專利名稱：剔卡檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及智能IC卡檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種可以將檢測(cè)有缺陷的智能卡從檢測(cè)流水線上分離收集的剔卡檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
隨著信息化管理技術(shù)的應(yīng)用發(fā)展，越來越多的行業(yè)應(yīng)用IC卡或智能卡對(duì)用戶的身份進(jìn)行管理，由于該智能卡內(nèi)置的芯片記錄的信息可以通過專用設(shè)置和軟件配合進(jìn)行修改，可以及時(shí)更新數(shù)據(jù)，便用集中管理，其應(yīng)用越來越廣泛。
現(xiàn)有的智能卡在其卡體內(nèi)設(shè)置芯片和RF天線，通過該RF天線可以讀取芯片內(nèi)的信息。為了確保智能卡的質(zhì)量，在生產(chǎn)制造過程每個(gè)工藝完后都需要進(jìn)行檢測(cè)，在包裝前還需要出廠檢測(cè)，主要檢測(cè)其電信號(hào)是否導(dǎo)通，避免不良產(chǎn)品流入市場(chǎng)。目前多個(gè)智能卡在檢測(cè)時(shí)主要有兩個(gè)方式進(jìn)行檢測(cè)是，一是采用人工的方式逐個(gè)進(jìn)行檢測(cè)，其檢測(cè)系統(tǒng)較低；二是采用自動(dòng)化檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測(cè)是，雖然檢測(cè)的效率相比人工而言效率較高，但在檢測(cè)過程中即使檢測(cè)至不合格，還需要由人工將不合格的產(chǎn)品從檢測(cè)流水線上取出，其效率也受到一定的影響。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種新型剔卡檢測(cè)裝置，該新型剔卡檢測(cè)裝置可以避免采用人工的方式從檢測(cè)流水線上將不合格的智能卡分離，提高檢測(cè)的效率，降低生產(chǎn)成本，同時(shí)其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊。
為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種新型剔卡檢測(cè)裝置。該剔卡檢測(cè)裝置包括:輸送機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及協(xié)調(diào)輸送機(jī)構(gòu)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機(jī)構(gòu)，該剔卡機(jī)構(gòu)包括設(shè)于輸送機(jī)構(gòu)一側(cè)的氣壓通道和位置檢測(cè)裝置，設(shè)有電動(dòng)開關(guān)的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側(cè)的輸送架上設(shè)有一與智能卡長(zhǎng)度相當(dāng)?shù)拿撾x開口，當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡為壞卡后，壞卡移動(dòng)至氣壓通道位置時(shí)，氣壓通道處于打開狀態(tài)。
進(jìn)一步地說，所述氣壓通道包括兩個(gè)出口，兩出口所在的直線與智能卡移動(dòng)的方向平行。
進(jìn)一步地說，所述輸送機(jī)構(gòu)包括由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的傳輸帶，在該傳輸帶兩側(cè)分別設(shè)有兩個(gè)限位架，所述傳輸帶的高出限位架底部稍許。
進(jìn)一步地說，所述限位架設(shè)有的外側(cè)設(shè)有與底部連接的檔邊，形成臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步地說，所述限位架的外設(shè)有限位導(dǎo)槽，位于脫離開口相對(duì)的一限位架設(shè)有導(dǎo)槽開口。
本發(fā)明剔卡檢測(cè)裝置，包括輸送機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及協(xié)調(diào)輸送機(jī)構(gòu)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機(jī)構(gòu)，該剔卡機(jī)構(gòu)包括設(shè)于輸送機(jī)構(gòu)一側(cè)的氣壓通道和位置檢測(cè)裝置，設(shè)有電動(dòng)開關(guān)的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側(cè)的輸送架上設(shè)有一與智能卡長(zhǎng)度相當(dāng)?shù)拿撾x開口。當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡為壞卡后，壞卡移動(dòng)至氣壓通道位置時(shí)，氣壓通道根據(jù)壞卡位置信號(hào)處于打開狀態(tài)，高壓氣流將壞卡一側(cè)下壓，該壞卡可以從位于輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機(jī)構(gòu)。剔卡檢測(cè)裝置可以自動(dòng)將檢測(cè)到的壞智能卡進(jìn)行分類，提高檢測(cè)效率，降低生產(chǎn)成本；同時(shí)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，工作可靠。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單介紹，顯而易見地，而描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他附圖。
圖1是本發(fā)明剔卡檢測(cè)裝置實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本發(fā)明剔卡檢測(cè)裝置實(shí)施例另一狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是圖1中B-B方向剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4是本發(fā)明剔卡檢測(cè)裝置另一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
圖5是圖4中的C部分結(jié)構(gòu)放大示意圖。
圖6是圖4中的D-D方向剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
下面結(jié)合實(shí)施例，并參照附圖，對(duì)本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)作進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
為了使發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
如圖1、圖2和圖3所示，本發(fā)明提供一種剔卡檢測(cè)裝置實(shí)施例。
