1.一種用于監(jiān)測防噴器的密封元件的方法，包括：
將流體提供至設(shè)置在防噴器內(nèi)的腔室以促動設(shè)置在所述腔室內(nèi)的活塞，其中所述活塞的促動引起密封元件的內(nèi)徑減??；
經(jīng)由傳感器測量所述流體的一個或多個參數(shù)；
從所述傳感器接收關(guān)于所述一個或多個參數(shù)的數(shù)據(jù)；
使用關(guān)于所述一個或多個參數(shù)的數(shù)據(jù)來確定所述密封元件的剛度；以及
通過將所述密封元件的確定的剛度與已知數(shù)據(jù)分布比較來確定所述密封元件的退化量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述一個或多個傳感器為流量計或壓力換能器中的至少一者。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測量所述一個或多個參數(shù)包括：
測量提供至所述腔室的流體的壓力、提供至所述腔室的流體的流速，或提供至所述腔室的流體的體積中的至少一者。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，確定所述密封元件的退化量還包括：
使用提供至所述腔室的流體的測得的流速確定所述活塞的位移；
使用提供至所述腔室的流體的測得的壓力確定所述活塞的力；以及
使用所述活塞的位移和所述活塞的力來確定所述密封元件的剛度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述已知數(shù)據(jù)分布包括另一個密封元件的一個或多個剛度測量結(jié)果或分析模擬結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述活塞被促動的同時測量所述一個或多個參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在活塞從第一位置促動至第二位置之后測量所述一個或多個參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述密封元件為環(huán)形封隔器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述已知數(shù)據(jù)分布包括從在用于制造所述密封元件的材料上執(zhí)行的一個或多個材料性質(zhì)測試獲得的數(shù)據(jù)分布。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，從在所述密封元件的模型上執(zhí)行的有限元分析獲得所述已知數(shù)據(jù)分布。
11.一種具有儲存在其上的指令的計算機(jī)可讀介質(zhì)，所述指令在執(zhí)行時引起執(zhí)行用于監(jiān)測防噴器的密封元件的方法，所述方法包括：
將流體提供至設(shè)置在防噴器內(nèi)的腔室以促動設(shè)置在所述腔室內(nèi)的活塞，其中所述活塞的促動引起密封元件的內(nèi)徑減??；
經(jīng)由傳感器測量所述流體的一個或多個參數(shù)；
從所述傳感器接收關(guān)于所述一個或多個參數(shù)的數(shù)據(jù)；
使用關(guān)于所述一個或多個參數(shù)的數(shù)據(jù)來確定所述密封元件的剛度；以及
通過將所述密封元件的確定的剛度與已知數(shù)據(jù)分布比較來確定所述密封元件的退化量。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，所述一個或多個傳感器為流量計或壓力換能器中的至少一者。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，測量所述一個或多個參數(shù)包括：
測量提供至所述腔室的流體的壓力、提供至所述腔室的流體的流速，或提供至所述腔室的流體的體積中的至少一者。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，確定所述密封元件的退化量包括：
使用提供至所述腔室的流體的測得的流速確定所述活塞的位移；
使用提供至所述腔室的流體的測得的壓力確定所述活塞的力；以及
使用所述活塞的位移和所述活塞的力來確定所述密封元件的剛度。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，所述已知數(shù)據(jù)分布包括另一個密封元件的一個或多個剛度測量結(jié)果或模擬結(jié)果。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，在所述活塞被促動的同時測量所述一個或多個參數(shù)。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，在活塞從第一位置促動至第二位置之后測量所述一個或多個參數(shù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，從在所述密封元件的模型上執(zhí)行的有限元分析獲得所述已知數(shù)據(jù)分布。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，所述密封元件為環(huán)形封隔器。
20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計算機(jī)可讀介質(zhì)，其特征在于，所述已知數(shù)據(jù)分布包括從在用于制造所述密封元件的材料上執(zhí)行的一個或多個材料性質(zhì)測試和/或從在所述密封元件的模型上執(zhí)行的有限元分析獲得的數(shù)據(jù)分布。