本發(fā)明屬于材料加工、機(jī)械制造領(lǐng)域,具體涉及一種超低氣氛下的高能高速等離子射流沉積SiC涂層及其制備方法和應(yīng)用。
背景技術(shù):
碳化硅(SiC)具有硬度高、高溫強(qiáng)度高、抗高溫氧化性能與熱穩(wěn)定性優(yōu)越的特點(diǎn),而且熱傳導(dǎo)率高、禁帶寬度高、抗中子輻射損傷性能優(yōu)越,已經(jīng)作為常溫耐磨材料、高溫結(jié)構(gòu)材料、加熱器件材料、以及大功率半導(dǎo)體器件材料得到廣泛應(yīng)用,而且,也以單一成分的耐磨損與功能涂層、與其他材料構(gòu)成的復(fù)合涂層的形式得到了應(yīng)用。近年來(lái),隨著核能技術(shù)的發(fā)展以及對(duì)其安全性要求的進(jìn)一步提高,采用表面涂層對(duì)核反應(yīng)堆包殼的保護(hù)受到關(guān)注,其中SiC即為一種有效的包殼保護(hù)涂層材料。由于SiC加熱至高溫時(shí)直接發(fā)生分解,采用常用熱噴涂、激光熔覆等將材料加熱熔化后制備涂層的方法不能適用于SiC涂層的制備。通常以氣態(tài)的先驅(qū)體為原料采用化學(xué)氣相沉積的方法沉積制備SiC涂層,此方法制備涂層具有傳統(tǒng)化學(xué)氣相沉積方法的特點(diǎn),即沉積速度慢,且存在環(huán)境污染的問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種超低氣氛下的高能高速等離子射流沉積SiC涂層及其制備方法和應(yīng)用,該方法以價(jià)格低廉的SiC粉體為沉積源物質(zhì),沉積源物質(zhì)來(lái)源便利,能夠快速氣相沉積得到致密的SiC涂層。
本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn):
一種超低氣氛下的高能高速等離子射流沉積SiC涂層的制備方法,包括以下步驟:
1)以固態(tài)SiC顆粒為原料,采用超低壓氣氛下的高能等離子射流作為熱源,快速加熱固態(tài)SiC顆粒使其分解成能夠氣相沉積的氣態(tài)先驅(qū)體,形成含有氣態(tài)先驅(qū)體的高速等離子氣體流;
2)將高速等離子氣體流對(duì)著處于一定溫度范圍的基體表面噴射,使高速等離子氣體流中的先驅(qū)體元素在等離子氣體能夠達(dá)到的基體表面沉積而形成SiC涂層。
所述固態(tài)SiC顆粒為顆粒尺寸分布在0.1~50μm之間的固態(tài)粉末材料。
超低壓氣氛是指在SiC沉積過(guò)程中,沉積腔室壓力為50~1000Pa的壓力范圍內(nèi)的任意壓力。
基體在沉積過(guò)程中處于600~1500℃范圍內(nèi)的任意溫度。
高能等離子射流由壓縮電弧產(chǎn)生,能夠在功率為40kW~150kW下,作為熱源能將固態(tài)SiC顆粒充分加熱至部分分解氣化、或完全分解氣化的高溫等離子體。
基體采用金屬合金材料、無(wú)機(jī)陶瓷材料、C/C復(fù)合材料或C/SiC復(fù)合材料制成。
基體表面的幾何形狀為平面、圓柱面、圓錐面,或是變曲率的其它曲面的表面。
本發(fā)明還公開(kāi)了采用上述的制備方法制得的SiC涂層。
本發(fā)明還公開(kāi)了上述的SiC涂層作為耐磨損涂層、耐沖刷涂層、耐腐蝕涂層、耐輻射涂層、輻照損傷保護(hù)涂層或?qū)щ娡繉拥膽?yīng)用。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下有益的技術(shù)效果:
