專利名稱：電子元件檢查設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子元件檢查設(shè)備，更具體地說，涉及一種可快速且準(zhǔn)確地檢查電子元件的各種特性的電子元件檢查設(shè)備。
背景技術(shù)：
為了降低電子元件的缺陷率并確保電子元件的性能穩(wěn)定，需要檢查安裝在電子裝置中的電子元件。對電子元件的檢查 可分為目視檢查和性能檢查。目視檢查通過檢查電子元件的外觀確定電子元件是否有缺陷，而性能檢查檢查電子元件的電特性(例如，電容、絕緣電阻
等。
一般來說，電子元件的目視檢查可通過拍攝裝置快速且準(zhǔn)確地執(zhí)行。然而，在電子元件的性能檢查中，檢查電子元件的電特性需要基本時(shí)間，這樣可能難以快速且準(zhǔn)確地檢查多個(gè)電子元件。具體地說，由于在電子元件的電容檢查時(shí)間和電子元件的絕緣電阻檢查時(shí)間之間存在顯著差別，所以難以在單個(gè)檢查設(shè)備或單個(gè)檢查線路中同時(shí)執(zhí)行多種性能檢查。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一方面提供一種能夠快速且準(zhǔn)確地檢查電子元件的電特性的電子元件檢查設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種電子元件檢查設(shè)備，該電子元件檢查設(shè)備包括:第一旋轉(zhuǎn)單元，能夠基于第一旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)；多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元，基于第二旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中；檢查單元，檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的電子元件的特性。第二旋轉(zhuǎn)軸可基于第一旋轉(zhuǎn)軸沿著第一旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。第二旋轉(zhuǎn)單元可包括多個(gè)安裝單元，電子元件安裝在所述多個(gè)安裝單元上。所述多個(gè)安裝單元可基于第二旋轉(zhuǎn)軸沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。所述多個(gè)安裝單元可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的徑向形成為多排。檢查單元可包括第一檢查單元和第二檢查單元，第一檢查單元檢查電子元件的第一特性，第二檢查單元檢查電子元件的第二特性。第一檢查單元可測量電子元件的電容，第二檢查單元可測量電子元件的絕緣電阻。第一檢查單元可以至少有一個(gè)，第二檢查單元可以至少有兩個(gè)。第一檢查單元和第二檢查單元可基于第一旋轉(zhuǎn)軸沿著第一旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。第一檢查單元和第二檢查單元可設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元的邊緣。
第一檢查單元和第二檢查單元可被設(shè)置為對應(yīng)于第二旋轉(zhuǎn)單元。
電子元件檢查設(shè)備還可包括第三旋轉(zhuǎn)單元，第三旋轉(zhuǎn)單元設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中。
第一檢查單元和第二檢查單元可設(shè)置在第三旋轉(zhuǎn)單元上。
第三旋轉(zhuǎn)單元可相對于第一旋轉(zhuǎn)單元相對地旋轉(zhuǎn)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種電子元件檢查設(shè)備，該電子元件檢查設(shè)備包括:第一旋轉(zhuǎn)單元，能夠基于第一旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)；多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元，基于第二旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中，并包括多個(gè)安裝單元，多個(gè)電子元件安裝在所述多個(gè)安裝單元中；第一檢查單元，檢查安裝在所述多個(gè)安裝單元中的多個(gè)電子元件的第一特性；第二檢查單元，檢查安裝在所述多個(gè)安裝單元中的多個(gè)電子元件的第二特性。
第二檢查單元可沿著第二旋轉(zhuǎn)軸豎直地運(yùn)動(dòng)。
第一檢查單元可測量電子元件的電容，第二檢查單元可測量電子元件的絕緣電阻。
電子元件檢查設(shè)備還可包括:供應(yīng)單元，將待檢查的電子元件供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元；排出單元，將完成了檢查的電子元件從第二旋轉(zhuǎn)單元排出。
安裝單元可基于第二旋轉(zhuǎn)軸沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。
安裝單元可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的徑向形成為多排。


通過下面結(jié)合附圖進(jìn)行的詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述和其他方面、特點(diǎn)及其他優(yōu)點(diǎn)將會(huì)被更加清楚地理解，在附圖中:
圖1和圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖3和圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖8是示出在圖7中示出的電子元件檢查設(shè)備的側(cè)視圖9是在圖7中示出的電子元件檢查設(shè)備的變型示例。
