(jī)將第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yii設(shè)為第一 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心參數(shù)，所述第一 Y方向掃描件以所述精確掃描中心位置Yll掃描轉(zhuǎn)動(dòng)，使所述第一 Y方向掃描件的實(shí)際掃描區(qū)域中心線與光路的主光軸重合。
9.如權(quán)利要求7-8中任一項(xiàng)所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:計(jì)算機(jī)找出所述第一 OCT斷層掃描組圖或第二 OCT斷層掃描組圖中整體信號(hào)最強(qiáng)的一幅圖的方法為: 當(dāng)光束沿主光軸入射，經(jīng)所述凸起條表面反射、且第二 Y方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)位置越靠近其精確掃描中心位置Y22時(shí)，OCT成像系統(tǒng)采集的圖像為所述第一 OCT斷層掃描組圖或第二 OCT斷層掃描組圖中最強(qiáng)的一幅圖。
10.如權(quán)利要求7-8中任一項(xiàng)所述的調(diào)試筒裝置校準(zhǔn)掃描裝置的方法，其特征在于:所述第二 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Y22、第二 Y方向掃描件的大致掃描轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Y21和第一 Y方向掃描件的精確掃描中心位置Yll的確定方法均和所述對(duì)X方向掃描件的轉(zhuǎn)動(dòng)中心位置Xl的確定方法相同。
11.一種調(diào)試筒裝置，其特征在于，包括:中空的調(diào)試筒和設(shè)置在其底部?jī)?nèi)側(cè)的凸起條，沿所述凸起條的一條棱線向內(nèi)凸出；所述凸起條到所述探頭光路系統(tǒng)的距離恰好滿足系統(tǒng)光束相干距離。
12.如權(quán)利要求10所述的調(diào)試筒裝置，其特征在于:還包括由里向外設(shè)置在所述調(diào)試筒內(nèi)側(cè)上的調(diào)試筒透鏡和壓鏡圈；所述壓鏡圈中間開(kāi)設(shè)有供光源通過(guò)的通孔；所述通孔的位置恰好與掃描光束中心線的匯聚點(diǎn)的位置一致。
13.如權(quán)利要求11-12中任一項(xiàng)所述的調(diào)試筒裝置，其特征在于:垂直于所述凸起條的一條棱線的斷面至少為V形、三角形或者拱形的一種。
14.一種調(diào)試掃描裝置的系統(tǒng)，其特征在于，包括:依光路依次設(shè)置的調(diào)試筒裝置、探頭光路系統(tǒng)和OCT成像系統(tǒng)，所述探頭光路系統(tǒng)包括:X方向掃描件和/或Y方向掃描組件。
15.如權(quán)利要求14所述的調(diào)試掃描裝置的系統(tǒng)，其特征在于:所述Y方向掃描組件包括第一 Y方向掃描件 和/或第二 Y方向掃描件。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK103674840SQ201310578808
【公開(kāi)日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2013年11月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月18日
【發(fā)明者】吳蕾, 蔡守東, 王輝, 何衛(wèi)紅 申請(qǐng)人:深圳市斯?fàn)栴D科技有限公司