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基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的制作方法

文檔序號(hào):12696987閱讀:215來源:國知局
基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及生化設(shè)備領(lǐng)域,更具體地說,本發(fā)明涉及一種基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤。



背景技術(shù):

隨著國內(nèi)生化分析儀廠家的日益增多,生化分析儀上的功能模塊也是越來越多樣化,結(jié)構(gòu)形式五花八門。其中試劑盤組件主要用于提供生化分析儀的各種試劑,現(xiàn)有技術(shù)中具有多種結(jié)構(gòu)的試劑盤組件。

例如現(xiàn)有技術(shù)中存在一種試劑盤,包括試劑倉、試劑托盤、電機(jī)和試劑瓶,試劑瓶安放在試劑托盤上,試劑托盤底部設(shè)置有齒環(huán),試劑瓶和試劑托盤設(shè)置在試劑倉內(nèi),電機(jī)設(shè)置于試劑倉底部,電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)軸上安裝著一齒輪,該齒輪與試劑托盤上的齒環(huán)相嚙合。因此通過電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)齒輪、齒環(huán)的轉(zhuǎn)動(dòng),從而驅(qū)動(dòng)試劑托盤轉(zhuǎn)動(dòng)并帶動(dòng)位于試劑托盤上的試劑瓶轉(zhuǎn)動(dòng)。這種結(jié)構(gòu)的試劑盤,由于試劑托盤無法拆卸,在需要往試劑瓶內(nèi)注入試劑時(shí),需逐個(gè)將試劑瓶取下,加入試劑后再放回至試劑托盤上,重復(fù)多次才能完成全部試劑瓶試劑的加入,操作十分的繁瑣。同時(shí)由于試劑托盤無法拆卸進(jìn)行更換,每一臺(tái)儀器只能使用相應(yīng)規(guī)格的容器,無法使用其他規(guī)格的容器,試劑盤的易用性較差。

因此需要一種具有較強(qiáng)的易用性,并且能夠方便、快速的往試劑瓶內(nèi)加入試劑的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中試劑盤易用性差,無法方便、快速的往試管內(nèi)加入試劑的問題。

為了實(shí)現(xiàn)發(fā)明目的,基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤系統(tǒng)包括:轉(zhuǎn)盤座、轉(zhuǎn)盤組以及驅(qū)動(dòng)系統(tǒng);其中

所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)包括動(dòng)力源以及通過動(dòng)力源驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的上軸芯;

所述上軸芯設(shè)置于轉(zhuǎn)盤座內(nèi),所述上軸芯頂部設(shè)置有第一凹槽;

所述轉(zhuǎn)盤組可拆卸的固定于轉(zhuǎn)盤座上,所述轉(zhuǎn)盤組由轉(zhuǎn)盤和安裝在轉(zhuǎn)盤上的提手構(gòu)成;

所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有多個(gè)用于放置容器的放置位;

所述提手具有能與所述轉(zhuǎn)盤相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)的扁軸;

所述扁軸與所述第一凹槽相匹配,用于將轉(zhuǎn)盤活動(dòng)固定在上軸芯頂端。

其中,所述扁軸呈長條形,扁軸具有相平行的豎直面以及相對(duì)稱的弧形面,豎直面與弧形面平滑過渡;相平行的兩豎直面的距離為a,相對(duì)稱的弧形面頂點(diǎn)的距離為b;所述第一凹槽由開口和容腔構(gòu)成,所述開口的寬度為c,所述容腔的橫斷面為一優(yōu)弧,且所述優(yōu)弧的直徑為d;所述扁軸的兩豎直面的距離a等于第一凹槽的開口的寬度c,或者a略小于c;所述扁軸的相對(duì)稱的弧形面頂點(diǎn)的距離b等于容腔的直徑d,或者b略小于d。

其中,所述動(dòng)力源為步進(jìn)電機(jī),所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)還包括下軸芯,所述下軸芯固定連接于步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)軸上,所述上軸芯與所述下軸芯連接。

進(jìn)一步的,所述上軸芯底部設(shè)置有凹陷孔,所述下軸芯的頂部插入該凹陷孔內(nèi),所述上軸芯和下軸芯均在徑向上設(shè)置有相互貫通的銷孔,所述銷孔內(nèi)設(shè)置有與所述上軸芯和所述下軸芯間隙配合的連接軟銷。

