專利名稱：航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于航空電子設(shè)備測量的高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)代航空領(lǐng)域，機(jī)載電子設(shè)備一般包括航空通信、導(dǎo)航、雷達(dá)和電子對抗等設(shè)備，對于他們的性能檢測和維修，通常采用大型航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)來完成，由于航空電子設(shè)備類型多，因此測試信號(hào)頻帶跨度范圍也大((Γ26. 5GHz)，各種信號(hào)的功率和幅度跨度范圍也很大。測試有兩種情形，一種是有一個(gè)外置的信號(hào)源設(shè)備發(fā)出信號(hào)，被測設(shè)備接收，測試的是被測設(shè)備的接收性能，這類設(shè)備通常被集成在“信號(hào)源設(shè)備集成箱”內(nèi)，另一種是被測設(shè)備發(fā)出信號(hào)，另有一個(gè)外置的信號(hào)接收設(shè)備或負(fù)載接收信號(hào)，測試的是被測設(shè)備的發(fā)射性能，這類接收信號(hào)并檢測的設(shè)備通常被集成在“測試平臺(tái)集成箱”內(nèi)。信號(hào)源設(shè)備集成箱內(nèi)通常有微波信號(hào)源、電臺(tái)模擬器、脈沖信號(hào)源等；測試平臺(tái)集成箱內(nèi)通常有PXI機(jī)箱、VXI機(jī)箱、GPIB測試資源等；測試平臺(tái)設(shè)備，如VXI機(jī)箱，通過總線與外置計(jì)算機(jī)相連接； 而信號(hào)源設(shè)備集成箱內(nèi)的設(shè)備，發(fā)出的信號(hào)則需要在測試平臺(tái)設(shè)備集成箱的開關(guān)控制和轉(zhuǎn)接后再連接到被測設(shè)備，如微波發(fā)生器通過信號(hào)源設(shè)備集成箱的面板的接口及專用電纜到達(dá)測試平臺(tái)集成箱內(nèi)的VXI機(jī)箱，在其中經(jīng)過被VXI機(jī)箱控制的微波開關(guān)后，經(jīng)測試平臺(tái)集成箱的后面板的陣列接口輸出，再經(jīng)過適配器連接到被測設(shè)備，如圖1所示。因此，目前的綜合測試系統(tǒng)存在下述缺陷1.所有信號(hào)都要路經(jīng)測試平臺(tái)集成箱，進(jìn)行轉(zhuǎn)接控制和檢測，高低頻信號(hào)之間容易相互干擾；2.高頻信號(hào)(微波、射頻、短波) 的傳輸路徑長，轉(zhuǎn)接點(diǎn)多，易造成信號(hào)衰減、失真和泄漏；以微波信號(hào)為例，其路徑是由微波發(fā)生器產(chǎn)生，經(jīng)過微波發(fā)生器的前面板輸出，再經(jīng)過信號(hào)源設(shè)備機(jī)箱后面板輸出，再經(jīng)VXI 機(jī)箱后面板輸入，再經(jīng)過其中的微波開關(guān)后，到測試平臺(tái)集成箱的后面板的陣列接口輸出， 再經(jīng)過適配器最后才能到達(dá)被測設(shè)備；其中轉(zhuǎn)接接口(插口與插頭連接)多達(dá)8、9個(gè)，高頻信號(hào)非常容易有較大的泄漏和失真，這會(huì)造成測試的誤差大、測試的穩(wěn)定性差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種對高頻信號(hào)集中進(jìn)行轉(zhuǎn)接控制的航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器。為解決上述問題，本發(fā)明包括機(jī)殼，機(jī)殼內(nèi)設(shè)置微波開關(guān)組，所述微波開關(guān)組的端口分別與機(jī)殼前面板上的若干插口連接，所述微波開關(guān)組還與控制它的信號(hào)調(diào)理電路板連接，信號(hào)調(diào)理電路板帶有數(shù)字I/O接口。所述微波開關(guān)組并帶有衰減器。機(jī)殼內(nèi)置給微波開關(guān)組供電的電源模塊。機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置直通式功率計(jì)傳感器，其與所述機(jī)殼前面板上的插口相連接。