本發(fā)明涉及檢測(cè)方法,特別涉及模具狀態(tài)檢測(cè)方法。
背景技術(shù):
現(xiàn)有的采用射出成形技術(shù)的模型制造裝置是使用包括公模及母模的模具。具體而言,當(dāng)欲制造模型時(shí),制造裝置先使公模朝接近母模方向移動(dòng)以進(jìn)行鎖模(即將公模及母模緊密結(jié)合)。接著,制造裝置將液態(tài)的原料射出至母模,并等待其冷卻成型。于冷卻完成后,制造裝置再使公模朝遠(yuǎn)離母模方向移動(dòng),并使用頂針將已成型的模型頂出公模以完成退模。
然而,于現(xiàn)有技術(shù)中,操作人員于制造裝置退模后需手動(dòng)檢測(cè)模具狀態(tài)是否異常(如頂針未完全收回、公模內(nèi)有殘留物或模具受損),若無(wú)異常才可進(jìn)行下次制造。前述檢測(cè)方式需耗費(fèi)人力且增加制造成本。
為解決上述問(wèn)題,目前已有一種可自動(dòng)進(jìn)行檢測(cè)的模具狀態(tài)檢測(cè)方法被提出。現(xiàn)有的模具狀態(tài)檢測(cè)方法是包括下列步驟:取得預(yù)存的樣本影像(即對(duì)應(yīng)正常的模具的影像);于模具退模時(shí)拍攝模具當(dāng)前的影像(即檢測(cè)影像);將樣本影像與檢測(cè)影像進(jìn)行比對(duì),以判斷模具狀態(tài)是否異常。
然而,于檢測(cè)環(huán)境改變(如光照度改變、模具位置偏移或環(huán)境溫度改變)時(shí),現(xiàn)有的模具狀態(tài)檢測(cè)方法仍使用相同的樣本影像來(lái)進(jìn)行檢測(cè),于未適時(shí)更新樣本影像的情況下,其檢測(cè)結(jié)果將失準(zhǔn),而使精確度低落。
因此,現(xiàn)有模具狀態(tài)檢測(cè)方法存在上述問(wèn)題,而亟待更有效的方案被提出。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的主要目的是在于提供一種模具狀態(tài)檢測(cè)方法,可于檢測(cè)過(guò)程中更新門檻數(shù)據(jù)。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明提供一種模具狀態(tài)檢測(cè)方法,包括下列步驟:
a)取得一第一門檻數(shù)據(jù)及一第二門檻數(shù)據(jù);
b)擷取一模具的連續(xù)的多個(gè)第一檢測(cè)影像;
c)依據(jù)該第一門檻數(shù)據(jù)對(duì)該多個(gè)第一檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè);
d)依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一該第一檢測(cè)影像更新該第二門檻數(shù)據(jù);
e)擷取該模具的連續(xù)的多個(gè)第二檢測(cè)影像;
f)依據(jù)更新后的該第二門檻數(shù)據(jù)對(duì)該多個(gè)第二檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè);及
g)依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一該第二檢測(cè)影像更新該第一門檻數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,于該步驟a之前還包括步驟a0:持續(xù)擷取多個(gè)暖機(jī)影像,并于計(jì)算所擷取的該多個(gè)暖機(jī)影像的張數(shù)超過(guò)一暖機(jī)臨界值、持續(xù)擷取的時(shí)間超過(guò)一暖機(jī)時(shí)間或所使用的一影像擷取模塊的溫度滿足一最佳工作溫度時(shí),進(jìn)入一檢測(cè)模式。
優(yōu)選地,該步驟a包括下列步驟:
a1)取得至少一樣本影像;
a2)依據(jù)該樣本影像設(shè)定一基本門檻數(shù)據(jù);及
a3)制作二份相同的該基本門檻數(shù)據(jù)的副本,以分別作為該第一門檻數(shù)據(jù)及該第二門檻數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,該步驟b之后還包括步驟b1:依據(jù)一樣本影像校正該多個(gè)第一檢測(cè)影像;該步驟e之后還包括步驟e1:依據(jù)該樣本影像校正該多個(gè)第二檢測(cè)影像。
優(yōu)選地,該第一門檻數(shù)據(jù)報(bào)括多個(gè)第一上限值及多個(gè)第一下限值,該多個(gè)第一上限值及該多個(gè)第一下限值皆分別對(duì)應(yīng)各該第一檢測(cè)影像的多個(gè)像素,該第二門檻數(shù)據(jù)報(bào)括多個(gè)第二上限值及多個(gè)第二下限值,該多個(gè)第二上限值及該多個(gè)第二下限值均分別對(duì)應(yīng)各該第二檢測(cè)影像的多個(gè)像素。
優(yōu)選地,該步驟c包括下列步驟:
c1)計(jì)算多個(gè)第一問(wèn)題像素?cái)?shù),其中各該第一問(wèn)題像素?cái)?shù)是各該第一檢測(cè)影像中像素值大于對(duì)應(yīng)的該第一上限值或小于對(duì)應(yīng)的該第一下限值的該多個(gè)像素的數(shù)量;
c2)于判斷該多個(gè)第一問(wèn)題像素?cái)?shù)之一不大于一像素臨界值時(shí),判定對(duì)應(yīng)的該第一檢測(cè)影像通過(guò)檢測(cè);及