該剔卡檢測(cè)裝置包括:輸送機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)(附圖示標(biāo)示)以及協(xié)調(diào)輸送機(jī)構(gòu)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)工作的控制模塊(附圖示標(biāo)示)，該輸送機(jī)構(gòu)包括電機(jī)驅(qū)動(dòng)的傳輸帶2，在該傳輸帶2兩側(cè)分別設(shè)有兩個(gè)平行設(shè)置的限位架1，所述傳輸帶2的高出限位架底部10稍許，所述剔卡檢測(cè)裝置還包括受控制模塊控制的剔卡機(jī)構(gòu)，該剔卡機(jī)構(gòu)包括設(shè)于輸送機(jī)構(gòu)一側(cè)的氣壓通道3和位置檢測(cè)裝置4，設(shè)有電動(dòng)開關(guān)的氣壓通道3與高壓氣源連接，在氣壓通道3 —側(cè)的輸送架I上設(shè)有一與智能卡A長(zhǎng)度相當(dāng)?shù)拿撾x開口 11，當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡A為壞卡后，壞卡移動(dòng)至氣壓通3道位置時(shí)，氣壓通道3處于打開狀態(tài)，所述壞卡在高壓氣體的作用出現(xiàn)側(cè)傾，并從脫離開口 11離開輸送機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)好卡與壞卡分離。所述電動(dòng)開關(guān)包括電磁電關(guān)。
所述氣壓通道3包括兩個(gè)出口，兩出口所在的直線與智能卡A移動(dòng)的方向平行，由于兩上出氣口可以保證向有脫離開口 11的一側(cè)側(cè)翻，避免出現(xiàn)壞卡不能分離的情形出現(xiàn)。
所述限位架I設(shè)有的外側(cè)設(shè)有與底部10連接的檔邊，該檔邊與底部10形成臺(tái)階結(jié)構(gòu)12，該結(jié)構(gòu)的限位架I可以保正智能卡在移動(dòng)時(shí)平整，不會(huì)出現(xiàn)不同的角度，更好方便氣吹時(shí)脫離輸送機(jī)構(gòu)。該底部10與檔邊可以是一體工或分離裝配。
工作時(shí)，當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡為壞卡后，壞卡移動(dòng)至氣壓通道位置時(shí)，氣壓通道根據(jù)壞卡位置信號(hào)處于打開狀態(tài)，高壓氣流將壞卡一側(cè)下壓，該壞卡可以從位于輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機(jī)構(gòu)。剔卡檢測(cè)裝置可以自動(dòng)將檢測(cè)到的壞智能卡進(jìn)行分類，提高檢測(cè)效率，降低生產(chǎn)成本；同時(shí)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，工作可靠。
如圖4、圖5和圖6所示，所述限位架I上設(shè)有限位導(dǎo)槽14，位于脫離開口 11相對(duì)的一限位架I設(shè)有導(dǎo)槽開口 13。由于在脫離開口 11相對(duì)位置的另一限位架I也設(shè)有導(dǎo)槽開口 13，當(dāng)壞的智能卡在氣壓通道3的高壓氣流的作用下側(cè)翻，壞的智能卡另一側(cè)也能從另一限位架I的導(dǎo)槽開口 13處脫離，實(shí)現(xiàn)分離。該限位架I上設(shè)有限位導(dǎo)槽14可以避免在檢測(cè)輸送時(shí)智能卡掉落現(xiàn)象發(fā)生。其工作過程與上述實(shí)施例相同，不再贅述。
以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換，而這些修改或替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.新型剔卡檢測(cè)裝置，其特征在于: 包括用于輸送智能卡的輸送機(jī)構(gòu)、用于檢測(cè)智能卡好壞的檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及協(xié)調(diào)輸送機(jī)構(gòu)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機(jī)構(gòu)，該剔卡機(jī)構(gòu)包括設(shè)于輸送機(jī)構(gòu)一側(cè)的氣壓通道和位置檢測(cè)裝置，設(shè)有電動(dòng)開關(guān)的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側(cè)的輸送架上設(shè)有一與智能卡長(zhǎng)度相當(dāng)?shù)拿撾x開口，當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡為壞卡后，壞卡移動(dòng)至位置檢測(cè)裝置時(shí)，氣壓通道處于打開狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型剔卡檢測(cè)裝置，其特征在于: 所述氣壓通道包括兩個(gè)出口，兩出口所在的直線與智能卡移動(dòng)的方向平行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的新型剔卡檢測(cè)裝置，其特征在于: 所述輸送機(jī)構(gòu)包括由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的傳輸帶，在該傳輸帶兩側(cè)分別設(shè)有兩個(gè)限位架，所述傳輸帶的高出限位架底部稍許。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的新型剔卡檢測(cè)裝置，其特征在于: 所述限位架設(shè)有的外側(cè)設(shè)有與底部連接的檔邊，形成臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的新型剔卡檢測(cè)裝置，其特征在于: 所述限位架的外設(shè)有限 位導(dǎo)槽，位于脫離開口相對(duì)的一限位架設(shè)有導(dǎo)槽開口。
全文摘要
本發(fā)明剔卡檢測(cè)裝置，包括輸送機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及協(xié)調(diào)輸送機(jī)構(gòu)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機(jī)構(gòu)，該剔卡機(jī)構(gòu)包括設(shè)于輸送機(jī)構(gòu)一側(cè)的氣壓通道和位置檢測(cè)裝置，設(shè)有電動(dòng)開關(guān)的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側(cè)的輸送架上設(shè)有一與智能卡長(zhǎng)度相當(dāng)?shù)拿撾x開口。當(dāng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)到智能卡為壞卡后，壞卡移動(dòng)至氣壓通道位置時(shí)，氣壓通道根據(jù)壞卡位置信號(hào)處于打開狀態(tài)，高壓氣流將壞卡一側(cè)下壓，該壞卡可以從位于輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機(jī)構(gòu)。剔卡檢測(cè)裝置可以自動(dòng)將檢測(cè)到的壞智能卡進(jìn)行分類，提高檢測(cè)效率，降低生產(chǎn)成本；同時(shí)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，工作可靠。
文檔編號(hào)B07C5/00GK103212537SQ20131008193
公開日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2013年3月11日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月11日
發(fā)明者蘭榮 申請(qǐng)人:蘭榮