專利名稱：手持式自動(dòng)折射計(jì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及一種用來(lái)測(cè)量物質(zhì)折射率的折射計(jì)，更具體地涉及一種設(shè)計(jì)緊湊、方便手持操作的自動(dòng)折射計(jì)。
背景技術(shù)：
折射計(jì)測(cè)量全反射的臨界角，是通過(guò)下述方式來(lái)完成的把斜入射的非準(zhǔn)直光束導(dǎo)向高折射率棱鏡和樣品之間的面-面界面處，以便允許在界面處發(fā)生交互作用后觀測(cè)到一部分光。在透射光折射計(jì)中，觀測(cè)到的是透射過(guò)樣品和棱鏡的光，而在反射光折射計(jì)中，觀測(cè)到的是由于面-面界面上的全反射而產(chǎn)生的反射光。在任一種情況中，探測(cè)視野的一部分產(chǎn)生一個(gè)亮區(qū)，根據(jù)探測(cè)視野中亮區(qū)和相鄰的暗區(qū)之間的陰影線的位置可以從幾何上推出樣品的折射率。
在工業(yè)中使用的較簡(jiǎn)單的手持式折射計(jì)中，視野中疊加十字線刻度，操作者通過(guò)目鏡觀察陰影線相對(duì)于十字線刻度的位置，標(biāo)記該陰影線的位置可以提供所需要的信息，例如樣品中的固體濃度百分比。試驗(yàn)樣品的照明可以由環(huán)境照明提供，或者采用樣品旁邊的專用光源，例如像美國(guó)專利US4650323所公開(kāi)的。手持式折射計(jì)是合乎需要的，因?yàn)樽鳛橐环N質(zhì)量保證的方法，它們能對(duì)樣品進(jìn)行定期的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。由于液體物質(zhì)的折射率與物質(zhì)中元素濃度有關(guān)，手持式折射計(jì)被廣泛應(yīng)用于軟性飲料業(yè)來(lái)監(jiān)測(cè)糖的濃度和機(jī)械工具業(yè)來(lái)監(jiān)測(cè)切削液的潤(rùn)滑劑濃度。作為一個(gè)更具體的例子，美國(guó)專利US6034762描述了一種用來(lái)測(cè)量液壓液例如剎車液中的水含量的手持式折射計(jì)。手持式折射計(jì)的測(cè)量結(jié)果具有有限的準(zhǔn)確度(真值的接近度)和精度(不考慮準(zhǔn)確度的再現(xiàn)性)，這是因?yàn)椴僮髡吲袛嚓幱熬€相對(duì)于十字線刻度的位置，因而將人為誤差引進(jìn)了每次讀數(shù)。
對(duì)更高的準(zhǔn)確度和精確度的要求使自動(dòng)折射計(jì)的發(fā)展起來(lái)，消除了與通過(guò)視覺(jué)確定陰影線相對(duì)于十字刻度的位置有關(guān)的猜測(cè)工作。美國(guó)專利US4640616(Michalik)和6172746(Byrne等)公開(kāi)了一種自動(dòng)折射計(jì)，其中設(shè)置了光敏元件或“光電管”的線性掃描陣列，用于探測(cè)在樣品-棱鏡界面處發(fā)生交互作用后的光。在商業(yè)應(yīng)用中，線性掃描陣列包括一直列電荷耦合裝置(CCD)光電管，經(jīng)電子掃描以提供一系列脈沖信號(hào)，其振幅與光電管從入射光接收到的照明量成正比。線性掃描陣列接受的光把陣列分為一個(gè)亮區(qū)和一個(gè)相鄰的暗區(qū)，從而在陣列上形成一個(gè)陰影線。陰影線穿過(guò)的線性掃描陣列的特定光電管或插入的內(nèi)光電管部分由緊挨著棱鏡放置的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定。數(shù)字化并處理光電管的輸出，以得到光電管的位置，在該位置處過(guò)渡陰影線穿過(guò)陣列，這樣可以計(jì)算出感興趣的折射率和濃度。先有技術(shù)的自動(dòng)折射計(jì)比手持式折射計(jì)大而且重，并包括光學(xué)裝置，設(shè)計(jì)該光學(xué)裝置是為了提供足夠的初次到達(dá)探測(cè)器陣列的光通量，以便得到相對(duì)于探測(cè)器陣列來(lái)說(shuō)合適的信噪比。在這些器械中，光學(xué)元件排列的緊密性不是一個(gè)限制性設(shè)計(jì)因素。