c3)于判斷該多個(gè)第一問(wèn)題像素?cái)?shù)之一大于該像素臨界值時(shí),判定對(duì)應(yīng)的該第一檢測(cè)影像未通過(guò)檢測(cè);
該步驟f包括下列步驟:
f1)計(jì)算多個(gè)第二問(wèn)題像素?cái)?shù),其中各該第二問(wèn)題像素?cái)?shù)是各該第二檢測(cè)影像中像素值大于對(duì)應(yīng)的該第二上限值或小于對(duì)應(yīng)的該第二下限值的該多個(gè)像素的數(shù)量;
f2)于判斷該多個(gè)第二問(wèn)題像素?cái)?shù)之一不大于該像素臨界值時(shí),判定對(duì)應(yīng)的該第二檢測(cè)影像通過(guò)檢測(cè);及
f3)于判斷該多個(gè)第二問(wèn)題像素?cái)?shù)之一大于該像素臨界值時(shí),判定對(duì)應(yīng)的該第二檢測(cè)影像未通過(guò)檢測(cè)。
優(yōu)選地,于該步驟c3后還包括步驟c4:于接受一第一加入樣本操作時(shí),依據(jù)未通過(guò)檢測(cè)的該第一檢測(cè)影像重新設(shè)定該第一門檻數(shù)據(jù)及該第二門檻數(shù)據(jù);于該步驟f3后還包括步驟f4:于接受一第二加入樣本操作時(shí),依據(jù)未通過(guò)檢測(cè)的該第二檢測(cè)影像重新設(shè)定該第一門檻數(shù)據(jù)及該第二門檻數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,該步驟d包括下列步驟:
d1)依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的該多個(gè)第一檢測(cè)影像的該多個(gè)像素的像素值決定分別對(duì)應(yīng)不同像素位置的多個(gè)第一最大像素值及多個(gè)第一最小像素值;
d2)依據(jù)該多個(gè)第一最大像素值更新該多個(gè)第一上限值;及
d3)依據(jù)該多個(gè)第一最小像素值更新該多個(gè)第一下限值;
該步驟g包括下列步驟:
g1)依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的該多個(gè)第二檢測(cè)影像的該多個(gè)像素的像素值來(lái)決定分別對(duì)應(yīng)不同像素位置的多個(gè)第二最大像素值及多個(gè)第二最小像素值;
g2)依據(jù)該多個(gè)第二最大像素值更新該多個(gè)第二上限值;
g3)依據(jù)該多個(gè)第二最小像素值更新該多個(gè)第二下限值。
優(yōu)選地,該多個(gè)第一檢測(cè)影像的數(shù)量及影像大小均與該多個(gè)第二檢測(cè)影像的數(shù)量及影像大小相同。
優(yōu)選地,還包括下列步驟:
h)于判斷未停止檢測(cè)時(shí),跳至該步驟a執(zhí)行;及
i)于判斷停止檢測(cè)時(shí),關(guān)閉該檢測(cè)裝置或控制該檢測(cè)裝置進(jìn)入一待機(jī)模式。
本發(fā)明具有的優(yōu)點(diǎn)在于:
本發(fā)明經(jīng)由于檢測(cè)過(guò)程中實(shí)時(shí)更新門檻數(shù)據(jù),可有效提升檢測(cè)精確度。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)的架構(gòu)圖。
圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)的外觀示意圖。
圖3為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。
圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的部分流程圖。
圖5a為本發(fā)明第三實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第一部分流程圖。
圖5b為本發(fā)明第三實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第二部分流程圖。
圖6a為本發(fā)明第四實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第一部分流程圖。
圖6b為本發(fā)明第四實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第二部分流程圖。
圖7a為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第一示意圖。
圖7b為本發(fā)明的第一檢測(cè)影像的示意圖。
圖7c為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第二示意圖。
圖7d為本發(fā)明的第二檢測(cè)影像的示意圖。
圖7e為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第三示意圖。
圖中:
1…模具狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng);
10…影像擷取模塊;
12…內(nèi)存;
120…第一門檻數(shù)據(jù);
122…第二門檻數(shù)據(jù);
124…樣本影像;
126…基本門檻數(shù)據(jù);
14…輸出模塊;
16…警示模塊;
18…支架;
20…磁力座;
22…照明模塊;
