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一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x的制作方法

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一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)測(cè)試裝置,特別是一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x。
【背景技術(shù)】
[0002]光學(xué)系統(tǒng)成像時(shí),在像面上除了按正常光路成像外,尚有一些非成像光線落在像面上,這些影響成像質(zhì)量的有害光稱為雜散光,簡(jiǎn)稱雜光,雜光(Veiling glare)是由進(jìn)入光學(xué)或電子光學(xué)系統(tǒng)的部分輻射所引起的在該系統(tǒng)像面上的有害光照度,此輻射可以來(lái)自該系統(tǒng)視場(chǎng)的外部或內(nèi)部,雜光產(chǎn)生的原因主要有3個(gè):光學(xué)系統(tǒng)視場(chǎng)外部福射、光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部輻射以及成像光線的散射。
[0003]雜光對(duì)光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)的影響很大,由于光學(xué)系統(tǒng)中光學(xué)元件、機(jī)械部件等對(duì)光的反射、散射和衍射造成非成像光線在像面上擴(kuò)散的現(xiàn)象,使得系統(tǒng)的成像清晰度變差、對(duì)比度降低。光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)在整個(gè)空間頻率范圍內(nèi)將隨著雜光系數(shù)的增大而降低。因此,雜光系數(shù)是反映光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要指標(biāo),雜光檢測(cè)是光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量檢測(cè)的重要指標(biāo)之一,而現(xiàn)有的雜光檢測(cè)設(shè)備的不足之處在于:雜散輻射在像面所產(chǎn)生的輻照度很低,雜光系數(shù)測(cè)量精度較差;另外,在被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的入瞳處輻射照度均勻度較差。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的發(fā)明目的在于:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,提供一種測(cè)量精度好的紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,尤其體現(xiàn)在輻射照度高、輻射照度均勻度好,穩(wěn)定準(zhǔn)直的入射輻照度場(chǎng),排除了非制冷情況下環(huán)境雜散輻射帶來(lái)的影響,可以絕對(duì)測(cè)量入射輻照度,像面輻照度,進(jìn)而計(jì)算出雜光指數(shù)PST。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:
[0006]一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,包括激光光源和被測(cè)鏡頭,沿所述激光光源的光路依次設(shè)置有斬波器、濾波器,所述被測(cè)鏡頭的前端設(shè)置有電校準(zhǔn)輻射計(jì),所述被測(cè)鏡頭的后端設(shè)置有輻射照度計(jì),所述輻射照度計(jì)的輸出端連接鎖相放大器的輸入端,所述鎖相放大器的輸出端連接計(jì)算機(jī)的信號(hào)輸入端,所述電校準(zhǔn)輻射計(jì)的輸出端連接計(jì)算機(jī)的另一信號(hào)輸入端。
[0007]優(yōu)選的,所述濾波器與電校準(zhǔn)輻射計(jì)之間依次設(shè)置有轉(zhuǎn)折鏡、擴(kuò)束鏡組和準(zhǔn)直鏡。
[0008]綜上所述,由于采用了上述技術(shù)方案,本實(shí)用新型的有益效果是:輻射照度高、輻射照度均勻度好,穩(wěn)定準(zhǔn)直的入射輻照度場(chǎng),排除了非制冷情況下環(huán)境雜散輻射帶來(lái)的影響,可以絕對(duì)測(cè)量入射輻照度,像面輻照度,進(jìn)而計(jì)算出雜光指數(shù)PST。
【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中標(biāo)記:激光光源一I ;被測(cè)鏡頭一2 ;斬波器一3 ;濾波器一4 ;電校準(zhǔn)輻射計(jì)一5 ;福射照度計(jì)一6 ;鎖相放大器一7 ;計(jì)算機(jī)一8 ;轉(zhuǎn)折鏡一9 ;擴(kuò)束鏡組一10 ;準(zhǔn)直鏡一Il0
【具體實(shí)施方式】
