專利名稱：電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是有關(guān)一種電子元件，例如集成電路(IC)測(cè)試機(jī)構(gòu)，尤指一種具有定 位確實(shí)、接觸穩(wěn)定的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)：
電子元件，例如集成電路(IC)制成后，通常須要經(jīng)過測(cè)試后，以確保電子元件的 品質(zhì)，方能進(jìn)行后續(xù)的包裝出貨作業(yè)。即以重力傳感器(g-sensor)的集成電路為例，因其可提供速度和位移的信息。所 以重力傳感器可以用來(lái)測(cè)量目前裝置，例如遙控器或手機(jī)的傾斜角度，以便輸出不同的電 壓值，再經(jīng)由程序轉(zhuǎn)換后得出數(shù)值后，進(jìn)而控制電視游樂器中的動(dòng)作或?qū)⑹謾C(jī)屏幕的圖像 進(jìn)行翻轉(zhuǎn)。因此，該重力傳感器的傾斜角度測(cè)試，并非一般集成電路測(cè)試機(jī)所能勝任，而是必 須借助動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)的旋轉(zhuǎn)動(dòng)作，以便測(cè)試該重力傳感器在旋轉(zhuǎn)時(shí)是否發(fā)生異常。 如圖1所示，乃已知?jiǎng)討B(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)的示意圖，該測(cè)試機(jī)是在一機(jī)臺(tái)10上相對(duì)設(shè)有一 對(duì)支架101，該對(duì)支架101間以一第一樞軸102樞接一外框件20，且該第一樞軸102經(jīng)由第 一傳動(dòng)裝置103的正、逆轉(zhuǎn)，使該外框件20相對(duì)于第一樞軸102的X軸方向呈前、后轉(zhuǎn)動(dòng)； 該外框件20內(nèi)套設(shè)一內(nèi)框件30，該內(nèi)框件30于X軸的垂直方向裝設(shè)一第二樞軸301，該第 二樞軸301經(jīng)由一裝設(shè)于外框件20的第二傳動(dòng)裝置302的正、逆轉(zhuǎn)，使該內(nèi)框件30相對(duì)于 第二樞軸301的Y軸方向呈左、右轉(zhuǎn)動(dòng)。其中，該內(nèi)框件30上裝設(shè)一電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)40，如圖1至圖2b所示，該機(jī)構(gòu)40 是在一基座401表面以陣列方式開設(shè)多個(gè)容置凹槽402，各容置凹槽402內(nèi)依據(jù)待測(cè)試集成 電路的腳位對(duì)應(yīng)設(shè)置探針403，而為使待測(cè)試集成電路于該動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)座動(dòng)時(shí)的 定位，各容置凹槽402上方橫向樞設(shè)一可轉(zhuǎn)動(dòng)的壓掣臂403，且各容置凹槽402前、后側(cè)相對(duì) 設(shè)有一對(duì)彈性伸縮架404，而各壓掣臂403則樞設(shè)于一彈性伸縮架404。如欲進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，該機(jī)臺(tái)10由底部所連接的升降機(jī)構(gòu)的作動(dòng)，而將該機(jī)臺(tái)10 上升，使該等彈性伸縮架404觸及一頂蓋(未予以圖標(biāo)，以箭頭代表)后被壓縮，而將該等 壓掣臂403如圖2b所示因轉(zhuǎn)動(dòng)而向上翹起。此時(shí)，一機(jī)械手臂上具有等同于容置凹槽402 陣列配置的吸嘴移動(dòng)至該頂蓋上方，并將各吸嘴所吸附IC穿過該頂蓋對(duì)應(yīng)容置凹槽402陣 列所開設(shè)穿槽，而將各IC置于容置凹槽402內(nèi)后，該機(jī)械手臂移開，而機(jī)臺(tái)10再度由升降 機(jī)構(gòu)的作動(dòng)，而緩慢地下降，而此下移過程中，若該等彈性伸縮架404尚未完全伸展時(shí)，使 壓掣臂403無(wú)法向下壓掣IC，而令所有的IC因處于非定位狀態(tài)，容易造成偏移現(xiàn)象，進(jìn)而無(wú) 法與探針403形成準(zhǔn)確的對(duì)位關(guān)系，以致在隨后的外、內(nèi)框件20、30分別進(jìn)行前后、左右轉(zhuǎn) 動(dòng)的傾斜角度測(cè)試，將無(wú)法獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。