本發(fā)明涉及光學顯示器件的檢查方法以及光學構件的圖案識別方法。

本申請基于在2014年7月1日在日本申請的特愿2014-135741號主張優(yōu)先權，將其內(nèi)容引用于此。

背景技術：

近年來，正在開發(fā)被稱作FPR(Film Patterned Retarder)方式的被動式的3D(3Dimension)液晶顯示裝置。

在該方式的3D液晶顯示裝置(顯示裝置)中，例如在液晶面板的顯示面?zhèn)扰渲糜衅衿瑢?，進一步地在視覺辨識側配置有圖案化相位差層。另外，在液晶面板的背光側配置有偏振膜。

偏振片層是具有如下光學功能的層：吸收從液晶面板側入射的光中的與偏振片層的吸收軸平行的振動面的偏振分量，使從液晶面板側入射的光中的與偏振片層的吸收軸正交的振動面的偏振分量透過。剛透過偏振片層之后的透射光是直線偏振光。

圖案化相位差層通常形成于基材膜上。圖案化相位差層具備第一區(qū)域和第二區(qū)域。第一區(qū)域和第二區(qū)域分別形成為帶狀，與形成為矩陣狀的液晶面板的像素排列對應地交替排列。

圖10是用于對3D液晶顯示裝置中的液晶面板P與圖案化相位差層3的對位進行說明的俯視圖。

如圖10所示，在液晶面板P中，沿著長邊(圖10中的液晶面板P的左右方向：橫寬方向)周期性地排列配置有紅色像素R、綠色像素G、藍色像素B。并且，各色的像素R、G、B沿著左右方向排列多個而成為像素列L，該像素列L遍及液晶面板P的顯示區(qū)域的上下(圖10中的液晶面板P的縱向)地排列多個。

另一方面，圖案化相位差層3具有沿著圖案化相位差層3的長邊(圖10中的左右：橫寬方向)延伸的多個第一區(qū)域3R以及多個第二區(qū)域3L。與液晶面板P的各像素列L對應地上下(圖10中的縱向)排列有多個第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L。例如，在顯示右眼用圖像的像素列L的視覺辨識側配置有第一區(qū)域3R，在顯示左眼用圖像的像素列L的視覺辨識側配置有第二區(qū)域3L。在第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L中，相位差的方向不同，右眼用圖像和左眼用圖像成為彼此不同的偏振狀態(tài)并顯示于視覺辨識側(例如，參照專利文獻1)。

圖案化相位差層3以第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線K位于各像素列L之間的方式貼合于液晶面板P，構成使用液晶面板P的FPR方式的3D液晶顯示裝置。

使用者借助在右眼用鏡片和左眼用鏡片具備光學特性不同的光學元件的所謂偏光眼鏡來觀察顯示圖像，由此選擇性地以右眼視覺辨識右眼用圖像，以左眼視覺辨識左眼用圖像。由此，使用者能夠識別出將兩眼的像合并而成的立體圖像。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2012-212033號公報

技術實現(xiàn)要素：

發(fā)明所要解決的課題

在制造上述那樣的FPR方式的3D液晶顯示裝置時，使圖案化相位差層的第一區(qū)域與液晶面板的像素列準確地對應、或使圖案化相位差層的第二區(qū)域與液晶面板的像素列準確地對應，而將包括圖案化相位差層和偏振片層的光學構件貼合于液晶面板。此時，若圖案化相位差層的第一區(qū)域以及第二區(qū)域雙方均與一個像素列重疊，則產(chǎn)生本來應該僅由右眼識別的右眼用圖像也被左眼識別的所謂的串擾，有可能使立體顯示圖像的畫質降低。

關于對所制造的3D液晶顯示裝置的檢查，目前是挪用對不進行立體顯示的通常的液晶顯示裝置進行的檢查方法來對液晶面板與光學構件的貼合狀態(tài)進行檢查。具體而言，如下進行制造檢查：針對液晶面板以對準標記、黑矩陣為基準，針對光學構件以光學構件的端部為基準，來確認各基準彼此的相對位置，由此來確認液晶面板與光學構件的俯視下的相對位置。

