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發(fā)射系數(shù)測量儀的制作方法

文檔序號:5921648閱讀:259來源:國知局
專利名稱:發(fā)射系數(shù)測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及測量溫度的計量器具領(lǐng)域,尤其涉及一種能準(zhǔn)確快速測量發(fā)射系數(shù)的發(fā)射系數(shù)測量儀。
背景技術(shù)
高于絕對零度的物體,都會向其所在環(huán)境輻射紅外。這種因物體自身溫度而向外發(fā)射能量稱為熱輻射。熱輻射的強(qiáng)度及光譜成分與輻射體的溫度有很大的關(guān)系,所以熱輻射也被稱為溫度輻射。熱輻射的規(guī)律是自然界普遍規(guī)律之一,它是紅外物理及其應(yīng)用領(lǐng)域中理論研究和技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)。熱輻射與其它形式的輻射不同。對于一個孤立的系統(tǒng),熱輻射形式的能量交換能達(dá)到熱平衡,而對于其他輻射,如電致發(fā)光,光致發(fā)電,化學(xué)發(fā)光等, 它們的輻射都不是平衡的。在熱平衡條件下,所有物體在給定溫度下,對某一波長來說,物體的發(fā)射本領(lǐng)和吸收本領(lǐng)的比值與物體自身的性質(zhì)無系,它對于一切物體都是恒量。即輻射出度Μ(λ,Τ)和吸收比α (λ,Τ)兩者因物體不同都改變很大。但Μ(λ,Τ)/α ( λ,Τ)對所有物體來說,都是波長和溫度的普適函數(shù)。這就是基爾霍夫定律。由該定律推導(dǎo)得知,物體的輻射只依賴于輻射波長和溫度,與構(gòu)成物體的材料無關(guān)。然而,實際物體的輻射,除依賴于波長和溫度外,還與構(gòu)成物體的材料性質(zhì)有關(guān)。為此, 需要引入一個與材料性質(zhì)有關(guān)的物理量,即發(fā)射率。發(fā)射率就是實際物體與同等溫度黑體在相同條件下的輻射能通量之比。所謂相同條件是指相同的幾何條件(發(fā)射輻射的面積,測量輻射功率的立體角和方向)和光譜條件 (測量輻射通量的光譜范圍)。那么,為什么要研究或者測量物體的發(fā)射率呢?衣物的材料的發(fā)射率,關(guān)系到衣物的保溫性能。航天航空器殼體材料的發(fā)射率特性對其飛行安全非常重要,例如發(fā)射率小的材料,可以起到很好的隱形作用。發(fā)射率高的材料,可以很容易的操控等等。物體發(fā)射率特性的掌握和研究,和我們的生產(chǎn)生活有密切的聯(lián)系。以上都是關(guān)于發(fā)射率引出的原理及目的。為此,本實用新型的設(shè)計者通過潛心研究和設(shè)計,綜合長期多年從事相關(guān)產(chǎn)業(yè)的經(jīng)驗和成果,研究設(shè)計出一種發(fā)射系數(shù)測量儀,其能對物體的發(fā)射系數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確而快速的測量。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種發(fā)射系數(shù)測量儀,其結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,其能對物體的發(fā)射系數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確而快速的測量,且在測量中,保證了條件的相同,提高了測量的精度和效率。