尤其是，由于前述電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)40的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，例如各容置凹槽402的兩側(cè) 需相對(duì)設(shè)置一對(duì)彈性伸縮架404，且其中一彈性伸縮架404內(nèi)以杠桿原理樞接一壓掣臂403 的組合，將限制電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)的擴(kuò)充性，亦即IC同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)數(shù)量受到限制；以及因機(jī)臺(tái)10頂?shù)撞啃璺謩e設(shè)置伸降機(jī)構(gòu)及頂蓋，而使得該動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)體積龐大，而亟
待改善。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，該測(cè)試機(jī)構(gòu)使得待測(cè)試 電子元件，例如集成電路具有定位確實(shí)、接觸穩(wěn)定、擴(kuò)充性佳、及有效縮減機(jī)臺(tái)體積的優(yōu)點(diǎn)。為達(dá)成前述的目的，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)手段是提供一種電子元件測(cè)試機(jī) 構(gòu)，其包括一基座，其表面設(shè)有至少一基座連接器，以及伸出至少一對(duì)彼此隔開且可開合的 夾具；一吸盤座，其縱向開設(shè)多個(gè)縱向槽，各縱向槽底部連通一可吸附或釋放電子元件 的容置凹穴；以及一定位測(cè)試裝置，其裝設(shè)于該基座頂面，該裝置進(jìn)一步包括一電路板，其表面依據(jù)各容置凹穴內(nèi)的電子元件接腳位置設(shè)有經(jīng)電路布局的接 點(diǎn)，且該電路板縱向開設(shè)供各夾具穿出的板孔，另于該電路板底面設(shè)有至少一與該基座連 接器相對(duì)接的電路板連接器；一定位框，其固設(shè)于該電路板頂面，該定位框縱向開設(shè)一開口，開口頂部?jī)蓚?cè)相對(duì) 設(shè)有一對(duì)限位板；以及一探針座，其套設(shè)于該開口內(nèi)，并使兩側(cè)邊鄰接該對(duì)限位板底面，該探針座對(duì)應(yīng)各 接點(diǎn)位置插接可彈性伸縮的探針，并將各探針底部與對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)相接觸；當(dāng)吸盤座與定位框?qū)訒r(shí)，該至少一對(duì)可開合的夾具夾住該吸盤座，使該吸盤座 底面所吸附的各電子元件被探針座頂面突伸的探針?biāo)敵峙c接觸。本實(shí)用新型的有益效果是具有定位確實(shí)、接觸穩(wěn)定、擴(kuò)充性佳、及有效縮減機(jī)臺(tái) 體積的優(yōu)點(diǎn)。

為進(jìn)一步揭示本實(shí)用新型的具體技術(shù)內(nèi)容，首先請(qǐng)參閱附圖，其中圖1為已知?jiǎng)討B(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)的局部立體圖；圖加及圖2b為已知電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)未作動(dòng)及上升以承接電子元件的示意圖；圖3為本實(shí)用新型動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)的立體圖；圖如及圖4b為本實(shí)用新型電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)兩不同視角的立體分解圖；圖5為本實(shí)用新型電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)裝設(shè)于動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)的立體圖；圖6a及圖6b為本實(shí)用新型電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)組合前后的剖面圖。
具體實(shí)施方式