具體實(shí)施方式
在下文中，將參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例。
在下面描述本發(fā)明的過程中，考慮到每個(gè)部件的功能來命名指示本發(fā)明的部件的術(shù)語。因此，所述術(shù)語不應(yīng)該被理解為限制本發(fā)明的技術(shù)部件元素。
為了執(zhí)行電子元件的性能檢查，可能需要檢查至少兩種電特性。例如，為了多層陶瓷電容器(在下文中，被稱為“MLCC”)的性能檢查的目的，可執(zhí)行電容檢查和絕緣電阻檢查。
然而，MLCC的電容檢查可在相對短的時(shí)間段內(nèi)執(zhí)行，然而，MLCC的絕緣電阻檢查可能需要相對長的時(shí)間段。
因此，當(dāng)在單個(gè)檢查線路中檢查多個(gè)MLCC時(shí)，MLCC的性能檢查速度可能延遲MLCC的絕緣電阻檢查所需的時(shí)間。同時(shí)，可設(shè)置多個(gè)絕緣電阻檢查設(shè)備，以提高M(jìn)LCC的性能檢查速度，但是，在這種情況下，可能難以在執(zhí)行MLCC的絕緣電阻檢查的同時(shí)連續(xù)地供應(yīng)MLCC。為了解決上述缺陷，可提供根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的能夠連續(xù)地檢查多個(gè)電子元件(具體地說，MLCC)的電子元件檢查設(shè)備。圖1和圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖，圖3和圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖，圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖，圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖，圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的構(gòu)造視圖，圖8是示出在圖7中示出的電子元件檢查設(shè)備的側(cè)視圖，圖9是在圖7中示出的電子元件檢查設(shè)備的變型示例。將參照圖1和圖2詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10可包括第一旋轉(zhuǎn)單元100、第二旋轉(zhuǎn)單元200和210以及檢查單元400和410。此外，電子元件檢查設(shè)備10還可包括電子元件供應(yīng)單元500和電子元件排出單元510。另外，電子元件檢查設(shè)備10還可包括:第一輸送頭(未示出)，將電子元件供應(yīng)單元500的電子元件輸送到第二旋轉(zhuǎn)單元200 ;第二輸送頭(未示出)，將第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件輸送到電子元件排出單元510。這里，第一輸送頭和第二輸送頭可設(shè)置成單個(gè)裝置，或者可一體地形成為一個(gè)裝置。第一旋轉(zhuǎn)單元100可具有第一旋轉(zhuǎn)軸102，第一旋轉(zhuǎn)單元100可形成為盤形，該盤形基于第一旋轉(zhuǎn)軸102具有第一半徑Rl。第一旋轉(zhuǎn)單元100可基于第一旋轉(zhuǎn)軸102旋轉(zhuǎn)。這里，第一旋轉(zhuǎn)單元100的旋轉(zhuǎn)可通過控制單元(未示出)被間斷地執(zhí)行。例如，在圖1中示出的第一旋轉(zhuǎn)單元100可在每個(gè)指定時(shí)間內(nèi)每次旋轉(zhuǎn)180度。即，第一旋轉(zhuǎn)單元100可通過控制單元的第一操作信號(hào)每次旋轉(zhuǎn)180度。然而，第一旋轉(zhuǎn)單元100的旋轉(zhuǎn)角度可根據(jù)形成在第一旋轉(zhuǎn)單元100中的第二旋轉(zhuǎn)單元200和210的數(shù)量而不同。例如，當(dāng)三個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元形成在第一旋轉(zhuǎn)單元100中時(shí)，由于第一旋轉(zhuǎn)單元100的單次操作所導(dǎo)致的第一旋轉(zhuǎn)單元100的旋轉(zhuǎn)角度可以是120度。另外，當(dāng)四個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元形成在第一旋轉(zhuǎn)單元100中時(shí)，由于第一旋轉(zhuǎn)單元100的單次操作所導(dǎo)致的第一旋轉(zhuǎn)單元100的旋轉(zhuǎn)角度可以是90度。第二旋轉(zhuǎn)單元200和210可分別具有第二旋轉(zhuǎn)軸202和212，第二旋轉(zhuǎn)單元200可形成為盤形，該盤形基于第二旋轉(zhuǎn)軸202具有第二半徑R2，第二旋轉(zhuǎn)單元210可形成為盤形，該盤形基于第二旋轉(zhuǎn)軸212具有第二半徑R2。第二旋轉(zhuǎn)單元200和210可與第一旋轉(zhuǎn)單元100結(jié)合。具體地說，第二旋轉(zhuǎn)單元200可通過第二旋轉(zhuǎn)軸202與第一旋轉(zhuǎn)單元100結(jié)合，且可基于第二旋轉(zhuǎn)軸202在第一旋轉(zhuǎn)單元100上旋轉(zhuǎn)，第二旋轉(zhuǎn)單元210可通過第二旋轉(zhuǎn)軸212與第一旋轉(zhuǎn)單元100結(jié)合，且可基于第二旋轉(zhuǎn)軸212在第一旋轉(zhuǎn)單元100上旋轉(zhuǎn)。這里，第二旋轉(zhuǎn)軸202和212中的每個(gè)與第一旋轉(zhuǎn)軸102之間的距離L可小于第一半徑Rl，即，第二旋轉(zhuǎn)軸202和212基于第一旋轉(zhuǎn)軸102沿著第一旋轉(zhuǎn)單元100的圓周設(shè)置。
