專利名稱：一種面板可靠度測(cè)試方法及裝置的制作方法
一種面板可靠度測(cè)試方法及裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種面板測(cè)試裝置，特別是涉及一種面板可靠度測(cè)試裝置；本發(fā)明還涉及一種面板測(cè)試方法，特別是涉及一種面板可靠度測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
液晶面板一般都需要進(jìn)行可靠度(Reliability)測(cè)試。所謂可靠度的定義為物品于既定的時(shí)間內(nèi)，在特定的使用環(huán)境/條件下，執(zhí)行特定性能或功能，圓滿成功達(dá)成任務(wù)的機(jī)率。老化測(cè)試是可靠度測(cè)試中的一個(gè)重要項(xiàng)目。目前，對(duì)液晶面板的可靠度測(cè)試需要在液晶面板組裝成后段模組才能進(jìn)行，這種方式需要耗費(fèi)冗長(zhǎng)的時(shí)間，同時(shí)還需要為要進(jìn)行可靠度測(cè)試的液晶面板準(zhǔn)備好眾多的部件 (如驅(qū)動(dòng)電路、背光模塊等)，增加了生產(chǎn)成本。一般的可靠度測(cè)試方法是將探頭跟液晶盒(Cell)接觸并向液晶盒輸入信號(hào)，然后透過背光進(jìn)行檢驗(yàn)，但是測(cè)試機(jī)臺(tái)體積龐大價(jià)格昂貴，且不適用于將一般物品置入測(cè)試室(Chamber)內(nèi)。故，有必要提供一種面板測(cè)試方法及裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種面板可靠度測(cè)試方法及裝置，以解決液晶面板測(cè)試成本高、效率低的問題。本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的一種面板可靠度測(cè)試裝置，所述裝置包括連接模塊，用于連接所述面板和老化模塊；可靠度測(cè)試室控制模塊，用于向偏壓模塊發(fā)送電壓調(diào)節(jié)指令和/或向老化模塊發(fā)送開關(guān)控制指令；偏壓模塊，用于調(diào)節(jié)電壓，并將電壓調(diào)節(jié)結(jié)果發(fā)送給老化模塊；老化模塊，用于根據(jù)所述可靠度測(cè)試室控制模塊的開關(guān)控制指令和所述偏壓模塊的所述電壓調(diào)節(jié)結(jié)果執(zhí)行所述面板的老化操作。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述連接模塊具體包括探頭，用于與所述面板的測(cè)試墊相連接；校準(zhǔn)模塊，用于校準(zhǔn)所述探頭與所述測(cè)試墊的位置；轉(zhuǎn)接模塊，用于將所述老化模塊的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接給所述探頭；多路復(fù)用模塊，用于采集所述探頭的通電情況并將所述通電情況多路復(fù)用并發(fā)送給反饋模塊；反饋模塊，用于判斷所述探頭與所述測(cè)試墊的連接情況。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述反饋模塊與所述校準(zhǔn)模塊電性連接，當(dāng)所述反饋模塊獲知存在探頭與測(cè)試墊未連接成功的情況時(shí)，所述反饋模塊計(jì)算所述探頭與所述測(cè)試墊的相對(duì)位置的調(diào)整量與調(diào)整方向并控制所述校準(zhǔn)模塊對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述連接模塊還包括告警模塊，用于在所述校準(zhǔn)模塊無(wú)法對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述可靠度測(cè)試室控制模塊包括存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述面板可靠度測(cè)試的程序；時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)；主控模塊，用于從所述存儲(chǔ)模塊讀取程序，生成控制指令，并根據(jù)所述時(shí)鐘信號(hào)將所述控制指令發(fā)送給所述老化模塊和/或所述偏壓模塊。