24…機(jī)殼;
50…模具;
52…母模;
54…公模;
101a-101c…第一檢測(cè)影像;
102a-102c…第二檢測(cè)影像;
3…處理器;
s10-s34…檢測(cè)步驟;
s160-s164…門檻數(shù)據(jù)生成步驟;
s220-s232…第一影像檢測(cè)步驟;
s300-s312…第二影像檢測(cè)步驟;
s240-s244…第一更新步驟;
s320-s324…第二更新步驟。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明,以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本發(fā)明并能予以實(shí)施,但所舉實(shí)施例不作為對(duì)本發(fā)明的限定。
首請(qǐng)參閱圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)的架構(gòu)圖。本發(fā)明的模具狀態(tài)檢測(cè)裝置(下稱檢測(cè)裝置1)主要包括影像擷取模塊10、內(nèi)存12及電性連接上述組件并用以控制檢測(cè)裝置1的處理器3。
影像擷取模塊10可擷取模具(如圖2所示的模具50)的檢測(cè)影像以供后續(xù)檢測(cè)。較佳地,影像擷取模塊10是紅外線相機(jī),并且檢測(cè)影像是紅外線影像。藉此,所產(chǎn)生的影像不會(huì)受環(huán)境可見(jiàn)光的照度變化影響,而可提供亮度更為穩(wěn)定的影像。
內(nèi)存12儲(chǔ)存第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122。處理器3可依據(jù)第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122對(duì)所擷取的檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè),并生成檢測(cè)結(jié)果(容后詳述)。
于本發(fā)明的另一實(shí)施例中,檢測(cè)裝置1還包括電性連接處理器3的輸出模塊14(如顯示器、揚(yáng)聲器或打印機(jī)),用以輸出檢測(cè)結(jié)果。
于本發(fā)明的另一實(shí)施例中,檢測(cè)裝置還包括電性連接處理器3的警示模塊16(如蜂鳴器、警報(bào)器或警示燈),用以發(fā)出警示。具體而言,處理器3于判定檢測(cè)結(jié)果為未通過(guò)檢測(cè)時(shí),可控制警示模塊16發(fā)出警示。
續(xù)請(qǐng)一并參閱圖2,為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)的外觀示意圖。于本實(shí)施例中,模具50包括可移動(dòng)的公模54及固定式的母模52。并且,處理器3、內(nèi)存12、輸出模塊14及警示模塊16設(shè)置于機(jī)殼24中。影像擷取模塊10經(jīng)由支架18固定于母模52上,以對(duì)公模54進(jìn)行取像。檢測(cè)裝置還包括用以照明模具50的照明模塊22(如紅外線燈)。支架18包括至少一磁力座20。磁力座20可經(jīng)由磁力來(lái)吸附于模具50的導(dǎo)磁外殼(如鐵制殼體)上。
續(xù)請(qǐng)一并參閱圖3,為本發(fā)明第一實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。本發(fā)明的各實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法是使用圖1及圖2所示的檢測(cè)裝置1來(lái)加以實(shí)現(xiàn)。具體而言,內(nèi)存12可進(jìn)一步儲(chǔ)存計(jì)算機(jī)程序(圖未標(biāo)示),前述計(jì)算機(jī)程序記錄有用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明各實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的程序代碼或機(jī)械碼(machinecode)。處理器3執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序的程序代碼或機(jī)械碼后,可執(zhí)行本發(fā)明各實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的各步驟。本實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法包括下列步驟。
步驟s10:檢測(cè)裝置1進(jìn)入暖機(jī)模式,并開(kāi)始持續(xù)擷取多個(gè)暖機(jī)影像,以提升檢測(cè)裝置1的溫度。
值得一提的是,檢測(cè)裝置1于初啟動(dòng)時(shí),由于內(nèi)部的電子組件(如影像擷取模塊10的影像傳感器)尚未達(dá)到最佳的工作溫度,此時(shí)所擷取的影像的質(zhì)量較為不穩(wěn)定(如連續(xù)影像之間的亮度差較大)。
步驟s12:檢測(cè)裝置1判斷暖機(jī)是否完成。具體而言,檢測(cè)裝置1是判斷默認(rèn)的暖機(jī)條件是否達(dá)成,若暖機(jī)條件已達(dá)成,則執(zhí)行步驟s14,否則再次執(zhí)行步驟s10以經(jīng)由持續(xù)擷取多個(gè)暖機(jī)影像來(lái)持續(xù)提升檢測(cè)裝置1的溫度。