進(jìn)一步的,所述試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括位置檢測(cè)裝置,所述位置檢測(cè)裝置由碼盤和光電傳感器構(gòu)成,所述碼盤固定在下軸芯上,所述光電傳感器安裝在碼盤的一側(cè)。

其中,所述試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括溫度調(diào)節(jié)裝置,所述溫度調(diào)節(jié)裝置由制冷片、散熱片以及保溫棉層構(gòu)成,所述制冷片設(shè)置在轉(zhuǎn)盤座的下方,用于對(duì)轉(zhuǎn)盤座內(nèi)的容器進(jìn)行溫度的調(diào)節(jié);所述散熱片安裝于制冷片的底部,所述保溫棉層包裹在所述轉(zhuǎn)盤座的外表面上。

其中,所述上軸芯的頂部設(shè)置有凸塊,所述轉(zhuǎn)盤的下表面設(shè)置有與所述凸塊相適配的第二凹槽。

其中,所述試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括溫度傳感裝置,所述溫度傳感裝置安裝于轉(zhuǎn)盤座內(nèi)部,用于感應(yīng)轉(zhuǎn)盤座內(nèi)部的溫度。

其中,所述放置位為設(shè)置于轉(zhuǎn)盤上的通孔,所述轉(zhuǎn)盤座對(duì)應(yīng)通孔的位置設(shè)置有一環(huán)形凹槽。

進(jìn)一步的,所述轉(zhuǎn)盤座環(huán)形凹槽內(nèi)設(shè)置有用于導(dǎo)熱的介質(zhì)。

其中,所述轉(zhuǎn)盤蓋板還包括轉(zhuǎn)盤蓋板,所述轉(zhuǎn)盤座固定于所述轉(zhuǎn)盤蓋板的下方。

由上可知,本發(fā)明通過將轉(zhuǎn)盤組與轉(zhuǎn)盤座設(shè)計(jì)為可拆卸的結(jié)構(gòu),在需要往轉(zhuǎn)盤上的容器內(nèi)注入試劑時(shí),無需逐個(gè)將容器取下,在加入試劑后再放回至轉(zhuǎn)盤上,而是可以直接將轉(zhuǎn)盤組從轉(zhuǎn)盤座上取下,往轉(zhuǎn)盤上的容器內(nèi)加入試劑后,再將轉(zhuǎn)盤組整體放回至轉(zhuǎn)盤座上,無需單獨(dú)對(duì)每一個(gè)容器進(jìn)行取放,能夠更加方便、快速的往容器內(nèi)加入試劑,簡化了往容器內(nèi)加入試劑的操作,并且為試劑的自動(dòng)化添加提供了一種可實(shí)施的方案;另外,本發(fā)明的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤由于轉(zhuǎn)盤整體能夠從轉(zhuǎn)盤座上取下,因此轉(zhuǎn)盤組可以適應(yīng)多種具有不同規(guī)格容器的轉(zhuǎn)盤,基因測(cè)序儀器則可以使用多個(gè)不同規(guī)格的容器,試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的易用性更好。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明另一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明一個(gè)示例中上軸芯和下軸芯的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明另一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5、圖6、圖7為本發(fā)明一個(gè)示例中扁軸與第一凹槽的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖8為本發(fā)明另一個(gè)示例中扁軸與第一凹槽的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖9為本發(fā)明一個(gè)示例中轉(zhuǎn)盤與上軸芯的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖10為本發(fā)明另一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖11為本發(fā)明另一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖12為本發(fā)明另一個(gè)示例中基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。

本發(fā)明提出第一實(shí)施例,如圖1所示,本實(shí)施例提出一種基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤,所述的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤包括轉(zhuǎn)盤座10、轉(zhuǎn)盤組20以及驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30,其中,所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30包括動(dòng)力源301以及通過動(dòng)力源驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的上軸芯302;所述上軸芯302設(shè)置于轉(zhuǎn)盤座10內(nèi),所述上軸芯302頂部設(shè)置有第一凹槽303;所述轉(zhuǎn)盤組20可拆卸的固定于轉(zhuǎn)盤座10上,所述轉(zhuǎn)盤組20由轉(zhuǎn)盤201和安裝在轉(zhuǎn)盤201上的提手202構(gòu)成;所述轉(zhuǎn)盤201上設(shè)置有多個(gè)用于放置容器的放置位203;所述提手202具有能與所述轉(zhuǎn)盤201相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)的扁軸204;所述扁軸204與所述第一凹槽303相匹配,用于將轉(zhuǎn)盤201活動(dòng)固定在上軸芯302頂端。