如圖3至圖5所示，本實(shí)用新型電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)2裝設(shè)于一動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試 機(jī)1的頂面。該動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)1是在一機(jī)臺(tái)11上相對(duì)設(shè)有一對(duì)支架12，該對(duì)支架12間 以一第一樞軸13樞接一外框件14，且該第一樞軸13經(jīng)由一設(shè)于一支架12外側(cè)面的第一傳動(dòng)裝置15的正、逆轉(zhuǎn)，使該外框件14相對(duì)于第一樞軸13的X軸方向呈前、后轉(zhuǎn)動(dòng)。該外框 件14內(nèi)套設(shè)一內(nèi)框件16，該內(nèi)框件16相對(duì)于X軸的垂直方向樞接一第二樞軸17，該第二 樞軸17經(jīng)由一裝設(shè)于外框件14外側(cè)面的第二傳動(dòng)裝置18的正、逆轉(zhuǎn)，使該內(nèi)框件16相對(duì) 于第二樞軸17的Y軸方向呈左、右轉(zhuǎn)動(dòng)。其中，該內(nèi)框件16頂面裝設(shè)一電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)2，如圖3至圖4b所示，該電子元 件測(cè)試機(jī)構(gòu)2是由一基座21、一吸盤座22、及一定位測(cè)試裝置23、及所組成。該基座21設(shè)于該內(nèi)框件16頂部，其表面適當(dāng)位置，例如前后側(cè)相對(duì)設(shè)有至少一對(duì) 基座連接器211，且該基座21表面伸出至少一對(duì)彼此隔開的夾具212，各夾具212頂部向內(nèi) 伸出扣鉤213，且經(jīng)由已知的開合裝置，例如油、氣壓缸的驅(qū)動(dòng)，使各對(duì)夾具212得以呈扇形 開合，以?shī)A固后敘的吸盤座22。該吸盤座22是對(duì)位疊置于后敘定位測(cè)試裝置23頂面的定位框232上。該吸盤座 22縱向開設(shè)呈矩陣排列的縱向槽221，各縱向槽221底部連通一可吸附或釋放電子元件3， 例如IC的容置凹穴222。該吸盤座22周緣對(duì)應(yīng)各夾具212位置突伸一夾塊223，以便供夾 具212的夾持。如圖如與4b所示，該吸盤座22底面對(duì)應(yīng)后敘定位框232頂面的各定位孔 232e位置突設(shè)定位銷224。請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D如及圖4b，該定位測(cè)試裝置23包括一電路板231，該電路板231依據(jù) 各容置凹穴222內(nèi)的電子元件接腳位置設(shè)有經(jīng)電路布局的接點(diǎn)231a，以便與各探針23 形 成電性連接。該電路板231底面對(duì)應(yīng)前述基座連接器211位置相對(duì)設(shè)置電路板連接器231b， 當(dāng)該兩連接器211、231b對(duì)接后，即完成該電路板231與基座21的電性連接。其中，該電路 板對(duì)應(yīng)各對(duì)夾具212位置開設(shè)板孔231c，以便供夾具212的伸出。該電路板231上方裝設(shè)一定位框232，該定位框232縱向開設(shè)一開口 232a，另將一 探針座233由該定位框232底部套設(shè)于該開口 23 內(nèi)，該開口 23 頂部?jī)蓚?cè)相對(duì)設(shè)有一 對(duì)限位板232b，并使該探針座233兩側(cè)邊鄰接該對(duì)限位板232b底面。該探針座233對(duì)應(yīng)電路板231的接點(diǎn)231a位置縱向開設(shè)針孔233a，供探針23 插 入與定位后，使多個(gè)探針23 與容置凹穴222相同呈陣列配置，并突伸于前述的開口 23 區(qū)域內(nèi)。該探針座233頂面突設(shè)至少兩固定銷233c，各固定銷233c插入各限位板232b預(yù)設(shè) 的固定孔232c內(nèi)定位。而為使該探針座233能夠穩(wěn)固地固設(shè)于該定位框232的開口 23 內(nèi)，因此，該電路板231底面設(shè)有一固定板234，該固定板234四角隅開設(shè)穿孔23 ，以便供 已知的連接件234b，例如螺栓穿越穿孔23如、電路板231的通孔231d、并鎖固于定位框232 的框孔232d內(nèi)，使該固定板234與定位框232共同包夾該探針座233及電路板231。尤其是，該對(duì)限位板232b頂面另開設(shè)至少兩定位孔23 ，且為偵測(cè)后敘吸盤座22 是否到位，該定位框232頂面適當(dāng)位置，例如定位孔23 外側(cè)各自接裝一近接開關(guān)235，以 便以非接觸方式偵測(cè)該吸盤座22確實(shí)到位后，即發(fā)出一信號(hào)，使該至少一對(duì)夾具212向內(nèi) 呈扇形運(yùn)動(dòng)，以便夾固該吸盤座22的夾塊223。如圖如所示，該近接開關(guān)235橫向插入一 開關(guān)座23 內(nèi)，并將各開關(guān)座23 接裝于定位孔23 外側(cè)，即可完成該定位測(cè)試裝置23 的組裝工序。