但是，在挪用上述那樣的以往的檢查方法的方法中，無法檢查各像素列與第一區(qū)域以及第二區(qū)域是否是一對一地重疊。例如，即使是液晶面板與光學構件乍一看是按照設計那樣貼合而成的3D液晶顯示裝置，在各像素列與第一區(qū)域以及第二區(qū)域沒有一對一地重疊的情況下，也會產(chǎn)生串擾而判斷為不合格品。但在上述那樣的以往的檢查方法中，無法檢測出這樣的不合格品，難以保證立體顯示圖像的畫質。

本發(fā)明是鑒于這樣的情況而做出的，其目的在于提供能夠實現(xiàn)可靠性高的品質檢查的光學顯示器件的檢查方法。另外，本發(fā)明的目的還在于，提供能夠高精度地識別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學構件的圖案識別方法。

用于解決課題的方案

為了解決上述問題，本發(fā)明的一個技術方案提供一種光學顯示器件的檢查方法，其是通過將具備相位差層的光學構件和具有多個像素列的光學顯示部件貼合而成的光學顯示器件的檢查方法，其特征在于，所述相位差層具有：沿著一方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第一偏振狀態(tài)的多個第一區(qū)域；以及沿著與所述第一區(qū)域的延伸方向相同的方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第二偏振狀態(tài)的多個第二區(qū)域，所述多個第一區(qū)域以及所述多個第二區(qū)域在與所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的延伸方向交叉的方向上交替配置，所示光學顯示器件的檢查方法包括：測定工序，在所述測定工序中，測定分界與基準線之間的俯視下的距離，所述分界是在相鄰的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域之間檢測出的分界，所述基準線是在相鄰的所述像素列之間的區(qū)域沿著所述像素列設定的線；以及判定工序，在所述判定工序中，基于所述距離來判定所述光學顯示器件是否合格。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在所述光學顯示部件的顯示區(qū)域的中央進行所述測定工序和所述判定工序。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在所述光學構件的所述延伸方向上的周邊部進行所述測定工序和所述判定工序。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在所述光學構件的所述交叉的方向上的周邊部進行所述測定工序和所述判定工序。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在所述測定工序之前，基于在所述光學構件的所述交叉的方向上的周邊部檢測出的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界、以及所述相位差層的設計值，來估算與在所述周邊部檢測出的所述分界分開的分界的位置，檢測距估算出的所述分界的位置最近的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在相鄰的所述像素列的彼此對置的側部檢測所述像素列所包含的多個像素的端部的坐標，按所述像素列地基于檢測出的多個所述坐標來近似出與所述側部對應的直線，在得到的兩條近似線之間設定所述基準線。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在相鄰的兩個所述像素列中的一方的像素列的與另一方的像素列對置的側部，檢測多個像素的端部的坐標，基于檢測出的多個所述坐標來近似出與所述側部對應的直線，基于得到的近似線和光學顯示部件的設計值來設定所述基準線。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：跨相鄰的所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域來設定直線狀的檢測區(qū)域，沿著所述檢測區(qū)域在多個點檢測所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域的明度，基于檢測出的多個點的所述明度來檢測所述分界。

在具備上述結構的本發(fā)明的一技術方案中，也可以設為如下方法：在多個所述檢測區(qū)域檢測多個所述分界，基于檢測出的多個所述分界的坐標來近似出與所述分界對應的直線。

另外，本發(fā)明的一技術方案提供光學構件的圖案識別方法，其是具備相位差層的光學構件的圖案識別方法，其特征在于，所述相位差層具有：沿著一方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第一偏振狀態(tài)的多個第一區(qū)域；以及沿著與所述第一區(qū)域的延伸方向相同的方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第二偏振狀態(tài)的多個第二區(qū)域，所述多個第一區(qū)域以及所述多個第二區(qū)域在與所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的延伸方向交叉的方向上交替配置，所述圖案識別方法包括如下工序：基于在所述光學構件的所述交叉的方向上的周邊部檢測出的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界、以及所述相位差層的設計值，來估算所述光學構件的所述交叉的方向上的中央處的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界的位置，檢測距估算出的所述分界的位置最近的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供可實現(xiàn)可靠性高的品質檢查的光學顯示器件的檢查方法。另外，能夠提供可高精度地識別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學構件的圖案識別方法。

附圖說明

圖1是表示顯示裝置的簡要結構的俯視圖。

圖2是表示顯示裝置的簡要結構的剖視圖。

圖3是圖案化相位差層的俯視示意圖。

圖4A是著眼于顯示裝置的顯示區(qū)域與光學構件的位置關系的簡要俯視圖。

圖4B是著眼于顯示裝置的顯示區(qū)域與光學構件的位置關系的簡要俯視圖。

圖5A是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖5B是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖6A是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖6B是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖7是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖8是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖9是本實施方式的光學器件的檢查方法的說明圖。

