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一種具有防PET片材帶料的上料設(shè)備控制方法及系統(tǒng)與流程

文檔序號(hào):40382868發(fā)布日期:2024-12-20 12:05閱讀:10來源:國知局
一種具有防PET片材帶料的上料設(shè)備控制方法及系統(tǒng)與流程

本技術(shù)涉及智能控制相關(guān),具體涉及一種具有防pet片材帶料的上料設(shè)備控制方法及系統(tǒng)。


背景技術(shù):

1、在現(xiàn)代制造業(yè)中,pet(聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯)片材作為一種重要的包裝材料,因其優(yōu)良的透明性、氣密性、抗張強(qiáng)度和耐沖擊性而被廣泛應(yīng)用于食品、醫(yī)藥、電子等多個(gè)領(lǐng)域。然而,pet片材在生產(chǎn)、運(yùn)輸、加工和存儲(chǔ)過程中,往往會(huì)因?yàn)楦鞣N因素(如溫度、濕度、壓力等)發(fā)生帶料現(xiàn)象,導(dǎo)致表面出現(xiàn)不平整現(xiàn)象,即在pet片材上附帶或吸附了其他雜質(zhì)、顆粒、粉塵或異物,不僅影響產(chǎn)品的美觀度,還可能對(duì)后續(xù)的加工流程,如印刷、切割、成型等,造成不良影響;此外,pet片材在展平過程中還容易產(chǎn)生靜電,不僅影響設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行,還可能對(duì)操作人員的安全構(gòu)成威脅,傳統(tǒng)的上料設(shè)備控制方法往往依賴于人工觀察和手動(dòng)控制調(diào)整,不僅效率低下,無法精準(zhǔn)檢測識(shí)別pet片材的各種表面不平整現(xiàn)象,難以識(shí)別精準(zhǔn)的pet片材表面的不平整區(qū)域及不平整程度,且難以保證每次上料的準(zhǔn)確性和一致性,從而影響后續(xù)的加工質(zhì)量。

2、因此,現(xiàn)階段防pet片材帶料上料設(shè)備控制相關(guān)技術(shù)中,存在無法精確識(shí)別pet片材表面的不平整區(qū)域和程度,使得不能結(jié)合不平整參數(shù)分布精確調(diào)整優(yōu)化,進(jìn)而導(dǎo)致上料的準(zhǔn)確性較差、產(chǎn)品質(zhì)量不高及整體生產(chǎn)效率低下的技術(shù)問題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)通過提供一種具有防pet片材帶料的上料設(shè)備控制方法及系統(tǒng),解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法精確識(shí)別pet片材表面的不平整區(qū)域和程度,使得不能結(jié)合不平整參數(shù)分布精確調(diào)整優(yōu)化,進(jìn)而導(dǎo)致上料的準(zhǔn)確性較差、產(chǎn)品質(zhì)量不高及整體生產(chǎn)效率低下的技術(shù)問題,達(dá)到了提高上料準(zhǔn)確性和產(chǎn)品質(zhì)量以及提升生產(chǎn)效率的技術(shù)效果。

2、本技術(shù)提供一種具有防pet片材帶料的上料設(shè)備控制方法,所述方法包括:對(duì)待進(jìn)行上料的pet片材進(jìn)行圖像采集,獲得pet圖像,進(jìn)行pet片材的不平整分析,獲得不平整參數(shù)分布;獲取pet片材展平上料的展平控制參數(shù)空間;在所述展平控制參數(shù)空間內(nèi),根據(jù)所述不平整參數(shù)分布,以提升pet片材的平整度和降低pet片材展平后的靜電參數(shù)為目的,進(jìn)行展平控制參數(shù)的優(yōu)化,獲得最優(yōu)展平控制參數(shù),其中,預(yù)測pet片材展平后的靜電參數(shù)并進(jìn)行帶料模擬進(jìn)行優(yōu)化;采用所述最優(yōu)展平控制參數(shù),對(duì)所述pet片材的上料設(shè)備進(jìn)行展平上料控制。

3、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,對(duì)待進(jìn)行上料的pet片材進(jìn)行圖像采集,獲得pet圖像,進(jìn)行pet片材的不平整分析,獲得不平整參數(shù)分布,還執(zhí)行以下處理:訓(xùn)練進(jìn)行pet圖像識(shí)別的pet圖像識(shí)別器;對(duì)待進(jìn)行上料的pet片材隨機(jī)選擇多個(gè)采集位置進(jìn)行圖像采集,獲得多個(gè)pet圖像;將所述多個(gè)pet圖像輸入所述pet圖像識(shí)別器,獲得多個(gè)不平整參數(shù),基于所述多個(gè)不平整參數(shù)的最大值和最小值,構(gòu)建不平整參數(shù)分布。

4、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,訓(xùn)練進(jìn)行pet圖像識(shí)別的pet圖像識(shí)別器,還執(zhí)行以下處理:根據(jù)pet片材的歷史平整檢測數(shù)據(jù),采集樣本pet圖像集合,對(duì)每個(gè)樣本pet圖像內(nèi)的不平整尺寸進(jìn)行標(biāo)注,獲得樣本不平整參數(shù)集合;采用所述樣本pet圖像集合和樣本不平整參數(shù)集合作為監(jiān)督訓(xùn)練數(shù)據(jù),采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),訓(xùn)練所述pet圖像識(shí)別器;對(duì)訓(xùn)練完成的所述pet圖像識(shí)別器進(jìn)行驗(yàn)證,在滿足要求時(shí),獲得所述pet圖像識(shí)別器。

5、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,獲取pet片材展平上料的展平控制參數(shù)空間,還執(zhí)行以下處理:獲取pet片材展平上料的展平設(shè)備的壓力控制參數(shù)范圍;將所述壓力控制參數(shù)范圍構(gòu)建為展平控制參數(shù)空間。