本發(fā)明通過將轉(zhuǎn)盤組20與轉(zhuǎn)盤座10設(shè)計(jì)為可拆卸的結(jié)構(gòu),在需要往轉(zhuǎn)盤201上的容器內(nèi)注入試劑時(shí),無需逐個(gè)將容器取下,在加入試劑后再放回至轉(zhuǎn)盤201上,而是可以直接將轉(zhuǎn)盤組從轉(zhuǎn)盤座10上取下,往轉(zhuǎn)盤201上的容器內(nèi)加入試劑后,再將轉(zhuǎn)盤組20整體放回至轉(zhuǎn)盤座10上,無需單獨(dú)對(duì)每一個(gè)容器進(jìn)行取放,能夠更加方便、快速的往容器內(nèi)加入試劑,簡化了往容器內(nèi)加入試劑的操作,并且為試劑的自動(dòng)化添加提供了一種可實(shí)施的方案。另外,現(xiàn)有技術(shù)中的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤無法拆卸進(jìn)行更換,每一臺(tái)基因測(cè)序儀器只能使用相應(yīng)規(guī)格的容器,無法使用其他規(guī)格的容器,但本發(fā)明的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤由于轉(zhuǎn)盤201整體能夠從轉(zhuǎn)盤座10上取下,因此轉(zhuǎn)盤組20可以適應(yīng)多種具有不同規(guī)格容器的轉(zhuǎn)盤201,基因測(cè)序儀器則可以使用多個(gè)不同規(guī)格的容器,試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的易用性更好。需要說明的是,本說明書中所指的容器包括各種用于盛放試劑的試管、試劑瓶、EP管等,轉(zhuǎn)盤組20上容器的放置位203根據(jù)容器的類型進(jìn)行調(diào)整,下文中均以試管作為較佳的示例進(jìn)行說明。

如圖2所示,本發(fā)明還提出了一示例,所述基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤包括轉(zhuǎn)盤座10、轉(zhuǎn)盤組20以及驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30,其中,所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30包括動(dòng)力源301以及通過動(dòng)力源301驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的上軸芯302;所述上軸芯302設(shè)置于轉(zhuǎn)盤座10內(nèi),所述上軸芯302頂部設(shè)置有第一凹槽303;所述轉(zhuǎn)盤組20可拆卸的固定于轉(zhuǎn)盤座10上,所述轉(zhuǎn)盤組20由轉(zhuǎn)盤201和安裝在轉(zhuǎn)盤201上的提手202構(gòu)成;所述轉(zhuǎn)盤201上設(shè)置有多個(gè)用于放置試管的放置位203;所述提手202具有能與所述轉(zhuǎn)盤201相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)的扁軸204;所述扁軸204與所述第一凹槽303相匹配,用于將轉(zhuǎn)盤201活動(dòng)固定在上軸芯302頂端。在本示例中,所述動(dòng)力源301為步進(jìn)電機(jī),所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30還包括下軸芯304,如圖2、圖3所示,其中圖3為上軸芯302、下軸芯304的局部放大圖,所述下軸芯304固定連接于步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)軸3010上,所述上軸芯302與所述下軸芯304連接;較為詳細(xì)的,所述上軸芯302底部設(shè)置有凹陷孔,所述下軸芯304的頂部插入該凹陷孔內(nèi),所述上軸芯302、下軸芯304均在徑向上設(shè)置有相互貫通的銷孔,所述銷孔內(nèi)設(shè)置有與所述上軸芯302和所述下軸芯304間隙配合的連接軟銷40。