圖10是用于說明3D液晶顯示裝置中的液晶面板與圖案化相位差層的對位的俯視圖。

具體實施方式

以下，參照附圖來說明本實施方式的光學顯示器件的檢查方法以及光學構件的圖案識別方法。需要說明的是，在以下的說明中所參照的所有附圖中，為了容易觀察附圖，使各構成要素的尺寸、比率等適當?shù)夭煌?/p>

<光學顯示器件>

圖1～圖4A、圖4B是表示以本實施方式的光學顯示器件的檢查方法進行檢查的顯示裝置(光學顯示器件)100的說明圖。

圖1是表示顯示裝置100的簡要結構的俯視圖。圖2是圖1的線段II-II處的顯示裝置100的剖視圖。本實施方式的顯示裝置100是FPR方式的3D液晶顯示裝置。如圖1或圖2所示，顯示裝置100具有液晶面板(光學顯示部件)P、偏振膜F11以及光學構件1。

如圖1以及圖2所示，液晶面板P具備在俯視下形成為長方形狀的第一基板P1、與第一基板P1對置配置的形成為比較小的長方形狀的第二基板P2、以及封入到第一基板P1與第二基板P2之間的液晶層P3。液晶面板P中，將在俯視下形成為沿著第一基板P1的外形形狀的長方形狀且在俯視下落在液晶層P3的外周的內(nèi)側的區(qū)域設為顯示區(qū)域P4。

在液晶面板P的俯視下的四角設置有定位用的對準標記Am。在圖1中，示出了四角均設置有對準標記Am的情況，但例如也可以在四角中的三個角設置共計三個對準標記，也可以在四角中的對角的位置設置共計兩個對準標記。

在液晶面板P的背光側貼合有偏振膜F11。偏振膜F11經(jīng)由未圖示的粘合劑層而貼合于液晶面板P。偏振膜F11具有吸收入射的光中的與吸收軸平行的振動面的偏振分量、使入射的光中的與吸收軸正交的振動面的偏振分量透過的光學功能。剛透過偏振膜F11后的透射光是直線偏振光。

另一方面，在該液晶面板P的顯示面?zhèn)荣N合有光學構件1。光學構件1具有偏振片層2和圖案化相位差層(相位差層)3，以偏振片層2側面對液晶面板P的方式貼合于液晶面板P。形成光學構件1的偏振片層2以及圖案化相位差層3可以分別通過以往公知的制造方法來制造。

偏振片層2具有吸收從液晶面板P側入射的光中的與吸收軸平行的振動面的偏振分量、使從液晶面板P側入射的光中的與吸收軸正交的振動面的偏振分量透過的光學功能。剛透過偏振片層2之后的透射光是直線偏振光。

偏振膜F11以及光學構件1以偏振膜F11與光學構件1的偏振片層2成為正交偏振(cross nicols)配置的方式貼合于液晶面板P。

圖3是光學構件1所具有的圖案化相位差層3的俯視時的俯視示意圖。圖案化相位差層3具有多個第一區(qū)域3R以及多個第二區(qū)域3L。另外，圖案化相位差層3是俯視下呈矩形的構件。

第一區(qū)域3R使經(jīng)由偏振片層2射出的直線偏振光例如變化成右旋的圓偏振光(第一偏振狀態(tài))。第二區(qū)域3L使經(jīng)由偏振片層2射出的直線偏振光例如變化成左旋的圓偏振光(第二偏振狀態(tài))。

第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L在圖案化相位差層3的長邊方向上呈帶狀延伸地形成，且在與第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的延伸方向交叉的方向上交替配置。第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的寬度根據(jù)貼合的液晶面板P的像素的大小而設定，例如是400μm～500μm這種程度。

在以下的說明中，有時將圖案化相位差層3中的第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的延伸方向稱作圖案化相位差層3的“長邊方向”，將第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的排列方向稱作圖案化相位差層3的“寬度方向”。即，上述的“長邊方向”與本發(fā)明中的“延伸方向”對應，“寬度方向”與本發(fā)明中的“交叉的方向”對應。

