技術(shù)編號：6159002
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜的制作方法，屬于無損檢測領(lǐng)域，其特征是首先收集帶有不同缺陷的零部件試樣，進(jìn)行物理金相測試；然后對零部件試樣進(jìn)行熒光滲透檢測；將試樣的物理金相結(jié)果與熒光滲透檢測結(jié)果進(jìn)行對比，繪制對比圖譜。有益效果是本發(fā)明提供的熒光滲透檢驗缺陷尺寸的對比圖譜，能有效地模擬被檢件真實缺陷顯示的大小及等級；為無損檢測領(lǐng)域中，熒光滲透檢驗標(biāo)準(zhǔn)的制作提供了一種新方法；該對比圖譜使用方便、檢測準(zhǔn)確、可人為控制，為生產(chǎn)過程節(jié)約了大量人力、物力。專利說明[...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。