技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明的光學(xué)顯示器件的檢查方法是通過將具備相位差層的光學(xué)構(gòu)件和具有多個像素列的光學(xué)顯示部件貼合而成的光學(xué)顯示器件的檢查方法，其中，圖案化相位差層(3)具有帶狀的多個第一區(qū)域(3R)和帶狀的多個第二區(qū)域(3L)，多個第一區(qū)域(3R)以及多個第二區(qū)域(3L)在與第一區(qū)域(3R)以及第二區(qū)域(3L)的延伸方向交叉的方向上交替配置，光學(xué)顯示器件的檢查方法包括：測定工序，在測定工序中，測定在第一區(qū)域(3R)與第二區(qū)域(3L)之間檢測出的分界線(BL)和在相鄰的像素列之間的區(qū)域沿著像素列設(shè)定的基準(zhǔn)線(FL)的俯視下的距離(D)；以及判定工序，在判定工序中，基于距離(D)來判定光學(xué)顯示器件是否合格。

技術(shù)研發(fā)人員：陳廷槐;西原伸彥;田中大充
受保護的技術(shù)使用者：住友化學(xué)株式會社
文檔號碼：201580033255
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.29
技術(shù)公布日：2017.02.22