較佳地,檢測(cè)裝置1于計(jì)算所擷取的多個(gè)暖機(jī)影像的張數(shù)超過(guò)默認(rèn)的暖機(jī)臨界值(如500張)、持續(xù)擷取影像的時(shí)間超過(guò)默認(rèn)的暖機(jī)時(shí)間(如10分鐘)或影像擷取模塊10的溫度滿足最佳工作溫度(如攝氏20度至40度間)時(shí),判斷暖機(jī)條件達(dá)成。
步驟s14:檢測(cè)裝置1進(jìn)入檢測(cè)模式,以開(kāi)始對(duì)模具50進(jìn)行檢測(cè)。
本發(fā)明經(jīng)由于檢測(cè)前先執(zhí)行暖機(jī)程序(即步驟s10-s14),可確保檢測(cè)時(shí)所擷取的檢測(cè)影像質(zhì)量穩(wěn)定,進(jìn)而有效提升檢測(cè)的精確度。
步驟s16:檢測(cè)裝置1自內(nèi)存12讀取用以判斷后續(xù)所擷取的檢測(cè)影像是否正常的第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122。較佳地,第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122是數(shù)值數(shù)據(jù)或影像數(shù)據(jù),但不以此限定。
步驟s18:檢測(cè)裝置1經(jīng)由影像擷取模塊10對(duì)公模54進(jìn)行影像擷取,以取得多個(gè)檢測(cè)影像(即多個(gè)第一檢測(cè)影像)。
步驟s20:檢測(cè)裝置1對(duì)所擷取的多個(gè)第一檢測(cè)影像進(jìn)行校正。具體而言,內(nèi)存12更儲(chǔ)存樣本影像124,檢測(cè)裝置1依據(jù)樣本影像124來(lái)對(duì)所擷取的多個(gè)第一檢測(cè)影像進(jìn)行位置校正處理(如影像平移處理),以使公模54的影像的位置于所有第一檢測(cè)影像中皆一致。
步驟s22:檢測(cè)裝置1依據(jù)第一門檻數(shù)據(jù)120來(lái)對(duì)多個(gè)第一檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè),以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)多個(gè)檢測(cè)影像的多個(gè)檢測(cè)結(jié)果(即多個(gè)第一檢測(cè)結(jié)果),其中前述檢測(cè)結(jié)果可包括“通過(guò)檢測(cè)”及“未通過(guò)檢測(cè)”兩種檢測(cè)結(jié)果。
值得一提的是,若檢測(cè)結(jié)果為“通過(guò)檢測(cè)”,表示拍攝此張檢測(cè)影像時(shí)的公模54的狀態(tài)正常;若檢測(cè)結(jié)果為“未通過(guò)檢測(cè)”,表示拍攝此張檢測(cè)影像時(shí)的公模54的狀態(tài)異常。
較佳地,檢測(cè)裝置1可先分別對(duì)多個(gè)第一檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè)前處理(如高通濾波處理、裁切處理或亮度調(diào)整處理),再使用處理后的多個(gè)檢測(cè)影像來(lái)進(jìn)行檢測(cè)以提高檢測(cè)精確度。
較佳地,當(dāng)檢測(cè)結(jié)果為“未通過(guò)檢測(cè)時(shí)”,檢測(cè)裝置1可經(jīng)由輸出模塊14輸出未通過(guò)檢測(cè)的第一檢測(cè)影像,或者,經(jīng)由警示模塊16發(fā)出警示,以通知使用者模具50異常。
步驟s24:檢測(cè)裝置1依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一張第一檢測(cè)影像來(lái)更新第二門檻數(shù)據(jù)122。更進(jìn)一步地,若所有第一檢測(cè)影像皆未通過(guò)檢測(cè),則檢測(cè)裝置1亦可不執(zhí)行此步驟。
步驟s26:檢測(cè)裝置1經(jīng)由影像擷取模塊10對(duì)模具50進(jìn)行影像擷取,以取得多個(gè)檢測(cè)影像(即多個(gè)第二檢測(cè)影像)。
較佳地,于步驟s18中所擷取的檢測(cè)影像的數(shù)量(如10張或30張)及影像大小(如1920×1080像素或3840×2160像素)與于步驟s26中所擷取的檢測(cè)影像的數(shù)量及影像大小皆相同。并且,于本實(shí)施例中,于相同步驟中所擷取的同一批多個(gè)檢測(cè)影像皆是使用相同的門檻數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。
步驟s28:檢測(cè)裝置1對(duì)所擷取的多個(gè)第二檢測(cè)影像進(jìn)行校正。
本發(fā)明經(jīng)由對(duì)檢測(cè)影像進(jìn)行校正處理,可使公模54于所有檢測(cè)影像中的位置皆一致,而可避免因公模54位置變動(dòng)而導(dǎo)致誤判,進(jìn)而有效提升檢測(cè)的精確度。
步驟s30:檢測(cè)裝置1依據(jù)更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122來(lái)對(duì)多個(gè)第二檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè),以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)多個(gè)第二檢測(cè)影像的另一組多個(gè)檢測(cè)結(jié)果(即多個(gè)第二檢測(cè)結(jié)果),其中前述檢測(cè)結(jié)果可包括“通過(guò)檢測(cè)”及“未通過(guò)檢測(cè)”兩種檢測(cè)結(jié)果。