機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置單刀雙擲開關(guān)，其不動(dòng)端與機(jī)殼前面板的插口連接，兩個(gè)動(dòng)端分別與兩個(gè)射頻負(fù)載連接，控制端與所述信號(hào)調(diào)理電路板相連接。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明將射頻、微波等高頻信號(hào)的轉(zhuǎn)接進(jìn)行了相對集中的控制， 并縮短了信號(hào)傳輸距離，因此大大減輕了信號(hào)的衰減、失真和泄漏的可能性，減小了測試誤差，增加了測試結(jié)果的穩(wěn)定性。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)測試時(shí)微波信號(hào)的傳輸路徑示意圖； 圖2是本發(fā)明高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器的結(jié)構(gòu)示意圖3是使用本發(fā)明高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器時(shí)的微波信號(hào)傳輸路徑示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖2所示，本發(fā)明的高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器(圖中未顯示機(jī)殼)，其前面板上設(shè)置若干插口，這些插口用于與線纜端部的插頭連接，專用線纜另一端與被測設(shè)備連接或與被測設(shè)備進(jìn)行匹配以完成測量的對應(yīng)設(shè)備連接。機(jī)殼內(nèi)設(shè)置帶有衰減器的微波開關(guān)組，各開關(guān)的每個(gè)觸點(diǎn)分別與前面板上的一個(gè)插口連接，微波開關(guān)組與信號(hào)調(diào)理電路板連接，各微波開關(guān)的開合受到信號(hào)調(diào)理電路板的控制，每個(gè)微波開關(guān)的閉合都可以使與相應(yīng)的插口相連接的被測設(shè)備與信號(hào)發(fā)生設(shè)備或測試平臺(tái)設(shè)備導(dǎo)通，以便進(jìn)行測試；信號(hào)調(diào)理電路板帶有數(shù)字I/O接口，用于與外置的計(jì)算機(jī)連接，根據(jù)外置計(jì)算機(jī)的指令對微波開關(guān)進(jìn)行控制。機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置直通式功率計(jì)傳感器，其與前面板上的兩個(gè)插口連接；機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置單刀雙擲開關(guān)，其控制端與信號(hào)調(diào)理電路板連接，其不動(dòng)端與前面板上的一個(gè)插口連接， 兩個(gè)動(dòng)端分別與機(jī)殼內(nèi)的兩個(gè)射頻負(fù)載相連接。機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置電源模塊，用于給微波開關(guān)組提供24V的電源。前面板的各個(gè)插口一般連接特定的設(shè)備，如Pl插口用于連接電臺(tái)模擬器，P2插口用于連接電臺(tái)綜測儀，P5插口用于連接微波信號(hào)源等。實(shí)際使用時(shí)，先將各種被測設(shè)備及對應(yīng)的外置設(shè)備連接到前面板的插口上，然后通過外置計(jì)算機(jī)運(yùn)行測試軟件，向信號(hào)調(diào)理電路板發(fā)出指令，信號(hào)調(diào)理電路板則向微波開關(guān)組和單刀雙擲開關(guān)發(fā)出控制信號(hào)，控制各個(gè)開關(guān)的閉合，實(shí)現(xiàn)不同設(shè)備組之間的導(dǎo)通，完成測試。例如，在使用微波信號(hào)源進(jìn)行測試時(shí)，計(jì)算機(jī)發(fā)出指令，信號(hào)調(diào)理電路板向微波開關(guān)組發(fā)出控制信號(hào)，使與P5插口連接的微波開關(guān)導(dǎo)通，且使其它微波開關(guān)處于斷開狀態(tài)， 此時(shí)，微波信號(hào)的路徑如圖3所示，先從微波信號(hào)源輸出，經(jīng)過P5插口、相對應(yīng)的微波開關(guān)、 P9端口輸出到被測設(shè)備，信號(hào)僅經(jīng)過4個(gè)轉(zhuǎn)接節(jié)點(diǎn)，線纜距離也可以大大縮短。