本發(fā)明還提供了一種面板可靠度測(cè)試方法，所述方法包括可靠度測(cè)試室控制模塊、偏壓模塊、老化模塊和連接模塊，所述方法包括以下步驟(A)連接模塊連接所述面板與老化模塊；(B)可靠度測(cè)試室控制模塊向偏壓模塊發(fā)送電壓調(diào)節(jié)指令和/或向老化模塊發(fā)送開關(guān)控制指令；(C)偏壓模塊調(diào)節(jié)電壓并向老化模塊輸出電壓調(diào)節(jié)結(jié)果；(D)老化模塊根據(jù)所述可靠度測(cè)試室控制模塊的開關(guān)控制指令和所述偏壓模塊的所述電壓調(diào)節(jié)結(jié)果執(zhí)行所述面板的老化操作。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述連接模塊包括探頭、轉(zhuǎn)接模塊、反饋模塊、校準(zhǔn)模塊和多路復(fù)用模塊，所述步驟(A)具體包括以下步驟(al)探頭與所述面板的測(cè)試墊相連接； (a2)校準(zhǔn)模塊校準(zhǔn)所述探頭與所述測(cè)試墊的位置；(M)轉(zhuǎn)接模塊將所述老化模塊的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接給所述探頭；(a4)多路復(fù)用模塊采集所述探頭的通電情況并將所述通電情況多路復(fù)用并發(fā)送給反饋模塊；(a5)反饋模塊判斷所述探頭與所述測(cè)試墊的連接情況。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述反饋模塊與所述校準(zhǔn)模塊電性連接，所述方法還包括以下步驟(a6)當(dāng)所述反饋模塊獲知存在探頭與測(cè)試墊未連接成功的情況時(shí)，所述反饋模塊計(jì)算所述探頭與所述測(cè)試墊的相對(duì)位置的調(diào)整量與調(diào)整方向并控制所述校準(zhǔn)模塊對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述連接模塊還包括告警模塊，所述方法還包括以下步驟(a7)當(dāng)所述校準(zhǔn)模塊無(wú)法對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述可靠度測(cè)試室控制模塊包括存儲(chǔ)模塊、時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊和主控模塊，所述步驟(B)具體包括以下步驟(bl)存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)所述面板可靠度測(cè)試的程序；( )時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)；(b!3)主控模塊從所述存儲(chǔ)模塊讀取程序，生成控制指令，并根據(jù)所述時(shí)鐘信號(hào)將所述控制指令發(fā)送給所述老化模塊和/或所述偏壓模塊。本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，在面板未封裝即可進(jìn)行老化測(cè)試，節(jié)約了面板的生產(chǎn)時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉優(yōu)選實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下

圖1為本發(fā)明實(shí)施例的面板可靠度測(cè)試裝置的框圖；圖2為圖1中可靠度測(cè)試室控制模塊的框圖；圖3為本發(fā)明連接模塊與面板連接關(guān)系第一個(gè)實(shí)施例的示意圖；圖4為本發(fā)明連接模塊與面板連接關(guān)系第二個(gè)實(shí)施例的示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例的面板可靠度測(cè)試裝置中偏壓模塊的電路圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例的面板可靠度測(cè)試方法的流程圖；圖7為圖6中連接模塊連接老化模塊與液晶盒步驟的流程圖。具體實(shí)施方式