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、輕便的適于手持使用的自動(dòng)折射計(jì)。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種提供高度準(zhǔn)確和精確測(cè)量讀數(shù)的手持式自動(dòng)折射計(jì)。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供一種手持式自動(dòng)折射計(jì)，它具有可以最大限度利用光源照明的光學(xué)系統(tǒng)，不用依靠增加光源的能源消耗而在折射計(jì)的感光陣列上提供需要的信噪比。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供一種手持式自動(dòng)折射計(jì)，其具有一物理結(jié)構(gòu)緊湊的光學(xué)系統(tǒng)，可在折射計(jì)的感光陣列上提供避免影響測(cè)量讀數(shù)異常的照明分配。
在這些和其它目的的促進(jìn)下，本發(fā)明的手持式自動(dòng)折射計(jì)通常包括一個(gè)線性掃描陣列和光學(xué)裝置，其中所述線性掃描陣列具有多個(gè)光電管，所述光學(xué)裝置將光引導(dǎo)到陣列上，以便該陣列上受到光照的特定光電管由放置得與該光學(xué)裝置操作相關(guān)聯(lián)的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定，其中光學(xué)裝置也用于接收陣列反射的偏離光，并且重新把該光引導(dǎo)回到陣列上。更具體地說(shuō)，光學(xué)裝置包括一個(gè)具有一樣品接收表面以建立臨界角界面的棱鏡，一個(gè)將光斜著導(dǎo)向樣品-棱鏡界面處的非平行光源，一個(gè)置于緊挨著線性掃描陣列且與其成銳角的的反射表面。對(duì)反射表面進(jìn)行定向，以便執(zhí)行兩種功能第一、反射表面接受在樣品-棱鏡界面處內(nèi)反射的光并將其導(dǎo)向線性掃描陣列；第二、反射表面接受少量線性掃描陣列反射的光并將其導(dǎo)回到陣列上。在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，反射表面被做的足夠長(zhǎng)，以使一部分反射表面接受不到初次光通量，但是該反射表面更適合專門用于將二次反射的光返回到陣列上。另外根據(jù)一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，線性掃描陣列被設(shè)置沿著與樣品接受表面平行或基本平行的方向沿伸，以用于低外形設(shè)計(jì)，同時(shí)樣品表面向上、陣列朝下。
折射計(jì)還包括信號(hào)處理電子裝置和一個(gè)顯示器，用來(lái)將線性掃描陣列的輸出轉(zhuǎn)化為有意義的測(cè)量結(jié)果并匯報(bào)結(jié)果。


本發(fā)明的特性和操作模式將在隨后的本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明中，結(jié)合附圖更全面地描述。
圖1是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例制造的手持式自動(dòng)折射計(jì)的透視圖；圖2是圖1所示的手持式自動(dòng)折射計(jì)的橫截面圖；圖3是詳細(xì)的手持式自動(dòng)折射計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)的示意圖；圖4A是類似于圖3的光學(xué)示意圖，表示以空氣作為參考樣品的光線軌跡和將光導(dǎo)到光學(xué)系統(tǒng)的探測(cè)器陣列上的短鏡；圖4B是是類似于圖4A的光學(xué)示意圖，但是表示使用較長(zhǎng)的鏡將光導(dǎo)到光學(xué)系統(tǒng)的探測(cè)器陣列上；圖5是作為光電管數(shù)目函數(shù)的光強(qiáng)度的比較曲線圖，用于有和沒(méi)有來(lái)自線性掃描陣列的二次反射的情況下折射計(jì)的線性掃描陣列的參考掃描。