第二旋轉(zhuǎn)單元200和210分別可包括安裝單元204和214。安裝單元204和214可以是安裝電子元件的空間。例如，安裝單元204和214可以是分別形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200和210中的凹入空間?？蛇x地，安裝單元204和214中的每個(gè)可以是能夠與電子元件結(jié)合的單獨(dú)構(gòu)件。
如上所述形成的安裝單元204可基于第二旋轉(zhuǎn)軸202沿著第二旋轉(zhuǎn)單元200的圓周設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元100上，如上所述形成的安裝單元214可基于第二旋轉(zhuǎn)軸212沿著第二旋轉(zhuǎn)單元200的圓周設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元100上。例如，如圖1所示，多個(gè)單獨(dú)的安裝單元204可基于第二旋轉(zhuǎn)軸202以所述多個(gè)單獨(dú)的安裝單元204之間具有預(yù)定間隔的方式布置，多個(gè)單獨(dú)的安裝單元214可基于第二旋轉(zhuǎn)軸212以所述多個(gè)單獨(dú)的安裝單元214之間具有預(yù)定間隔的方式布置。同時(shí)，在圖1中，包括安裝單元204的六個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200中，包括安裝單元214的六個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元210中，然而，包括安裝單元204的安裝單元的數(shù)量以及包括安裝單元214的安裝單元的數(shù)量可根據(jù)電子元件的類型減少或增加。
第二旋轉(zhuǎn)單元200和210可分別基于第二旋轉(zhuǎn)軸202和212旋轉(zhuǎn)。這里，第二旋轉(zhuǎn)單元200和210的旋轉(zhuǎn)可通過控制單元(未示出)被間斷地執(zhí)行。例如，在圖1中示出的第二旋轉(zhuǎn)單元200和210可在每個(gè)指定時(shí)間內(nèi)每次旋轉(zhuǎn)60度。即，第二旋轉(zhuǎn)單元200和210可通過控制單元的第二操作信號(hào)每次旋轉(zhuǎn)60度。
然而，第二旋轉(zhuǎn)單元200的旋轉(zhuǎn)角度可根據(jù)包括形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200中的安裝單元204的安裝單元的數(shù)量而不同，第二旋轉(zhuǎn)單元210的旋轉(zhuǎn)角度可根據(jù)包括形成在第二旋轉(zhuǎn)單元210中的安裝單元214的安裝單元的數(shù)量而不同。例如，當(dāng)四個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200中時(shí)，由于單次操作所導(dǎo)致的第二旋轉(zhuǎn)單元200的旋轉(zhuǎn)角度可以是90度，當(dāng)四個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元210中時(shí)，由于單次操作所導(dǎo)致的第二旋轉(zhuǎn)單元210的旋轉(zhuǎn)角度可以是90度。當(dāng)八個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200中時(shí)，由于第二旋轉(zhuǎn)單元200的單次操作所導(dǎo)致的第二旋轉(zhuǎn)單元200的旋轉(zhuǎn)角度可以是45度，當(dāng)八個(gè)安裝單元形成在第二旋轉(zhuǎn)單元210中時(shí)，由于第二旋轉(zhuǎn)單元210的單次操作所導(dǎo)致的第二旋轉(zhuǎn)單兀210的旋轉(zhuǎn)角度可以是45度。
檢查單元400和410可以是檢查電子元件的電特性的裝置。例如，第一檢查單元400可以是測量電子元件的第一特性(電容)的裝置，第二檢查單元410可以是測量電子元件的第二特性(絕緣電阻)的裝置。
第一檢查單元400可以是每次只檢查單個(gè)電子元件的裝置，第二檢查單元410可以是每次檢查至少兩個(gè)電子元件的裝置?？蛇x地，可設(shè)置單個(gè)第一檢查單元400，同時(shí)可設(shè)置多個(gè)第二檢查單元410，從而每次檢查多個(gè)電子元件。
這里，第二檢查單元410的數(shù)量或者由第二檢查單元410每次檢查的電子元件的數(shù)量可與第一特性和第二特性之間的檢查時(shí)間的比例值成比例地增加。例如，當(dāng)?shù)谝惶匦詸z查時(shí)間是10秒，第二特性檢查時(shí)間是20秒時(shí)，第二檢查單元410的數(shù)量可以是第一檢查單元400的數(shù)量的兩倍。當(dāng)?shù)谝惶匦詸z查時(shí)間是10秒，第二特性檢查時(shí)間是30秒時(shí)，第二檢查單元410的數(shù)量可以是第一檢查單元400的數(shù)量的三倍。
上述構(gòu)造可用于電子元件的絕緣電阻檢查時(shí)間比電子元件的電容檢查時(shí)間長的情況。然而，在通過第一檢查單元400進(jìn)行特性檢查所需要的時(shí)間比通過第二檢查單元410進(jìn)行特性檢查所需要的時(shí)間長的情況下，反過來也是一樣的。檢查單元400和410可設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元100的邊緣，即，第一檢查單元400和第二檢查單元410基于第一旋轉(zhuǎn)軸102沿著第一旋轉(zhuǎn)單元100的圓周設(shè)置。具體地說，彼此不同的第一檢查單元400和第二檢查單元410可被設(shè)置為分別檢查第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件和第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件。