專利名稱：數(shù)字式被動元件萬能測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種被動元件測試裝置，尤其是一種數(shù)字式被動元件萬能測試儀。
背景技術(shù)：
目前，在電子產(chǎn)品設(shè)計領(lǐng)域除集成電路之外，其余元件包括電源線在內(nèi)均稱被動元件，它的測試往往需要多種專用測試儀表設(shè)備，例如耐壓有耐壓儀；漏電流有漏電流測試儀；絕緣電阻有兆歐表；還有二極管、三極管電壓參數(shù)等有JT測試儀等等。一般小型企業(yè)，特別是私營企業(yè)均不設(shè)立儀表室這一機(jī)構(gòu)，故對進(jìn)廠的元器件篩選及測試難以重視，從而使產(chǎn)品質(zhì)量第一道“防線”不過關(guān)。

發(fā)明內(nèi)容
為了使相關(guān)企業(yè)擺脫上述質(zhì)量上的薄弱環(huán)節(jié)，本實用新型提供一種數(shù)字式被動元件萬能測試儀，其功能集電壓及漏電流測試、兆歐表與JT測試儀為一體，并由三位半數(shù)字表頭作顯示，只須用一臺儀器即能對所有被動元件進(jìn)行篩選及測試，可以方便地掌握所選元件的參數(shù)及合格品率等，使產(chǎn)品質(zhì)量從“進(jìn)廠”元器件把關(guān)做起。
本實用新型所采取的技術(shù)方案是將輸入的直流低電壓通過開關(guān)式可調(diào)穩(wěn)壓電源變成0～2000V測試電壓；并由觸發(fā)器檢測技術(shù)記錄所測元件的“擊穿點”；最后由儀表放大器組成減法器將檢測取樣電壓與輸入實測電壓進(jìn)行放大，產(chǎn)生一個差值由三位半數(shù)字表頭顯示讀數(shù)，獲得測量結(jié)果。由于其測試電壓是從零開始，所以達(dá)到了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性與安全性，并實現(xiàn)多功能之目的。
本實用新型采用了上述方案，不僅簡化了被動元件的測試手段，而且節(jié)約了儀表設(shè)備的昂貴開支，更為重要的是為大量進(jìn)行負(fù)阻元器測試解決了難題，具有測試精度高，應(yīng)用范圍廣之優(yōu)點。
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述。


圖1是本實用新型數(shù)字式被動元件萬能測試儀的電原理圖，圖2是圖1所示電原理圖中“方框1”內(nèi)部I/V轉(zhuǎn)換器電路的示意圖。
參見圖1本實用新型包括由數(shù)字電路IC5及電源調(diào)整管BG2等組成的開關(guān)式可調(diào)穩(wěn)壓電源、輸入I/V轉(zhuǎn)換器、定時器IC2組成的R·S觸發(fā)器、儀表放大器IC3組成的減法器以及組件U1組成的三位半數(shù)字表頭等電路組成，以下對上述各部分逐一描述具體實施方式
電源+9V與方波振蕩器IC5的第4、5、6、14腳連接，同時接電源調(diào)整管BG2的發(fā)射極。IC5的第2腳接定時電阻R9一端；R9另一端與定時電容C3一端連接、同時接IC5的第3腳；C3的另一端接IC5的第1腳。IC5的第7、8、9、12腳接地線；第10、11腳分別與推勉管Q1與Q2的柵極連接。推勉管Q1與Q2的源極同時接地線；漏極分別接至變壓器T的初級兩個輸入端、初級中心抽頭接電源調(diào)整管BG2的集電極。變壓器T次級兩個輸出端分別接5倍壓整流升壓電路，即一個輸出端與二極管VD2的正極連接；另一個輸出端與電容C4連接并接地；電容C4另一端與二極管VD2的負(fù)極連接，以下依次類推。
運算放大器IC4的第3腳與電阻R6一端、電容C2一端連接，R6另一端接電位器W1的中心抽頭；C2的另一端接地線。電位器W1上端接基準(zhǔn)電壓+5V；下端接地線。運算放大器IC4的第2腳與反饋電阻R12一端、R11+R10的一端連接；R10+R11的另一端接2倍壓電路中電容C5一端及二極管VD3負(fù)極。運算放大器IC4輸出第6腳接驅(qū)動三極管BG1的基極、三極管BG1發(fā)射極接地；三極管BG1集電極接電阻R8一端、R8另一端接電源調(diào)整管BG2基極。
I/V轉(zhuǎn)換器第1、2腳為測試端并與5倍壓輸出端0～2000V即二極管VD6負(fù)極連接；第3腳為輸出端與電壓跟隨器IC1第3腳連接；第4腳接地線。電壓跟隨器IC1的第2、6腳并連、同時與R·S觸發(fā)器IC2的第2腳連接。R·S觸發(fā)器IC2第8腳接正5V電源；第1腳接地線；第5腳接基準(zhǔn)電壓DW1；第6腳與電阻R4一端；復(fù)位開關(guān)S1一端連接、R4另一端接+5V；S1另一端接地。R·S觸發(fā)器IC2第4腳與電容C1一端、電阻R3一端連接；電容C1另一端接地；電阻R3另一端接+5V。R·S觸發(fā)器IC2第3腳與反相器IC4第1腳、二極管VD1負(fù)極、發(fā)光二極管LED1陽極連接。二極管VD1正極接三極管BG1基極。反相器IC4第2腳與發(fā)光二極管LED2陽極、電阻R15一端、三位半數(shù)字電壓表U1第1腳連接。發(fā)光二極管LED1、LED2共陰極接電阻R5一端、R5另一接地。三位半數(shù)字表頭U1第5腳接+5V、第4腳接-5V、第3腳接公共地。
