本發(fā)明涉及功能陶瓷薄膜領(lǐng)域,具體為一種新型并聯(lián)結(jié)構(gòu)的鈦酸鍶鋇/氧化鎂(BST/MgO)撓曲電復(fù)合薄膜制備的方法。
背景技術(shù):
隨著科技的進(jìn)步,特別是電子產(chǎn)品快速迭代,許多的功能材料都在朝著輕薄化轉(zhuǎn)變。電介質(zhì)材料作為功能材料中重要分支也得到了發(fā)展,比如鈦酸鍶鋇薄膜。電子元器件的集成度越高,相應(yīng)的材料的介電性能越好,因此制備優(yōu)良的介電性能的鈦酸鍶鋇薄膜是目前的一個(gè)研究熱點(diǎn)。實(shí)驗(yàn)研究表明一定情況下?lián)锨娦阅芘c介電性能是正相關(guān)的,為了提高薄膜的介電性能,摻雜改性是目前研究最廣泛的一個(gè)方向。但是這種方法提高的介電常數(shù)有限,摻雜的單層鈦酸鍶鋇薄膜一般在300到500之間,超過500的鮮有報(bào)道。與此同時(shí),鈦酸鍶鋇薄膜撓曲電性能研究也是國(guó)內(nèi)外學(xué)者最近研究的熱門方向。近年來隨著科技的發(fā)展,傳感器材料朝著輕量化發(fā)展,特別是薄膜傳感器。但是薄膜傳感器由于自身尺寸較小、介電常數(shù)較小等方面原因,使得單層薄膜的撓曲電信號(hào)較弱,撓曲電性能較低,導(dǎo)致應(yīng)用不夠廣泛。
本申請(qǐng)發(fā)明人課題組前期通過溶膠-凝膠法制備了并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/ZrO2撓曲電復(fù)合薄膜,研究表明,BST/ZrO2撓曲電復(fù)合薄膜能夠一定程度上提高單層BST薄膜撓曲電性能較弱的問題,但是由于ZrO2薄膜與BST薄膜的熱膨脹系數(shù)相差較大,會(huì)導(dǎo)致BST薄膜開裂,造成介電損耗變大,撓曲電性能提高相對(duì)不是十分的明顯。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜及其制備方法,使得薄膜材料擁有較高的撓曲電性能,在微型傳感器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景,且設(shè)備簡(jiǎn)單、成本低廉、重復(fù)性好、后處理方便
為了解決以上技術(shù)問題,本發(fā)明采用在同一基片上通過制備兩個(gè)薄膜電容器并聯(lián)來增強(qiáng)撓曲電信號(hào),提高撓曲電性能的構(gòu)想,選擇與BST薄膜熱膨脹系數(shù)更加接近的MgO薄膜作為非功能層。具體技術(shù)方案如下:
步驟一,制備BST溶膠:將乙酸鋇、乙酸鍶、乙酸釔溶解于70℃的乙酸中,標(biāo)記為A液;稱取鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮溶解于乙二醇甲醚中,磁力攪拌30min后標(biāo)為B液,將B液緩緩倒入到A液中,加入乙二醇,磁力攪拌2h后,加入乙酸調(diào)節(jié)pH值為3.5~4.3,獲得所述的BST溶膠,其中乙酸鋇、乙酸鍶、鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮的摩爾比為0.65:0.35:1:2;乙酸釔的含量占整個(gè)BST溶膠的1mol%;乙酸、乙二醇的體積比為3:1;本發(fā)明所述并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的制備方法中,所述的BST溶膠的pH值為3.5~4.3,隨著pH的降低,薄膜表面的顆粒團(tuán)聚現(xiàn)象較多,當(dāng)pH為3.5時(shí)薄膜出現(xiàn)了開裂。據(jù)研究表明:當(dāng)溶膠中的H+變多時(shí),醇鹽的水解,縮聚的速率減小。因?yàn)殁佀嵴亩□サ乃庖蕾囉诃h(huán)境中的-OH基團(tuán)來取代鈦酸正四丁酯中的-OR基團(tuán),而pH在3.5~4.3之間縮聚反應(yīng)與-OH濃度成正比關(guān)系,所以當(dāng)pH值減小時(shí),薄膜表面的大顆粒團(tuán)聚現(xiàn)象增多,因此要求BST溶膠的pH值在所述的范圍內(nèi)。
步驟二,制備MgO溶膠:將乙酸鎂溶解于乙酸中得到澄清溶液,磁力攪拌30min后加入乙酰丙酮,使之與Mg2+形成環(huán)狀Mg(CH3COO)2-xACx從而抑制Mg2+過度水解;再繼續(xù)加入丙三醇磁力攪拌20min,利用丙三醇用來防止水解形成的Mg(OH)2-xACx過度聚合;進(jìn)一步加入PVA溶液以調(diào)整粘度,且用以提高薄膜在熱處理時(shí)的塑性,減少薄膜的開裂;最后再陳化24h得到MgO溶膠;所述乙酰丙酮、乙酸鎂的摩爾比為2:1;丙三醇、乙酸的摩爾比為1:3;PVA溶液質(zhì)量分?jǐn)?shù)為5%;
