一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜及其制作方法
【專利摘要】一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜的制作方法，屬于無損檢測領(lǐng)域，其特征是：首先收集帶有不同缺陷的零部件試樣，進(jìn)行物理金相測試；然后對零部件試樣進(jìn)行熒光滲透檢測；將試樣的物理金相結(jié)果與熒光滲透檢測結(jié)果進(jìn)行對比，繪制對比圖譜。有益效果是：本發(fā)明提供的熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜，能有效地模擬被檢件真實缺陷顯示的大小及等級；為無損檢測領(lǐng)域中，熒光滲透檢驗標(biāo)準(zhǔn)的制作提供了一種新方法；該對比圖譜使用方便、檢測準(zhǔn)確、可人為控制，為生產(chǎn)過程節(jié)約了大量人力、物力。
【專利說明】一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜及其制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域，特別涉及了一種熒光滲透檢驗不同缺陷尺寸對比圖譜的制作方法。
【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知，發(fā)動機(jī)中包括非常多的零部件，為保證這些零部件在發(fā)動機(jī)使用過程中的安全性，熒光滲透檢測是檢測這些零部件缺陷的常規(guī)方法之一，而對于每一種無損檢測方法都有其特定的標(biāo)準(zhǔn)或?qū)Ρ仍噳K，各種試塊其制作方法和應(yīng)用方法均不同，而且對于檢測的要求也不同，為了保證對不同零部件的檢驗要求及檢驗靈敏度必須設(shè)計合理的對比試塊，制作過程復(fù)雜?，F(xiàn)有技術(shù)中對熒光滲透缺陷的顯示主要是通過熒光標(biāo)尺、熒光塞尺進(jìn)行的，由于檢測過程中磨損嚴(yán)重，使用不方便，而且在暗處無法顯示真實缺陷的大小和級另IJ，勢必造成誤判現(xiàn)象和不必要的浪費(fèi)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是:針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明提供了一種熒光滲透檢驗不同缺陷尺寸的對比圖譜的制作及應(yīng)用方法，應(yīng)用該方法制作的標(biāo)準(zhǔn)圖譜能有效的模擬被檢件中線性的裂紋類缺陷和點(diǎn)狀或片狀的夾雜和疏松類缺陷，還能有效地模擬被檢件真實缺陷的大小等級，模擬狀態(tài)與真實的熒光顯示狀態(tài)基本一致。生產(chǎn)檢測過程中，將真實的熒光顯示狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)圖譜模擬的狀態(tài)進(jìn)行比較，即可以準(zhǔn)確的判定各類缺陷的大小和等級。
本發(fā)明的技術(shù)方案是提供了一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜的制作方法，其特征在于依次包括如下步驟:
步驟一、收集帶有不同缺陷尺寸的零部件試樣
借助物理金相的方法:通過加工、研磨、腐蝕、在顯微鏡下觀察，采集這些不同材料零部件式樣中缺陷的形貌、尺寸，并根據(jù)尺寸劃分等級。
[0004]步驟二、對零部件試樣進(jìn)行熒光滲透檢測
對用物理金相的方法觀察過的試樣，進(jìn)行熒光滲透檢驗，收集不同缺陷真實的熒光顯示狀態(tài)。不同材料零部件的缺陷顯示不一樣，鍛件、鑄件、焊接件中的缺陷類型也不一樣，裂紋類缺陷的顯示是線性的，夾雜和疏松類缺陷的顯示為點(diǎn)狀或片狀，模擬狀態(tài)與真實的熒光顯示狀態(tài)基本保持一致。
[0005]步驟三、繪制對比圖譜
