專利名稱：測(cè)試機(jī)臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種應(yīng)用于電子電路測(cè)試領(lǐng)域的測(cè)試機(jī)臺(tái)，具體地說，涉及一種用于液晶模塊PCB板測(cè)試的測(cè)試機(jī)臺(tái)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，應(yīng)用于液晶模塊PCB板測(cè)試的測(cè)試機(jī)臺(tái)通常為一體式結(jié)構(gòu)，即控制部分和測(cè)試治具連接為一體，不可拆卸。因此，在神對(duì)不同的液晶模塊的PCB板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要針對(duì)不同的測(cè)試對(duì)象制作不同的測(cè)試機(jī)臺(tái)，生產(chǎn)成本較高。同時(shí)，由于測(cè)試機(jī)臺(tái)的體積非常大、重量也很大，更換起來難度也增加許多。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種降低生產(chǎn)成本、使用簡(jiǎn)便的測(cè)試機(jī)臺(tái)。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種測(cè)試機(jī)臺(tái)，用于測(cè)試液晶模塊的PCB板，所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)包括控制設(shè)備、測(cè)試治具，所述的測(cè)試治具可拆卸地安裝在所述的控制設(shè)備上并能在所述的控制設(shè)備的控制下完成所述的液晶模塊PCB板的測(cè)試。優(yōu)選的，所述的控制設(shè)備包括安裝部，所述的測(cè)試治具安裝在所述的安裝部上。優(yōu)選的，所述的控制設(shè)備為所述的測(cè)試治具提供控制信號(hào)。由于測(cè)試機(jī)臺(tái)的控制設(shè)備的功能相同，因此，在使用時(shí)，只需更換相應(yīng)的測(cè)試治具即可。由于上述技術(shù)方案運(yùn)用，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)由于本實(shí)用新型采用控制設(shè)備與測(cè)試治具相分體設(shè)計(jì)，使用時(shí)，只需更換測(cè)試治具而無需更換控制設(shè)備，即可完成針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的測(cè)試工作，降低了生產(chǎn)成本，使用也更加便捷方便。

附圖1為本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)臺(tái)的主視圖。附圖2為本實(shí)用新型的控制設(shè)備的主視圖。附圖3為本實(shí)用新型的控制設(shè)備的左視圖。附圖4為本實(shí)用新型的測(cè)試治具的主視圖。以上附圖中1、控制設(shè)備；2、測(cè)試治具；3、安裝部。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖所示的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。實(shí)施例一參見附圖1至附圖4所示。一種測(cè)試機(jī)臺(tái)，用于測(cè)試液晶模塊的PCB板。測(cè)試機(jī)臺(tái)包括控制設(shè)備1、測(cè)試治具 2，控制設(shè)備1包括安裝部3，測(cè)試治具2可拆卸地安裝在安裝部3上，控制設(shè)備1為測(cè)試治具2提供控制信號(hào)，測(cè)試治具2在控制設(shè)備1的控制下完成液晶模塊PCB板的測(cè)試。本測(cè)試機(jī)臺(tái)在使用時(shí)，只需更換相應(yīng)的測(cè)試治具2即可，降低了生產(chǎn)成本，簡(jiǎn)化了工藝流程。上述實(shí)施例只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。 凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試機(jī)臺(tái)，用于測(cè)試液晶模塊的PCB板，其特征在于所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)包括控制設(shè)備、由所述的控制設(shè)備提供控制信號(hào)的測(cè)試治具，所述的測(cè)試治具可拆卸地安裝在所述的控制設(shè)備上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)，其特征在于所述的控制設(shè)備包括安裝部，所述的測(cè)試治具安裝在所述的安裝部上。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試機(jī)臺(tái)，用于測(cè)試液晶模塊的PCB板，測(cè)試機(jī)臺(tái)包括控制設(shè)備、測(cè)試治具，測(cè)試治具可拆卸地安裝在控制設(shè)備上并能在控制設(shè)備的控制下完成液晶模塊PCB板的測(cè)試。由于本實(shí)用新型采用控制設(shè)備與測(cè)試治具相分體設(shè)計(jì)，使用時(shí)，只需更換測(cè)試治具而無需更換控制設(shè)備，即可完成針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的測(cè)試工作，降低了生產(chǎn)成本，使用也更加便捷方便。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201993442SQ20112006209
公開日2011年9月28日 申請(qǐng)日期2011年3月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月11日
發(fā)明者趙銘 申請(qǐng)人:蘇州市歐康諾電子科技有限公司