例如，第一檢查單元400可被設(shè)置為檢查第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件，第二檢查單元410可被設(shè)置為檢查第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件。然而，這是基于圖1的設(shè)置狀態(tài)。因此，當(dāng)?shù)谝恍D(zhuǎn)單元100旋轉(zhuǎn)180度時(shí)，可改變檢查單元400和410的檢查對象。電子元件供應(yīng)單元500可以是連續(xù)地或者間斷地供應(yīng)電子元件的裝置。例如，電子元件供應(yīng)單元500可以是輸送器。電子元件供應(yīng)單元500可將電子元件供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元200和210。例如，電子元件供應(yīng)單元500可與第二旋轉(zhuǎn)單元200和210選擇性地連接，以供應(yīng)電子元件。可選地，電子元件供應(yīng)單元500可通過第一輸送頭將電子元件供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元200和210。電子元件排出單元510可以是連續(xù)地或者間斷地排出電子元件的裝置。例如，電子元件排出單元510可以是輸送器。電子元件排出單元510可將第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件和第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件排出到外部。例如，電子元件排出單元510可與第二旋轉(zhuǎn)單元200和210選擇性地連接，以將電子元件排出到外部?？蛇x地，電子元件排出單元510可通過第二輸送頭將電子元件從第二旋轉(zhuǎn)單元200和210排出到外部。在下文中，將描述使用如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備的檢查過程。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備的檢查過程可包括電子元件供應(yīng)、第一檢查、位置改變、排出和第二檢查。<電子元件供應(yīng)>可執(zhí)行電子元件供應(yīng)，以供應(yīng)電子元件。S卩，在該操作中，電子元件600、610、620、630,640和650可通過電子元件供應(yīng)單元500供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元200。電子元件可通過電子元件供應(yīng)單元500被連續(xù)地或間斷地供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元200。這里，電子元件供應(yīng)單元500的電子元件可通過單獨(dú)的輸送頭被安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元200的安裝單元204中。同時(shí)，在該操作中，第二旋轉(zhuǎn)單元200可以以恒定的速度旋轉(zhuǎn)。例如，第二旋轉(zhuǎn)單元200可每隔第一時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)，以使新的安裝單元204靠近電子元件供應(yīng)單元500。這里，第一時(shí)間間隔可以是將電子元件供應(yīng)單元500的電子元件安裝在安裝單元204中所需要的時(shí)間。然而，在該操作中，當(dāng)?shù)谝惠斔皖^將電子元件供應(yīng)單元500的電子元件自動(dòng)地輸送到每個(gè)安裝單元204時(shí)，第二旋轉(zhuǎn)單元200可以不旋轉(zhuǎn)。<第一檢查>可執(zhí)行第一檢查，以檢查電子元件的單個(gè)特性。即，在該操作中，檢查單元400和410可檢查電子元件的第一特性和第二特性。具體地說，當(dāng)電子元件安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元200的所有安裝單元204中時(shí)，第一檢查單元400可檢查安裝單元204的電子元件600、610、620、630、640和650。例如，第一檢查單元400可以每次檢查單個(gè)電子元件，并測量電子元件的第一特性(例如，電容)。
第一檢查單元400可將測量的第一檢查值發(fā)送到控制單元?？蛇x地，第一檢查單元400可基于第一檢查值確定相應(yīng)的電子元件是否有缺陷。同時(shí)，通過第一檢查單元400或控制單元被確定為有缺陷的電子元件可在該操作中或者在隨后的操作中通過單獨(dú)的輸送頭被去除。
第二旋轉(zhuǎn)單元200可每隔第二時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)。例如，當(dāng)完成了通過第一檢查單元400對電子元件600的第一特性檢查時(shí)，第二旋轉(zhuǎn)單元200可旋轉(zhuǎn)第一角度(Θ I)。
這里，第二時(shí)間間隔可以是檢查電子元件的第一特性所需要的時(shí)間。另外，第一角度(Θ1)可以是由兩個(gè)相鄰的安裝單元204與第二旋轉(zhuǎn)軸202形成的角度。例如，在圖1中，第一角度(Θ I)可以是60度。然而，由于第一角度限于本實(shí)施例，所以第一角度(Θ I)可根據(jù)形成在第二旋轉(zhuǎn)單元200中的安裝單元204的數(shù)量而不同。
第一檢查單元400可需要第一檢查時(shí)間Tl，以檢查電子元件600、610、620、630、640和650的第一特性。這里，第一檢查時(shí)間Tl可由下面的等式I表示。
[等式I]
Tl = (El+Tr2) XPn
這里，Tl表示檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的所有電子元件的第一特性所需要的時(shí)間，El表示檢查一個(gè)電子元件的第一特性所需要的時(shí)間，Tr2表示第二旋轉(zhuǎn)單元旋轉(zhuǎn)第一角度所需要的時(shí)間，Pn表示安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的電子元件的總數(shù)量。