具體實(shí)施例方式
首先參考圖1，其圖示了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例中形成的手持式自動(dòng)折射計(jì)，概括地指定其參考序號(hào)為10。折射計(jì)10通常包括一個(gè)箱體12，一個(gè)置于箱體12的前部的截頭圓錐形的樣品槽14，一個(gè)校準(zhǔn)控制按鈕15，一個(gè)讀數(shù)控制按鈕16，一個(gè)模式控制按鈕17，和一個(gè)LCD顯示器面板18。
現(xiàn)在看圖2的橫截面圖。箱體12包括一個(gè)上面安置了一個(gè)線性掃描陣列22的主電路板20，用于將光引導(dǎo)到線性掃描陣列22上的光學(xué)裝置24(這將在下面詳細(xì)介紹)，和一個(gè)以電池26形式出現(xiàn)的電源。所制造的箱體12具有用于裝配目的的頂部12A和底部12B，而且按一定尺寸制造成為操作者可輕易手持的緊湊單元。
如圖3所示，優(yōu)選實(shí)施例中的光學(xué)裝置24包括一個(gè)帶有一個(gè)用來(lái)接受待測(cè)樣品28的外部樣品表面30A的高折射率棱鏡30。參考圖4A和4B，非平行光通過(guò)一個(gè)發(fā)光二極管32、散射體34、遮光板35以及第一透鏡38斜射到樣品28和棱鏡30之間的表面交界處，所述散射體34直接位于發(fā)光二極管32的下游，所述遮光板35帶有一個(gè)散射光通過(guò)的小孔縫隙36，所述第一透鏡38粘接在棱鏡30的一個(gè)進(jìn)口表面(entry surface)30B上，用于將光聚焦在略微位于樣品表面30A前方的F1點(diǎn)上。從F1點(diǎn)發(fā)散出來(lái)的光包括入射角比全內(nèi)反射的臨界角大的光線和入射角不大于全內(nèi)反射的臨界角的光線，這樣前種光線會(huì)在樣品-棱鏡界面處發(fā)生內(nèi)反射，并繼續(xù)沿著一條路徑到達(dá)線性掃描陣列22，而后種光線會(huì)被樣品28折射，然后穿出系統(tǒng)。內(nèi)反射光持續(xù)通過(guò)棱鏡30的一個(gè)出口表面(exit surface)30C和一個(gè)粘接在出口表面上的第二透鏡40。該光接著到達(dá)鏡42的一個(gè)反射表面42A，然后被重新導(dǎo)向線性掃描陣列22。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員認(rèn)識(shí)到樣品28的折射率是確定棱鏡-樣品界面上的全內(nèi)反射臨界角以及因此確定線性掃描陣列22上的亮區(qū)和暗區(qū)之間陰影線的位置的一個(gè)變量。
作為非限制性的的實(shí)例，棱鏡30由Schott SK2光學(xué)玻璃公司(Schott SK2optical glass)制造，其折射率ne＝1.60994，沿著樣品表面30A的方向長(zhǎng)18mm，分別與進(jìn)口表面30B和出口表面30C成70度角；散射體34直徑5.5mm，厚1.5mm，由其中一個(gè)表面用No.25T號(hào)研磨劑研磨光的窗玻璃形成；第一透鏡38是SchottSK2光學(xué)玻璃公司的平凸透鏡，直徑3.8mm，全厚2mm，凸面的曲率半徑是2.3mm；第二透鏡40是Schott SK2光學(xué)玻璃公司的平凸透鏡，直徑9mm，全厚2.5mm，凸面的曲率半徑是12mm；如圖3所示，鏡42是其反射表面42A拋光的退火耐熱玻璃，長(zhǎng)44mm。作為進(jìn)一步非限制性實(shí)例，線性掃描陣列22最好是一個(gè)Toshiba TCD1304AP CCD線性圖象傳感器，其在約29mm長(zhǎng)度上帶有3648個(gè)獨(dú)立的光電管。根據(jù)本實(shí)施例，采用以下間隔距離S1＝3.35mm，S2＝9.24mm，S3＝24.36mm，S4＝14.54mm。在本實(shí)施例中，對(duì)線性掃描陣列22進(jìn)行定向，從而使其光電管置于一個(gè)與棱鏡30的樣品表面30A基本平行的平面上，鏡42的反射表面42A設(shè)置成與線性掃描陣列22的平面成銳角A1，并緊鄰陣列，由此提供了本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)為低的外形高度和短的總長(zhǎng)度，這是合乎緊湊的手持式折射計(jì)需要的。在示例性的實(shí)施例中，角A1為15度。