以下各實(shí)施例的說明是參考附加的圖式，用以例示本發(fā)明可用以實(shí)施的特定實(shí)施例。本發(fā)明所提到的方向用語(yǔ)，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內(nèi)」、「外」、「?jìng)?cè)面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語(yǔ)是用以說明及理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。在圖中，結(jié)構(gòu)相似的單元是以相同標(biāo)號(hào)表示。參照?qǐng)D1，本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試裝置包括可靠度(Reliability)測(cè)試室 (Chamber)控制模塊101、偏壓模塊102、老化(Aging)模塊103和連接模塊104。如圖2 所示，可靠度測(cè)試室控制模塊101包含有主控模塊203、存儲(chǔ)模塊202和時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊 201，存儲(chǔ)模塊202用于存儲(chǔ)面板可靠度測(cè)試程序，時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊201用于產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)，主控模塊203根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊201產(chǎn)生的時(shí)鐘信號(hào)從存儲(chǔ)模塊202中讀取相應(yīng)的程序，生成相應(yīng)的控制指令。可靠度測(cè)試室控制模塊101與老化模塊103電性連接，可靠度測(cè)試室控制模塊101向老化模塊103輸出開關(guān)控制信號(hào)，老化模塊103根據(jù)該開關(guān)控制信號(hào)在預(yù)定時(shí)間到達(dá)時(shí)驅(qū)動(dòng)液晶盒，以圖案O^ttern)功能(Function)自動(dòng)運(yùn)行的方式或固定圖案O^ttern)的方式啟動(dòng)液晶面板?？煽慷葴y(cè)試室控制模塊101與偏壓模塊102電性連接，可靠度測(cè)試室控制模塊101向偏壓模塊102輸出電壓調(diào)節(jié)指令。 偏壓模塊102接收電壓調(diào)節(jié)指令，根據(jù)該指令信號(hào)自動(dòng)調(diào)節(jié)電壓。參考圖5，其中 vn_和Vi2+為參考電壓，R1為第一電阻，R2為第二電阻，R3為第三電阻，R4為第四電阻，R0為第五電阻，第一電阻隊(duì)、第一三極管502、第三電阻民與第一運(yùn)放501電性連接，具體是第一電阻R1、第一三極管502和第三電阻民按先后順序串聯(lián)連接，第一運(yùn)放501的輸出端電性連接第一電阻R1，第一電阻R1電性連接第一三極管502的基極，第一三極管502的發(fā)射極電性連接第一運(yùn)放501的輸出端，第一三極管502的集電極電性連接第三電阻民，第三電阻 R3接偏壓模塊102的輸出端；第二電阻&、第二三極管504、第四電阻R4與第二運(yùn)放503電性連接，具體是第二電阻&、第二三極管504和第四電阻R4按先后順序串聯(lián)連接，第二運(yùn)放 503的輸出端電性連接第二電阻&，第二電阻&電性連接第二三極管504的基極，第二三極管504的發(fā)射極電性連接第二運(yùn)放503的輸出端，第二三極管504的集電極電性連接第四電阻R4，第四電阻R4接偏壓模塊102的輸出端。V。。為供應(yīng)電壓，&id端電壓為0。偏壓模塊102按照以下程序調(diào)節(jié)電壓If, Vcc = 15v, R3 = 0. 17R0, R4 = 0. 27^ = R2 = 0. IR0,Vn_ = 3. 6v ；Vi2+ = 3. 3v ；Then,INPUT > 3. 6v, OUTPUT = 12. 8v ；INPUT < 3. 3v, OUTPUT = 11. 8v.當(dāng)輸入的電壓大于3. 6V時(shí)，即INPUT > Vn_，INPUT > Vi2+，第一運(yùn)放501輸出的V。 =Vcc = 15V，第一三極管502導(dǎo)通，第二運(yùn)放503輸出的V。= Gnd = 0V,第二三極管504不導(dǎo)通，因此 OUTPUT = 15V*R0/ (R3+R0) = 12. 8V,當(dāng)輸入的電壓小于 3. 3V 時(shí)，即 INPUT < Vn_， INPUT < Vi2+，第一運(yùn)放501輸出的V。= Gnd = 0V,第一三極管502不導(dǎo)通，第二運(yùn)放503 輸出 Vtl = Vcc = 15V，第二三極管 504 導(dǎo)通，因此 OUTPUT = 15V*R0/ (R4+R0) = 11. 8V。