本發(fā)明通過此種結(jié)構(gòu),當(dāng)轉(zhuǎn)盤201通過扁軸204與第一凹槽303的配合,固定在上軸芯302頂端,所述轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng),需通過步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)來實(shí)現(xiàn),下軸芯304固定在步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)軸3010上,下軸芯304通過步進(jìn)電機(jī)的帶動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng),下軸芯304與上軸芯302之間通過連接軟銷40連接,當(dāng)下軸芯304轉(zhuǎn)動(dòng)后,通過連接軟銷40的傳動(dòng),帶動(dòng)上軸芯302轉(zhuǎn)動(dòng),從而使得固定在上軸芯302上的轉(zhuǎn)盤201轉(zhuǎn)動(dòng)。由于連接軟銷40與所述上軸芯302和下軸芯304均采用間隙配合,因此在所述下軸芯304轉(zhuǎn)動(dòng)的瞬間,上軸芯302不會(huì)立即隨同下軸芯304一同轉(zhuǎn)動(dòng),使上軸芯302和轉(zhuǎn)盤201延時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng),避免了在步進(jìn)電機(jī)啟動(dòng)瞬間對(duì)轉(zhuǎn)盤201形成的沖擊而導(dǎo)致試管內(nèi)的試劑濺出;同理,在所述步進(jìn)電機(jī)停止轉(zhuǎn)動(dòng)的瞬間,下軸芯304與步進(jìn)電機(jī)則一同停止轉(zhuǎn)動(dòng),由于連接軟銷40與所述上軸芯302和下軸芯304均采用間隙配合,對(duì)上軸芯302和轉(zhuǎn)盤201起到一定的緩沖作用,防止轉(zhuǎn)盤201突然停止對(duì)轉(zhuǎn)盤201上的試管形成沖擊而導(dǎo)致試管內(nèi)的試劑濺出。因此,在本示例中,上軸芯302、下軸芯304以及連接軟銷40的結(jié)構(gòu),具有緩沖的作用,可以消除步進(jìn)電機(jī)在啟動(dòng)或停止的瞬間對(duì)轉(zhuǎn)盤201上的試管造成的沖擊,防止試管出現(xiàn)振蕩以及試劑從試管內(nèi)濺出。

本發(fā)明還提出了一示例,在上述圖2、圖3的示例的基礎(chǔ)上,所述的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括有位置檢測(cè)裝置,通過該位置檢測(cè)裝置檢測(cè)轉(zhuǎn)盤201所處的位置。在本示例中,所述轉(zhuǎn)盤座10、轉(zhuǎn)盤201、步進(jìn)電機(jī)、上軸芯302、下軸芯304的結(jié)構(gòu)均與圖2和圖3中示例的相同,因此在本示例則不詳細(xì)對(duì)上述部件進(jìn)行說明。所述位置檢測(cè)裝置由碼盤501和光電傳感器502構(gòu)成,如圖4所示,所述碼盤501固定在下軸芯304上,所述光電傳感器502安裝在碼盤501的一側(cè),當(dāng)步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)下軸芯304轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),碼盤501則隨同下軸芯304一同轉(zhuǎn)動(dòng),由于轉(zhuǎn)盤201與上軸芯302固定連接,上軸芯302通過連接軟銷40連接于下軸芯304上,因此轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng)角度即為碼盤501的轉(zhuǎn)動(dòng)角度;光電傳感器502具有一信號(hào)發(fā)射端和信號(hào)接收端,碼盤501的邊緣設(shè)置于信號(hào)發(fā)射端和信號(hào)接收端之間,所述碼盤501上設(shè)置有與轉(zhuǎn)盤201上的試管相對(duì)應(yīng)的刻度,在一具體實(shí)施例中,所述刻度可為設(shè)置在碼盤501上多個(gè)通孔,所述通孔的形狀可以根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置,例如可以為圓形的通孔、方形的通孔等,在一優(yōu)選實(shí)施例中,所述刻度為設(shè)置在碼盤501上的多個(gè)長條形通孔;因此,下軸芯304帶動(dòng)碼盤501轉(zhuǎn)動(dòng),當(dāng)長條形的通孔轉(zhuǎn)動(dòng)至光電傳感器502的位置時(shí),光電傳感器502的信號(hào)發(fā)射端和接收端則無任何遮擋物,信號(hào)接收端則接收來自信號(hào)發(fā)射端的信號(hào),通過將此信號(hào)發(fā)送至控制系統(tǒng),則可以判斷轉(zhuǎn)盤201轉(zhuǎn)動(dòng)的角度以及轉(zhuǎn)盤201上各試管所處的位置。在本發(fā)明的另一示例中,所述位置檢測(cè)裝置為角位移傳感器,角位移傳感器與用于監(jiān)測(cè)所述轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng)角度,角位移傳感器與控制系統(tǒng)電性連接,通過角位移傳感器所監(jiān)測(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)角度,判斷轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng)角度以及轉(zhuǎn)盤201上個(gè)試管所處的位置;另外,控制系統(tǒng)根據(jù)角位移傳感器監(jiān)測(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)角度,發(fā)送相應(yīng)的指令控制步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng),從而控制轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng)角度,通過監(jiān)測(cè)信號(hào)的收集和控制指令的發(fā)出,使轉(zhuǎn)盤201的轉(zhuǎn)動(dòng)更為精準(zhǔn)。