步驟三,制備BST薄膜:使用KW-4A型勻膠機(jī)在Si/SiO2/Ti/Pt基片上涂膜,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s;將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次后,置于高溫爐中在800℃下退火15min,得到BST薄膜A;
步驟四,制備MgO薄膜:在所述步驟三中制得的BST薄膜上噴鍍電極,然后在電極上旋涂MgO溶膠,轉(zhuǎn)速為2000r/min,時(shí)間為20s,再在120℃下保溫20min,350℃下熱處理30min,重復(fù)以上步驟達(dá)到所需的MgO薄膜厚度,最后在800℃下退火15min,得到MgO薄膜;本發(fā)明所述并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的制備方法步驟四,具體的MgO薄膜的熱處理過程是:1.室溫~120℃,升溫速率3℃/min,120℃保溫20min,主要是去除BST溶膠自由水和結(jié)合水以及部分有機(jī)物的揮發(fā)。2.120℃~350℃,升溫速率3℃/min,350℃保溫0.5h,主要是有機(jī)物的揮發(fā)和熱分解。3.350~800℃,升溫速率3℃/min,800℃保溫15min,主要是氧化鎂晶體結(jié)構(gòu)的形成,晶粒長(zhǎng)大,薄膜表面致密化。
步驟五,制備第二層BST薄膜:在上述步驟四中制得的MgO薄膜A上噴鍍電極,然后在電極上旋涂溶膠,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s;將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次后置于高溫爐中在800℃下退火時(shí)間為5~60min后得MgO薄膜B;本發(fā)明所述并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的制備方法中,所述的并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜在800℃下退火5~60min,如果保溫時(shí)間過短,薄膜表面易出現(xiàn)微裂紋,此時(shí)薄膜中晶粒過小,晶粒表面的自由能過高使得晶粒之間空隙過小,易發(fā)生團(tuán)聚,在應(yīng)力的作用下導(dǎo)致薄膜開裂。如果保溫時(shí)間過長(zhǎng),超過了60min,此時(shí)薄膜中晶粒長(zhǎng)大,晶粒的表面自由能降低,晶??障蹲兇?,薄膜的致密度下降與此同時(shí)薄膜表面的熱應(yīng)力更加的集中,薄膜易開裂,因此要求并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的保溫時(shí)間在所述范圍內(nèi)。
步驟六,制備并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜:在所述步驟五中制得的BST薄膜B上噴鍍電極,即得到并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜。
所述的步驟一中BST溶膠pH值為3.5~4.3。
所述的MgO薄膜可以用其他的氧化物薄膜代替,所述的其他的氧化物薄膜滿足下列條件:化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,不與電極或者功能層薄膜發(fā)生反應(yīng);熔點(diǎn)要高,在一定溫度下不與電極層互擴(kuò)散;熱膨脹系數(shù)與電極層和功能層的熱膨脹系數(shù)相匹配。
所述步驟四、步驟五、步驟六中涉及到的噴鍍電極是用離子噴鍍儀噴鍍Au,也可以使用離子噴鍍儀噴鍍Pt;也可以用其他方法鍍電極,包括離子濺射和絲網(wǎng)印刷。
本發(fā)明的并聯(lián)結(jié)構(gòu),對(duì)于兩層并聯(lián)、三層并聯(lián)甚至更多層并聯(lián),均適用。
所述其他的氧化物薄膜為ZrO2薄膜。