值得注意的是，平凸透鏡38的平坦表面與棱鏡30平坦的進(jìn)口表面30B面對(duì)面的接觸并用光學(xué)粘合劑固定起來(lái)，平凸透鏡40的平坦表面與棱鏡30平坦的出口表面30C面對(duì)面的接觸并用光學(xué)粘合劑固定起來(lái)。用這種方法，用于支撐透鏡38和40以及排列光學(xué)系統(tǒng)中透鏡的各自的安裝結(jié)構(gòu)可得到避免，而且粘貼上的透鏡和棱鏡經(jīng)受相同的適當(dāng)?shù)臏囟茸兓?br> 如圖4A、4B和5所示，反射表面42A設(shè)置成與線性掃描陣列22的平面成一小銳角，并緊鄰陣列，可在入射到陣列上的照明分布方面得到希望的光學(xué)結(jié)果。尤其是，如圖4A、4B虛線光線所示，線性掃描陣列22實(shí)際上把一小部分入射到該陣列上的光通量反射回到了反射表面42A的方向。接著，反射表面42A再一次把該二次光反射回線性掃描陣列22或反射出系統(tǒng)。如圖4A所示，在本發(fā)明的進(jìn)展過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)使用具有相對(duì)短的反射表面42A的鏡42，可導(dǎo)致一部分線性掃描陣列22上照明強(qiáng)度的損失，原因是該陣列由于鏡的縮短而接受不到任何二次反射光。圖5的強(qiáng)度分配圖闡述了這個(gè)問(wèn)題，如圖所示，在使用較短的反射表面處曲線“A”中的強(qiáng)度急降或偏移。為了解決這個(gè)問(wèn)題，并利用二次反射提供的信噪比增大的優(yōu)點(diǎn)，擴(kuò)展了反射表面42A，如圖4B中示出的反射表面部分42A’，這樣先前在圖4A中逸出系統(tǒng)的光線被重新引導(dǎo)回線性掃描陣列22。從圖5中的曲線“B”可以看出，較長(zhǎng)的反光鏡的使用消除了強(qiáng)度分配曲線上受影響的部分強(qiáng)度急降的問(wèn)題?？梢岳斫猓瓷浔砻?2A的延伸部分42A’僅適用于接受和反射從陣列22的表面反射的二次光，而不接受直接來(lái)自透鏡40的光。
正如自動(dòng)折射計(jì)技術(shù)所知，來(lái)自線性掃描陣列22的光電管的脈沖信號(hào)是數(shù)字化的，并經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)好的運(yùn)算法則處理，以確定陣列的亮區(qū)和陣列的暗區(qū)之間的陰影線過(guò)渡的位置。線性掃描陣列22上的陰影線跨越的光電管數(shù)用于幾何計(jì)算樣品物質(zhì)28的折射率?？墒褂酶鞣N運(yùn)算法則，如美國(guó)專利US4640616，US5617201，US6172746中提供的，還有共同申請(qǐng)的美國(guó)專利，其申請(qǐng)?zhí)枮?9/794991，申請(qǐng)日為2001年2月27日，因此在本說(shuō)明書(shū)中結(jié)合這些文獻(xiàn)的每一篇作為參考文獻(xiàn)。
既然照明強(qiáng)度分配曲線會(huì)自然包含一個(gè)急劇的轉(zhuǎn)變表示陣列的暗區(qū)和亮區(qū)的過(guò)渡，消除如圖5的曲線“A”所示的不相關(guān)的下降，防止把潛在的混淆數(shù)據(jù)輸入運(yùn)算法則。這允許使用更簡(jiǎn)單一些的法則，不必區(qū)分缺少二次光導(dǎo)致的下降和與棱鏡-樣品界面上全內(nèi)反射的臨界角有關(guān)的光區(qū)和暗區(qū)之間的轉(zhuǎn)變。
這里描述的優(yōu)選實(shí)施例與具有內(nèi)部照明源的反射光折射計(jì)有關(guān)，本發(fā)明也可以用于透射光折射計(jì)和用于使用包括環(huán)境照明在內(nèi)的外部照明源的折射計(jì)。
權(quán)利要求