為實現(xiàn)上述目的,本實用新型公開了一種發(fā)射系數(shù)測量儀,該發(fā)射系數(shù)測量儀包含真空罩、光學(xué)系統(tǒng)、輻射測量系統(tǒng)和黑體爐裝置;真空罩18為矩形真空罩體,其內(nèi)設(shè)有光學(xué)系統(tǒng)和黑體爐裝置,其特征在于該黑體爐裝置包含黑體腔9、鎖緊法蘭11、感應(yīng)圈16和外殼17,黑體腔9兩端具有相互隔開的開口,其左端的開口為黑體輻射開口,其右端的開口為試樣輻射開口,該試樣輻射開口設(shè)有試樣凹槽以放置待測試10,在試樣凹槽外側(cè)設(shè)有內(nèi)螺紋,一鎖緊法蘭11位于該試樣輻射開口且具有與該內(nèi)螺紋嚙合的外螺紋以將待測試樣10固定于試樣凹槽內(nèi),感應(yīng)圈16均勻的螺旋圍繞該黑體腔9的外圍,該感應(yīng)圈(16)的兩端分別為A電極19和B電極 20 ;該光學(xué)系統(tǒng)包含第一反射鏡1、第二反射鏡2、中間反射鏡3、第三反射鏡4、第四反射鏡5、測量窗口 6和伺服電機(jī)7 ;該第一反射鏡1位于黑體輻射開口外側(cè)以將黑體輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第三反射鏡3位于該第一反射鏡1的下側(cè)以將從第一反射鏡1的反射紅外線朝中間反射鏡3反射;該第二反射鏡2位于試樣輻射開口外側(cè)以將試樣輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第四反射鏡5位于該第二反射鏡2的下側(cè)以將從第二反射鏡2的反射紅外線朝中間反射鏡3反射;該中間反射鏡3設(shè)置于第二反射鏡3和第四反射鏡5的中間位置以將第二反射鏡3和第四反射鏡5的反射紅外線朝設(shè)置于真空罩18 上的測量窗口 6反射;伺服電機(jī)7設(shè)置于該中間反射鏡6上以控制其轉(zhuǎn)動。其中輻射測量系統(tǒng)設(shè)置于真空罩18的外側(cè),其包含單色儀21、輻射出度測量儀 22、信號處理系統(tǒng)23和輸出顯示裝置M ;該單色儀21設(shè)置于上述測量窗口 6的外側(cè),輻射出度測量儀22連接于該單色儀21,信號處理系統(tǒng)23連接該輻射出度測量儀22,輸出顯示裝置M連接于該信號處理裝置23。其中在黑體腔9和感應(yīng)圈16之間還具有石墨套管14和保溫層15,石墨套管14 設(shè)置于黑體腔9的外圍且兩端伸出黑體腔9,該石墨套管14的兩端分別設(shè)置有第一水冷法蘭12和第二水冷法蘭13,保溫層15設(shè)置于該石墨套管14的外層。其中在感應(yīng)圈16外設(shè)置有該外殼17,該外殼17固定于真空罩18內(nèi)。其中還包含控制系統(tǒng),該控制系統(tǒng)包含主控系統(tǒng)25、真空系統(tǒng)沈、真空度檢測系統(tǒng)27、水壓檢測系統(tǒng)^、PID控制器四、溫度測量系統(tǒng)30、冷卻水泵31、IGBT驅(qū)動電路32、 高頻電源33、頻率檢測系統(tǒng)34、電壓檢測系統(tǒng)35、電流檢測系統(tǒng)36以及固定于黑體腔內(nèi)的熱電偶8,其中,冷卻水泵31與第一水冷法蘭12和第二水冷法蘭13連通,高頻電源33與A 電極19和B電極20連接,真空系統(tǒng)沈與真空罩18連接以提供其內(nèi)的真空,真空度檢測系統(tǒng)27與真空罩18內(nèi)的真空傳感器連接,溫度測量系統(tǒng)30與該熱電偶8連接。其中主控系統(tǒng)25與真空系統(tǒng)沈、水壓檢測系統(tǒng)28以及PID控制器四連接,該真空系統(tǒng)沈與真空度檢測系統(tǒng)27連接,該水壓檢測系統(tǒng)28與冷卻水泵31連接,該PID控制器四與溫度測量系統(tǒng)30和IGBT驅(qū)動電路32連接,該IGBT驅(qū)動電路32與高頻電源33、 頻率檢測系統(tǒng)34、電壓檢測系統(tǒng)35和電流檢測系統(tǒng)36連接。通過上述結(jié)構(gòu),本實用新型能實現(xiàn)以下技術(shù)效果1、結(jié)構(gòu)簡單,操作方便;2、熱試樣置于黑體腔體材料中,并在相同加熱條件下,確保黑體和試樣處于相同的環(huán)境;3、系統(tǒng)采用的電磁加熱技術(shù),及感應(yīng)線圈的繞組,加熱均勻;4、黑體輻射出度和待測物體輻射出度由同一凹鏡分時反射,消除了由光學(xué)器件離散性引起的測量誤差,提高了精確度。本實用新型的詳細(xì)內(nèi)容可通過后述的說明及所附圖而得到。
