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改良數(shù)據(jù)接口的pcba測試裝置的制作方法

文檔序號(hào):5990876閱讀:184來源:國知局
專利名稱:改良數(shù)據(jù)接口的pcba測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子線路板檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置。
背景技術(shù)
PCB(Printed Circuit Board,印刷電路板)是重要的電子部件,是電子元件的支撐體,是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術(shù)制作的,故被稱為“印刷”電路板。在印制電路板出現(xiàn)之前,電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。PCBA是英文Printed Circuit Board Assembly的簡稱,也就是說PCB空板經(jīng)過SMT上件,再經(jīng)過DIP插件的整個(gè)制程。目前,均是通過專用的測試裝置對(duì)PCB進(jìn)行測試,在對(duì)印制好的PCB進(jìn)行測試時(shí),通常是將PCB固定在一個(gè)夾具上,再用探針探測PCB上的固定點(diǎn),探針的另一端連接著一個(gè)測試儀。按下測試裝置上的啟動(dòng)開關(guān)后,測試裝置便開始工作,當(dāng)儀器顯示特定的數(shù)值時(shí),PCB被認(rèn)為是合格的,否則被認(rèn)定為不合格品。傳統(tǒng)技術(shù)中,專用的測試裝置僅能針對(duì)特定的PCB進(jìn)行測試,不能測試其它類型的PCB,不具有通用性和互換性,從而每種PCB均需要配置相應(yīng)的專用測試裝置,不僅操作和管理不便,而且大大增加了設(shè)備的投入成本,從而使PCB的生產(chǎn)成本居高不下。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的在于,針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置,通過改良探針與測試儀之間的數(shù)據(jù)接口,以更換相應(yīng)的探針,從而實(shí)現(xiàn)能對(duì)多種PCB的檢測,拓展了其應(yīng)用范圍,提升了其使用價(jià)值。為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案。本實(shí)用新型提供一種改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置,包括機(jī)架,在所述機(jī)架上設(shè)置有測試臺(tái)和驅(qū)動(dòng)裝置固定支架,所述測試臺(tái)設(shè)置有PCB夾具和下探針固定座,下探針固定座上固定有下探針;所述驅(qū)動(dòng)裝置固定支架設(shè)置有上探針固定座,所述上探針固定座上設(shè)置有上探針,且上探針固定座可相對(duì)于所述機(jī)架上下移動(dòng);還包括測試儀和與所述測試儀連接的數(shù)據(jù)接口,所述數(shù)據(jù)接口包括上探針數(shù)據(jù)接口和下探針數(shù)據(jù)接口,所述測試儀通過所述下探針數(shù)據(jù)接口與下探針連接,通過上探針數(shù)據(jù)接口與上探針連接,并通過所述上探針和下探針對(duì)PCB進(jìn)行測試。優(yōu)選地,所述上探針固定座與連接板之間為可拆卸式連接。優(yōu)選地,所述上探針數(shù)據(jù)接口與上探針之間為可插拔式連接。優(yōu)選地,所述下探針數(shù)據(jù)接口與下探針之間為可插撥式連接。優(yōu)選地,所述驅(qū)動(dòng)裝置固定支架還包括驅(qū)動(dòng)裝置,所述連接板與所述驅(qū)動(dòng)裝置的活塞連接,所述上探針固定座由所述活塞驅(qū)動(dòng),相對(duì)于所述機(jī)架上下平移。優(yōu)選地,所述驅(qū)動(dòng)裝置為氣缸或液壓缸。[0013]相比于上述現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)。本實(shí)用新型的改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置采用在測試臺(tái)上設(shè)置下探針固定座,在驅(qū)動(dòng)固定架上設(shè)置上探針固定座,并使上探針和下探針分別與設(shè)置于測試臺(tái)上的數(shù)據(jù)接口連接,從而簡化了整體結(jié)構(gòu),優(yōu)化了線路的連接,從而提高了生產(chǎn)效率。此外,將上探針固定座通過可拆卸的連接方式與連接板連接,上探針數(shù)據(jù)接口與上探針之間為可插拔式連接,下探針數(shù)據(jù)接口與下探針之間為可插拔式連接,只需將上探針固定座從連接板拆下,將上探針?biāo)龅膶?dǎo)線從上探針數(shù)據(jù)接口中拔出,再換上另一種規(guī)格的上探針固定座,同時(shí),將更換后的上探針固定座緊固于連接板上,再將上探針上的導(dǎo)線插入上探針數(shù)據(jù)接口,便可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種PCB的測試,實(shí)現(xiàn)多功能的測試效果,從而不必更換整個(gè)測試裝置,可大大降低設(shè)備采購成本。

圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例中改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例,參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
以下將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案,以便更清楚、直觀地理解本實(shí)用新型的發(fā)明實(shí)質(zhì)。圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例中改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖。參照?qǐng)DI所示,本實(shí)施例提供一種改良數(shù)據(jù)接口的PCB測試裝置100,其包括機(jī)架1,在機(jī)架I上設(shè)置有測試臺(tái)2和驅(qū)動(dòng)裝置固定支架3,測試臺(tái)2上設(shè)置有PCB夾具21和下探針固定座22,下探針固定座22上固定有下探針(圖中未示出),PCB固定在PCB夾具21上時(shí),下探針恰好與PCB的下表面接觸,與待測點(diǎn)保持良好電連接。驅(qū)動(dòng)裝置固定支架3設(shè)置有上探針固定座31,該上探針固定座31上設(shè)置有上探針32。本實(shí)施例的改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置100還包括測試儀4和與測試儀4連接的數(shù)據(jù)接口,其中,上述數(shù)據(jù)接口包括上探針數(shù)據(jù)接口 5和下探針數(shù)據(jù)接口 6,測試儀4通過上探針數(shù)據(jù)接口 5與上探針32連接,通過下探針數(shù)據(jù)接口 6與下探針連接,測試儀4即是通過上探針32和下探針對(duì)PCB進(jìn)行測試。本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)裝置固定支架3還包括連接板33,上探針固定座31與連接板33之間為可拆卸式連接,具體地,上探針固定座31通過螺栓和螺母固定在連接板33上,連接板33又通過滑桿34安裝在驅(qū)動(dòng)裝置固定支架3上,并由驅(qū)動(dòng)裝置35的活塞驅(qū)動(dòng),使連接板33帶動(dòng)上探針固定座31相對(duì)于測試臺(tái)2作上下往復(fù)運(yùn)動(dòng),使上探針32相對(duì)于測試臺(tái)2上下平移。 同時(shí),上探針數(shù)據(jù)接口 5和下探針數(shù)據(jù)接口 6均采用標(biāo)準(zhǔn)通用型數(shù)據(jù)接口,上探針32所引出的導(dǎo)線可以自由插撥于上探針數(shù)據(jù)接口 5,下探針?biāo)龅膶?dǎo)線可以自由插撥于下探針數(shù)據(jù)接口 6,使上探針數(shù)據(jù)接口 5和下探針數(shù)據(jù)接口 6與上探針32和下探針之間構(gòu)成可插撥式電性連接。只需將上探針固定座31從連接板33拆下,將上探針32所引出的導(dǎo)線從上探針數(shù)據(jù)接口 5中撥出,再換上另一種規(guī)格的上探針固定座31,同時(shí),將更換后的上探針固定座31緊固于連接板33上,再將上探針32上的導(dǎo)線插入上探針數(shù)據(jù)接口 5,便完成了上探針固定座31的更換,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)多種PCB的測試,實(shí)現(xiàn)多功能的測試效果。同理,在需要的情況下,下探針固定座22也可進(jìn)行更換,下探針固定座22的更換方法與上探針固定座31相似,此處不再贅述。本實(shí)施例的上述驅(qū)動(dòng)裝置35可米用氣缸或液壓缸,由于氣缸和液壓缸傳動(dòng)平穩(wěn)、動(dòng)作快速準(zhǔn)確、噪音小,因此,采用氣缸或液壓缸作為驅(qū)動(dòng)裝置35,可以提高測試的準(zhǔn)確率。