一種逆反射測量裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開一種逆反射測量裝置，該逆反射測量裝置包括光學暗箱、光源和光探測器，光源和光探測器均設置在光學暗箱內，光學暗箱的表面設置有開口，試樣放置在開口處，通過試樣遮擋開口，光探測器用于對試樣反射的光進行檢測，光源到試樣的連線與試樣到光探測器的連線形成的夾角為0.2°。本實用新型通過將光探測器和光源放入光學暗箱中，并將逆反射材料放在光學暗箱的開口處，使得光探測器在光學暗箱內只能檢測到逆反射材料對光源反射的光線，并且通過固定光源、逆反射材料和光探測器三者之間的位置關系，使得由此得到的逆反射材料的檢測數(shù)據(jù)較為準確，使得能夠為實際中制作逆反射產品提供可靠的理論依據(jù)和數(shù)據(jù)支持。
【專利說明】一種逆反射測量裝置

【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及公路交通安全【技術領域】，特別涉及一種逆反射測量裝置。

【背景技術】
[0002] 逆反射是反射光線沿靠近入射光線的反方向，向光源射回的一種光學現(xiàn)象。逆反 射材料是基于上述原理進行制造的，其廣泛應用于公路交通領域。利用車輛自身燈光的照 明效果，通過逆反射材料的反射作用能夠達到傳遞指示、警告等信息的效果。常見產品包 括逆反射標志、突起路標和標線等，逆反射材料對于保障公路運輸安全，提高通行效率有著 重要的意義，因此，為保證逆反射材料的逆反射效果，需要在使用逆反射材料前對其進行測 試，通常逆反射材料的逆反射效果由其亮度因數(shù)以及光源、逆反射材料、觀察者三者之間的 幾何條件來決定。
[0003] 現(xiàn)有技術中的檢測逆反射材料幾何條件的設備只包括光源和光探測器，測試時， 通過光源對逆反射材料進行照射，通過光探測器檢測逆反射材料反射的光，得到檢測數(shù)據(jù) 后，再由工作人員人工對檢測數(shù)據(jù)進行整理和計算，最終得到逆反射材料的幾何條件，用于 測試的逆反射材料一般制成幾何形狀的試樣。
[0004] 在實現(xiàn)本實用新型的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術至少存在以下問題：
[0005] 現(xiàn)有技術中的檢測裝置只通過光源和光探測器對逆反射材料進行檢測，檢測時極 容易受到外界雜光影響，造成無法準確獲取該逆反射材料的檢測數(shù)據(jù)，從而無法對逆反射 材料在實際中的應用提供可靠的理論依據(jù)。 實用新型內容
[0006] 為了解決現(xiàn)有技術容易受到外界雜光影響的問題，本實用新型實施例提供了一種 逆反射測量裝置。所述技術方案如下：
[0007] 提供一種逆反射測量裝置，所述逆反射測量裝置包括光學暗箱、光源和光探測器， 所述光源和所述光探測器均設置在所述光學暗箱內，所述光學暗箱的表面設置有開口，逆 反射材料制成的試樣放置在所述開口處，通過所述試樣遮擋所述開口，所述光探測器用于 對所述試樣反射的光進行檢測，所述光源到所述試樣的連線與所述試樣到所述光探測器的 連線形成的夾角為0.2°。
[0008] 進一步地，所述逆反射測量裝置還包括測量儀，所述測量儀設置在所述光學暗箱 外側，且所述測量儀與所述光探測器電連接。
[0009] 進一步地，所述逆反射測量裝置還包括信號放大器，所述信號放大器設置在所述 光學暗箱外側，所述光探測器、所述信號放大器和所述測量儀順次連接。
[0010] 進一步地，所述逆反射測量裝置還包括顯示器，所述顯示器設置在所述光學暗箱 外側，所述顯示器與所述測量儀連接。
[0011] 作為優(yōu)選，所述顯示器為數(shù)碼管或液晶顯示屏。
[0012] 進一步地，所述逆反射測量裝置還包括機箱，所述光學暗箱、所述信號放大器、所 述測量儀和所述顯示器均放置在所述機箱內，且所述機箱上設置有窗口，所述顯示器對應 設置在所述窗口處。
[0013] 本實用新型實施例提供的技術方案帶來的有益效果是：