需要檢測短波電臺(tái)收發(fā)機(jī)的功率時(shí)，先使其它開關(guān)處于斷開狀態(tài)，然后將短波電臺(tái)收發(fā)機(jī)輸出的專用電纜的插頭插接到面板上的插口 P11，則直通式功率計(jì)會(huì)檢測出短波電臺(tái)收發(fā)機(jī)功率的大小。檢測短波電臺(tái)天調(diào)出的負(fù)載輸出時(shí)，信號(hào)調(diào)理電路板會(huì)控制單刀雙擲開關(guān)選擇導(dǎo)通射頻負(fù)載ι還是射頻負(fù)載2。為解決高頻信號(hào)經(jīng)過集成箱所造成的路徑長、轉(zhuǎn)接節(jié)點(diǎn)多的問題，本發(fā)明設(shè)計(jì)了高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，在測試系統(tǒng)中將高頻信號(hào)的傳輸和控制分離出來，相對獨(dú)立的進(jìn)行轉(zhuǎn)接控制，避免了與低頻信號(hào)間的相互干擾；經(jīng)過分配器直接與被測設(shè)備相連，縮短了傳輸距離，減輕了信號(hào)傳輸過程中的衰減；由于不再經(jīng)過陣列接口及兩個(gè)集成箱體的面板接口， 轉(zhuǎn)接節(jié)點(diǎn)大大減少，減少了信號(hào)的接口泄漏和失真，減小了測試誤差，增加了測試結(jié)果的穩(wěn)定性。
權(quán)利要求
1.一種航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，其特征在于它包括機(jī)殼，機(jī)殼內(nèi)設(shè)置微波開關(guān)組，所述微波開關(guān)組的端口分別與機(jī)殼前面板上的若干插口連接，所述微波開關(guān)組還與控制它的信號(hào)調(diào)理電路板連接，信號(hào)調(diào)理電路板帶有數(shù)字I/O接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，其特征在于所述微波開關(guān)組并帶有衰減器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，其特征在于機(jī)殼內(nèi)置給微波開關(guān)組供電的電源模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，其特征在于機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置直通式功率計(jì)傳感器，其與所述機(jī)殼前面板上的插口相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的航空電子設(shè)備綜合測試系統(tǒng)高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器，其特征在于機(jī)殼內(nèi)還設(shè)置單刀雙擲開關(guān)，其不動(dòng)端與機(jī)殼前面板的插口連接，兩個(gè)動(dòng)端分別與兩個(gè)射頻負(fù)載連接，控制端與所述信號(hào)調(diào)理電路板相連接。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于航空電子設(shè)備測量的高頻信號(hào)轉(zhuǎn)接控制器。本發(fā)明包括機(jī)殼，機(jī)殼內(nèi)設(shè)置微波開關(guān)組，所述微波開關(guān)組的端口分別與機(jī)殼前面板上的若干插口連接，所述微波開關(guān)組還與控制它的信號(hào)調(diào)理電路板連接，信號(hào)調(diào)理電路板帶有數(shù)字I/O接口。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明將射頻、微波等高頻信號(hào)的轉(zhuǎn)接進(jìn)行了相對集中的控制，并縮短了信號(hào)傳輸距離和減少了轉(zhuǎn)接接觸點(diǎn)，因此大大減輕了信號(hào)的衰減、失真和泄漏的可能性，減小了測試誤差，增加了測試結(jié)果的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G01R29/00GK102565544SQ20111044955
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者姜茂仁 申請人:姜茂仁