步驟s32:檢測(cè)裝置1依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一張第二檢測(cè)影像來(lái)更新第一門檻數(shù)據(jù)120。更進(jìn)一步地,若所有第二檢測(cè)影像皆未通過(guò)檢測(cè),則檢測(cè)裝置1亦可不執(zhí)行此步驟。
步驟s34:檢測(cè)裝置1判斷是否停止檢測(cè)(如用戶關(guān)閉檢測(cè)裝置1)。若判斷停止檢測(cè),則關(guān)閉檢測(cè)裝置1或控制檢測(cè)裝置1進(jìn)入待機(jī)模式,并結(jié)束模具狀態(tài)檢測(cè)方法,否則,再次執(zhí)行步驟s18以持續(xù)進(jìn)行檢測(cè)。
舉例來(lái)說(shuō),若于步驟s34中判斷繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè),則檢測(cè)裝置1再次執(zhí)行步驟s18-s24來(lái)擷取多個(gè)檢測(cè)影像(即多個(gè)第三檢測(cè)影像),依據(jù)樣本影像124校正多個(gè)第三檢測(cè)影像,依據(jù)更新后的第一門檻數(shù)據(jù)120來(lái)對(duì)多個(gè)第三檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè),依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一張第三檢測(cè)影像來(lái)更新第二門檻數(shù)據(jù)122。并且,檢測(cè)裝置1判斷用戶仍未停止檢測(cè),可再接續(xù)執(zhí)行步驟s26-s34,來(lái)擷取多個(gè)檢測(cè)影像(即多個(gè)第四檢測(cè)影像),依據(jù)樣本影像124校正多個(gè)第四檢測(cè)影像,依據(jù)更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122來(lái)對(duì)多個(gè)第四檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè),依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的至少一張第四檢測(cè)影像來(lái)更新第一門檻數(shù)據(jù)120并再次判斷是否停止檢測(cè)。
值得一提的是,步驟s10-s14、步驟s20及步驟s28非為本發(fā)明的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的必要步驟。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者可依需求對(duì)上述步驟任意進(jìn)行增減(如不執(zhí)行步驟s10-s14、步驟s20及步驟s28,或者,不執(zhí)行步驟s10-s14而僅執(zhí)行步驟s20及步驟s28),不加以限定。
相較于使用固定門檻數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),本發(fā)明經(jīng)由于檢測(cè)過(guò)程中實(shí)時(shí)且持續(xù)地更新門檻數(shù)據(jù),可使門檻數(shù)據(jù)隨環(huán)境變化來(lái)更新,而可有效提升檢測(cè)精確度。
本發(fā)明經(jīng)由交替使用二組數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行模具狀態(tài)檢測(cè)及門檻數(shù)據(jù)更新,可有效提升檢測(cè)正確性及門檻數(shù)據(jù)更新速度。
相較于使用單一檢測(cè)影像來(lái)更新門檻數(shù)據(jù),本發(fā)明依據(jù)多個(gè)檢測(cè)影像來(lái)更新門檻數(shù)據(jù),可稀釋單一檢測(cè)影像對(duì)于門檻數(shù)據(jù)的影響,而可避免少數(shù)的極端的檢測(cè)影像造成門檻數(shù)據(jù)嚴(yán)重偏差外,并可有效兼顧檢測(cè)正確性及檢測(cè)精確度。
續(xù)請(qǐng)一并參閱圖4,為本發(fā)明第二實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的部分流程圖。相較于第一實(shí)施例,本實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的步驟s16更包括下列步驟。
步驟s160:檢測(cè)裝置1取得至少一張樣本影像124。較佳地,檢測(cè)裝置1是自內(nèi)存12讀取樣本影像124或經(jīng)由影像擷取模塊10擷取狀態(tài)正常的模具50的樣本影像124。
步驟s162:檢測(cè)裝置1依據(jù)所取得的至少一張樣本影像124設(shè)定一組基本門檻數(shù)據(jù)126并儲(chǔ)存于內(nèi)存12。具體而言,檢測(cè)裝置1是依據(jù)多個(gè)張樣本影像124來(lái)設(shè)定分別對(duì)應(yīng)不同像素位置的多個(gè)樣本上限值及多個(gè)樣本下限值,以作為基本門檻數(shù)據(jù)126。較佳地,各樣本上限值為多個(gè)張樣本影像124中相同位置的多個(gè)像素值的最大值;各樣本下限值為多個(gè)張樣本影像124中相同位置的多個(gè)像素值的最小值。