[0014] 本實用新型通過將光探測器和光源放入光學暗箱中，并將逆反射材料的試樣對光 學暗箱的開口進行遮擋，使得光探測器在光學暗箱內只能檢測到逆反射材料對光源反射的 光線，從而不受外界雜光影響，使得逆反射材料的檢測數(shù)據(jù)較為準確；并且通過固定光源、 逆反射材料和光探測器三者之間的位置關系，使得在合理利用光學暗箱空間的同時，測得 的數(shù)據(jù)較精確，從而能夠為實際中制作逆反射產品提供可靠的理論依據(jù)和數(shù)據(jù)支持。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015] 為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需 要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實 施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖 獲得其他的附圖。
[0016] 圖1是本實用新型實施例提供的逆反射測量裝置的結構示意圖。
[0017] 其中：1光學暗箱，
[0018] 2 光源，
[0019] 3光探測器，
[0020] 4測量儀，
[0021] 5信號放大器，
[0022] 6顯示器，
[0023] 7 機箱，
[0024] 8 試樣。

【具體實施方式】
[0025] 為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合附圖對本實用新 型實施方式作進一步地詳細描述。
[0026] 實施例一
[0027] 如圖1所示，本實用新型提供一種逆反射測量裝置，該逆反射測量裝置包括光學 暗箱1、光源2和光探測器3,光源2和光探測器3均設置在光學暗箱1內，光學暗箱1的表 面設置有開口，逆反射材料制成的試樣8放置在開口處，通過試樣8遮擋開口，光探測器3 用于對試樣8反射的光進行檢測，光源2到試樣8的連線與試樣8到光探測器3的連線形 成的夾角為0.2°。
[0028] 本實用新型通過將光探測器3和光源2放入光學暗箱1中，并將逆反射材料的試 樣8對光學暗箱1的開口進行遮擋，使得光探測器3在光學暗箱1內只能檢測到逆反射材料 對光源2反射的光線，從而不受外界雜光影響，使得逆反射材料的檢測數(shù)據(jù)較為準確；并且 通過固定光源2、逆反射材料和光探測器3三者之間的位置關系，使得在合理利用光學暗箱 1空間的同時，測得的數(shù)據(jù)較精確，從而能夠為實際中制作逆反射產品提供可靠的理論依據(jù) 和數(shù)據(jù)支持。
[0029] 實施例二
[0030] 如圖1所示，本實用新型提供一種逆反射測量裝置，該逆反射測量裝置包括光學 暗箱1、光源2和光探測器3,光源2和光探測器3均設置在光學暗箱1內，光學暗箱1的表 面設置有開口，逆反射材料制成的試樣8放置在開口處，通過試樣8遮擋開口，光探測器3 用于對試樣8反射的光進行檢測，光源2到試樣8的連線與試樣8到光探測器3的連線形 成的夾角為0.2°。
[0031] 其中，通過設置光學暗箱1對逆反射材料測量提供一個穩(wěn)定的黑暗環(huán)境。光學 暗箱1可設置為普通的長方體，在長方體的側面設置開口，用于將逆反射材料放置在開口 處，逆反射材料在放置在開口處時需要將開口遮擋，如此使得外界光線無法進入光學暗箱1 內，對測量試驗造成影響，長方體的光學暗箱1內部放置光源2和光探測器3 ;也可將光學 暗箱1設置為長方形箱體，能夠打開和閉合，在箱體內部分別設置盛放和固定光源2、光探 測器3和逆反射材料的結構，如此使得在對逆反射材料進行測量時，只需將箱體打開并將 逆反射材料放在對應位置后，關閉箱體即可。將光源2、光探測器3和試樣8放入光學暗箱 1內，并且，將光源2、光探測器3和試樣8按照一定的角度關系進行固定，具體地，經過發(fā)明 人研究發(fā)現(xiàn)，光源2照到逆反射材料的光線與從逆反射材料反射到光探測器3的光線的夾 角為0. 2°，一般也可認為是光源2的幾何中心到逆反射材料試樣的幾何中心的連線與逆 反射材料的幾何中心到光探測器3的幾何中心的連線的夾角為0. 2°，如此既能合理利用 光學暗箱1的空間，也能夠使逆反射材料較充分且容易將光源2發(fā)射的光進行反射，并且容 易使得光探測器3接收并對逆反射材料的性能進行準確測量。本實用新型操作簡單，工作 人員只需通過在箱體外部控制光源2和光探測器3的開關，就能得到逆反射材料的幾何條 件。
[0032] 如圖1所示，進一步地，該逆反射測量裝置還包括測量儀4,測量儀4設置在光學暗 箱1外側，且測量儀4與光探測器3電連接。