圖案化相位差層3在顯示裝置100中以具有在與液晶面板P的顯示區(qū)域P4俯視下重疊時、在顯示裝置100的寬度方向上從與顯示區(qū)域P4重疊的部分超出的“剩余區(qū)域”的方式，在俯視下形成得比顯示區(qū)域P4大。第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L不僅設置到與顯示區(qū)域P4重疊的部分，也設置到剩余區(qū)域。在此，在本發(fā)明中所敘述的“圖案化相位差層(相位差層)3與液晶面板(光學顯示部件)P的顯示區(qū)域P4俯視下重疊”也包括例如圖2所示那樣在圖案化相位差層3與液晶面板P之間還夾設有其他層(偏振片層2)的情況。

圖4A以及圖4B是著眼于顯示裝置100的顯示區(qū)域P4與光學構件1的位置關系而得到的簡要俯視圖。圖4A是整體圖，圖4B是局部放大圖。

在以下的說明中，有時使用將俯視觀察顯示區(qū)域時的顯示區(qū)域的左上作為原點的屏幕坐標系來表示位置、坐標。在屏幕坐標系中，顯示區(qū)域P4的橫向是X軸方向，顯示區(qū)域P4的縱向是Y軸方向。在X軸上，從左朝向右的方向是正向，在Y軸上，從上朝向下的方向是正向。

如圖4A所示，顯示裝置100在顯示區(qū)域P4中周期性地排列配置有多個紅色像素R、綠色像素G及藍色像素B，而形成像素列L。各像素列在顯示區(qū)域P4的Y軸方向上排列。在圖4A中，關于在Y軸方向上排列的各像素列，從原點數(shù)將第一個像素列以附圖標記L1表示，將第二個像素列以附圖標記L2表示，依次類推，將第2n個像素列以附圖標記L2n表示，示出了在顯示區(qū)域P4中含有2n列的像素列L的情況。在顯示裝置100中，分別使用n列的像素列來顯示右眼用圖像和左眼用圖像。

如圖4B所示，設計成第一區(qū)域3R或第二區(qū)域3L以一對一的方式在俯視下與各像素列L重疊。第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BL同相鄰的兩個像素列L之間的像素間區(qū)域重疊。在圖4B中，示出了在像素間區(qū)域設置有格子狀的遮光構件(黑矩陣)BM的情況。

返回圖2，也可以設置成在光學構件1的圖案化相位差層3側的表面貼合未圖示的保護膜。保護膜是保護光學構件1的表面的透明樹脂膜，其被設置為相對于光學構件1剝離自如。

貼合有偏振膜F11以及光學構件1的液晶面板P通過進一步組裝未圖示的驅動電路、背光單元等，而成為顯示裝置100。

關于液晶面板P的驅動方式，例如可以采用TN(Twisted Nematic)、STN(SuperTwisted Nematic)、VA(Vertical Alignment)、IPS(In-Plane Switching)以及OCB(Optically Compensated Bend)等在本領域已知的各種模式。其中，優(yōu)選使用IPS方式的液晶面板P。

通過本實施方式的光學器件的檢查方法進行檢查的顯示裝置100為以上那樣的結構。

<光學顯示器件的檢查方法>

圖5A、圖5B～圖9是本實施方式的光學顯示器件的檢查方法的說明圖。在本實施方式中，檢測光學構件的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界，將檢測到的分界作為光學構件側的基準。另外，在液晶面板的相鄰的像素列L之間的像素間區(qū)域中設定成為液晶面板側的基準的基準線。測定該光學構件側的基準與液晶面板側的基準的距離(測定工序)，基于測定出的距離，來進行是否光學構件的第一區(qū)域3R與液晶面板的像素列良好地對應而貼合、且光學構件的第二區(qū)域3L與液晶面板的像素列良好地對應而貼合的合格與否的判定(判定工序)，進行光學顯示器件的檢查。

(第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的檢測)

圖5A以及圖5B是示出第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的檢測方法的一例的說明圖。在本實施方式的光學顯示器件的檢查方法中，可以包括通過下述方法進行的檢測第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的工序。

第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的檢測基于對顯示裝置100進行拍攝而得到的圖像來進行。此時的拍攝圖像包括光學構件1和液晶面板P這兩者，但在圖5A以及圖5B中，為了便于說明，僅示出了光學構件1。