步驟s164:檢測(cè)裝置1制作二份相同的基本門檻數(shù)據(jù)126的副本,并儲(chǔ)存于內(nèi)存12,以分別作為第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122。
續(xù)請(qǐng)一并參閱圖5a及圖5b,圖5a為本發(fā)明第三實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第一部分流程圖,圖5b為本發(fā)明第三實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第二部分流程圖。
相較于第一實(shí)施例,于本實(shí)施例中,第一門檻數(shù)據(jù)120包括多個(gè)第一上限值及多個(gè)第一下限值,多個(gè)第一上限值及多個(gè)第一下限值皆分別對(duì)應(yīng)各第一檢測(cè)影像的多個(gè)像素。第二門檻數(shù)據(jù)122包括多個(gè)第二上限值及多個(gè)第二下限值,多個(gè)第二上限值及多個(gè)地二下限值皆分別對(duì)應(yīng)各第二檢測(cè)影像的多個(gè)像素。并且,本實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的步驟s22包括步驟s220-s232。
步驟s220:檢測(cè)裝置1計(jì)算第一檢測(cè)影像的問(wèn)題像素?cái)?shù)。具體而言,檢測(cè)裝置1對(duì)各第一檢測(cè)影像進(jìn)行分析,以計(jì)算各第一檢測(cè)影像的問(wèn)題像素的數(shù)量(即第一問(wèn)題像素?cái)?shù))。較佳地,前述問(wèn)題像素是指于第一檢測(cè)影像中像素值大于對(duì)應(yīng)的第一上限值或小于對(duì)應(yīng)的第一下限值的像素。
步驟s222:檢測(cè)裝置1判斷是否多個(gè)第一問(wèn)題像素?cái)?shù)之一不大于預(yù)存或預(yù)設(shè)的像素臨界值。若是,則執(zhí)行步驟s224;否則執(zhí)行步驟s232。
步驟s224:檢測(cè)裝置1判定對(duì)應(yīng)不大于像素臨界值的第一問(wèn)題像素?cái)?shù)的第一檢測(cè)影像通過(guò)檢測(cè),并產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果以完成檢測(cè)。
步驟s226:檢測(cè)裝置1判斷是否所有第一檢測(cè)影像皆已檢測(cè)完畢。若是,則執(zhí)行步驟s228,否則再次執(zhí)行步驟s220以對(duì)未檢測(cè)的第一檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè)。
步驟s228:檢測(cè)裝置1判斷是否接受來(lái)自用戶的加入樣本操作。若是,則執(zhí)行步驟s230,否則執(zhí)行步驟s24。
較佳地,檢測(cè)裝置1更包括人機(jī)接口(如鍵盤、鼠標(biāo)或觸控屏幕),檢測(cè)裝置1可經(jīng)由人機(jī)接口來(lái)接受來(lái)自用戶的加入樣本操作(即第一加入樣本操作)。前述第一加入樣本操作是選擇未通過(guò)檢測(cè)的第一檢測(cè)影像。
步驟s230:檢測(cè)裝置1于接受加入樣本操作后,依據(jù)被選擇的未通過(guò)檢測(cè)的第一檢測(cè)影像重新設(shè)定第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122。較佳地,檢測(cè)裝置1是將用戶所選擇的第一檢測(cè)影像做為新的樣本影像124,再執(zhí)行與圖4所示的步驟s160-s164相似的處理步驟,以進(jìn)行重新設(shè)定。
若于步驟s222中判斷第一問(wèn)題像素?cái)?shù)大于像素臨界值,則執(zhí)行步驟s232:檢測(cè)裝置1判定對(duì)應(yīng)大于像素臨界值的第一問(wèn)題像素?cái)?shù)的第一檢測(cè)影像未通過(guò)檢測(cè),并產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果以完成檢測(cè)。接著執(zhí)行步驟s226。
本實(shí)施例的步驟s30包括步驟s300-s312。
步驟s300:檢測(cè)裝置1計(jì)算第一檢測(cè)影像的問(wèn)題像素?cái)?shù),其中各第二問(wèn)題像素?cái)?shù)是各第二檢測(cè)影像中像素值大于對(duì)應(yīng)的第二上限值或小于對(duì)應(yīng)的第二下限值的多個(gè)像素的數(shù)量。
步驟s302:檢測(cè)裝置1判斷是否多個(gè)第二問(wèn)題像素?cái)?shù)之一不大于像素臨界值。若是,執(zhí)行步驟s304,否則執(zhí)行步驟s312。
步驟s304:檢測(cè)裝置1判定對(duì)應(yīng)不大于像素臨界值的第二問(wèn)題像素?cái)?shù)的第二檢測(cè)影像通過(guò)檢測(cè)。
步驟s306:檢測(cè)裝置1判斷是否所有第二檢測(cè)影像皆已檢測(cè)完畢。若是,則執(zhí)行步驟s308,否則再次執(zhí)行步驟s300以對(duì)未檢測(cè)的第一檢測(cè)影像進(jìn)行檢測(cè)。