綜上所述,本實(shí)用新型的改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置采用在測試臺(tái)上設(shè)置下探針固定座,在驅(qū)動(dòng)固定架上設(shè)置上探針固定座,并使上探針和下探針分別與設(shè)置于測試臺(tái)上的數(shù)據(jù)接口連接,從而簡化了整體結(jié)構(gòu),優(yōu)化了線路的連接,從而提高了生產(chǎn)效率。此夕卜,將上探針固定座通過可拆卸的連接方式與連接板連接,上探針數(shù)據(jù)接口與上探針之間為可插拔式連接,下探針數(shù)據(jù)接口與下探針之間為可插拔式連接,只需將上探針固定座從連接板拆下,將上探針?biāo)龅膶?dǎo)線從上探針數(shù)據(jù)接口中撥出,再換上另一種規(guī)格的上探針固定座,同時(shí),將更換后的上探針固定座緊固于連接板上,再將上探針上的導(dǎo)線插入上探針數(shù)據(jù)接口,便可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種PCB的測試,實(shí)現(xiàn)多功能的測試效果,從而不必更換整個(gè)測試裝置,可大大降低設(shè)備采購成本。以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例,并非因此限制其專利范圍,凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換,直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.ー種改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于包括機(jī)架,在所述機(jī)架上設(shè)置有測試臺(tái)和驅(qū)動(dòng)裝置固定支架,所述測試臺(tái)設(shè)置有PCB夾具和下探針固定座,下探針固定座上固定有下探針;所述驅(qū)動(dòng)裝置固定支架設(shè)置有上探針固定座,所述上探針固定座上設(shè)置有上探針,且上探針固定座可相對(duì)于所述機(jī)架上下移動(dòng);還包括測試儀和與所述測試儀連接的數(shù)據(jù)接ロ,所述數(shù)據(jù)接ロ包括上探針數(shù)據(jù)接ロ和下探針數(shù)據(jù)接ロ,所述測試儀通過所述下探針數(shù)據(jù)接ロ與下探針連接,通過上探針數(shù)據(jù)接ロ與上探針連接,并通過所述上探針和下探針對(duì)PCB進(jìn)行測試。
2.如權(quán)利要求I所述的改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于所述上探針固定座與連接板之間為可拆卸式連接。
3.如權(quán)利要求I所述的改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于所述上探針數(shù)據(jù)接ロ與上探針之間為可插撥式連接。
4.如權(quán)利要求I所述的改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于所述下探針數(shù)據(jù)接ロ與下探針之間為可插拔式連接。
5.如權(quán)利要求I所述的改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置固定支架還包括驅(qū)動(dòng)裝置,所述連接板與所述驅(qū)動(dòng)裝置的活塞連接,所述上探針固定座由所述活塞驅(qū)動(dòng),相對(duì)于所述機(jī)架上下平移。
6.如權(quán)利要求5所述的改良數(shù)據(jù)接ロ的PCBA測試裝置,其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置為氣缸或液壓缸。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種改良數(shù)據(jù)接口的PCBA測試裝置,包括機(jī)架和機(jī)架上設(shè)置的測試臺(tái)和驅(qū)動(dòng)裝置固定支架,測試臺(tái)設(shè)置有PCB夾具和下探針固定座,下探針固定座上固定有下探針,驅(qū)動(dòng)裝置固定支架設(shè)置有上探針固定座,所述上探針固定座上設(shè)置有上探針,上探針固定座與連接板之間為可拆卸式連接。還包括測試儀和與所述測試儀連接的數(shù)據(jù)接口,上探針和下探針與數(shù)據(jù)接口之間采用或插拔式連接方式,使得上探針固定座和下探針固定座可更換,從而使得本實(shí)用新型具有更大的通用性,可對(duì)多種PCB進(jìn)行測試,從而可大大節(jié)省設(shè)備的采購成本。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202815173SQ201220410479
公開日2013年3月20日 申請(qǐng)日期2012年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月17日
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