接著，將該定位測(cè)試裝置23固設(shè)于基座21上方，使電路板連接器231b與基 座連接器211對(duì)接，以形成電路的接通；且各對(duì)夾具212由電路板231的板孔231c伸出。本實(shí)用新型操作時(shí)，首先位于他處并呈反置型態(tài)的吸盤座22的容置凹穴222內(nèi)依 序放妥電子元件3，例如IC后，此時(shí)，一已知載具4，例如具有等同于縱向槽221陣列配置吸嘴41的機(jī)械手臂移動(dòng)至該吸盤座22的各縱向槽221位置，并將各吸嘴41對(duì)正所屬的縱向 槽221進(jìn)行抽真空作業(yè)，使各IC吸附于容置凹穴222內(nèi)；接著，該機(jī)械手臂將該吸盤座22 反轉(zhuǎn)，使該吸盤座22如圖6a所示移動(dòng)至定位框232上方并下降；然后，該吸盤座22由兩 根定位銷2M插入該定位框232的定位孔23 內(nèi)，使各IC的接腳與該探針座233對(duì)應(yīng)設(shè) 置的探針23 形成接觸，并由具有彈性伸縮的探針23 頂持著IC，以形成如圖6b所示的 定位與接觸狀態(tài)。此時(shí)，該近接開關(guān)235偵測(cè)到吸盤座22與定位框232形成準(zhǔn)確對(duì)位關(guān)系 后，該近接開關(guān)235發(fā)出一信號(hào)，使該至少一對(duì)夾具212向內(nèi)呈扇形運(yùn)動(dòng)，以便夾固該吸盤 座22的夾塊223，而形成如圖5所示的型態(tài)。最后，該動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)1的第一傳動(dòng)裝置15帶動(dòng)第一樞軸13正、逆向轉(zhuǎn) 動(dòng)，使該外框件14、第二傳動(dòng)裝置18、內(nèi)框件16與電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)2亦同步正、逆向轉(zhuǎn) 動(dòng)，以測(cè)試該IC相對(duì)于第一樞軸13的X軸方向呈前、后轉(zhuǎn)動(dòng)的傾斜角度測(cè)試。接著，該第一 傳動(dòng)裝置15停機(jī)后，該第二傳動(dòng)裝置18帶動(dòng)第二樞軸17正、逆向轉(zhuǎn)動(dòng)，使內(nèi)框件16與電 子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)2亦同步正、逆向轉(zhuǎn)動(dòng)，以測(cè)試該IC相對(duì)于第二樞軸17的Y軸方向呈左、 右轉(zhuǎn)動(dòng)的傾斜角度測(cè)試。所以，經(jīng)由本實(shí)用新型的實(shí)施，其所增益的功效在于，當(dāng)吸盤座與定位接觸裝置 的定位框?qū)訒r(shí)，該至少一對(duì)可開合的夾具夾住該吸盤座，使該吸盤座底面所吸附的各電 子元件被探針座頂面具有彈性伸縮的探針?biāo)敵峙c接觸，以形成定位確實(shí)與接觸穩(wěn)定的效 果；且在此對(duì)接過程中，電子元件不會(huì)造成偏移，從而確保測(cè)試的穩(wěn)定性，并增加電子元件 的良率。再者，本實(shí)用新型的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，僅需改變電路板的接點(diǎn)、探針 座的探針及吸盤座的縱向槽的位置與布局，即可增減待測(cè)試電子元件的數(shù)量，而具有擴(kuò)充 性能加的優(yōu)勢(shì)。尤其是，本實(shí)用新型的實(shí)施例若用于動(dòng)態(tài)球形旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)，則該動(dòng)態(tài)球形旋 轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)無(wú)需設(shè)置升降機(jī)構(gòu)及頂蓋，而大幅縮小機(jī)臺(tái)尺寸，并有效降低制造成本，誠(chéng)為同類 物品前所未見的一大佳構(gòu)。本實(shí)用新型所揭示的，乃較佳實(shí)施例的一種，凡是局部的變更或修飾而源于本實(shí) 用新型的技術(shù)思想而為熟習(xí)該項(xiàng)技術(shù)的人所易于推知的，俱不脫本實(shí)用新型的權(quán)利要求范