將帶有不同缺陷的零部件試樣的物理金相結(jié)果、與熒光滲透檢測結(jié)果進(jìn)行對比，模擬繪制對比圖譜，使對比圖譜中的檢驗標(biāo)準(zhǔn)與缺陷真實的熒光顯示狀態(tài)基本保持一致，對比圖譜中的尺寸等級與物理金相收集的缺陷真實尺寸數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)。使對比圖譜中的檢驗標(biāo)準(zhǔn)與缺陷的真實尺寸--對應(yīng)。
[0006]步驟四、對標(biāo)準(zhǔn)圖譜進(jìn)行轉(zhuǎn)換輸出對于繪制的模擬圖譜，經(jīng)過Adobe Illustrator軟件轉(zhuǎn)換得到滿意的輸出圖譜效果。
[0007]步驟五、制成在紫外線下熒光顯示的標(biāo)準(zhǔn)圖譜
將經(jīng)過軟件轉(zhuǎn)換的模擬圖譜輸出到經(jīng)特殊處理帶有熒光的印刷紙上，制成可在紫外線下的熒光顯示的標(biāo)準(zhǔn)圖譜。
[0008]有益效果是:該對比圖譜的應(yīng)用可以方便有效地檢測不同材料零部件的缺陷，不同材料零部件的缺陷對應(yīng)相關(guān)的驗收標(biāo)準(zhǔn)來對零部件進(jìn)行驗收，保證發(fā)動機(jī)零部件的質(zhì)量，進(jìn)而保證發(fā)動機(jī)的運(yùn)行安全。本發(fā)明所提供的對比圖譜為無損檢測熒光滲透檢驗標(biāo)準(zhǔn)的制作提供了一種新方法。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜。
【具體實施方式】
[0010]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜，所述對比圖譜包括:圓形、橢圓形、細(xì)線形、粗線形的檢驗標(biāo)準(zhǔn)和0.1,0.2,0.3,0.5,0.8、1、1.2,1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5數(shù)字部分；所述檢驗標(biāo)準(zhǔn)的形狀與缺陷的熒光顯示形狀保持一致；數(shù)字代表不同的尺寸等級，單位為mm ;所述圓形、橢圓形對應(yīng)夾雜、疏松類缺陷的檢測形狀；所述細(xì)線形、粗線形對應(yīng)裂紋類缺陷的檢測形狀；所述檢驗標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)字在自然光下可以看到，在紫外線下也可以看到。
[0011]本發(fā)明熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜的應(yīng)用過程如下:
(I)使用清洗劑清洗零件，溫度為70°c，時間可根據(jù)被檢件來確定，一般為10~15min。
[0012](2)對零件進(jìn)行熒光滲透，零件受檢表面應(yīng)被滲透液覆蓋，在滲透時間內(nèi)一直保持潤濕狀態(tài)，并預(yù)先保護(hù)好不允許接觸滲透液的零件表面，零件、滲透液和環(huán)境的溫度應(yīng)保持在15°C~40°C之間。滲透時間一般為l0~l20min，
若超過120min，則應(yīng)重新施加滲透液。為防止?jié)B透液集聚，可適當(dāng)翻轉(zhuǎn)零件，如采用浸入法，零件浸入滲透液中的時間不大于總停留時間的1/2。
[0013](3)對零件上的熒光滲透液進(jìn)行去除，在滲透液的去除過程中，應(yīng)在黑光燈下檢查滲透液去除的效果，清洗時間應(yīng)進(jìn)行控制，以保證充分去除表面上的滲透液又不發(fā)生過洗現(xiàn)象，若過洗，則應(yīng)將零件進(jìn)行徹底清洗，按工藝要求重新處理?？蛇x用手工水噴洗:水溫10℃~40℃ ;水壓≤0.27MPa;氣壓≤0.17 MPa;噴洗距離≥300mm。
[0014](4)對零件進(jìn)行干燥，干燥前需用清潔的壓縮空氣吹除零件表面的積水；
要注意吹除盲孔、凹槽、空隙等部位的積水，空氣壓力≤0.17MPa，噴咀距零件表面距離≥300mm ;在零件不帶有積水的情況下放入熱風(fēng)循環(huán)烘干箱中進(jìn)行干燥，干燥溫度< 70°C，干燥時間根據(jù)零件的幾何形狀、體積大小、數(shù)量多少有所不同，但應(yīng)是使零件表面充分干燥所需的最短時間一般為I miiTlO min ;干燥后零件應(yīng)立即從干燥箱中取出；然后在室溫或在空氣中自然干燥。