對(duì)于所述的提手202,本發(fā)明提出了一示例,所述提手202僅包括扁軸204,所述扁軸204可以相對(duì)于轉(zhuǎn)盤201進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng),扁軸204與所述第一凹槽303相匹配,用于將轉(zhuǎn)盤201活動(dòng)固定在上軸芯302頂端。針對(duì)所述的提手202,本發(fā)明還提出了另一示例,在本示例中,所述提手202包括扁軸204以及和扁軸204連為一體的提手部,所述提手部的形狀可以根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)計(jì),例如所述的提手部可以是U型的提手部,也可以是弧形的提手部;提手部連接在扁軸204的兩端上,所述提手202轉(zhuǎn)動(dòng)固定在轉(zhuǎn)盤201上,因此可以直接通過提起提手部,將所述的轉(zhuǎn)盤201提起來。

在上述任意方案的基礎(chǔ)上,我們對(duì)所述的第一凹槽303、提手的扁軸204的具體結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)的描述,本發(fā)明提出了一示例,如圖5所示,為所述扁軸204和上軸芯302的橫斷面示意圖,本示例中所述扁軸204呈長條形,并且所述扁軸204具有相平行的豎直面2041以及相對(duì)稱的弧形面2042,豎直面2041與弧形面2042平滑過渡。進(jìn)一步的,如圖5所示,相平行的兩豎直面2041的距離為a,相對(duì)稱的弧形面2042頂點(diǎn)的距離為b。所述第一凹槽303由開口3031和容腔3032構(gòu)成,所述開口3031的寬度為c,所述容腔3032的橫斷面為一優(yōu)弧,且所述優(yōu)弧的直徑為d。在本示例中,所述扁軸204的兩豎直面2041的距離a等于第一凹槽303的開口3031的寬度c,或者a略小于c;所述扁軸204的相對(duì)稱的弧形面2042頂點(diǎn)的距離b等于容腔3032的直徑d,或者b略小于d。通過上述的結(jié)構(gòu),當(dāng)需要將轉(zhuǎn)盤201放置在轉(zhuǎn)盤座10上時(shí),將轉(zhuǎn)盤201移動(dòng)至轉(zhuǎn)盤座10的上方,提手202的扁軸204對(duì)準(zhǔn)第一凹槽303的開口3031處,扁軸204放入上軸芯302的第一凹槽303內(nèi),由于扁軸204兩條豎直面2041的距離a等于或略小于開口3031的寬度c,扁軸204則可以剛好插入第一凹槽303的容腔3032內(nèi),同時(shí)由于相對(duì)稱的弧形面2042頂點(diǎn)的距離等于或略小于容腔3032的直徑d,因此在扁軸204插入第一凹槽303的容腔3032內(nèi)后,扁軸204可以在容腔3032內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),如圖6所示,所述的扁軸204在容腔3032內(nèi)順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng),需要說明的是,扁軸204在容腔3032內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)的方向不受限制,可以順時(shí)針也可以逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)。當(dāng)扁軸204轉(zhuǎn)動(dòng)至一定的角度后,如圖7所示,即為扁軸204轉(zhuǎn)動(dòng)90°的狀態(tài)示意圖,此時(shí)扁軸204則卡入容腔3032內(nèi),無法直接從容腔3032中取出,從而將轉(zhuǎn)盤201鎖定在上軸芯302的頂部,轉(zhuǎn)盤201則放置至轉(zhuǎn)盤座10上。當(dāng)需要將轉(zhuǎn)盤201從轉(zhuǎn)盤座10上取下時(shí),則將扁軸204再次轉(zhuǎn)動(dòng)90°,使扁軸204返回至剛插入第一凹槽303內(nèi)的初始狀態(tài),此時(shí)扁軸204則可以沿豎直方向從第一凹槽303中取出,由于扁軸204安裝在轉(zhuǎn)盤201上,此時(shí)轉(zhuǎn)盤201則與上軸芯302解除鎖定,轉(zhuǎn)盤組20則可以從轉(zhuǎn)盤座10上取下。通過上述的結(jié)構(gòu),在需要往試管內(nèi)加入試劑時(shí),無需單獨(dú)對(duì)每一個(gè)試管進(jìn)行取放,能夠更加方便、快速的往試管內(nèi)加入試劑,簡化了往試管內(nèi)加入試劑的操作;另外由于轉(zhuǎn)盤組20與轉(zhuǎn)盤座10采用可拆卸的方式,轉(zhuǎn)盤組20可以適應(yīng)多種具有不同規(guī)格試管的轉(zhuǎn)盤201,基因測(cè)序儀器則可以使用多個(gè)不同規(guī)格的試管,試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的易用性更好。

