專利名稱：一種光譜分析樣品的定位裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及光譜分析設備上固定試樣或樣品的裝置領域，更具體的說，改進涉及的是一種光譜分析樣品的定位裝置。
背景技術：
利用光譜學的原理和實驗方法以確定物質的結構和化學成分的分析方法稱為光譜分析法。各種結構的物質都具有自己的特征光譜，光譜分析法就是利用特征光譜研究物質結構或測定化學成分的方法。具體的技術手段可采用光譜分析儀對取樣樣品的某一個分析面的幾個點進行分析；因此，在試樣上選擇合適的幾個點進行分析就顯得非常關鍵。以焊料行業(yè)的材料光譜分析為例，同大多數行業(yè)的材料光譜分析一樣，現有的光譜分析樣品大都仍為實心的圓柱形結構，通常只可選擇圓柱面與上端面相交的棱邊上的幾個點進行材料的光譜分析。但是，不管是輝光質譜儀，還是火花直讀光譜儀，由于作為陰極的試樣，與作為陽極的銅管或銅棒是相向放置，兩個電極之間存在微小的距離，在分析時，試樣的待分析面與陽極接觸，操作人員無法準確觀察并設置激發(fā)點的準確位置。因此，現有技術尚有待改進和發(fā)展。

實用新型內容本實用新型的目的在于，提供一種光譜分析樣品的定位裝置，可提高試樣或樣品的定位準確性，縮短分析面的取樣過程時間。本實用新型的技術方案如下一種光譜分析樣品的定位裝置，用在光譜分析儀的工作臺上；其中包括一定位板；在定位板上設置有缺口 ；缺口的側面為平面。所述的光譜分析樣品的定位裝置，其中缺口的形狀呈V字形。所述的光譜分析樣品的定位裝置，其中定位板的形狀設置為方形；V字形缺口的兩邊相對方形定位板的中軸線對稱設置。所述的光譜分析樣品的定位裝置，其中v字形缺口兩邊的夾角設置為直角。所述的光譜分析樣品的定位裝置，其中缺口的側面垂直光譜分析儀的工作臺表面設置。所述的光譜分析樣品的定位裝置，其中定位板的上表面設置有三角形的凸臺； 三角形凸臺的一個尖角指向缺口的邊緣處。本實用新型所提供的一種光譜分析樣品的定位裝置，由于采用了在定位板上設置有缺口，通過缺口的側平面定位在分析面的圓形外壁上，由此在分析時，配合試樣的待分析面的圓形棱邊與陽極的圓錐形錐面接觸相接觸，從而不需要操作人員準確觀察并設置激發(fā)點的準確位置，提高了試樣或樣品的定位準確性，也縮短了分析面的取樣過程時間。
圖1是本實用新型光譜分析樣品的定位裝置俯視圖。圖2是本實用新型光譜分析樣品在分析狀態(tài)下的半剖視圖。
具體實施方式
以下將結合附圖，對本實用新型的具體實施方式
和實施例加以詳細說明，所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并非用于限定本實用新型的具體實施方式
。本實用新型的一種光譜分析樣品的定位裝置，可用在輝光質譜儀、火花直讀光譜儀、激光燒蝕ICP光譜儀等光譜分析儀的工作臺上；其具體實施方式
之一，包括一定位板 100 ；在定位板100上設置有缺口 120 ；缺口 120的側面為平面。以直讀光譜儀和圓柱形的光譜分析試樣或樣品為例，如圖ι所示，雙點化線部分作為待分析面，可以是圖2中光譜分析試樣或樣品200的上端面210，(圖1中)定位板100上的缺口 120適配在光譜分析樣品 200的圓柱外壁220上，缺口 120的側平面與分析面的圓形外壁220相接觸；在分析時，如圖2所示，直讀光譜儀上的陽極300，以圓錐形的錐面320接觸在光譜分析樣品200的圓形棱邊上。與現有技術中光譜分析樣品的定位裝置相比，本實用新型所提供的一種光譜分析樣品的定位裝置，由于采用了在定位板100上設置有缺口 120，通過缺口 120的側平面定位在分析面的圓形外壁220上，由此在分析時，配合試樣的待分析面的圓形棱邊與陽極300的圓錐形錐面320接觸相接觸，從而不需要操作人員準確觀察并設置激發(fā)點的準確位置，提高了試樣或樣品的定位準確性，也縮短了分析面的取樣過程時間。在本實用新型光譜分析樣品定位裝置的優(yōu)選實施方式中，如圖1所示，缺口 120的形狀可設置呈V字形。由此可利用V形的兩個側平面(即缺口 120)對圓柱形的光譜分析樣品200進行準確定位。具體的，如圖1所示，定位板100的形狀設置為方形；V字形缺口 120的兩邊可相對方形定位板100的中軸線110對稱設置。優(yōu)選地，V字形缺口 120兩邊的夾角可設置為直角。由此，可利用簡單的三角幾何原理，對分析面上的取樣分析點進行簡單的數學計算， 以此進一步分析分析點處的材料缺陷是否具有代表性和較高的重現性。進一步地，如圖1所示，定位板100的上表面設置有三角形的凸臺130 ；三角形凸臺130的一個尖角指向缺口 120的邊緣處。以利于從分析面的圓形棱邊上取樣不同的分析點進行光譜分析，通過獲得其算數平均值來提高材料光譜分析的準確性。應當理解的是，以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不足以限制本實用新型的技術方案，對本領域普通技術人員來說，在本實用新型的精神和原則之內，可以根據上述說明加以增減、替換、變換或改進，而所有這些增減、替換、變換或改進后的技術方案，都應屬于本實用新型所附權利要求的保護范圍。
權利要求1.一種光譜分析樣品的定位裝置，用在光譜分析儀的工作臺上；其特征在于包括一定位板；在定位板上設置有缺口 ；缺口的側面為平面。
2.根據權利要求1所述的光譜分析樣品的定位裝置，其特征在于缺口的形狀呈V字形。
3.根據權利要求2所述的光譜分析樣品的定位裝置，其特征在于定位板的形狀設置為方形；V字形缺口的兩邊相對方形定位板的中軸線對稱設置。
4.根據權利要求2所述的光譜分析樣品的定位裝置，其特征在于V字形缺口兩邊的夾角設置為直角。
5.根據權利要求1所述的光譜分析樣品的定位裝置，其特征在于缺口的側面垂直光譜分析儀的工作臺表面設置。
6.根據權利要求1所述的光譜分析樣品的定位裝置，其特征在于定位板的上表面設置有三角形的凸臺；三角形凸臺的一個尖角指向缺口的邊緣處。
專利摘要本實用新型公開了一種光譜分析樣品的定位裝置，用在光譜分析儀的工作臺上；其中包括一定位板；在定位板上設置有缺口；缺口的側面為平面。由于采用了在定位板上設置有缺口，通過缺口的側平面定位在分析面的圓形外壁上，由此在分析時，配合試樣的待分析面的圓形棱邊與陽極的圓錐形錐面接觸相接觸，從而不需要操作人員準確觀察并設置激發(fā)點的準確位置，提高了試樣或樣品的定位準確性，也縮短了分析面的取樣過程時間。
文檔編號G01N21/01GK201935864SQ201120024000
公開日2011年8月17日 申請日期2011年1月25日 優(yōu)先權日2011年1月25日
發(fā)明者劉劍波, 徐金華, 陳爽, 陳 勝, 馬鑫 申請人:東莞市億鋮達焊錫制造有限公司