偏壓模塊102與老化模塊103電性連接，偏壓模塊102將電壓調(diào)節(jié)結(jié)果發(fā)送給老化模塊103，老化模塊103與連接模塊104電性連接。連接模塊104設(shè)有探頭(ftx)be)302，如圖3所示，連接模塊104的探頭302跟液晶盒的測(cè)試墊(Test Pad) 303相連接。老化模塊103根據(jù)可靠度測(cè)試室控制模塊101的開關(guān)控制信號(hào)和偏壓模塊102發(fā)送的電壓調(diào)節(jié)信號(hào)對(duì)面板進(jìn)行老化?？煽慷葴y(cè)試室控制模塊101可以單獨(dú)控制老化模塊103或偏壓模塊102，也可以同時(shí)聯(lián)合控制老化模塊103與偏壓模塊102。在進(jìn)行可靠度測(cè)試的過程中，可能會(huì)出現(xiàn)的情況是連接模塊104與液晶盒的測(cè)試墊303接觸不良，導(dǎo)致測(cè)試人員需要重新調(diào)整連接模塊104與液晶盒的連接，這會(huì)耗費(fèi)許多時(shí)間，不利于產(chǎn)能的提高。參考圖3，上述問題的解決方法是在連接模塊104中設(shè)置多路復(fù)用模塊304、反饋模塊306、校準(zhǔn)模塊305、告警模塊307和轉(zhuǎn)接模塊301。轉(zhuǎn)接模塊301將老化模塊103的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接到每一個(gè)探頭302中，多路復(fù)用模塊304與每一個(gè)探頭302 電性連接，用于采集每一個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)，然后將所有通電信號(hào)多路復(fù)用，成為一路信號(hào)，發(fā)送給反饋模塊306，反饋模塊306解復(fù)用該一路信號(hào)并對(duì)解復(fù)用的結(jié)果進(jìn)行解析，據(jù)此判斷所有的探頭302是否均與測(cè)試墊303接觸良好，若是，則反饋模塊306向老化模塊103發(fā)送反饋信號(hào)，用以告知老化模塊103連接模塊104的探頭302與液晶盒的測(cè)試墊302連接成功，可以開始老化測(cè)試，若否，反饋模塊306發(fā)送控制指令給校準(zhǔn)模塊305以命令校準(zhǔn)模塊305再次校準(zhǔn)探頭302與測(cè)試墊303的位置關(guān)系，直到所有的探頭302均與測(cè)試墊303連接成功為止，若在一個(gè)預(yù)設(shè)的時(shí)間內(nèi)還存在連接模塊104的探頭302與測(cè)試墊303連接不成功的情況，那么反饋模塊306發(fā)送控制指令給告警模塊307，告警模塊307 發(fā)送告警信號(hào)，用以告知操作人員連接模塊104的探頭302與液晶盒的測(cè)試墊303未成功連接。多路復(fù)用模塊304對(duì)每一個(gè)與測(cè)試墊303連接的探頭302采集通電情況信號(hào)，該通電情況信號(hào)通過反饋模塊306和告警模塊306給操作人員指示如何一次性就把可靠度測(cè)試所需的準(zhǔn)備工作做好，而不會(huì)因?yàn)榻佑|不良導(dǎo)致老化測(cè)試需要重新開始。當(dāng)然，本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試裝置中的連接模塊104可以不使用多路復(fù)用模塊 304多路復(fù)用各路的通電情況信號(hào)，而用一個(gè)電流采集模塊來(lái)代替多路復(fù)用模塊304，該電流采集模塊采集每一個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)，然后逐一將各個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)發(fā)送給反饋模塊306，反饋模塊306逐一判斷每一個(gè)探頭302的通電情況。在本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試裝置中，若反饋模塊306判斷出存在連接模塊104的探頭302與面板的測(cè)試墊303連接不成功的情況，反饋模塊306從多路復(fù)用模塊304或電流采集模塊發(fā)送的通電情況信號(hào)中計(jì)算出連接模塊104與面板的相對(duì)位置的調(diào)整量以及調(diào)整方向，然后將該調(diào)整量和調(diào)整方向發(fā)送給校準(zhǔn)模塊305，校準(zhǔn)模塊305據(jù)此調(diào)整連接模塊104與面板的位置。