對(duì)于扁軸204和第一凹槽303的具體結(jié)構(gòu),本發(fā)明還提出了一示例,需要說明的是,該示例是在圖5所述示例的基礎(chǔ)上的進(jìn)一步拓展,在本示例中,所述扁軸204的結(jié)構(gòu)與圖5所述示例中扁軸204的結(jié)構(gòu)相同,此處不再贅述。如圖8所示,所述第一凹槽303由開口3031和容腔3032構(gòu)成,其中容腔3032的結(jié)構(gòu)與圖5所述示例中容腔3032的結(jié)構(gòu)相同,但所述開口3031的深度e大于圖5所述示例中開口3031的深度e。這種結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì),在將扁軸204沿開口3031插入容腔3032中時(shí),開口3031對(duì)扁軸204起到很好的導(dǎo)向作用,防止在將轉(zhuǎn)盤組20放置在轉(zhuǎn)盤座10過程中出現(xiàn)位置的偏差,避免試管的位置出現(xiàn)偏差而導(dǎo)致在試劑吸取時(shí)采樣針不能插入對(duì)應(yīng)的試管內(nèi)。

對(duì)于第一凹槽的開口深度,需要說明的是,所述開口深度e可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置,e≥0cm。在本發(fā)明的一個(gè)具體實(shí)施例中,所述開口與容腔的上表面重合;本方案簡化了設(shè)備結(jié)構(gòu)。在本發(fā)明的另一個(gè)具體實(shí)施例中,0.15d≤e≤0.5d;本方案中,在將所述扁軸插入容腔的過程中,開口能夠給扁軸起到一個(gè)較好的導(dǎo)向作用。

在本發(fā)明的另一具體實(shí)施例中,所述開口與扁軸接觸的兩個(gè)測(cè)面的頂部和底部均為弧面。本方案能夠減少扁軸插入容腔過程中的因碰撞對(duì)扁軸和開口的損害,同時(shí)所述開口具有更好的導(dǎo)向作用,有利于減少扁軸插入、取出過程中的阻力。