圖1顯示了本實用新型的發(fā)射系數(shù)測量儀的示意圖。圖2顯示了本實用新型的電氣結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記含義如下1、第一發(fā)射鏡;2、第二反射鏡;3、中間反射鏡;4、第三反射鏡;5、第四反射鏡;6、 測量窗口 ;7、伺服電機(jī);8、熱電偶(鎢-錸熱電偶);9、黑體腔;10、待測試樣;11、鎖緊法蘭;12、第一水冷法蘭;13、第二水冷法蘭;14、石墨套管;15、保溫層;16、感應(yīng)圈;17、外殼; 18、真空罩;19、A電極;20、B電極;21、單色儀;22、輻射出度測量儀;23、信號處理系統(tǒng);24、 輸出顯示裝置;25、主控系統(tǒng);26、真空系統(tǒng);27、真空度檢測系統(tǒng);28、水壓檢測系統(tǒng);29、 PID控制器;30、溫度測量系統(tǒng);31、冷卻水泵;32、IGBT驅(qū)動電路;33、高頻電源;34、頻率檢測系統(tǒng);35、電壓檢測系統(tǒng);36、電流檢測系統(tǒng)。
具體實施方式
參見圖1,顯示了本實用新型的發(fā)射系數(shù)測量儀的示意圖,該發(fā)射系數(shù)測量儀包含真空罩、光學(xué)系統(tǒng)、輻射測量系統(tǒng)、黑體爐裝置以及控制系統(tǒng);真空罩18為矩形真空罩體, 其內(nèi)設(shè)有光學(xué)系統(tǒng)和黑體爐裝置。其中,該黑體爐裝置至少包含黑體腔9、鎖緊法蘭11、感應(yīng)圈16和外殼17,黑體腔 9兩端具有相互隔開的開口,其左端的開口為黑體輻射開口,其右端的開口為試樣輻射開口,該試樣輻射開口設(shè)有試樣凹槽以放置待測試樣10,在試樣凹槽外側(cè)設(shè)有內(nèi)螺紋,一鎖緊法蘭11位于該試樣輻射開口,其上具有與該內(nèi)螺紋嚙合的外螺紋以將待測試樣10固定于試樣凹槽內(nèi),感應(yīng)圈16為均勻的螺旋圍繞該黑體腔9的外圍,該感應(yīng)圈16的兩端分別為A 電極19禾口 B電極20。其中,該光學(xué)系統(tǒng)包含第一反射鏡1、第二反射鏡2、中間反射鏡3、第三反射鏡4、 第四反射鏡5、測量窗口 6和伺服電機(jī)7 ;該第一反射鏡1和第三反射鏡4組成黑體輻射反射系統(tǒng),該第一反射鏡1位于黑體輻射開口外側(cè)以將黑體輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第三反射鏡3位于該第一反射鏡1的下側(cè)以將從第一反射鏡1的反射紅外線朝中間反射鏡3反射;該第二反射鏡2和第四反射鏡5組成試樣輻射反射系統(tǒng),該第二反射鏡2位于試樣輻射開口外側(cè)以將試樣輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第四反射鏡5位于該第二反射鏡2的下側(cè)以將從第二反射鏡2的反射紅外線朝中間反射鏡3反射;該中間反射鏡3設(shè)置于第二反射鏡3和第四反射鏡5的中間位置以將第二反射鏡3和第四反射鏡5的反射紅外線朝設(shè)置于真空罩18上的測量窗口 6反射;伺服電機(jī)7設(shè)置于該中間反射鏡6上以控制其轉(zhuǎn)動。優(yōu)選的是,在黑體腔9和感應(yīng)圈16之間還具有石墨套管14和保溫層15,石墨套管 14設(shè)置于黑體腔9的外圍且兩端伸出黑體腔9,該石墨套管14的兩端分別設(shè)置有第一水冷法蘭12和第二水冷法蘭13,該第一水冷法蘭12和第二水冷法蘭13上具有與該石墨套管 14上的內(nèi)螺紋嚙合的外螺紋,保溫層15設(shè)置于該石墨套管14的外層以提供保溫效果。[0031]優(yōu)選的是,在感應(yīng)圈16外設(shè)置有外殼17,該外殼17固定于真空罩18內(nèi)以將黑體
爐裝置固定于真空罩上。其中,輻射測量系統(tǒng)設(shè)置于真空罩18的外側(cè),其包含單色儀21、輻射出度測量儀 22、信號處理系統(tǒng)23和輸出顯示裝置M ;該單色儀21設(shè)置于上述測量窗口 6的外側(cè)以接收該中間反射鏡3反射的紅外線,輻射出度測量儀22連接于該單色儀21以得到輻射度,信號處理系統(tǒng)23連接該輻射出度測量儀22已進(jìn)行信號處理,輸出顯示裝置M連接于該信號處理裝置23以進(jìn)行信號和輻射度的輸出和顯示。