步驟s308:檢測(cè)裝置1判斷是否接受來(lái)自用戶的加入樣本操作(即第二加入樣本操作)。若是,則執(zhí)行步驟s310,否則執(zhí)行步驟s32。前述第二加入樣本操作是選擇未通過(guò)檢測(cè)的第二檢測(cè)影像。
步驟s310:檢測(cè)裝置1依據(jù)被選擇的未通過(guò)檢測(cè)的第二檢測(cè)影像重新設(shè)定第一門檻數(shù)據(jù)120及第二門檻數(shù)據(jù)122。
若于步驟s302中判斷第二問(wèn)題像素?cái)?shù)大于像素臨界值,則執(zhí)行步驟s312:檢測(cè)裝置1判定對(duì)應(yīng)大于像素臨界值的第二問(wèn)題像素?cái)?shù)的第二檢測(cè)影像未通過(guò)檢測(cè)。
前述步驟s300-s312是與步驟s220-s232相似,其詳細(xì)實(shí)施方式可參考步驟s220-s232的相關(guān)說(shuō)明。
本發(fā)明經(jīng)由使用上限值及下限值來(lái)進(jìn)行檢測(cè),可有效容許連續(xù)影像間的合理誤差,而可避免誤判正常的檢測(cè)影像為未通過(guò)檢測(cè),進(jìn)而有效提升模具狀態(tài)檢測(cè)的精確率。
續(xù)請(qǐng)一并參閱圖6a及圖6b,圖6a為本發(fā)明第四實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第一部分流程圖,圖6b為本發(fā)明第四實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的第二部分流程圖。
相較于第一實(shí)施例,于本實(shí)施例的模具狀態(tài)檢測(cè)方法的步驟s24包括下列步驟。
步驟s240:檢測(cè)裝置1比較通過(guò)檢測(cè)的至少一張第一檢測(cè)影像的多個(gè)像素的像素值、多個(gè)第一上限值及多個(gè)第一下限值,并決定多個(gè)第一最大像素值及多個(gè)第一最小像素值,其中多個(gè)第一最大像素值及多個(gè)第一最小像素值皆是分別對(duì)應(yīng)不同像素位置。
步驟s242:檢測(cè)裝置1依據(jù)所決定的多個(gè)第一最大像素值更新多個(gè)第一上限值。較佳地,當(dāng)任一第一最大像素值大于對(duì)應(yīng)的第一上限值時(shí),檢測(cè)裝置1是直接以第一最大像素值覆蓋當(dāng)前的第一上限值,但不以此為限。于本發(fā)明的另一實(shí)施例中,檢測(cè)裝置1亦可直接計(jì)算當(dāng)前的第一上限值及第一最大像素值的平均值,并做為新的第一上限值。
步驟s244:檢測(cè)裝置1依據(jù)多個(gè)第一最小像素值更新多個(gè)第一下限值。較佳地,當(dāng)任一第一最小像素值小于對(duì)應(yīng)的第一下限值時(shí),檢測(cè)裝置1是直接以第一最小像素值覆蓋當(dāng)前的第一下限值,但不以此為限。于本發(fā)明的另一實(shí)施例中,檢測(cè)裝置1亦可直接計(jì)算當(dāng)前的第一下限值及第一最小像素值的加權(quán)平均值,并做為新的第一下限值。
于本實(shí)施例中,模具狀態(tài)檢測(cè)方法的步驟s32包括下列步驟。
步驟s320:檢測(cè)裝置1比較通過(guò)檢測(cè)的至少一第二檢測(cè)影像的多個(gè)像素的像素值、多個(gè)第二上限值及多個(gè)第二下限值,并決定多個(gè)第二最大像素值及多個(gè)第二最小像素值,其中多個(gè)第二最大像素值及多個(gè)第二最小像素值是分別對(duì)應(yīng)不同像素位置。
步驟s322:檢測(cè)裝置1依據(jù)所決定的多個(gè)第二最大像素值更新多個(gè)第二上限值。
步驟s324:檢測(cè)裝置1依據(jù)多個(gè)第二最小像素值更新多個(gè)第二下限值。
前述步驟s320-s324是與步驟s240-s244相似,其詳細(xì)實(shí)施方式可參考步驟s240-s244的相關(guān)說(shuō)明。
續(xù)請(qǐng)參閱圖7a至圖7e,圖7a為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第一示意圖,圖7b為本發(fā)明的第一檢測(cè)影像的示意圖,圖7c為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第二示意圖,圖7d為本發(fā)明的第二檢測(cè)影像的示意圖,圖7e為本發(fā)明的門檻數(shù)據(jù)的第三示意圖,用以示例性說(shuō)明本發(fā)明的模具狀態(tài)檢測(cè)方法。
為方便說(shuō)明,于本例子中,所有檢測(cè)影像(如第一檢測(cè)影像101a、101b、101c及第二檢測(cè)影像102a、102b、102c)的影像大小皆是以2×2像素為例,但不以此限定,本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者可依需求任意變更檢測(cè)影像的影像大?。ㄈ?920×1080像素或3840×2160像素)。并且,于初始化后,第一門檻數(shù)據(jù)120包括四組第一上限值(即圖7a所示的10、140、210、70)及四組第一下限值(即圖7a所示的5、130、200、65),第二門檻數(shù)據(jù)122具有與第一門檻數(shù)據(jù)120相同的內(nèi)容。
檢測(cè)裝置1擷取多個(gè)第一檢測(cè)影像101a-101c,并與第一門檻數(shù)據(jù)120進(jìn)行比較,以判斷各第一檢測(cè)影像101a-101c的問(wèn)題像素?cái)?shù)(即像素值未落于第一上限值及第一下限值所構(gòu)成區(qū)間的像素的數(shù)量)。