本發(fā)明所述并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的制備方法步驟三,五,具體的BST薄膜的熱處理過程是:1.室溫~100℃,升溫速率3℃/min,100℃保溫10min,主要是去除BST溶膠自由水和結(jié)合水以及部分有機(jī)物的揮發(fā)。2.100℃~400℃,升溫速率3℃/min,400℃保溫30min,主要是有機(jī)物的揮發(fā)和熱分解。3.400~800℃,升溫速率3℃/min,800℃保溫5~60min,主要是鈣鈦礦相的形成,晶粒長(zhǎng)大,薄膜表面致密化。
本發(fā)明的介電性能數(shù)據(jù)是由HP4294A阻抗分析儀測(cè)定;撓曲電性能用橫向撓曲電系數(shù)來表征,采用懸臂梁法測(cè)定;等效壓電常數(shù)是用測(cè)得的橫向撓曲電系數(shù)計(jì)算得到。
本發(fā)明具有有益效果。本發(fā)明通過采用溶膠-凝膠法在同一基片上制備BST薄膜與MgO薄膜復(fù)合的方法,充分考慮到BST薄膜和MgO薄膜的特性(兩者的熱膨脹系數(shù)較為接近,MgO薄膜的介電常數(shù)較小),制得并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜,能在不增加器件尺寸的基礎(chǔ)上,解決單層BST薄膜撓曲電性能較弱的問題,具有較高的撓曲電性能,能夠應(yīng)用于微型傳感器件。
附圖說明
圖1為本發(fā)明BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的結(jié)構(gòu)示意圖
圖2為本發(fā)明BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的結(jié)構(gòu)示意圖的等效示意圖
圖3為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的X射線衍射譜圖。
圖4為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的掃描電鏡圖。
圖5為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的X射線衍射譜圖。
圖6為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的掃描電鏡圖。
圖7為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的X射線衍射譜圖。
圖8為本發(fā)明制備的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜掃描電鏡圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明中所使用的術(shù)語,除非有另外說明,一般具有本領(lǐng)域普通技術(shù)人員通常理解的含義。
下面結(jié)合具體實(shí)施例,并參照數(shù)據(jù)進(jìn)一步詳細(xì)地描述本發(fā)明。應(yīng)理解,這些實(shí)施例只是為了舉例說明本發(fā)明,而非以任何方式限制本發(fā)明的范圍。
在以下的實(shí)施例中,未詳細(xì)描述的各種過程和方法是本領(lǐng)域中公知的常規(guī)方法。所用試劑的來源、商品名以及有必要列出其組分成分者,均在首次出現(xiàn)時(shí)標(biāo)明,其后所用相同試劑如無特殊說明,均以首次標(biāo)明的內(nèi)容相同。
實(shí)施例1
(1)制備BST溶膠:將乙酸鋇、乙酸鍶、乙酸釔溶解于70℃的乙酸中,標(biāo)記為A液;稱取鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮溶解于乙二醇甲醚中,磁力攪拌30min后標(biāo)為B液,將B液緩緩倒入到A液中,加入乙二醇,磁力攪拌2h后,加入乙酸調(diào)節(jié)pH值為3.5,獲得所述的BST溶膠,其中乙酸鋇、乙酸鍶、鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮的摩爾比為0.65:0.35:1:2;乙酸釔的含量占整個(gè)BST溶膠的1mol%;乙酸、乙二醇的體積比為3:1。
(2)制備MgO溶膠:乙酸鎂溶解于乙酸中得到澄清溶液,磁力攪拌30min。在溶液中加入乙酰丙酮,使之與Mg2+形成環(huán)狀Mg(CH3COO)2-xACx從而抑制Mg2+過度水解,再向溶液中加入丙三醇磁力攪拌20min,丙三醇用來防止水解形成的Mg(OH)2-xACx過度聚合。加入PVA溶液調(diào)整溶液的粘度,同時(shí)PVA溶液的加入可以提高薄膜在熱處理時(shí)的塑性,減少薄膜的開裂,陳化24h得到MgO溶膠,其中乙酰丙酮、乙酸鎂的摩爾比為2:1;丙三醇、乙酸的摩爾比為1:3;PVA溶液質(zhì)量分?jǐn)?shù)為5%。