一種優(yōu)化方案是在連接模塊104的探頭302排列方向上設(shè)置一個(gè)以上的校準(zhǔn)模塊 305，如在探頭302隊(duì)列的兩端分別設(shè)置第一校準(zhǔn)模塊401和第二校準(zhǔn)模塊402，如圖4所示。首先以人為的方式將連接模塊104的探頭302與面板的測(cè)試墊303相接觸，以保證連接模塊104的探頭302與面板的測(cè)試墊303在方向二上沒有偏離。然后在反饋模塊306中設(shè)定校準(zhǔn)模塊305的最小校準(zhǔn)單位、探頭302在方向一上的寬度及兩個(gè)探頭302之間的間距，若反饋模塊306從所接收的通電情況信號(hào)中識(shí)別出所有的探頭302均未與測(cè)試墊303 連接成功，那么由此可知探頭302與測(cè)試墊303在方向一或方向一的反方向上存在偏離。接著反饋模塊306控制校準(zhǔn)模塊305按最小校準(zhǔn)單位將連接模塊104往方向一(也可以往方向一的反方向)校準(zhǔn)，校準(zhǔn)量(即調(diào)整量)小于兩個(gè)探頭302之間的間距。此時(shí)多路復(fù)用模塊304或電流采集模塊采集探頭302的通電情況信號(hào)，若反饋模塊306發(fā)現(xiàn)探頭302隊(duì)列中靠近第一校準(zhǔn)模塊401 —端有一個(gè)探頭302沒連接成功，那么反饋模塊306控制校準(zhǔn)模塊305按最小校準(zhǔn)單位或兩探頭302的間距往方向一的反方向校準(zhǔn)，若反饋模塊306發(fā)現(xiàn)探頭302隊(duì)列的一側(cè)(如靠近第一校準(zhǔn)模塊401的一側(cè))有若干個(gè)探頭302未與測(cè)試墊 303連接成功，那么反饋模塊306控制第二校準(zhǔn)模塊402不動(dòng)，第一校準(zhǔn)模塊401按最小校準(zhǔn)單位往第二方向或第二方向的反方向校準(zhǔn)。參考圖6，為本發(fā)明實(shí)施例的面板可靠度測(cè)試方法的流程圖。在本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試方法中，在步驟601，通過連接模塊104連接老化模塊103和液晶盒，具體是連接模塊104與老化模塊103電性連接，連接模塊104與液晶盒物理連接和電性連接，連接模塊 104將老化模塊103的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接給液晶盒；在步驟602，可靠度測(cè)試室控制模塊101向偏壓模塊102發(fā)送調(diào)節(jié)電壓的指令信號(hào)；在步驟603，可靠度測(cè)試室控制模塊101向老化模塊103發(fā)送開關(guān)控制信號(hào)，以啟動(dòng)老化模塊103 ；在步驟604，偏壓模塊102向老化模塊103 輸出電壓調(diào)節(jié)結(jié)果；在步驟605，老化模塊103驅(qū)動(dòng)液晶盒啟動(dòng)以進(jìn)行可靠度測(cè)試。參考圖7，為圖6中連接模塊104連接老化模塊103與液晶盒的流程圖。在步驟 701，連接模塊104的探頭302與面板的測(cè)試墊303相接觸；在步驟702，校準(zhǔn)模塊305校準(zhǔn)探頭302與測(cè)試墊303的位置；在步驟703，轉(zhuǎn)接模塊301向探頭302通電；在步驟704，多路復(fù)用模塊304從每個(gè)探頭302處采集通電情況信號(hào)；在步驟705，多路復(fù)用模塊304將每個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)多路復(fù)用，成為一路信號(hào)，并發(fā)送給反饋模塊306，在這個(gè)步驟中，可以使用電流采集模塊來(lái)代替多路復(fù)用模塊304，電流采集模塊采集每一個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)，然后逐一將各個(gè)探頭302的通電情況信號(hào)發(fā)送給反饋模塊306 ；在步驟707， 反饋模塊306對(duì)從多路復(fù)用模塊304接收的通電情況信號(hào)解復(fù)用并從解復(fù)用結(jié)果中判斷是否所有的探頭302均與測(cè)試墊303連接成功，或者反饋模塊306逐一解析每一個(gè)探頭302 的通電情況以判斷是否所有的探頭302均與測(cè)試墊303連接成功，若是，則進(jìn)入步驟709，反饋模塊306通知老化模塊103開始對(duì)面板進(jìn)行老化，若否，則進(jìn)入步驟708，反饋模塊306判斷預(yù)定時(shí)間是否已過，若預(yù)定時(shí)間已過，則進(jìn)入步驟710，反饋模塊306命令老化模塊103進(jìn)行告警，若預(yù)定時(shí)間未過，則進(jìn)入步驟706，反饋模塊306命令校準(zhǔn)模塊305再次對(duì)探頭302 與測(cè)試墊303的位置進(jìn)行校準(zhǔn)，直到連接模塊104的所有探頭302均與測(cè)試墊303連接成功為止。