同時(shí)，可在供應(yīng)電子元件的同時(shí)執(zhí)行通過第一檢查單元400對電子元件的檢查。
在該操作中，可同時(shí)執(zhí)行通過第二檢查單元410對電子元件的檢查。即，當(dāng)電子元件安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元210中時(shí)，第二檢查單元410可檢查相應(yīng)的電子元件700、710、720、730、740和750的第二特性。
例如，第二檢查單元410可以每次檢查至少兩個(gè)電子元件，并測量電子元件的第二特性(例如，絕緣電阻)。
第二檢查單元410可將測量的第二檢查值發(fā)送到控制單元?？蛇x地，第二檢查單元410可基于第二檢查值確定相應(yīng)的電子元件是否有缺陷。同時(shí)，通過第二檢查單元410或控制單元被確定為有缺陷的電子元件可在該操作中或者在隨后的操作中通過單獨(dú)的輸送頭被去除。
第二旋轉(zhuǎn)單元210可每隔第三時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)。例如，當(dāng)完成了通過第二檢查單元410對電子元件700和750的第二特性檢查時(shí)，第二旋轉(zhuǎn)單元210可旋轉(zhuǎn)第二角度(Θ 2)。
這里，第三時(shí)間間隔可以是檢查電子元件的第二特性所需要的時(shí)間。另外，第二角度(Θ 2)可以是由當(dāng)前檢查的電子元件、接下來檢查的電子元件與第二旋轉(zhuǎn)軸212形成的角度。具體地說，第二角度(Θ 2)可以是通過將第一角度(Θ I)乘以通過第二檢查單元410每次檢查的電子元件的數(shù)量而獲得的值。例如，在圖1中，第二角度(Θ2)可以是120度。然而，與第一角度類似，第二角度可根據(jù)形成在第二旋轉(zhuǎn)單元210中的安裝單元214的數(shù)量而不同。
第二檢查單元410可需要第二檢查時(shí)間T2，以檢查電子元件700、710、720、730、740和750的第二特性。這里，第二檢查時(shí)間T2可由下面的等式2表示。
[等式2]
T2 = (E2+Tr2) ΧΡη/Ε2η這里，Τ2表示檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的所有電子元件的第二特性所需要的時(shí)間，Ε2表示檢查一個(gè)電子元件的第二特性所需要的時(shí)間，Tr2表示第二旋轉(zhuǎn)單元旋轉(zhuǎn)第二角度所需要的時(shí)間，Pn表示安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的電子元件的總數(shù)量，E2n表示能夠通過第二檢查單元410每次檢查的電子元件的數(shù)量。作為參考，第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件700、710、720、730、740和750可以是通
過第一檢查單元400完成了第一特性檢查的元件。在如上所述的操作中，可同時(shí)檢查電子元件的第一特性和第二特性，從而可快速地檢查電子元件的電特性。<位置改變>可執(zhí)行位置改變，以改變第二旋轉(zhuǎn)單元相對于檢查單元的位置。S卩，如圖2所示,在該操作中，第二旋轉(zhuǎn)單元200和210相對于檢查單元400和410的相對位置可通過使第一旋轉(zhuǎn)單元100旋轉(zhuǎn)而改變。當(dāng)?shù)谝粰z查單元400完成對第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件的第一特性檢查，第二檢查單元410完成對第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件的第二特性檢查時(shí)，第一旋轉(zhuǎn)單元100可旋轉(zhuǎn)第三角度(Θ3)。這里，第三角度(Θ3)可以是由第二旋轉(zhuǎn)單元200和210與第一旋轉(zhuǎn)軸102形成的角度。例如，在圖1中，第三角度(Θ 3)可以是180度。當(dāng)?shù)谝恍D(zhuǎn)單元100旋轉(zhuǎn)第三角度(θ 3)時(shí)，可改變第二旋轉(zhuǎn)單元200和210相對于檢查單元400和410的相對位置，從而可通過檢查單元400和410檢查新的電子元件的特性(見圖2)。〈排出和第二檢查〉可執(zhí)行排出和第二檢查，以排出一部分電子元件并檢查其他電子元件的其他特性。即，在該操作中，第二檢查單元410可檢查第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件，第二輸送頭(未示出)可排出第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件。由于第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件600、610、620、630、640和650是僅僅通過第一
檢查單元400完成了第一特性檢查的元件，所以接下來可通過第二檢查單元410執(zhí)行對這些電子元件的第二特性檢查。與電子元件600、610、620、630、640和650不同的是，第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件700、710、720、730、740和750可以全部是通過第一檢查單元400和第二檢查單元410完成了特性檢查的元件，從而在該操作中排出這些電子元件。完成了檢查的電子元件可通過電子元件排出單元510輸送到其他處理。另外，從檢查的電子元件中被確定為有缺陷的元件可通過單獨(dú)的輸送單元被去除。同時(shí)，當(dāng)電子元件700、710、720、730、740和750從第二旋轉(zhuǎn)單元210的安裝單元214排出時(shí)，新的電子元件可安裝在空的安裝單元214中。即，可同時(shí)執(zhí)行從安裝單元214排出電子元件及將電子元件供應(yīng)到安裝單元214。由于同時(shí)執(zhí)行如上所述的操作的電子元件檢查設(shè)備執(zhí)行電子元件的第一特性檢查和第二特性檢查，所以可顯著地減少電子元件的檢查時(shí)間。S卩，在本實(shí)施例中，電子元件的第一特性檢查和電子元件的第二特性檢查分別通過單獨(dú)的旋轉(zhuǎn)單元200和210執(zhí)行，從而可顯著地減少當(dāng)在單個(gè)線路中檢查不同的電特性時(shí)廣生的等待時(shí)間。