(3)制備BST薄膜:使用KW-4A型勻膠機(jī)在Si/SiO2/Ti/Pt基片上涂膜,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火15min,得到BST薄膜。
(4)制備MgO薄膜:在上述(3)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂MgO溶膠,轉(zhuǎn)速為2000r/min,時(shí)間為20s。將涂好的薄膜在120℃下保溫20min,350℃下熱處理30min,重復(fù)以上步驟達(dá)到所需的厚度,最后在800℃下退火15min,得到MgO薄膜。
(5)制備第二層BST薄膜:在上述(4)中制得的MgO薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂溶膠,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火5min。
(6)制備并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜:在上述(5)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,最終的結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示,得到并聯(lián)結(jié)構(gòu)的雙層薄膜電容器,其等效結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。如圖3所示,此時(shí)BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜表面出現(xiàn)了許多大顆粒的第二相,此時(shí)是由于BST溶膠pH值過低導(dǎo)致的。BST薄膜衍射圖如圖4所示。
經(jīng)測(cè)定,并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的介電常數(shù)490;介電損耗0.0964;當(dāng)測(cè)試頻率為1Hz時(shí),橫向撓曲電系數(shù)0.9348μC/m;等效壓電常數(shù)12.41×104μC/N。
實(shí)施例2
(1)制備BST溶膠:將乙酸鋇、乙酸鍶、乙酸釔溶解于70℃的乙酸中,標(biāo)記為A液;稱取鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮溶解于乙二醇甲醚中,磁力攪拌30min后標(biāo)為B液,將B液緩緩倒入到A液中,加入乙二醇,磁力攪拌2h后,加入乙酸調(diào)節(jié)pH值為4.3,獲得所述的BST溶膠,其中乙酸鋇、乙酸鍶、鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮的摩爾比為0.65:0.35:1:2;乙酸釔的含量占整個(gè)BST溶膠的1mol%;乙酸、乙二醇的體積比為3:1。
(2)制備MgO溶膠:乙酸鎂溶解于乙酸中得到澄清溶液,磁力攪拌30min。在溶液中加入乙酰丙酮,使之與Mg2+形成環(huán)狀Mg(CH3COO)2-xACx從而抑制Mg2+過度水解,再向溶液中加入丙三醇磁力攪拌20min,丙三醇用來防止水解形成的Mg(OH)2-xACx過度聚合。加入PVA溶液調(diào)整溶液的粘度,同時(shí)PVA溶液的加入可以提高薄膜在熱處理時(shí)的塑性,減少薄膜的開裂,陳化24h得到MgO溶膠,其中乙酰丙酮、乙酸鎂的摩爾比為2:1;丙三醇、乙酸的摩爾比為1:3;PVA溶液質(zhì)量分?jǐn)?shù)為5%。
(3)制備BST薄膜:使用KW-4A型勻膠機(jī)在Si/SiO2/Ti/Pt基片上涂膜,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火15min,得到BST薄膜。
(4)制備MgO薄膜:在上述(3)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂MgO溶膠,轉(zhuǎn)速為2000r/min,時(shí)間為20s。將涂好的薄膜在120℃下保溫20min,350℃下熱處理30min,重復(fù)以上步驟達(dá)到所需的厚度,最后在800℃下退火15min,得到MgO薄膜。
(5)制備第二層BST薄膜:在上述(4)中制得的MgO薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂溶膠,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火15min。