舉例來(lái)說(shuō),第一檢測(cè)影像101a的問(wèn)題像素?cái)?shù)為1,其僅有左下像素的像素值(215)大于對(duì)應(yīng)的第一上限值(210);第一檢測(cè)影像101b的問(wèn)題像素?cái)?shù)為1,其僅有右下像素的像素值(75)大于對(duì)應(yīng)的第一上限值(70);第一檢測(cè)影像101c的問(wèn)題像素?cái)?shù)為2,其右上像素的像素值(150)大于對(duì)應(yīng)的第一上限值(140)且右下像素的像素值(80)亦大于對(duì)應(yīng)的第一上限值(70)。
接著,檢測(cè)裝置1將問(wèn)題像素?cái)?shù)不大于像素臨界值(以1為例)的第一檢測(cè)影像101a、101b的檢測(cè)結(jié)果判定為“通過(guò)檢測(cè)”,并將問(wèn)題像素?cái)?shù)大于像素臨界值的第一檢測(cè)影像101c的檢測(cè)結(jié)果判定為“未通過(guò)檢測(cè)”。
接著,檢測(cè)裝置1依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的第一檢測(cè)影像101a、101b來(lái)更新第二門檻數(shù)據(jù)122,以獲得更新后的門檻數(shù)據(jù)122’。具體而言,檢測(cè)裝置1將第一檢測(cè)影像101a、101b各像素位置的最小像素值(即5、135、200及65)與對(duì)應(yīng)的第一下限值(即5、130、200及65)進(jìn)行比較,并以小于第一下限值的最小像素值作為更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122’的第二下限值(即5、130、200及65),將各像素位置的最大像素值(即8、137、215及75)與對(duì)應(yīng)的第一上限值(即10、140、210及70)進(jìn)行比較,并以大于第一上限值的最大像素值作為更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122’的第二上限值(即10、140、215及75)。藉此,可使更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122’的容許范圍(即第二上限值與第二下限值的差距)更貼近最近的檢測(cè)影像,而更適用于當(dāng)前的檢測(cè)環(huán)境(由于相鄰的檢測(cè)影像間的擷取時(shí)間差較小,環(huán)境變化亦較?。?。
接著,檢測(cè)裝置1擷取多個(gè)第二檢測(cè)影像102a-102c,并與更新后的第二門檻數(shù)據(jù)122’進(jìn)行比較,以判斷各第二檢測(cè)影像102a-102c的問(wèn)題像素?cái)?shù)。舉例來(lái)說(shuō),第二檢測(cè)影像102a的問(wèn)題像素?cái)?shù)為1,其僅有左上像素的像素值(15)大于對(duì)應(yīng)的第二上限值(10);第二檢測(cè)影像102b的問(wèn)題像素?cái)?shù)為2,其有左上像素的像素值(15)大于對(duì)應(yīng)的第二上限值(10)且左下像素的像素值(190)亦小于對(duì)應(yīng)的第二下限值(195);第二檢測(cè)影像102c的問(wèn)題像素?cái)?shù)為1,其左下像素的像素值(185)小于對(duì)應(yīng)的第二下限值(195)。
接著,檢測(cè)裝置1將問(wèn)題像素?cái)?shù)不大于像素臨界值(以1為例)的第二檢測(cè)影像102a、102c的檢測(cè)結(jié)果判定為“通過(guò)檢測(cè)”,并將問(wèn)題像素?cái)?shù)大于像素臨界值的第二檢測(cè)影像102b的檢測(cè)結(jié)果判定為“未通過(guò)檢測(cè)”。
接著,檢測(cè)裝置1依據(jù)通過(guò)檢測(cè)的第二檢測(cè)影像102a、102c來(lái)更新第一門檻數(shù)據(jù)120,以獲得更新后的門檻數(shù)據(jù)120’。具體而言,檢測(cè)裝置1將第二檢測(cè)影像102a、102c各像素位置的最小像素值(即8、135、185及65)與對(duì)應(yīng)的第二下限值(即5、130、200及65)進(jìn)行比較,并以小于第二下限值的最小像素值作為更新后的第一門檻數(shù)據(jù)120’的第一下限值(即5、130、185及65),將各像素位置的最大像素值(即15、135、213及68)與對(duì)應(yīng)的第二上限值(即10、140、215及75)進(jìn)行比較,并以大于第二上限值的最大像素值作為更新后的第一門檻數(shù)據(jù)120’的第一上限值(即15、140、215及75)。借此,可使更新后的第一門檻數(shù)據(jù)120’的容許范圍更貼近最近的檢測(cè)影像,而更適用于當(dāng)前的檢測(cè)環(huán)境。
以上所述實(shí)施例僅是為充分說(shuō)明本發(fā)明而所舉的較佳的實(shí)施例,本發(fā)明的保護(hù)范圍不限于此。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明基礎(chǔ)上所作的等同替代或變換,均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書(shū)為準(zhǔn)。