專利名稱：低損耗電阻測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子儀表技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種低損耗電阻測試裝置。
背景技術(shù)：
電阻是電子、電器領(lǐng)域最為常見的電子元件。由于其使用量極大，而且使用部位較為集中，所以使用時極易混淆。因此，為了能夠直觀的體現(xiàn)電阻的阻值，多通過在電阻表面設(shè)置標(biāo)識環(huán)的方式。這樣的方式雖然較為通用，但是在實際生產(chǎn)線中，操作者持久觀察時易于出錯，且對于色弱或色盲人群而言，極具障礙，從而通用性較差。當(dāng)然，也可以通過電阻表進(jìn)行逐個測試的方式，但是這樣的測試方式需要將電阻的接腳和電阻表端子連接的測試棒分別連接，較為浪費時間。為此，本發(fā)明人發(fā)明了一種電阻測試裝置，該電阻測試裝置包括基座板，基座板上 設(shè)有電阻表和左銅帶、右銅帶。其中，電阻表的2個端子分別連接左銅帶和右銅帶，且左銅帶和右銅帶呈“八”字型分布。使用時，僅需使用者將電阻兩端的接腳分別壓緊在左銅帶和右銅帶上，電阻表即可顯示該電阻的阻值。這樣，該電阻測試裝置通用性較強、測試速度較快。但是在實際使用中發(fā)現(xiàn)，該電阻測試裝置存在著電阻的接腳易于壓斷的缺陷。因此有必要繼續(xù)改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種低損耗電阻測試裝置，它具有在保證快速檢測電阻阻值的前提下，電阻的接腳不易折斷，從而電阻的損耗率較低的特點。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是低損耗電阻測試裝置，用于快速檢測電阻的阻值，且該電阻兩端分別設(shè)有接腳，該低損耗電阻測試裝置包括基座板，基座板上設(shè)有電阻表和左銅帶、右銅帶，其中，電阻表的2個端子分別連接左銅帶和右銅帶，且左銅帶和右銅帶呈“八”字型分布，所述左銅帶和右銅帶之間設(shè)有滑塊，滑塊上設(shè)有容納槽，容納槽的兩端設(shè)有保護(hù)槽，其中，電阻放置于容納槽內(nèi)，且2個接腳分別和2個保護(hù)槽相配。所述2個保護(hù)槽的寬度均為1mm。所述基座板上位于左銅帶和右銅帶之間設(shè)有滑槽，該滑槽和滑塊相配。所述左銅帶和右銅帶均為一端固定在基座板上、另一端呈自由狀態(tài)。采用上述結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明和現(xiàn)有技術(shù)相比所具有的優(yōu)點是1、檢測電阻阻值速度較快。本發(fā)明的低損耗電阻測試裝置對電阻阻值進(jìn)行檢測時，通過電阻表顯示阻值，易于查看。同時，無需將電阻的接腳和電阻表端子連接的測試棒進(jìn)行分別連接，僅需將電阻的2個接腳接觸到左銅帶和右銅帶，從而速度較快。2、電阻的損耗率較低。使用時，電阻放置于容納槽內(nèi)，電阻的接腳從容納槽兩端的保護(hù)槽內(nèi)穿出。由于保護(hù)槽的寬度較小，從而接腳和銅帶接觸時，彎折的撓度較小，從而接腳不易折斷，使電阻在測試時的損耗率較低。


下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明
圖I是本發(fā)明的實施例的主視 圖2是圖I的放大了的A— A向視圖。圖中10、基座板，11、滑槽；20、電阻表；31、左銅帶，32、右銅帶；40、滑塊，41、容納槽，411、保護(hù)槽；100、電阻，101、接腳。
具體實施例方式以下所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并不因此而限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。