例如，當(dāng)在單個(gè)線路中執(zhí)行電子元件的第一特性檢查和電子元件的第二特性檢查時(shí)，可由第一特性檢查所需要的時(shí)間(例如，10秒)和第二特性檢查所需要的時(shí)間(例如，20秒)之間的差產(chǎn)生等待時(shí)間(30秒-20秒=10秒)。
另一方面，在本實(shí)施例中，通過第二旋轉(zhuǎn)單元200檢查六個(gè)電子元件的第一特性所需要的時(shí)間是60秒10 = 60)，通過另一個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元210檢查六個(gè)電子元件的第二特性所需要的時(shí)間是60秒^/2X20 = 60，見等式2)，從而基本上可以以連續(xù)的方式檢查六個(gè)電子元件的第一特性和第二特性，而不會(huì)產(chǎn)生等待時(shí)間。
在下文中，將參照圖3至圖9描述本發(fā)明的其他實(shí)施例。作為參考，在下面的實(shí)施例中，與第一實(shí)施例中的部件相同的部件可使用相同的標(biāo)號(hào)來指示，并且將省略對這些部件的詳細(xì)描述。
將參照圖3和圖4描述根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備。
根據(jù)第二實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10與根據(jù)第一實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10可以在第二旋轉(zhuǎn)單元的數(shù)量和檢查單元的數(shù)量方面存在不同之處。
在圖3中示出的電子元件檢查設(shè)備10可包括三個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元200、210和220以及三個(gè)檢查單元400、410和420，在圖4中示出的電子元件檢查設(shè)備10可包括四個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230以及四個(gè)檢查單元400、410、420和430。
第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230可包括多個(gè)電子元件。第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230中的每個(gè)可每隔第二時(shí)間間隔或第三時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)?？蛇x地，第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230中的每個(gè)可每隔相同的時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)，可每隔不同的時(shí)間間隔旋轉(zhuǎn)。
檢查單元400、410、420和430可檢查電子元件的第一特性或第二特性，或者除了這些特性之外的特性。例如,第一檢查單元400可檢查電子元件的第一特性(例如，電容)，其余檢查單元410、420和430可檢查電子元件的第二特性(例如，絕緣電阻)?？蛇x地，第一檢查單元400可檢查電子元件的第一特性，第二檢查單元410和第三檢查單元420可檢查電子元件的第二特性，第四檢查單元430可檢查電子元`件的第三特性。
在如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備10中，多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230可形成在第一旋轉(zhuǎn)單元100中，從而相對更加快速地檢查多個(gè)電子元件。
另外，如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備10包括多個(gè)檢查單元，從而同時(shí)檢查電子兀件的各種特性。
在下文中，將參照圖5描述根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備。
根據(jù)第三實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10與根據(jù)上述實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10可以在安裝單元的形狀方面存在不同之處。
S卩，如圖5所示，第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230可包括形成為多排的安裝單元204、214、224和234。具體地說，安裝單元204可基于作為中心的第二旋轉(zhuǎn)軸202沿著第二旋轉(zhuǎn)單元200的圓周設(shè)置，同時(shí)可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元200的徑向布置成多排，安裝單元214可基于作為中心的第二旋轉(zhuǎn)軸212沿著第二旋轉(zhuǎn)單元210的圓周設(shè)置，同時(shí)可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元210的徑向布置成多排，安裝單元224可基于作為中心的第二旋轉(zhuǎn)軸222沿著第二旋轉(zhuǎn)單元220的圓周設(shè)置，同時(shí)可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元220的徑向布置成多排，安裝單元234可基于作為中心的第二旋轉(zhuǎn)軸232沿著第二旋轉(zhuǎn)單元230的圓周設(shè)置，同時(shí)可沿著第二旋轉(zhuǎn)單元230的徑向布置成多排。