6、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,在所述展平控制參數(shù)空間內(nèi),根據(jù)所述不平整參數(shù)分布,以提升pet片材的平整度和降低pet片材展平后的靜電參數(shù)為目的,進(jìn)行展平控制參數(shù)的優(yōu)化,獲得最優(yōu)展平控制參數(shù),還執(zhí)行以下處理:在所述展平控制參數(shù)空間內(nèi)隨機(jī)選取第一展平控制參數(shù);根據(jù)所述第一展平控制參數(shù)和所述不平整參數(shù)分布進(jìn)行模擬展平預(yù)測,獲得第一展平比例和第一靜電參數(shù);采集環(huán)境參數(shù),結(jié)合所述第一靜電參數(shù)進(jìn)行pet片材的帶料預(yù)測,獲得第一帶料參數(shù),結(jié)合所述第一展平比例,計(jì)算獲得第一上料適應(yīng)度;繼續(xù)對(duì)展平控制參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,直到優(yōu)化收斂,輸出上料適應(yīng)度最大的展平控制參數(shù),獲得最優(yōu)展平控制參數(shù)。

7、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,根據(jù)所述第一展平控制參數(shù)和所述不平整參數(shù)分布進(jìn)行模擬展平預(yù)測,獲得第一展平比例和第一靜電參數(shù),還執(zhí)行以下處理:根據(jù)pet片材上料展平的歷史數(shù)據(jù),采集樣本展平控制參數(shù)集合和樣本不平整參數(shù)分布集合,并獲取不同樣本展平控制參數(shù)和樣本不平整參數(shù)分布下展平后pet片材的展平面積占比和表面電阻率,標(biāo)注為樣本展平比例集合和樣本靜電參數(shù)集合;采用所述樣本展平控制參數(shù)集合和樣本不平整參數(shù)分布集合為輸入數(shù)據(jù),采用所述樣本展平比例集合和樣本靜電參數(shù)集合為輸出監(jiān)督數(shù)據(jù),訓(xùn)練展平模擬預(yù)測器;將所述第一展平控制參數(shù)和所述不平整參數(shù)分布輸入所述展平模擬預(yù)測器,預(yù)測獲得第一展平比例和第一靜電參數(shù);

8、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,采集環(huán)境參數(shù),結(jié)合所述第一靜電參數(shù)進(jìn)行pet片材的帶料預(yù)測,獲得第一帶料參數(shù),結(jié)合所述第一展平比例,計(jì)算獲得第一上料適應(yīng)度,還執(zhí)行以下處理:采集環(huán)境內(nèi)的灰塵濃度,作為環(huán)境參數(shù);將所述環(huán)境參數(shù)和第一靜電參數(shù)輸入帶料預(yù)測器內(nèi),預(yù)測獲得第一帶料參數(shù),其中,所述帶料預(yù)測器通過采用樣本環(huán)境參數(shù)、樣本靜電參數(shù)和樣本帶料參數(shù)預(yù)先訓(xùn)練獲得,每個(gè)樣本帶料參數(shù)包括pet片材的附著顆粒密度數(shù)據(jù);根據(jù)所述第一展平比例和第一帶料參數(shù),計(jì)算獲得第一上料適應(yīng)度,如下式:

9、;

10、其中,la為上料適應(yīng)度,為權(quán)重,n為正整數(shù),k為展平比例,帶料參數(shù),為附著顆粒密度閾值。

11、本技術(shù)還提供了一種具有防pet片材帶料的上料設(shè)備控制系統(tǒng),包括:不平整參數(shù)分布獲得模塊,用于對(duì)待進(jìn)行上料的pet片材進(jìn)行圖像采集,獲得pet圖像,進(jìn)行pet片材的不平整分析,獲得不平整參數(shù)分布;展平控制參數(shù)空間獲取模塊,用于獲取pet片材展平上料的展平控制參數(shù)空間;最優(yōu)展平控制參數(shù)獲得模塊,用于在所述展平控制參數(shù)空間內(nèi),根據(jù)所述不平整參數(shù)分布,以提升pet片材的平整度和降低pet片材展平后的靜電參數(shù)為目的,進(jìn)行展平控制參數(shù)的優(yōu)化,獲得最優(yōu)展平控制參數(shù),其中,預(yù)測pet片材展平后的靜電參數(shù)并進(jìn)行帶料模擬進(jìn)行優(yōu)化;展平上料控制模塊,用于采用所述最優(yōu)展平控制參數(shù),對(duì)所述pet片材的上料設(shè)備進(jìn)行展平上料控制。

12、擬通過本技術(shù)提出的一種具有防pet片材帶料的上料設(shè)備控制方法及系統(tǒng),獲得pet圖像,進(jìn)行pet片材的不平整分析,獲得不平整參數(shù)分布;獲取pet片材展平上料的展平控制參數(shù)空間;以提升pet片材的平整度和降低pet片材展平后的靜電參數(shù)為目的,進(jìn)行展平控制參數(shù)的優(yōu)化,獲得最優(yōu)展平控制參數(shù);對(duì)pet片材的上料設(shè)備進(jìn)行展平上料控制。解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法精確識(shí)別pet片材表面的不平整區(qū)域和程度,使得不能結(jié)合不平整參數(shù)分布精確調(diào)整優(yōu)化,進(jìn)而導(dǎo)致上料的準(zhǔn)確性較差、產(chǎn)品質(zhì)量不高及整體生產(chǎn)效率低下的技術(shù)問題,達(dá)到了提高上料準(zhǔn)確性和產(chǎn)品質(zhì)量以及提升生產(chǎn)效率的技術(shù)效果。

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