儀表放大器IC3第7腳接+5V、第4腳接-5V、第6腳為輸出端與三位半電壓第2腳連接。儀表放大器IC3第3腳與5倍壓輸出端取樣電阻R13與R14分壓點連接；第2腳與電源跟隨器IC1第6腳輸出端取樣電阻R1與R2的分壓點連接。取樣電阻R2、R14另一端接地；取樣電阻R13另一端接5倍壓輸出端；電阻R1另一端接電源跟隨器IC1第6腳。
I/V轉(zhuǎn)換器采用圖2連接、其第1腳與5倍壓輸出連接；第2腳與電阻串聯(lián)網(wǎng)絡(luò)RP的一端連接、RP的另一端與選擇開關(guān)S2的“位”連接；S2的“刀”與地線連接。
以上所述R·S觸發(fā)器電路IC2可采用例如ICL7555定時器。
以上所述儀表放大器電路IC3可采用例如AD620儀表放大器。
以上所述開關(guān)式可調(diào)電源穩(wěn)壓器其中方波振蕩器可采用例如CD4047數(shù)字集成電路。
接下來描述本實用新型的工作過程首先將選擇開關(guān)S2撥置適當(dāng)位置，再接通電源，在R·S觸發(fā)器IC2的強(qiáng)復(fù)位端上即第4腳由于接入由R3與C1組成的RC延時電路，從而保R·S觸發(fā)器IC2的輸出“開機(jī)”為低電平。然后，按一下復(fù)位開關(guān)S1，R·S觸發(fā)器IC2輸出即變?yōu)楦唠娖?，同時LED1點亮；另一路徑反相器IC4使三位半數(shù)字表U1的第1腳為低電平，U1內(nèi)部鎖存器不工作，整機(jī)處于待測工作狀態(tài)
在測試輸入端接入被測元件，調(diào)節(jié)電位器W1開關(guān)穩(wěn)壓電源5倍壓輸出電壓逐漸升高，即加在被測元件上的電壓也升高。隨著電壓升高，流過被測元件的電流也增大，并在輸入I/V轉(zhuǎn)換器RP電阻網(wǎng)絡(luò)上形成電壓也增大。同時，經(jīng)過電壓跟隨IC1送入R·S觸發(fā)器IC2，一旦超過基準(zhǔn)電壓DW1，R·S觸發(fā)器IC2即翻轉(zhuǎn)，并經(jīng)反相器IC4將三位半數(shù)字表U1讀數(shù)鎖定，同時LED2點亮，表示元件電壓已擊穿。
這里，儀表放大器IC4實際上完成減法器作用，其同相端輸入測試電壓，反相端輸入RP網(wǎng)絡(luò)上取樣電壓，并相減去結(jié)果輸出端為實際的被測元件電壓值。
這里，RP電阻網(wǎng)絡(luò)決定漏電流大小，經(jīng)歐姆定律可得到絕緣電阻值。
這里，LED1與LED2為雙色發(fā)光二極管，既作電源指示紅色，又作電壓擊穿指示綠色。
以上所述僅僅是本實用新型的一個便攜式產(chǎn)品的實施例，根據(jù)本實用新型的構(gòu)思、原理，還可變換成臺式產(chǎn)品或采用成品開關(guān)穩(wěn)壓器SG3524等仍屬本實用新型范圍。
權(quán)利要求1.一種數(shù)字式被動元件萬能測試儀，它包括開關(guān)式可調(diào)穩(wěn)壓電源、R·S觸發(fā)器、儀表放大器，以及三位半數(shù)字表頭等電路組成，其特征在于儀表放大器IC3第3腳與5倍壓整流輸出端取樣電阻R13與R14的分壓點連接；第2腳與電壓跟隨器IC1的第6腳輸出端取樣電陰R1與R2的分壓點連接；第6腳輸出端與三位半數(shù)字表頭U1第2腳連接。
2.如權(quán)利要求1所述數(shù)字式被動元件萬能測試儀，其特征在于所述開關(guān)式可調(diào)穩(wěn)壓電源，其電源調(diào)整管BG2的發(fā)射極與電源+9V連接、集電極與變壓器T初級中心抽頭連接、基極與驅(qū)動三極管BG1集電極連接。
3.如權(quán)利要求1所述數(shù)字式被動元件萬能測試儀，其特征在于所述R·S觸發(fā)器IC2的第4腳與電容C1一端、電阻R3一端連接；電容C1另一端接地、電阻R3另一端接+5V。
專利摘要本實用新型公開一種數(shù)字式被動元件萬能測試儀器，它包括開關(guān)式可調(diào)穩(wěn)壓電源、R·S觸發(fā)器、儀表放大器，以及三位半數(shù)字表頭等組成，其功能集電壓及漏電流測試、兆歐表與JT測試儀為一體，實現(xiàn)對除集成電路之外的所有被動元件的篩選及測試，特別適合進(jìn)口負(fù)阻元器件，具有測試精度高、應(yīng)用范圍廣之優(yōu)點。
文檔編號G01R15/00GK2742449SQ200420082079
公開日2005年11月23日 申請日期2004年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月23日
發(fā)明者宋嘉鴻 申請人:宋嘉鴻