在如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備10中，相對更大數(shù)量的電子元件可安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元200、210、220和230中，從而相對更大地提高電子元件的檢查速度。在下文中，將參照圖6描述根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備。根據(jù)第四實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10與根據(jù)上述實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10可以在檢查單元400、410和420的布置結(jié)構(gòu)方面存在不同之處。如圖6所示，電子元件檢查設(shè)備10還可包括第三旋轉(zhuǎn)單元300。第三旋轉(zhuǎn)單元300可結(jié)合到第一旋轉(zhuǎn)單元100。具體地說，第三旋轉(zhuǎn)單元300可與第一旋轉(zhuǎn)單元100的第一旋轉(zhuǎn)軸102結(jié)合。第三旋轉(zhuǎn)單元300可相對于第一旋轉(zhuǎn)單元100相對地旋轉(zhuǎn)。具體地說，當(dāng)?shù)谝恍D(zhuǎn)單元100旋轉(zhuǎn)時(shí)，第三旋轉(zhuǎn)單元300可以不旋轉(zhuǎn)，并可保持其所處的當(dāng)前位置。S卩，第三旋轉(zhuǎn)單元300可不與第一旋轉(zhuǎn)單元100 —起旋轉(zhuǎn)。檢查單元400、410和420可形成在第三旋轉(zhuǎn)單元300上。檢查單元400、410和420可設(shè)置在第三旋轉(zhuǎn)單元300中，以分別對應(yīng)于第一旋轉(zhuǎn)單元100的第二旋轉(zhuǎn)單元200、210 和 220。在如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備10中，檢查單元400、410和420可設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元100上，從而減小電子元件檢查設(shè)備10的總體尺寸。在下文中，將參照圖7至圖9描述根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備。根據(jù)第五實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10與根據(jù)上述實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10可以在第二檢查單元410方面存在不同之處。即，在電子元件檢查設(shè)備10中，第二檢查單元410可具有用于同時(shí)檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元210中的電子元件的特性的結(jié)構(gòu)。另外，第二檢查單元410可以是能夠檢查多種特性的裝置。第二檢查單元410可基于第二旋轉(zhuǎn)單元210，沿著如圖7所示的水平方向運(yùn)動(dòng)，或者沿著豎直方向(基于圖8的方向)運(yùn)動(dòng)。另外，如圖8所示，第二檢查單元410可包括多個(gè)端子412，以與多個(gè)電子元件連接。所述多個(gè)端子412可根據(jù)第二檢查單元410的豎直運(yùn)動(dòng)與第二旋轉(zhuǎn)單元210的電子元件連接。具有上述結(jié)構(gòu)的第二檢查單元410可與第二旋轉(zhuǎn)單元210的所有電子元件連接，從而同時(shí)檢查這些電子元件的電特性。因此，在本實(shí)施例中，第二旋轉(zhuǎn)單元210可以不旋轉(zhuǎn)，這與由標(biāo)號(hào)200指示的旋轉(zhuǎn)單元不同。在如上所述構(gòu)造的電子元件檢查設(shè)備10中，第二檢查單元410可以每次檢查第二旋轉(zhuǎn)單元210的所有電子元件，同時(shí)第一檢查單元400單獨(dú)地檢查第二旋轉(zhuǎn)單元200的電子元件，從而充分確保第二檢查單元410的檢查時(shí)間。因此，當(dāng)通過第二檢查單元410檢查需要相當(dāng)長的檢查時(shí)間的電子元件的特性時(shí)，本實(shí)施例可以起作用。同時(shí)，如圖9所示，根據(jù)第五實(shí)施例的電子元件檢查設(shè)備10還可包括第二旋轉(zhuǎn)單元220和檢查單元420。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，電子元件的第一特性(例如，電容)和電子元件的第二特性(例如，絕緣電阻)可在單個(gè)裝置中被檢查，從而顯著地減少電子元件的性能檢查所需要的時(shí)間。
雖然已經(jīng)結(jié)合實(shí)施例示出并描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將清楚的是，在不脫離由權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進(jìn)行修改和變型。
權(quán)利要求