權(quán)利要求1.一種電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其包括一基座，其表面設(shè)有至少一基座連接器，以及伸出至少一對(duì)彼此隔開且可開合的夾具；一吸盤座，其縱向開設(shè)多個(gè)縱向槽，各縱向槽底部連通一可吸附或釋放電子元件的容 置凹穴；以及一定位測(cè)試裝置，其裝設(shè)于該基座頂面，該裝置進(jìn)一步包括一電路板，其表面依據(jù)各容置凹穴內(nèi)的電子元件接腳位置設(shè)有經(jīng)電路布局的接點(diǎn)，且 該電路板縱向開設(shè)供各夾具穿出的板孔，另于該電路板底面設(shè)有至少一與該基座連接器相 對(duì)接的電路板連接器；一定位框，其固設(shè)于該電路板頂面，該定位框縱向開設(shè)一開口，開口頂部?jī)蓚?cè)相對(duì)設(shè)有 一對(duì)限位板；以及一探針座，其套設(shè)于該開口內(nèi)，并使兩側(cè)邊鄰接該對(duì)限位板底面，該探針座對(duì)應(yīng)各接點(diǎn) 位置插接可彈性伸縮的探針，并將各探針底部與對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)相接觸；當(dāng)吸盤座與定位框?qū)訒r(shí)，該至少一對(duì)可開合的夾具夾住該吸盤座，使該吸盤座底面 所吸附的各電子元件被探針座頂面突伸的探針?biāo)敵峙c接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該吸盤座周緣突伸至少 一對(duì)夾塊，該至少一對(duì)夾塊供該至少一對(duì)可開合的夾具頂部向內(nèi)伸出扣鉤所夾持。
3.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該吸盤座底面突設(shè)至少 一對(duì)定位銷，各定位銷插接于該定位框頂面預(yù)設(shè)的定位孔內(nèi)，以形成該吸盤座與定位框的 對(duì)位疊置。
4.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該定位框頂面設(shè)有至少 一近接開關(guān)，以便偵測(cè)該吸盤座確實(shí)對(duì)位疊置于該定位框頂面時(shí)，該近接開關(guān)即發(fā)出一信 號(hào)，使該至少一對(duì)夾具向內(nèi)呈扇形運(yùn)動(dòng)，以便夾固該吸盤座。
5.如權(quán)利要求4所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該近接開關(guān)裝設(shè)于該定 位框的各限位板所開設(shè)的定位孔外側(cè)。
6.如權(quán)利要求5所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該近接開關(guān)橫向插入一 開關(guān)座內(nèi)，并將各開關(guān)座接裝于定位孔外側(cè)。
7.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該探針座頂面突設(shè)至少 兩固定銷，各固定銷插入該定位框開口兩側(cè)限位板所預(yù)設(shè)的固定孔內(nèi)。
8.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該電路板底面進(jìn)一步包 括一固定板，其四角隅開設(shè)穿孔，以便供連接件穿越穿孔后，再依序穿越該電路板預(yù)設(shè)的通 孔，并鎖固于定位框的框孔內(nèi)，使該固定板與定位框共同包夾該探針座及電路板。
9.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于，其中該電子元件為集成電路。
專利摘要本實(shí)用新型是一種電子元件測(cè)試機(jī)構(gòu)，其是由一基座、一吸盤座及一定位測(cè)試裝置所組成；該定位測(cè)試裝置近一步包括一電路板、一定位框及一探針座。該基座表面伸出至少一對(duì)彼此隔開且可開合的夾具；該吸盤座縱向開設(shè)多個(gè)縱向槽，各縱向槽底部連通一可吸附或釋放電子元件的容置凹穴。而定位測(cè)試裝置的電路板表面依據(jù)各容置凹穴內(nèi)的電子元件接腳位置設(shè)有經(jīng)電路布局的接點(diǎn)；該定位框縱向開設(shè)一供探針座套設(shè)的開口，該探針座對(duì)應(yīng)各接點(diǎn)位置插接探針，并將各探針底部與對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)相接觸；當(dāng)吸盤座與定位框?qū)訒r(shí)，該至少一對(duì)可開合的夾具夾住該吸盤座，使該吸盤座底面所吸附的各電子元件被探針座頂面突伸的探針?biāo)敵峙c接觸。
文檔編號(hào)G01R31/28GK201852912SQ20102051752
公開日2011年6月1日 申請(qǐng)日期2010年9月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月3日
發(fā)明者柯俊雄, 郭銘坤 申請(qǐng)人:界鴻科技股份有限公司