其中,控制系統(tǒng)包含主控系統(tǒng)25、真空系統(tǒng)沈、真空度檢測系統(tǒng)27、水壓檢測系統(tǒng) 28、PID控制器四、溫度測量系統(tǒng)30、冷卻水泵31、IGBT驅(qū)動電路32、高頻電源33、頻率檢測系統(tǒng)34、電壓檢測系統(tǒng)35、電流檢測系統(tǒng)36以及固定于黑體腔內(nèi)的熱電偶8,其中,冷卻水泵31與第一水冷法蘭12和第二水冷法蘭13連通以提供水冷循環(huán),高頻電源33與A電極19和B電極20連接以為感應(yīng)圈16提供高頻電,真空系統(tǒng)沈與真空罩18連接以提供其內(nèi)的真空,真空度檢測系統(tǒng)27與真空罩18內(nèi)的真空傳感器(未示出)連接以測量真空罩 18內(nèi)的真空度,溫度測量系統(tǒng)30與該熱電偶8連接以測量黑體腔內(nèi)的溫度并提供溫度信號;其中,主控系統(tǒng)25與真空系統(tǒng)沈、水壓檢測系統(tǒng)觀以及PID控制器四連接,該真空系統(tǒng)沈與真空度檢測系統(tǒng)27連接,該水壓檢測系統(tǒng)28與冷卻水泵31連接,該PID控制器四與溫度測量系統(tǒng)30和IGBT驅(qū)動電路32連接,該IGBT驅(qū)動電路32與高頻電源33、頻率檢測系統(tǒng)34、電壓檢測系統(tǒng)35和電流檢測系統(tǒng)36連接。本實用新型的發(fā)射系數(shù)測量儀是用于測量物體發(fā)射率特性參數(shù)的儀器。由于物體的輻射特性會隨物體溫度變化發(fā)生變化,所以該設(shè)備可以用于測量各種溫度,優(yōu)選 300-2500°C,的環(huán)境下,物體的發(fā)射率。其中,整個系統(tǒng)工作在一個密封的真空環(huán)境中,這樣不僅可以克服待測試樣在高溫環(huán)境中的氧化問題,也可以確保黑體腔在穩(wěn)定的環(huán)境中工作;儀器使用之前,將待測試樣 10安裝到如圖所示的位置,并用鎖緊法蘭11緊固在黑體腔9上;水冷法蘭12、13確保黑體輻射和待測試樣輻射具有相同的條件;單色儀保證黑體輻射和待測試樣輻射相同的光譜條件,溫度測量及控制系統(tǒng)保證了黑體輻射和待測試樣相同的溫度條件?;谏厦娴拿枋?,當(dāng)儀器在某個溫度(T),啟動伺服電機(jī)7,使中間反光鏡3成 90度角轉(zhuǎn)動,當(dāng)反光鏡的凹面向A'時輻射出度測量儀測得溫度T時黑體的輻射出度 MA' (λ,T),當(dāng)反光鏡凹面向B'時輻射出度測量儀測得溫度T時待測試樣的的輻射出度 MB' (λ,Τ)。通過信號處理系統(tǒng)。計算出溫度Τ,波長λ時,待測試樣的發(fā)射率ε。
系統(tǒng)中發(fā)射率的計算公式
權(quán)利要求1.一種發(fā)射系數(shù)測量儀,該發(fā)射系數(shù)測量儀包含真空罩、光學(xué)系統(tǒng)、輻射測量系統(tǒng)和黑體爐裝置;真空罩(18)為矩形真空罩體,其內(nèi)設(shè)有光學(xué)系統(tǒng)和黑體爐裝置,其特征在于該黑體爐裝置包含黑體腔(9)、鎖緊法蘭(11)、感應(yīng)圈(16)和外殼(17),黑體腔(9)兩端具有相互隔開的開口,其左端的開口為黑體輻射開口,其右端的開口為試樣輻射開口,該試樣輻射開口設(shè)有試樣凹槽以放置待測試(10),在試樣凹槽外側(cè)設(shè)有內(nèi)螺紋,一鎖緊法蘭 (11)位于該試樣輻射開口且具有與該內(nèi)螺紋嚙合的外螺紋以將待測試樣(10)固定于試樣凹槽內(nèi),感應(yīng)圈(16)均勻的螺旋圍繞該黑體腔(9)的外圍,該感應(yīng)圈(16)的兩端分別為A 電極(19)和B電極(20);該光學(xué)系統(tǒng)包含第一反射鏡(1)、第二反射鏡O)、中間反射鏡(3)、第三反射鏡(4)、第四反射鏡(5)、測量窗口(6)和伺服電機(jī)(7);該第一反射鏡(1)位于黑體輻射開口外側(cè)以將黑體輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第三反射鏡(3)位于該第一反射鏡(1)的下側(cè)以將從第一反射鏡(1)的反射紅外線朝中間反射鏡(3)反射;該第二反射鏡(2)位于試樣輻射開口外側(cè)以將試樣輻射開口的射出紅外線朝下方反射,該第四反射鏡(5)位于該第二反射鏡O)的下側(cè)以將從第二反射鏡O)的反射紅外線朝中間反射鏡(3)反射;該中間反射鏡(3)設(shè)置于第二反射鏡(3)和第四反射鏡(5)的中間位置以將第二反射鏡(3)和第四反射鏡(5)的反射紅外線朝設(shè)置于真空罩(18)上的測量窗口(6)反射;伺服電機(jī)(7)設(shè)置于該中間反射鏡(6)上以控制其轉(zhuǎn)動。