在本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試方法還包括以下步驟，若反饋模塊306判斷出存在連接模塊104的探頭302與面板的測(cè)試墊303連接不成功的情況，反饋模塊306從多路復(fù)用模塊304或電流采集模塊發(fā)送的通電情況信號(hào)中計(jì)算出連接模塊104與面板的相對(duì)位置的調(diào)整量以及調(diào)整方向，然后將該調(diào)整量和調(diào)整方向發(fā)送給校準(zhǔn)模塊305，校準(zhǔn)模塊305據(jù)此調(diào)整連接模塊104與面板的位置。在對(duì)面板進(jìn)行可靠度測(cè)試的整個(gè)過程中，為了降低帶給操作人員的操作復(fù)雜度， 一種優(yōu)化方案是將老化模塊103與連接模塊104集成在一起。在本發(fā)明的面板可靠度測(cè)試裝置中，老化模塊103集成信號(hào)機(jī)的功能。綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實(shí)施例揭露如上，但上述優(yōu)選實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種面板可靠度測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括 連接模塊，用于連接所述面板和老化模塊；可靠度測(cè)試室控制模塊，用于向偏壓模塊發(fā)送電壓調(diào)節(jié)指令和/或向老化模塊發(fā)送開關(guān)控制指令；偏壓模塊，用于調(diào)節(jié)電壓，并將電壓調(diào)節(jié)結(jié)果發(fā)送給老化模塊； 老化模塊，用于根據(jù)所述可靠度測(cè)試室控制模塊的開關(guān)控制指令和所述偏壓模塊的所述電壓調(diào)節(jié)結(jié)果執(zhí)行所述面板的老化操作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面板可靠度測(cè)試裝置，其特征在于，所述連接模塊具體包括 探頭，用于與所述面板的測(cè)試墊相連接；校準(zhǔn)模塊，用于校準(zhǔn)所述探頭與所述測(cè)試墊的位置； 轉(zhuǎn)接模塊，用于將所述老化模塊的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接給所述探頭； 多路復(fù)用模塊，用于采集所述探頭的通電情況并將所述通電情況多路復(fù)用并發(fā)送給反饋模塊；反饋模塊，用于判斷所述探頭與所述測(cè)試墊的連接情況。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的面板可靠度測(cè)試裝置，其特征在于，所述反饋模塊與所述校準(zhǔn)模塊電性連接，當(dāng)所述反饋模塊獲知存在探頭與測(cè)試墊未連接成功的情況時(shí)，所述反饋模塊計(jì)算所述探頭與所述測(cè)試墊的相對(duì)位置的調(diào)整量與調(diào)整方向并控制所述校準(zhǔn)模塊對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的面板可靠度測(cè)試裝置，其特征在于，所述連接模塊還包括 告警模塊，用于在所述校準(zhǔn)模塊無(wú)法對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面板可靠度測(cè)試裝置，其特征在于，所述可靠度測(cè)試室控制模塊包括存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述面板可靠度測(cè)試的程序； 時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)；主控模塊，用于從所述存儲(chǔ)模塊讀取程序，生成控制指令，并根據(jù)所述時(shí)鐘信號(hào)將所述控制指令發(fā)送給所述老化模塊和/或所述偏壓模塊。