[0033] 其中，測量儀4放置在光學暗箱1外側，然后將光探測器3與測量儀4連接，將光 探測器3對試樣8的檢測數(shù)據(jù)通過電連接傳輸?shù)綔y量儀4,測量儀4對數(shù)據(jù)進行運算、整理， 從而能夠得出該試樣8的幾何條件和亮度因數(shù)，具體地，測量儀4對信號頻率進行轉換，得 到R、G、B的數(shù)據(jù)，并對其進行公式運算得到亮度值。然后再經過校準、添加修正因子，從而 能夠得到該逆反射材料的幾何條件。然后再通過與標準值進行比較，從而能夠直接判斷該 試樣8是否符合要求，使得該試樣8在實際使用中能夠與其測試結果相符；測量儀4也可用 其它的處理器代替，如光譜儀、光學分度儀等等，目的在于能夠對光探測器3測試的數(shù)據(jù)進 行自動分析，直觀的給測試人員分析出曲線分布圖等作為參考，方便實用。
[0034] 如圖1所示，進一步地，該逆反射測量裝置還包括信號放大器5,信號放大器5設置 在光學暗箱1外側，光探測器3、信號放大器5和測量儀4順次連接。
[0035] 其中，通過在光探測器3與測量儀4之間設置信號放大器5,使得光探測器3檢測 的數(shù)據(jù)通過信號放大器5進行放大，使得能夠增加本實用新型檢測數(shù)據(jù)的精確度。
[0036] 如圖1所示，進一步地，該逆反射測量裝置還包括顯示器6,顯示器6設置在光學暗 箱1外側，顯示器6與測量儀4連接。
[0037] 其中，將測量儀4與顯示器6連接，使得測量儀4能夠將處理后的數(shù)據(jù)通過顯示器 6顯示出來，使工作人員更加直觀的看到最后得到的數(shù)據(jù)。
[0038] 如圖1所示，作為優(yōu)選，該顯示器6為數(shù)碼管或液晶顯示屏。
[0039] 如圖1所示，進一步地，該逆反射測量裝置還包括機箱7,光學暗箱1、信號放大器 5、測量儀4和顯示器6均放置在機箱7內，且機箱7上設置有窗口，顯示器6對應設置在窗 口處。
[0040] 其中，為了對光學暗箱1、信號放大器5、測量儀4和顯示器6進行保護，將上述設 備放入機箱7內，機箱7上設置有窗口，將顯示器6對應窗口設置，使得工作人員能夠通過 窗口對顯示器6進行觀測。
[0041] 如圖1所示，進一步地，該光學暗箱1內壁材料為亞光材料。
[0042] 其中，將光學暗箱1內壁材料設置為亞光材料，使得暗箱內壁能夠吸收光源2照射 在內壁上的光，減少或消除通過內壁反射到光探測器3上的光，使光探測器3只檢測通過逆 反射材料反射的光，從而能夠增加光探測器3檢測的準確性。
[0043] 上述本實用新型實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。
[0044] 以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡在本實用 新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保 護范圍之內。
【權利要求】
1. 一種逆反射測量裝置，其特征在于，所述逆反射測量裝置包括光學暗箱、光源和光探 測器，所述光源和所述光探測器均設置在所述光學暗箱內，所述光學暗箱的表面設置有開 口，逆反射材料制成的試樣放置在所述開口處，通過所述試樣遮擋所述開口，所述光探測器 用于對所述試樣反射的光進行檢測，所述光源到所述試樣的連線與所述試樣到所述光探測 器的連線形成的夾角為0.2°。
2. 根據(jù)權利要求1所述的逆反射測量裝置，其特征在于，所述逆反射測量裝置還包括 測量儀，所述測量儀設置在所述光學暗箱外側，且所述測量儀與所述光探測器電連接。
3. 根據(jù)權利要求2所述的逆反射測量裝置，其特征在于，所述逆反射測量裝置還包括 信號放大器，所述信號放大器設置在所述光學暗箱外側，且所述光探測器、所述信號放大器 和所述測量儀順次連接。
4. 根據(jù)權利要求3所述的逆反射測量裝置，其特征在于，所述逆反射測量裝置還包括 顯示器，所述顯示器設置在所述光學暗箱外側，所述顯示器與所述測量儀連接。
5. 根據(jù)權利要求4所述的逆反射測量裝置，其特征在于，所述顯示器為數(shù)碼管或液晶 顯示屏。
6. 根據(jù)權利要求4所述的逆反射測量裝置，其特征在于，所述逆反射測量裝置還包括 機箱，所述光學暗箱、所述信號放大器、所述測量儀和所述顯示器均放置在所述機箱內，且 所述機箱上設置有窗口，所述顯示器對應設置在所述窗口處。
【文檔編號】G01N21/17GK203908936SQ201420234977
【公開日】2014年10月29日 申請日期:2014年5月8日 優(yōu)先權日:2014年5月8日
【發(fā)明者】韓越 申請人:韓越