1.一種折射計(jì)，其包括一線性掃描陣列，其包括多個(gè)光電管，在掃描過(guò)程中，每個(gè)光電管提供一個(gè)輸出脈沖，其振幅由入射光在相應(yīng)的光電管上產(chǎn)生的照明量來(lái)確定；光學(xué)裝置，其用于將光引導(dǎo)到所述陣列上，該陣列受到所述光的照明，其特定的光電管由與所述光學(xué)裝置操作相關(guān)聯(lián)的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定，其中所述光學(xué)裝置進(jìn)一步用于接受所述陣列反射的光，并將所述陣列反射的光重新導(dǎo)回到所述陣列上；信號(hào)處理裝置，其與所述線性掃描陣列相連接，用于接受和處理光電管輸出脈沖，以便計(jì)算放置得與所述光學(xué)裝置操作相關(guān)聯(lián)的樣品物質(zhì)的折射率；和一個(gè)顯示器，其與所述信號(hào)處理裝置相連接，用于報(bào)告基于所述樣品物質(zhì)折射率的結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的折射計(jì)，其中所述光學(xué)裝置包括一接近所述陣列的反射表面，所述反射表面具有一個(gè)端部，其僅用于接受所述陣列反射的所述光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的折射計(jì)，其中所述反射表面相對(duì)于所述陣列成約15度角。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的折射計(jì)，其中所述光學(xué)裝置包括一棱鏡，其具有一個(gè)用于接受所述樣品物質(zhì)的樣品表面，所述陣列沿著與所述樣品表面基本平行的方向延伸。
5.一自動(dòng)折射計(jì)中，該自動(dòng)折射計(jì)具有一個(gè)光電管陣列和用于將光導(dǎo)向所述陣列的光學(xué)裝置，受到所述光照明的所述陣列的特定光電管由放置得與所述光學(xué)裝置操作相關(guān)聯(lián)的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定，其改進(jìn)在于所述光學(xué)裝置相對(duì)于所述陣列進(jìn)行構(gòu)造和設(shè)置，以接受所述陣列反射的光，并將該陣列反射的光重新導(dǎo)回到所述陣列上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的改進(jìn)，其中所述光學(xué)裝置包括一個(gè)接近所述陣列的反射表面，所述反射表面具有一個(gè)端部，其僅用于接受所述陣列反射的所述光。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的改進(jìn)，其中所述反射表面相對(duì)于所述陣列成約15度角。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的改進(jìn)，其中所述光學(xué)裝置包括一個(gè)棱鏡，其具有一接受所述樣品物質(zhì)的樣品表面，所述陣列沿著與所述樣品表面基本平行的方向延伸。
9.一自動(dòng)折射計(jì)中，該自動(dòng)折射計(jì)具有一光電管的線性掃描陣列和用于將光引導(dǎo)到所述陣列的光學(xué)裝置，受到所述光照明的所述陣列的特定光電管由與所述光學(xué)裝置的樣品接受表面操作相關(guān)聯(lián)的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定，其改進(jìn)在于所述線性掃描陣列沿著與所述樣品接受表面基本平行的方向延伸。
10.一種自動(dòng)折射計(jì)，其包括一線性掃描陣列，其包括多個(gè)光電管，在掃描過(guò)程中，每個(gè)光電管提供一個(gè)輸出脈沖，其振幅由入射光在相應(yīng)的光電管上產(chǎn)生的照明量決定；一棱鏡，其帶有一個(gè)用于接受樣品物質(zhì)的的樣品表面，所述樣品物質(zhì)的折射率低于所述棱鏡；提供非平行光的裝置，所述光斜射到所述樣品表面和所述樣品物質(zhì)之間的界面上；一反射表面，對(duì)其進(jìn)行定向，以確定從所述界面經(jīng)所述反射表面到所述線性掃描陣列的初次照明路徑，和從所述線性掃描陣列經(jīng)過(guò)所述反射表面回到所述所述線性掃描陣列的二次照明路徑；信號(hào)處理裝置，其與所述線性掃描陣列相連接，用于接受和處理所述輸出脈沖，以便計(jì)算所述樣品物質(zhì)的折射率；以及一顯示器，其與所述信號(hào)處理裝置相連接，用于報(bào)告基于所述樣品物質(zhì)折射率的結(jié)果。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的折射計(jì)，其中所述線性掃描陣列沿著與所述樣品表面基本平行的方向延伸。