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)射系數(shù)測量儀,其特征在于輻射測量系統(tǒng)設(shè)置于真空罩(18)的外側(cè),其包含單色儀(21)、輻射出度測量儀(22)、信號處理系統(tǒng)和輸出顯示裝置04);該單色儀設(shè)置于上述測量窗口(6)的外側(cè),輻射出度測量儀0 連接于該單色儀(21),信號處理系統(tǒng)連接該輻射出度測量儀(22),輸出顯示裝置04)連接于該信號處理裝置03)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的發(fā)射系數(shù)測量儀,其特征在于在黑體腔(9)和感應(yīng)圈(16) 之間還具有石墨套管(14)和保溫層(15),石墨套管(14)設(shè)置于黑體腔(9)的外圍且兩端伸出黑體腔(9),該石墨套管(14)的兩端分別設(shè)置有第一水冷法蘭(1 和第二水冷法蘭 (13),保溫層(15)設(shè)置于該石墨套管(14)的外層。
4.如權(quán)利要求1或2所述的發(fā)射系數(shù)測量儀,其特征在于在感應(yīng)圈(16)外設(shè)置有該外殼(17),該外殼(17)固定于真空罩(18)內(nèi)。
5.如權(quán)利要求3所述的發(fā)射系數(shù)測量儀,其特征在于還包含控制系統(tǒng),該控制系統(tǒng)包含主控系統(tǒng)(25)、真空系統(tǒng)( )、真空度檢測系統(tǒng)(27)、水壓檢測系統(tǒng)Q8)、PID控制器 (四)、溫度測量系統(tǒng)(30)、冷卻水泵(31)、IGBT驅(qū)動電路(32)、高頻電源(33)、頻率檢測系統(tǒng)(34)、電壓檢測系統(tǒng)(35)、電流檢測系統(tǒng)(36)以及固定于黑體腔內(nèi)的熱電偶(8),其中, 冷卻水泵(31)與第一水冷法蘭(1 和第二水冷法蘭(1 連通,高頻電源(3 與A電極(19)和B電極OO)連接,真空系統(tǒng)06)與真空罩(18)連接以提供其內(nèi)的真空,真空度檢測系統(tǒng)(XT)與真空罩(18)內(nèi)的真空傳感器連接,溫度測量系統(tǒng)(30)與該熱電偶(8)連接。
6 如權(quán)利要求5所述的發(fā)射系數(shù)測量儀,其特征在于主控系統(tǒng)05)與真空系統(tǒng) (沈)、水壓檢測系統(tǒng)08)以及PID控制器09)連接,該真空系統(tǒng)06)與真空度檢測系統(tǒng) (27)連接,該水壓檢測系統(tǒng)08)與冷卻水泵(31)連接,該PID控制器09)與溫度測量系統(tǒng)(30)和IGBT驅(qū)動電路(3 連接,該IGBT驅(qū)動電路(3 與高頻電源(33)、頻率檢測系統(tǒng)(34)、電壓檢測系統(tǒng)(35)和電流檢測系統(tǒng)(36)連接。
專利摘要本實用新型涉及一種發(fā)射系數(shù)測量儀,該發(fā)射系數(shù)測量儀包含真空罩、光學(xué)系統(tǒng)、輻射測量系統(tǒng)和黑體爐裝置;真空罩(18)為矩形真空罩體,其內(nèi)設(shè)有光學(xué)系統(tǒng)和黑體爐裝置,該測量儀結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,其能對物體的發(fā)射系數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確而快速的測量,且在測量中,保證了條件的相同,提高了測量的精度和效率。
文檔編號G01N25/20GK202196029SQ20112029650
公開日2012年4月18日 申請日期2011年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月16日
發(fā)明者王???申請人:武漢迪凱光電科技有限公司
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