6.一種面板可靠度測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括可靠度測(cè)試室控制模塊、偏壓模塊、老化模塊和連接模塊，所述方法包括以下步驟(A)連接模塊連接所述面板與老化模塊；(B)可靠度測(cè)試室控制模塊向偏壓模塊發(fā)送電壓調(diào)節(jié)指令和/或向老化模塊發(fā)送開關(guān)控制指令；(C)偏壓模塊調(diào)節(jié)電壓并向老化模塊輸出電壓調(diào)節(jié)結(jié)果；(D)老化模塊根據(jù)所述可靠度測(cè)試室控制模塊的開關(guān)控制指令和所述偏壓模塊的所述電壓調(diào)節(jié)結(jié)果執(zhí)行所述面板的老化操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的面板可靠度測(cè)試方法，其特征在于，所述連接模塊包括探頭、 轉(zhuǎn)接模塊、反饋模塊、校準(zhǔn)模塊和多路復(fù)用模塊，所述步驟(A)具體包括以下步驟(al)探頭與所述面板的測(cè)試墊相連接； (a2)校準(zhǔn)模塊校準(zhǔn)所述探頭與所述測(cè)試墊的位置；(a3)轉(zhuǎn)接模塊將所述老化模塊的老化信號(hào)轉(zhuǎn)接給所述探頭；(a4)多路復(fù)用模塊采集所述探頭的通電情況并將所述通電情況多路復(fù)用并發(fā)送給反饋模塊；(a5)反饋模塊判斷所述探頭與所述測(cè)試墊的連接情況。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的面板可靠度測(cè)試方法，其特征在于，所述反饋模塊與所述校準(zhǔn)模塊電性連接，所述方法還包括以下步驟(a6)當(dāng)所述反饋模塊獲知存在探頭與測(cè)試墊未連接成功的情況時(shí)，所述反饋模塊計(jì)算所述探頭與所述測(cè)試墊的相對(duì)位置的調(diào)整量與調(diào)整方向并控制所述校準(zhǔn)模塊對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的面板可靠度測(cè)試方法，其特征在于，所述連接模塊還包括告警模塊，所述方法還包括以下步驟(a7)當(dāng)所述校準(zhǔn)模塊無(wú)法對(duì)所述探頭與所述測(cè)試墊進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的面板可靠度測(cè)試方法，其特征在于，所述可靠度測(cè)試室控制模塊包括存儲(chǔ)模塊、時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊和主控模塊，所述步驟(B)具體包括以下步驟(bl)存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)所述面板可靠度測(cè)試的程序；(b2)時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)；(b3)主控模塊從所述存儲(chǔ)模塊讀取程序，生成控制指令，并根據(jù)所述時(shí)鐘信號(hào)將所述控制指令發(fā)送給所述老化模塊和/或所述偏壓模塊。
全文摘要
本發(fā)明提供一種面板可靠度測(cè)試方法及裝置，在該裝置中，包括連接模塊，用于連接所述面板和老化模塊；可靠度測(cè)試室控制模塊，用于向偏壓模塊發(fā)送電壓調(diào)節(jié)指令和/或向老化模塊發(fā)送開關(guān)控制指令；偏壓模塊，用于調(diào)節(jié)電壓，并將電壓調(diào)節(jié)結(jié)果發(fā)送給老化模塊；老化模塊，用于根據(jù)所述可靠度測(cè)試室控制模塊的開關(guān)控制指令和所述偏壓模塊的所述電壓調(diào)節(jié)結(jié)果執(zhí)行所述面板的老化操作。本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，在面板未封裝即可進(jìn)行老化測(cè)試，節(jié)約了面板的生產(chǎn)時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)G02F1/13GK102213737SQ201110142849
公開日2011年10月12日 申請(qǐng)日期2011年5月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月30日
發(fā)明者廖學(xué)士, 張小新, 蔡榮茂 申請(qǐng)人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司