實施例，見圖I和圖2所示低損耗電阻測試裝置，用于快速檢測電阻100的阻值，且該電阻100兩端分別設(shè)有接腳101。該低損耗電阻測試裝置包括基座板10，基座板10上設(shè)有電阻表20和左銅帶31、右銅帶32。其中，電阻表20的2個端子分別連接左銅帶31和右銅帶32，且左銅帶31和右銅帶32呈“八”字型分布。這樣，僅需使接腳101分別接觸左銅帶31、右銅帶32，即可從電阻表20上快速讀出阻值。為此，左銅帶31和右銅帶32之間設(shè)有滑塊40，滑塊40上設(shè)有容納槽41，容納槽41的兩端設(shè)有保護(hù)槽411。其中，電阻100放置于容納槽41內(nèi)，且2個接腳101分別和2個保護(hù)槽411相配。所謂相配，指的是保護(hù)槽411在保證接腳101能夠快速放入的前提下，寬度較窄。比如，該保護(hù)槽411的寬度可以為1mm。這樣，電阻100快速放好后，2個接腳101的端部裸露在滑塊40的兩側(cè)之外，之后通過推動滑塊40，使接腳101分別接觸左銅帶31和右銅帶32。在該過程中，由于接腳101在保護(hù)槽411的限制下，彎曲撓度較小，從而不易折斷。優(yōu)化的，基座板10上位于左銅帶31和右銅帶32之間設(shè)有滑槽11，該滑槽11和滑塊40相配。即，滑塊40沿該滑槽11移動。進(jìn)一步，左銅帶31和右銅帶32均為一端固定在基座板10上、另一端呈自由狀態(tài)。這樣，進(jìn)一步發(fā)揮了左銅帶31和右銅帶32的彈性,避免了接腳101和左銅帶31、右銅帶32的硬性接觸。電阻表目前已廣泛使用，其結(jié)構(gòu)和原理與現(xiàn)有技術(shù)相同，這里不再贅述。
權(quán)利要求
1.低損耗電阻測試裝置，用于快速檢測電阻(100)的阻值，且該電阻(100)兩端分別設(shè)有接腳(101)，該低損耗電阻測試裝置包括基座板(10)，基座板(10)上設(shè)有電阻表(20)和左銅帶(31)、右銅帶(32 )，其中，電阻表(20 )的2個端子分別連接左銅帶(31)和右銅帶(32)，且左銅帶(31)和右銅帶(32)呈“八”字型分布，其特征在于所述左銅帶(31)和右銅帶(32 )之間設(shè)有滑塊(40 )，滑塊(40 )上設(shè)有容納槽(41)，容納槽(41)的兩端設(shè)有保護(hù)槽(411)，其中，電阻(100)放置于容納槽(41)內(nèi)，且2個接腳(101)分別和2個保護(hù)槽(411)相配。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于所述2個保護(hù)槽(411)的寬度均為1mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于所述基座板(10)上位于左銅帶(31)和右銅帶(32)之間設(shè)有滑槽(11)，該滑槽(11)和滑塊(40)相配。
4.根據(jù)權(quán)利要求I至3中任一項所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于所述左銅帶(31)和右銅帶(32)均為一端固定在基座板(10)上、另一端呈自由狀態(tài)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種低損耗電阻測試裝置，用于快速檢測電阻的阻值，且該電阻兩端分別設(shè)有接腳，該低損耗電阻測試裝置包括基座板，基座板上設(shè)有電阻表和左銅帶、右銅帶，其中，電阻表的2個端子分別連接左銅帶和右銅帶，且左銅帶和右銅帶呈“八”字型分布，所述左銅帶和右銅帶之間設(shè)有滑塊，滑塊上設(shè)有容納槽，容納槽的兩端設(shè)有保護(hù)槽，其中，電阻放置于容納槽內(nèi)，且2個接腳分別和2個保護(hù)槽相配。本發(fā)明所具有的優(yōu)點是檢測電阻阻值速度較快、電阻的損耗率較低。
文檔編號G01R27/02GK102809694SQ20121027191
公開日2012年12月5日 申請日期2012年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月2日
發(fā)明者阮獻(xiàn)忠 申請人:泰州市雙宇電子有限公司