12.一種折射計(jì)，其包括一個(gè)帶有一個(gè)樣品槽的箱體；一個(gè)置于所述箱體中的棱鏡，所述棱鏡帶有一個(gè)面朝上的樣品表面，并且通過(guò)所述樣品槽能到達(dá)該樣品表面，所述樣品槽用于接受折射率低于所述棱鏡的樣品物質(zhì)；提供非平行光的裝置，所述光斜射到所述樣品表面和所述樣品物質(zhì)之間的界面上；一個(gè)置于所述箱體中的反射表面，用于接受在所述界面交互作用后的光；一個(gè)置于所述箱體中的線性掃描陣列，所述線性掃描陣列有多個(gè)面朝下的光電管，并且接受從所述反射表面反射的光，在入射光的掃描過(guò)程中，每個(gè)光電管提供一個(gè)輸出脈沖，其振幅由相應(yīng)的光電管的照明量決定；與所述線性掃描陣列連接的信號(hào)處理裝置，用于接受和處理所述輸出脈沖，以便計(jì)算所述樣品物質(zhì)的折射率；和一個(gè)與所述信號(hào)處理裝置連接的顯示器，用于報(bào)告基于所述樣品物質(zhì)折射率的結(jié)果。
13.一折射計(jì)中，該折射計(jì)具有一個(gè)棱鏡，該棱鏡包括一個(gè)用于接受測(cè)試樣品的樣品表面，以便提供一個(gè)臨界角界面，該臨界角界面位于所述測(cè)試樣品、光進(jìn)口表面和光出口表面之間，其中光通過(guò)所述光進(jìn)口表面并到達(dá)所述臨界角界面，以及光在所述臨界角界面交互作用后通過(guò)所述光出口表面，其改進(jìn)包括一個(gè)直接固定于所述光進(jìn)口表面的透鏡，用來(lái)折射照明光，以提供斜射到所述臨界角界面的非平行光線。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的改進(jìn)，其中所述透鏡包括一平坦表面，該平坦表面通過(guò)光學(xué)粘合劑粘與所述棱鏡的所述光進(jìn)口表面相固定。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的改進(jìn)，還包括一個(gè)第二透鏡，其直接固定于所述光出口表面，用來(lái)折射穿過(guò)所述出口表面的光。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的改進(jìn)，其中所述第二透鏡包括一平坦表面，該平坦表面通過(guò)光學(xué)粘合劑粘與所述棱鏡的所述光出口表面相固定。
全文摘要
一種手持式自動(dòng)折射計(jì)，包括一個(gè)帶有多個(gè)光電管的線性掃描陣列和一個(gè)用于把光導(dǎo)向到該陣列上的光學(xué)系統(tǒng)，這些由所述光照明的陣列的特定光電管是由置于光學(xué)系統(tǒng)的棱鏡的樣品表面上的樣品物質(zhì)的折射率來(lái)確定的。一個(gè)反射表面與陣列成銳角設(shè)置在陣列附近，用于把初次光從樣品－棱鏡界面導(dǎo)向該陣列，并將來(lái)自于該陣列的偏離反射光重新導(dǎo)回到該陣列上。公開(kāi)的折射計(jì)具有緊湊的設(shè)計(jì)，其中線性陣列以基本上平行棱鏡樣品表面的方向延伸。棱鏡安裝在箱體中，樣品表面朝上，以便通過(guò)箱體的一個(gè)樣品槽能到達(dá)，同時(shí)陣列面朝下安置于箱體中。
文檔編號(hào)G01N21/41GK1531647SQ02808902
公開(kāi)日2004年9月22日 申請(qǐng)日期2002年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2001年4月26日
發(fā)明者K·D·沙馬, K·R·布利勒, K D 沙馬, 布利勒 申請(qǐng)人:李克特有限公司