首先，如圖5A所示，首先利用拍攝裝置(未圖示)對包括作為檢測對象的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界在內(nèi)的區(qū)域進行拍攝。此時，第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界同液晶面板的遮光區(qū)域在俯視下重疊，因此若需要拍攝用的照明，則從與拍攝裝置相同的一側向要拍攝的區(qū)域照射光。

接下來，跨相鄰的第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L地設定直線狀的檢測區(qū)域DA。在拍攝到的圖像中，第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的色調(diào)、明亮度看起來不同，因此能夠區(qū)別第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L。

接下來，在拍攝到的圖像中，沿著檢測區(qū)域DA在多個點檢測第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的明度。可以沿著檢測區(qū)域DA連續(xù)地在多個點進行明度的檢測，也可以離散地在多個點進行明度的檢測。在圖5A中，示出了沿著檢測區(qū)域DA在檢測區(qū)域DA內(nèi)所示的箭頭方向上連續(xù)地在多個點進行明度的檢測的情況。

如圖5A的圖表所示，在第一區(qū)域3R的明度為a且第二區(qū)域3L的明度為b的情況下，認為在拍攝到的圖像的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界附近，明度逐漸從a變化為b。在這樣的情況下，可以檢測明度表示a與b的中間值的點(表示(a+b)/2的點)來作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界點BP。

當然，分界點BP也可以設為在明度表示a和b的范圍內(nèi)按照預先設定的確定方法檢測而得到的點，而非明度表示a與b的中間值的點。

另外，也可以是，以灰色標度表示拍攝到的圖像，針對該灰色標度圖像，采用上述方法檢測第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界點BP。

另外，也可以是，針對拍攝到的圖像，不在多個點檢測明度，而以規(guī)定明度作為閾值將拍攝到的圖像二值化來檢測分界。

以該方式檢測出的分界點BP與本發(fā)明中的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界對應。

另外，如圖5B所示，也可以是，在多個檢測區(qū)域DA中檢測多個分界點BP，基于檢測出的多個分界點BP的坐標來近似求出和第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界對應的直線(分界線BL)。作為此時的近似方法，可以使用通常已知的統(tǒng)計學的方法。例如，可以舉出求解對多個分界點BP的坐標使用最小二乘法而得到的回歸直線(近似直線)的近似方法。

(相鄰的像素列之間的基準線的設定)

圖6A以及圖6B是關于像素列L之間的基準線的設定方法示出一例的說明圖。在本實施方式的光學顯示器件的檢查方法中，可以包括通過下述方法進行的設定相鄰的像素列L之間的基準線的工序。

基準線的設定基于對顯示裝置100進行拍攝而得到的圖像來進行。此時的拍攝圖像包括光學構件1和液晶面板P這兩方，但在圖6A以及圖6B中，為了便于說明，僅示出了液晶面板P。

例如如圖6A所示，基于對像素列L進行拍攝而得到的圖像，來檢測像素列所包含的多個像素R、G、B的端部的坐標。在圖6A中，像素列La的像素的與像素列Lb對置這一側的端部以附圖標記E1表示。另外，像素列Lb的像素的與像素列La對置這一側的端部以附圖標記E2表示。所檢測的端部E1、E2是多個即可。

接下來，基于檢測出的多個端部E1的坐標，近似出與多個端部E1對應的(與像素列的側部對應的)直線。在圖6A中，將這樣求出的近似線以附圖標記AL1表示。

作為上述的近似方法，可以采用通常已知的統(tǒng)計學的方法。例如可以舉出求解對多個端部E1的坐標使用最小二乘法而得到的回歸直線(近似直線)的近似方法。另外，也可以是，在作業(yè)者確認拍攝圖像且能夠判斷為多個端部E1排列在同一直線上這樣的情況下，選擇檢測出坐標的多個端部E1中的任意兩點(例如兩端的兩點)，并將連結該兩點的直線設為近似線AL1。

另外，對于多個端部E2也進行同樣的處理，求出近似線AL2。

接下來，在所得到的兩條近似線AL1、AL2之間設定基準線?；鶞示€優(yōu)選設定于近似線AL1、AL2的中間位置，但也可以從中間位置偏向近似線AL1、AL2中的任一側。在圖6A中，示出了根據(jù)近似線AL1、AL2求出的近似線AL1、AL2之間的距離為W并在近似線AL1、AL2的中間位置(與近似線AL1相距距離W/2的位置)處設定基準線FL的情況。