本發(fā)明方法利用高能等離子射流快速將粉末顆粒狀材料加熱至高溫狀態(tài),直接將SiC粉末送入高能等離子射流中使其受熱發(fā)生分解氣化為原子態(tài)的Si與C,并在等離子中進(jìn)一步加熱處于激活,或活化的離子態(tài),與高速等離子射流一起噴向基體表面,在表面發(fā)生沉積形成SiC涂層。該方法不存在化學(xué)氣相沉積中的環(huán)境污染問(wèn)題,沒(méi)有氣化的顆粒以固態(tài)存在而不發(fā)生沉積將隨等離子射流排出,不影響SiC的沉積;可以通過(guò)控制SiC顆粒的尺寸保留部分小顆粒固態(tài)SiC,對(duì)沉積涂層表面產(chǎn)生沖擊噴丸效應(yīng),有利于增強(qiáng)涂層的致密性。
經(jīng)本發(fā)明制得的SiC涂層可用作耐磨損涂層、耐沖刷涂層、耐沖蝕涂層、耐腐蝕涂層、耐中子輻射等核電環(huán)境下的輻照損傷保護(hù)涂層、或?qū)щ姷韧繉印?/p>
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例1制得的涂層斷面組織形貌圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明,所述是對(duì)本發(fā)明的解釋而不是限定。
實(shí)施例1
采用TGV等離子噴涂系統(tǒng),以45L/min的Ar為主要的等離子發(fā)生氣體,并添加6.3%的氫氣,在壓力為150Pa的Ar填充的低壓腔室內(nèi),以40kW電弧功率下產(chǎn)生等離子射流,在將粉末顆粒尺寸5-30μm的碳化硅(SiC)為原料送入等離子射流中加熱分解氣化,在將Al2O3基體表面預(yù)熱到約650~1200℃,制備SiC涂層。如圖1所示的涂層斷面組織,可以看出,制備的涂層厚度均勻,致密。SiC涂層均勻覆蓋于基體表面。分析表明涂層中含有部分Si。當(dāng)隨等離子氣流中的H2流量降低,Si含量降低,獲得純Si涂層。
實(shí)施例2
采用高能等離子噴涂系統(tǒng),以45L/min的Ar、與以50L/minHe為等離子發(fā)生氣體,在壓力為250Pa的Ar填充的低壓腔室內(nèi),在150kW電弧功率下產(chǎn)生等離子射流,在將粉末顆粒尺寸2-15μm的碳化硅(SiC)為原料送入等離子射流中加熱分解氣化,在表面預(yù)熱到約800~1000℃的Zr基體上,制備出SiC涂層。
實(shí)施例3
采用高能等離子噴涂系統(tǒng),以60L/min的Ar、與以40L/minHe為等離子發(fā)生氣體,在壓力為300Pa的Ar填充的低壓腔室內(nèi),在120kW電弧功率下產(chǎn)生等離子射流,在將粉末顆粒尺寸0.2-1μm的碳化硅(SiC)為原料送入等離子射流中加熱分解氣化,在表面預(yù)熱到約800~1000℃的碳纖維增強(qiáng)的碳化硅基(C/SiC)復(fù)合材料基體上制備了厚度均勻的致密的SiC涂層。
實(shí)施例4
采用高能等離子噴涂系統(tǒng),以40L/min的Ar、與以50L/minHe為等離子發(fā)生氣體,在壓力為150Pa的Ar填充的低壓腔室內(nèi),產(chǎn)生80kW的等離子射流,采用顆粒尺寸0.2-1μm的碳化硅(SiC)粉末,送入等離子射流中加熱分解氣化,在表面預(yù)熱到約800~1000℃的C/C復(fù)合材料基體上制備了厚度均勻的致密的SiC涂層。
綜上所述,本發(fā)明方法利用SiC加熱后不具熔化態(tài)而直接分解氣化的特點(diǎn),利用高能等離子直接將粉末狀的SiC加熱形成沉積SiC的先驅(qū)體:原子態(tài)的Si與C,或離子態(tài)的Si與C,隨等離子射流噴射向基體材料表面,使其在表面再發(fā)生沉積形成SiC涂層。該制備方法需要在確保分解后的Si與C的先驅(qū)體不放生任意成分損失的條件下進(jìn)行,即在無(wú)氧化的氣氛中,且采用不含與C發(fā)生反應(yīng)的等離子成分的等離子加熱條件下進(jìn)行。