[0011 ] 下面結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)的說(shuō)明。
[0012]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。
[0013]如圖1所示,本實(shí)施例紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,包括激光光源I和被測(cè)鏡頭2,本實(shí)施例中,激光光源I為CO2激光器,本實(shí)施例中,為提高激光穩(wěn)定性,激光光源I連接有激光冷水機(jī)一臺(tái),為了調(diào)試和監(jiān)測(cè)激光,激光光源I連接有激光功率計(jì),沿激光光源I的光路依次設(shè)置有斬波器3、濾波器4,為了在被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的入瞳處得到較均勻的輻射照度,并且去掉激光束邊緣對(duì)激光模式的影響,在光路中設(shè)置濾波器4,考慮激光能量的利用率和擴(kuò)束器制作的可行性,濾波器4的通光孔徑釆用1.5mm,以截取高斯分布曲線峰值頂尖部分,確保激光輸出為TMjt,以消除激光束截面位置繞入瞳的軸向擾動(dòng),被測(cè)鏡頭2的前端設(shè)置有電校準(zhǔn)輻射計(jì)5,被測(cè)鏡頭2的后端設(shè)置有輻射照度計(jì)6,輻射照度計(jì)6的輸出端連接鎖相放大器7的輸入端,鎖相放大器7的輸出端連接計(jì)算機(jī)8的信號(hào)輸入端,電校準(zhǔn)輻射計(jì)5的輸出端連接計(jì)算機(jī)8的另一信號(hào)輸入端,濾波器4與電校準(zhǔn)輻射計(jì)5之間依次設(shè)置有轉(zhuǎn)折鏡9、擴(kuò)束鏡組10和準(zhǔn)直鏡11,其功能是將激光先擴(kuò)束,然后準(zhǔn)直,形成光斑直徑大于被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)口徑的激光準(zhǔn)直光束,本實(shí)施例中,擴(kuò)束鏡組10釆用非球面反射鏡。為防止表面被激光束損傷,材料用耐高溫鑭系玻璃,表面鍍金,反射率> 0.95,本實(shí)施例中,為調(diào)試光路,并在可見(jiàn)區(qū)驗(yàn)證激光擴(kuò)束和準(zhǔn)直效果,還設(shè)置有He-Ne激光器,采用本實(shí)施例結(jié)構(gòu),具有測(cè)量精度好的有益效果,尤其體現(xiàn)在輻射照度高、輻射照度均勻度好,穩(wěn)定準(zhǔn)直的入射輻照度場(chǎng),排除了非制冷情況下環(huán)境雜散輻射帶來(lái)的影響,可以絕對(duì)測(cè)量入射輻照度,像面輻照度,進(jìn)而計(jì)算出雜光指數(shù)PST。
[0014]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,包括激光光源和被測(cè)鏡頭,其特征在于:沿所述激光光源的光路依次設(shè)置有斬波器、濾波器,所述被測(cè)鏡頭的前端設(shè)置有電校準(zhǔn)輻射計(jì),所述被測(cè)鏡頭的后端設(shè)置有輻射照度計(jì),所述輻射照度計(jì)的輸出端連接鎖相放大器的輸入端,所述鎖相放大器的輸出端連接計(jì)算機(jī)的信號(hào)輸入端,所述電校準(zhǔn)輻射計(jì)的輸出端連接計(jì)算機(jī)的另一信號(hào)輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,其特征在于:所述濾波器與電校準(zhǔn)輻射計(jì)之間依次設(shè)置有轉(zhuǎn)折鏡、擴(kuò)束鏡組和準(zhǔn)直鏡。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種紅外雜光系數(shù)測(cè)量?jī)x,包括激光光源和被測(cè)鏡頭,沿所述激光光源的光路依次設(shè)置有斬波器、濾波器,所述被測(cè)鏡頭的前端設(shè)置有電校準(zhǔn)輻射計(jì),所述被測(cè)鏡頭的后端設(shè)置有輻射照度計(jì),所述輻射照度計(jì)的輸出端連接鎖相放大器的輸入端,所述鎖相放大器的輸出端連接計(jì)算機(jī)的信號(hào)輸入端,所述電校準(zhǔn)輻射計(jì)的輸出端連接計(jì)算機(jī)的另一信號(hào)輸入端,輻射照度高、輻射照度均勻度好,穩(wěn)定準(zhǔn)直的入射輻照度場(chǎng),排除了非制冷情況下環(huán)境雜散輻射帶來(lái)的影響,可以絕對(duì)測(cè)量入射輻照度,像面輻照度,進(jìn)而計(jì)算出雜光指數(shù)PST。
【IPC分類】G01M11-02
【公開(kāi)號(hào)】CN204373889
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520061261
【發(fā)明人】張憲亮, 劉若凡, 蘇紅雨, 劉夏茹, 曾道全
【申請(qǐng)人】中測(cè)測(cè)試科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2015年1月29日
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