或者，也可以如圖6B所示那樣，通過上述方法僅求出近似線AL1，在Y方向的像素間的設計值為α的情況下，在與近似線AL1在Y方向上相距α/2的位置處設定基準線FL。

(光學構件與光學顯示部件的相對位置的測定)

接下來，根據(jù)拍攝圖像來測定通過圖5A以及圖5B所示的方法檢測出的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界(分界點BP或分界線BL)和通過圖6A以及圖6B所示的方法設定的基準線FL之間的距離。在以下的說明中，示出求出了第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BL的情況。

在拍攝圖像中，如圖7所示，要求光學構件1的分界線BL與液晶面板P的基準線FL重疊。因此，可以基于圖像求出俯視時的分界線BL與基準線FL之間的距離D。

在此，在作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而求出分界線BL的情況下，“距離D”是指針對分界線BL上的多個任意點求出的、從該任意點向基準線FL引出垂線時的、從垂線與基準線FL的交點到上述的任意點為止的距離的平均值。

另外，在作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而求出分界點BP的情況下，“距離D”是指從分界點BP向基準線FL引出垂線時的、從垂線與基準線FL的交點到分界點BP為止的距離。

(判定是否合格)

接下來，基于所求出的距離，判定顯示裝置100是否合格。具體而言，預先設定能夠判定為合格品的距離的數(shù)值范圍，若距離的測定值處于所設定的數(shù)值范圍以內(nèi)則判定為合格品，若為比所設定的數(shù)值范圍大的測定值則判定為不合格品。

(光學構件的圖案識別方法)

在本實施方式的光學顯示器件的檢查方法中，在液晶面板P的顯示區(qū)域P4的中央進行基于上述的技術要素的合格與否判定。此時，需要判定顯示區(qū)域的中央的像素列(例如第n個像素列Ln、第(n+1)個像素列L(n+1))與第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L是否一對一地對應而良好地貼合。

在此，若考慮到貼合不良、光學構件的制造誤差、變形等，則無法保證與第n個像素列Ln重疊的區(qū)域確實是從與第一個像素列對應的圖案(例如第一區(qū)域3R)起數(shù)的第n個圖案(第二區(qū)域3L)。

因此，在將液晶面板P側的基準設為在第n個像素列Ln與第(n+1)個像素列L(n+1)之間的區(qū)域設定的基準線的情況下，需要在識別出與這些像素列對應的第n個第二區(qū)域3L與第(n+1)個第一區(qū)域3R的基礎上，檢測應該成為光學構件1側的基準的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。

于是，通過以下所示的光學構件的圖案識別方法，識別與顯示區(qū)域P4的中央對應的第n個第二區(qū)域3L與第(n+1)個第一區(qū)域3R，并通過上述方法檢測出該第二區(qū)域3L與第一區(qū)域3R之間的分界。

圖8是表示本實施方式的光學構件的圖案識別方法的說明圖。首先，在光學構件1的寬度方向上的周邊部檢測第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。此時的分界的檢測方法可以使用上述的方法。

在此，上述的“周邊部”可以是光學構件1中的與顯示區(qū)域P4俯視下重疊的部分，也可以是光學構件1中的與顯示區(qū)域P4的外側即剩余區(qū)域DM俯視下重疊的部分。即，檢測的分界可以是與第一個像素列L1重疊的第一區(qū)域3R和與第二個像素列L2重疊的第二區(qū)域3L之間的分界，也可以是在顯示區(qū)域P4的外側即剩余區(qū)域DM配置的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。在圖8中，示出了在剩余區(qū)域DM檢測第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BLx的情況。

接下來，基于在剩余區(qū)域DM檢測出的分界線BLx和圖案化相位差層3的設計值，估算與分界線BLx分開的第n個第二區(qū)域3L與第(n+1)個第一區(qū)域3R的分界的位置。即，根據(jù)第一區(qū)域3R的寬度的設計值以及第二區(qū)域3L的寬度的設計值，估算以分界線BLx為基準的第n個第二區(qū)域3L與第(n+1)個第一區(qū)域3R的分界的位置。在圖中，將估算求出的位置以估算點CP進行表示。

接下來，將作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的距估算點CP最近的分界作為第n個第二區(qū)域3L與第(n+1)個第一區(qū)域3R的分界，通過上述的方法來檢測分界。在圖8中，示出檢測出分界線BL1的情況。