(6)制備并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜:在上述(5)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,得到并聯(lián)結(jié)構(gòu)的雙層薄膜電容器。其等效結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。如圖5所示,此時(shí)BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜表面光滑致密。BST薄膜衍射圖如圖6所示。
經(jīng)測(cè)定,并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的介電常數(shù)807;介電損耗0.0638;當(dāng)測(cè)試頻率為1Hz時(shí),橫向撓曲電系數(shù)1.4957μC/m;等效壓電常數(shù)19.82×104μC/N。
實(shí)施例3
(1)制備BST溶膠:將乙酸鋇、乙酸鍶、乙酸釔溶解于70℃的乙酸中,標(biāo)記為A液;稱取鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮溶解于乙二醇甲醚中,磁力攪拌30min后標(biāo)為B液,將B液緩緩倒入到A液中,加入乙二醇,磁力攪拌2h后,加入乙酸調(diào)節(jié)pH值為4.3,獲得所述的BST溶膠,其中乙酸鋇、乙酸鍶、鈦酸正四丁酯、乙酰丙酮的摩爾比為0.65:0.35:1:2;乙酸釔的含量占整個(gè)BST溶膠的1mol%;乙酸、乙二醇的體積比為3:1。
(2)制備MgO溶膠:乙酸鎂溶解于乙酸中得到澄清溶液,磁力攪拌30min。在溶液中加入乙酰丙酮,使之與Mg2+形成環(huán)狀Mg(CH3COO)2-xACx從而抑制Mg2+過度水解,再向溶液中加入丙三醇磁力攪拌20min,丙三醇用來防止水解形成的Mg(OH)2-xACx過度聚合。加入PVA溶液調(diào)整溶液的粘度,同時(shí)PVA溶液的加入可以提高薄膜在熱處理時(shí)的塑性,減少薄膜的開裂,陳化24h得到MgO溶膠,其中乙酰丙酮、乙酸鎂的摩爾比為2:1;丙三醇、乙酸的摩爾比為1:3;PVA溶液質(zhì)量分?jǐn)?shù)為5%。
(3)制備BST薄膜:使用KW-4A型勻膠機(jī)在Si/SiO2/Ti/Pt基片上涂膜,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火15min,得到BST薄膜。
(4)制備MgO薄膜:在上述(3)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂MgO溶膠,轉(zhuǎn)速為2000r/min,時(shí)間為20s。將涂好的薄膜在120℃下保溫20min,350℃下熱處理30min,重復(fù)以上步驟達(dá)到所需的厚度,最后在800℃下退火60min,得到MgO薄膜。
(5)制備第二層BST薄膜:在上述(4)中制得的MgO薄膜上噴鍍電極Au,然后在電極上旋涂溶膠,轉(zhuǎn)速為2500r/min,時(shí)間為10s。將旋涂好的薄膜在100℃下保溫10分鐘,隨后在400℃熱處理30min,重復(fù)上述步驟5~6次。最后將其放在高溫爐中在800℃下退火60min。
(6)制備并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜:在上述(5)中制得的BST薄膜上噴鍍電極Au,得到并聯(lián)結(jié)構(gòu)的雙層薄膜電容器。其等效結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。如圖7所示,此時(shí)BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜表面出現(xiàn)裂紋,這是由于此時(shí)燒結(jié)時(shí)間過長(zhǎng),薄膜表面熱應(yīng)力較為集中所導(dǎo)致的。BST薄膜衍射圖如圖8所示。
經(jīng)測(cè)定,并聯(lián)結(jié)構(gòu)的BST/MgO撓曲電復(fù)合薄膜的介電常數(shù)740;介電損耗0.0712;當(dāng)測(cè)試頻率為1Hz時(shí),橫向撓曲電系數(shù)1.2460μC/m;等效壓電常數(shù)16.53×104μC/N。