在上述任意方案的基礎(chǔ)上,對(duì)于上軸芯302與轉(zhuǎn)盤201的配合結(jié)構(gòu),本發(fā)明提出了一示例,當(dāng)然,本示例中的上軸芯302與轉(zhuǎn)盤201的結(jié)構(gòu),可以在本說明書中任意示例中適用,但在本示例中,僅對(duì)上軸芯302與轉(zhuǎn)盤201的配合結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)的說明。具體地,如圖9所示,本示例中所述扁軸204、第一凹槽303結(jié)構(gòu)與圖5所述示例中的結(jié)構(gòu)完全相同,因此在本示例中則不對(duì)扁軸204和第一凹槽303的具體結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明,需要指出的一點(diǎn)是,本示例中,所述提手202由扁軸204和提手部2020構(gòu)成,其中提手部2020的縱截面呈跑道型。另外,所述上軸芯302的頂部設(shè)置有凸塊3021,所述轉(zhuǎn)盤201的下表面設(shè)置有與凸塊3021相適配的第二凹槽2011,在所述扁軸204插入第一凹槽303中時(shí),所述凸塊3021則與所述的第二凹槽2011相匹配,凸塊3021插入所述的第二凹槽2011中。所述凸塊3021與第二凹槽2011的具體結(jié)構(gòu)本示例中不作具體的限制,通過凸塊3021與第二凹槽2011的設(shè)計(jì),在將所述的轉(zhuǎn)盤201放入轉(zhuǎn)盤座10的過程中,保證了轉(zhuǎn)盤201放入轉(zhuǎn)盤座10上位置的唯一性,當(dāng)轉(zhuǎn)盤201未以設(shè)定的位置放入轉(zhuǎn)盤座10上時(shí),所述的凸塊3021則會(huì)頂在轉(zhuǎn)盤201的下表面上,轉(zhuǎn)盤201則無法放入轉(zhuǎn)盤座10,同時(shí)扁軸204也將無法插入第一凹槽303內(nèi),更無法通過扁軸204的作用將轉(zhuǎn)盤201固定于上軸芯302頂端;另外,通過凸塊3021與第二凹槽2011的配合,使轉(zhuǎn)盤201與上軸芯302之間的配合更為緊密,防止上軸芯302與轉(zhuǎn)盤201之間出現(xiàn)較大的間隙,避免了在上軸芯302帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤201轉(zhuǎn)動(dòng)的過程中出現(xiàn)強(qiáng)烈振動(dòng)的情況,也就避免了轉(zhuǎn)盤201上的試管中的試劑出現(xiàn)振蕩的情況。

本發(fā)明還提出了一示例,所述基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括溫度調(diào)節(jié)裝置,通過溫度調(diào)節(jié)裝置對(duì)轉(zhuǎn)盤201上的試管進(jìn)行溫度的調(diào)節(jié),實(shí)現(xiàn)對(duì)試劑溫度的調(diào)節(jié),從而使試劑的溫度滿足測(cè)序反應(yīng)所需的溫度。如圖10所示,所述溫度調(diào)節(jié)裝置由制冷片601、散熱片602以及保溫棉層603構(gòu)成,其中,所述制冷片601設(shè)置在轉(zhuǎn)盤座10的下方,對(duì)轉(zhuǎn)盤座10內(nèi)的試管或試管進(jìn)行溫度的調(diào)節(jié)。當(dāng)通入正向電壓時(shí),制冷片601的上表面為制熱面,下表面為制冷面,當(dāng)制冷片601通入反向電壓時(shí),制冷片601的制熱面和制冷面對(duì)調(diào),其上表面即為制冷面,下表面即為制熱面。當(dāng)需要對(duì)轉(zhuǎn)盤201上的試管進(jìn)行加熱時(shí),通過通入正向電壓,制冷片601的上表面制熱,試管放置于放置位203后,與轉(zhuǎn)盤座10相接觸,通過轉(zhuǎn)盤座10的導(dǎo)熱作用,將熱量傳遞至試管上,達(dá)到提高試管內(nèi)試劑溫度的效果。同理,當(dāng)需要對(duì)轉(zhuǎn)盤201上的試管進(jìn)行降溫時(shí),通入反向的電壓,制冷片601的上表面制冷,由于制冷片601緊貼在轉(zhuǎn)盤座10底部,通過轉(zhuǎn)盤座10的傳遞作用,降低試管內(nèi)試劑的溫度。本示例中,所述散熱片602安裝于制冷片601的底部,所述保溫層包裹在所述轉(zhuǎn)盤座10的外表面,起到隔絕轉(zhuǎn)盤座10與外界進(jìn)行的熱傳遞的作用,提高制冷片601對(duì)試管進(jìn)行加熱或降溫的效果。