根據(jù)這樣的方法，能夠高精度地檢測光學構件1的寬度方向上的任意位置處的分界。

(光學顯示器件的檢查方法)

圖9是表示本實施方式的光學顯示器件的檢查方法的說明圖。在本實施方式的光學顯示器件的檢查方法中，包括：測定工序，其中，在液晶面板P的顯示區(qū)域P4的中央即第一判定區(qū)域AR1中，測定在相鄰的像素列Ln與像素列L(n+1)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設定的基準線即基準線FL1和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測出的分界(分界線BL1)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于測定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

由于顯示裝置的使用者最注意觀察顯示區(qū)域的中心附近，因此若在顯示區(qū)域的中心產(chǎn)生串擾，則使用者容易發(fā)現(xiàn)。因此，通過如本實施方式的檢查方法那樣在顯示區(qū)域的中心(第一判定區(qū)域AR1)檢查貼合精度，由此能夠實現(xiàn)可將使用者的滿足度高的顯示裝置判定為合格品的檢查。

另外，也可以設為包括：測定工序，其中，在光學構件1的長邊方向上的周邊部即第二判定區(qū)域AR2中，測定在相鄰的像素列Ln與像素列L(n+1)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設定的基準線即第二基準線FL2和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測出的分界(分界線BL2)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于在測定工序中測定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

通過使用第一判定區(qū)域AR1中的是否合格的判定結果和第二判定區(qū)域AR2中的是否合格的判定結果，能夠確認出光學構件1的寬度方向上的收縮。即，在第一判定區(qū)域AR1中判定為合格品的顯示裝置100在第二判定區(qū)域AR2中被判定為不合格品的情況下，推測因光學構件1的寬度方向上的收縮而導致在第二判定區(qū)域AR2中被判定為不合格品，能夠實現(xiàn)光學構件1的品質的確認、重新研究光學構件1的處理方法。

另外，也可以設為包括：測定工序，其中，在光學構件1的寬度方向的周邊部即第三判定區(qū)域AR3中，測定在相鄰的兩個像素列(在圖9中為像素列L1、L2或像素列L(2n-1)、L2n)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設定的基準線即基準線FL3和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測出的分界(分界線BL3)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于在第三測定工序中測定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

通過第一判定區(qū)域AR1中的是否合格的判定結果與第三判定區(qū)域AR3中的是否合格的判定結果的比較、或者長邊方向的兩端的第三判定區(qū)域AR3中的是否合格的判定結果的比較，能夠確認光學構件1相對于液晶面板P的傾斜。由此，也能夠謀求重新研究光學構件1與液晶面板P的貼合方法。

本實施方式的光學顯示器件的檢查方法在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域中的至少一個區(qū)域進行測定工序以及判定工序即可，優(yōu)選在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域中的兩個區(qū)域進行測定工序以及判定工序，更優(yōu)選在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域都進行測定工序以及判定工序。

根據(jù)以上那樣的構成的光學顯示器件的檢查方法，能夠實現(xiàn)可靠性高的品質檢查。另外，根據(jù)以上那樣的構成的光學構件的圖案識別方法，能夠高精度地識別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界。

以上，參照附圖對本發(fā)明的優(yōu)選的實施方式例進行了說明，當然，本發(fā)明不限定于這樣的例子。在上述的例子中示出的各結構構件的各種形狀、組合等僅為一例，可以在不脫離本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)基于設計要求等進行各種變更。

產(chǎn)業(yè)上的可利用性

根據(jù)本發(fā)明的光學顯示器件的檢查方法以及光學構件的圖案識別方法，能夠提供可實現(xiàn)可靠性高的品質檢查的光學顯示器件的檢查方法，另外，能夠提供能可高精度地識別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學構件的圖案識別方法。

附圖標記說明：

1…光學構件、3…圖案化相位差層(相位差層)、3L…第二區(qū)域、3R…第一區(qū)域、100…顯示裝置(光學顯示器件)、AL1、AL2…近似線、BL、BL1、BL2、BL3…分界線(分界)、BP…分界點(分界)、DA…檢測區(qū)域、E1、E2…端部、FL、FL1、FL2、FL3…基準線、D…距離、L…像素列、P…液晶面板(光學顯示部件)、P4…顯示區(qū)域、R、G、B…像素。