1.一種電子兀件檢查設(shè)備,包括: 第一旋轉(zhuǎn)單元，能夠基于第一旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)； 多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元，基于第二旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中； 檢查單元，檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的電子元件的特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第二旋轉(zhuǎn)軸基于第一旋轉(zhuǎn)軸沿著第一旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第二旋轉(zhuǎn)單元包括多個(gè)安裝單元，電子元件安裝在所述多個(gè)安裝單元上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，所述多個(gè)安裝單元基于第二旋轉(zhuǎn)軸沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，所述多個(gè)安裝單元沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的徑向形成為多排。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，檢查單元包括第一檢查單元和第二檢查單元，第一檢查單元檢查電子元件的第一特性，第二檢查單元檢查電子元件的第二特性。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元測量電子元件的電容，第二檢查單元測量電子元件的絕緣電阻。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，至少有一個(gè)第一檢查單元，至少有兩個(gè)第二檢查單元。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元和第二檢查單元基于第一旋轉(zhuǎn)軸沿著第一旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元和第二檢查單元設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元的邊緣。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元和第二檢查單元被設(shè)置為對應(yīng)于第二旋轉(zhuǎn)單元。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子元件檢查設(shè)備，所述電子元件檢查設(shè)備還包括第三旋轉(zhuǎn)單元，第三旋轉(zhuǎn)單元設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元和第二檢查單元設(shè)置在第三旋轉(zhuǎn)單元上。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第三旋轉(zhuǎn)單元能夠相對于第一旋轉(zhuǎn)單元相對地旋轉(zhuǎn)。
15.—種電子元件檢查設(shè)備,包括: 第一旋轉(zhuǎn)單元，能夠基于第一旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)； 多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元，基于第二旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中，并包括多個(gè)安裝單元，多個(gè)電子元件安裝在所述多個(gè)安裝單元中； 第一檢查單元，檢查安裝在所述多個(gè)安裝單元中的多個(gè)電子元件的第一特性； 第二檢查單元，檢查安裝在所述多個(gè)安裝單元中的多個(gè)電子元件的第二特性。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第二檢查單元能夠沿著第二旋轉(zhuǎn)軸豎直地運(yùn)動(dòng)。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，第一檢查單元測量電子元件的電容，第二檢查單元測量電子元件的絕緣電阻。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電子元件檢查設(shè)備，所述電子元件檢查設(shè)備還包括: 供應(yīng)單元，將待檢查的電子元件供應(yīng)到第二旋轉(zhuǎn)單元； 排出單元，將完成了檢查的電子元件從第二旋轉(zhuǎn)單元排出。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，安裝單元基于第二旋轉(zhuǎn)軸沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的圓周設(shè)置。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的電子元件檢查設(shè)備，其中，安裝單元沿著第二旋轉(zhuǎn)單元的徑向形成為多排。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子元件檢查設(shè)備。該電子元件檢查設(shè)備包括第一旋轉(zhuǎn)單元，能夠基于第一旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)；多個(gè)第二旋轉(zhuǎn)單元，基于第二旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在第一旋轉(zhuǎn)單元中；檢查單元，檢查安裝在第二旋轉(zhuǎn)單元中的電子元件的特性。
文檔編號(hào)G01R27/02GK103163385SQ20121027203
公開日2013年6月19日 申請日期2012年8月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月19日
發(fā)明者申正浩, 李海萬, 申翊鉉 申請人:三星電機(jī)株式會(huì)社