在圖10所述示例的基礎(chǔ)上,本發(fā)明還提出了一示例,本示例中,所述放置位203為設(shè)置于轉(zhuǎn)盤201上的通孔,可以理解的是,為了便于試管的放置,該通孔可以是臺(tái)階孔。如圖11所示,所述轉(zhuǎn)盤座10對(duì)應(yīng)通孔的位置設(shè)置有一環(huán)形凹槽101,該環(huán)形凹槽101的深度可以根據(jù)試管的長度進(jìn)行設(shè)計(jì)。所述環(huán)形凹槽101結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì),一方面便于試管的放置,同時(shí)縮小了試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤的體積,另一方面,試管放入轉(zhuǎn)盤座10的環(huán)形凹槽101內(nèi)后,增大了轉(zhuǎn)盤座10與試管進(jìn)行熱傳遞的面積,因此提高了熱傳遞的效率,縮短了溫度調(diào)節(jié)裝置對(duì)試管進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)的時(shí)間,也就縮短了整個(gè)測(cè)序反應(yīng)的時(shí)間。為了進(jìn)一步提高轉(zhuǎn)盤座10的熱傳遞效率,在所述的環(huán)形凹槽101內(nèi)設(shè)置有用于導(dǎo)熱的介質(zhì),該介質(zhì)為水或?qū)嵊停?dāng)然所述的介質(zhì)也可以是具有任意導(dǎo)熱效果的液體。

對(duì)于所述的基因測(cè)序儀的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤,本發(fā)明還提出了一示例,如圖12所示,在本示例中,所述的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤包括轉(zhuǎn)盤座10、轉(zhuǎn)盤組20以及驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30,其中,所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)30包括動(dòng)力源301以及通過動(dòng)力源301驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的上軸芯302;所述上軸芯302設(shè)置于轉(zhuǎn)盤座10內(nèi),所述上軸芯302頂部設(shè)置有第一凹槽303;所述轉(zhuǎn)盤組20可拆卸的固定于轉(zhuǎn)盤座10上,所述轉(zhuǎn)盤組20由轉(zhuǎn)盤201和安裝在轉(zhuǎn)盤201上的提手202構(gòu)成;所述轉(zhuǎn)盤201上設(shè)置有多個(gè)用于放置試管的放置位203;所述提手202具有能與所述轉(zhuǎn)盤201相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)的扁軸204;所述扁軸204與所述第一凹槽303相匹配,用于將轉(zhuǎn)盤201活動(dòng)固定在上軸芯302頂端。對(duì)于所述的動(dòng)力源301、上軸芯302與下軸芯304的連接結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤201與所述上軸芯302的結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤座10的結(jié)構(gòu)以及溫度調(diào)節(jié)裝置的結(jié)構(gòu)在上述示例中均有較為詳細(xì)的說明,因此在本示例中則不進(jìn)行贅述。在本示例中,所述的試劑轉(zhuǎn)動(dòng)盤還包括轉(zhuǎn)盤蓋板70和溫度傳感裝置80,所述的轉(zhuǎn)盤蓋板70固定于轉(zhuǎn)盤座10上,所述轉(zhuǎn)盤201放置于轉(zhuǎn)盤座10內(nèi)后,轉(zhuǎn)盤201的上表面與所述轉(zhuǎn)盤蓋板70的上表面相平。本示例中可以看出,所述轉(zhuǎn)盤蓋板70為一環(huán)形結(jié)構(gòu),轉(zhuǎn)盤201則設(shè)置在轉(zhuǎn)盤蓋板70中部的通孔中,轉(zhuǎn)盤蓋板70對(duì)于所述的轉(zhuǎn)盤20起到一定的限位作用。所述溫度傳感裝置80為一溫度傳感器,該溫度傳感器安裝于轉(zhuǎn)盤座10內(nèi)部,用于感應(yīng)轉(zhuǎn)盤座10內(nèi)部的溫度,通過監(jiān)測(cè)轉(zhuǎn)盤座10內(nèi)部的溫度,從而對(duì)試管內(nèi)試劑的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè),該溫度傳感器與控制系統(tǒng)相連接,通過將檢測(cè)的溫度的信號(hào)發(fā)送至控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)通過將檢測(cè)的溫度與設(shè)定的溫度進(jìn)行對(duì)比,當(dāng)檢測(cè)的溫度出現(xiàn)偏差時(shí),則控制制冷片601的電流方向以及電流大小,從而控制制冷片601的功率,達(dá)到調(diào)節(jié)試劑溫度的效果。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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