[0015](5)對零件進(jìn)行顯像，采用干粉顯影法將干燥后的零件放入噴粉箱內(nèi)，用粉末噴霧的方法把干粉顯像劑薄而均勻地施加到零件的表面上，并使其與全部受檢表面相接觸，顯像時間最短IOmin,最長4h。[0016](6)在黑光燈下對被檢零件的檢驗部位進(jìn)行檢驗。
[0017](7)對由熒光顯示的零件上的顯示，用該圖譜進(jìn)行尺寸、等級的比較，以確定零件是否驗收。
[0018](8)對檢驗合格的零件進(jìn)行清洗以去除熒光滲透檢驗中對零件的污染。
[0019]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非用以限定本發(fā)明的申請范圍；凡其他未脫離本發(fā)明所揭示的實質(zhì)下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在下述的權(quán)利要求書范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜的制作方法，其特征在于依次包括如下步驟: 步驟一、收集帶有不同缺陷的零部件試樣 借助物理金相的方法，通過加工、研磨、腐蝕、在顯微鏡下觀察，采集這些零部件試樣中缺陷的形貌、尺寸，并根據(jù)尺寸劃分等級 步驟二、對零部件試樣進(jìn)行熒光滲透檢測； 對用物理金相的方法觀察過的試樣，進(jìn)行熒光滲透檢測，收集不同缺陷真實的熒光顯示狀態(tài)，其中裂紋類缺陷的顯示是線性的，夾雜和疏松類缺陷的顯示為點(diǎn)狀或片狀； 步驟三、繪制對比圖譜 將試樣的物理金相結(jié)果與熒光滲透檢測結(jié)果進(jìn)行對比，模擬繪制對比圖譜，使對比圖譜中的檢驗標(biāo)準(zhǔn)與缺陷真實的熒光顯示狀態(tài)保持一致，對比圖譜中的尺寸等級與物理金相收集的缺陷真實的尺寸進(jìn)行校準(zhǔn) 步驟四、對標(biāo)準(zhǔn)圖譜進(jìn)行轉(zhuǎn)換輸出； 步驟五、制成在紫外線下熒光顯示的標(biāo)準(zhǔn)對比圖譜。
2.一種采用權(quán)利要求1所述的方法制成的熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜，其特征在于:所述對比圖譜包括檢驗標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)字；所述檢驗標(biāo)準(zhǔn)的形狀與缺陷的熒光顯示形狀保持一致；數(shù)字代表不同的尺寸等級。
3.如權(quán)利要求2所述的對比圖譜，其特征在于:所述檢驗標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)字在自然光下可以看到，在紫外線下也可以看到。
4.如權(quán)利要求2或3所述的對比圖譜，其特征在于:所述檢驗標(biāo)準(zhǔn)包括圓形、橢圓形、細(xì)線形、粗線形；所述圓形、橢圓形對應(yīng)夾雜、疏松類缺陷的檢測；所述細(xì)線形、粗線形對應(yīng)裂紋類缺陷的檢測。
5.如權(quán)利要求4所述的對比圖譜，其特征在于:所述數(shù)字包括0.1,0.2,0.3,0.5,0.8、.1、1.2,1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5 ;所述數(shù)字與不同形狀的檢驗標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)，代表不同的尺寸，單位為mm。
【文檔編號】G01N21/91GK103822928SQ201110252155
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2011年8月30日
【發(fā)明者】任富華, 劉海強(qiáng), 任鵬 申請人:沈陽黎明航空發(fā)動機(jī)(集團(tuán))有限責(zé)任公司